Advantest Semiconductor Tester T2000

Advantest T2000 er en alsidig SoC (System-on-Chip) testplatform, der er kendt i branchen for sin exceptionelle fleksibilitet, yderst effektive parallelle testfunktioner og robuste analoge/blandede signaltestfunktioner. Siden introduktionen i 2003 har platformen etableret sig som en mainstream-inventar på det globale ATE (Automated Test Equipment) marked og nyder særlig prestige inden for analog og blandet signaltestning. Dens kernedesignfilosofi fokuserer på at imødegå de udfordringer, der er forbundet med "low-volume, high-mix" chiptestning, ved hjælp af en modulær arkitektur til at imødekomme et bredt spektrum af forskellige testkrav.

Følgende afsnit giver en omfattende oversigt over T2000-testsystemet. For at lette forståelsen af ​​nøgleinformationen har jeg opsummeret de vigtigste detaljer i den koncise referencetabel nedenfor:

**Kernefunktioner** | **Detaljeret beskrivelse**

**Enhedstype** | SoC (System-on-Chip) / Analogt og blandet signal automatiseret testsystem (ATE)

**Kernearkitektur** | Modulær og skalerbar; konfigurationer spænder fra luftkølede systemer med 13 slots til væskekølede systemer med 52 slots, der understøtter op til 8.192 digitale kanaler.

**Nøgleanvendelsesområder** | Grafikprocessorer, mikrocontrollere (MCU), RF SoC'er, basebandprocessorer, strømstyrings-IC'er (PMIC), CMOS-billedsensorer (CIS), bilelektronik (understøtter højspændings-DC-testning op til 320 V) osv.

**Softwaremiljø** | Windows-operativsystem + Rapid Development Kit (RDK) + systemsoftwareemulator

**Kernefordele** | **Enestående fleksibilitet:** Hurtig omkonfiguration opnås ved blot at udskifte moduler, hvilket gør det muligt for systemet at tilpasse sig de specifikke testkrav for forskellige chiptyper.

**Kraftfulde parallelle testfunktioner:** Understøtter op til 8.192 digitale kanaler, hvilket leverer en parallel testgennemstrømning, der er mere end dobbelt så stor som tidligere generationers modeller.

**Førende udviklingseffektivitet:** Anvender en unik "multi-klient"-arkitektur, der gør det muligt for op til 8 brugere at udføre uafhængige udviklings- og fejlfindingsopgaver samtidigt.

**Praktisk softwareøkosystem:** Et samlet programudviklingsmiljø kombineret med RDK forenkler processen med at udvikle og portere testprogrammer betydeligt. **Kernearkitektur: Modularitet og skalerbarhed**

Kernen i T2000-systemet ligger i dets fleksible, modulære arkitektur. Man kan visualisere det som et "Lego-lignende" system, der muliggør fri samling:

**On-demand-konfiguration:** Afhængigt af den specifikke type chip, der testes, kan brugerne fleksibelt vælge og kombinere forskellige moduler – såsom digitale moduler, højtydende analoge moduler, effekt-/blandede signalmoduler eller billedoptagelsesmoduler – hentet fra et omfattende bibliotek af funktionelle komponenter. **Meget skalerbar:** Systemets skala kan variere fra en minimumskonfiguration af et luftkølet system med 13 slots (typisk brugt til forskning og udvikling eller produktion i små serier) til en maksimal konfiguration af et væskekølet system med 52 slots (skræddersyet til højtydende masseproduktionsmiljøer).

**Målapplikationer: Ud over SoC-området**

T2000's anvendelsesområde er omfattende og omfatter alt fra forbrugerelektronik til bilelektronik. Specifikt adresserer den primært testkrav på tværs af følgende hovedkategorier:

**Test af kerne-SoC'er:** Inklusive GPU'er, MCU'er, RF-SoC'er, baseband-processorer og lignende enheder.

**Test af strømstyrings-IC (PMIC):** T2000 er udstyret med en dedikeret IPS-løsning (Integrated Power Device Test), der er specielt designet til højtydende test af bilelektronik og strømstyringschips med høj kapacitet. Systemet understøtter højspændings-DC-test af biludstyr – der når spændinger på op til 320 V – og opfylder dermed nutidens strengeste teststandarder.

**CMOS-billedsensor (CIS)-testning:** T2000 tilbyder en dedikeret ISS (Image Sensor Solution), der er i stand til at teste op til 64 enheder udstyret med MIPI C-PHY-grænseflader samtidigt. Den understøtter højhastighedsbilledoptagelseshastigheder på op til 1,2 Gbps og har højopløsnings-dual-bank-billedoptagelseshukommelse samt en uafhængig billedbehandlingsmotor dedikeret til hvert teststed.

**Specialiseret grænsefladetestning:** Ved at udnytte dedikerede moduler som 8GDM (8 Gbps Digital Module) håndterer systemet effektivt de testudfordringer, der stilles af ultrahurtige grænseflader.

**Ydeevne og produktivitet: Banebrydende testeffektivitet**

T2000 kan prale af adskillige nøgleteknologier til at forbedre testeffektiviteten:

Uovertrufne parallelle testfunktioner: T2000 tilbyder brancheførende multi-site og parallelle testfunktioner, hvilket er afgørende for at reducere omkostningerne ved test af en enkelt chip.

Højeffektiv multi-site-controller: I modsætning til konventionelle metoder eliminerer T2000's multi-site-controller den ekstra kommunikationsomkostninger, der er forbundet med parallel testning af flere DUT'er (Device Under Test), hvilket reducerer den samlede testtid betydeligt og opnår høj kapacitet.

Samtidig testudførelse: T2000 understøtter samtidig testning, der problemfrit skifter mellem sekventiel og parallel udførelse inden for et enkelt testprogram, hvilket yderligere forkorter testtiden for komplekse chips.

Samtidig udvikling af flere klienter: Den unikke arkitektur giver op til otte ingeniører mulighed for at logge ind på en enkelt testmaskine samtidigt og uafhængigt udvikle og fejlfinde testprogrammer, hvilket reducerer time-to-market betydeligt og sparer ingeniøromkostninger.

Softwareøkosystem: Praktisk udviklingsmiljø

Programmeringsvenlig: Baseret på Windows-operativsystemet og Rapid Development Kit (RDK) giver det et miljø til forenklet kodning, høj kodegenbrugelighed og hurtig fejlfinding.

Offline-udviklingssupport: Tilbyder en systemsoftwaresimulator, der gør det muligt for ingeniører at udvikle og fejlfinde testprogrammer på forhånd uden egentlig hardware.

Rige fejlfindingsværktøjer: Indbyggede intuitive fejlfindingsværktøjer såsom bølgeformværktøjer, Shmoo-grafer og en mønstereditor forenkler diagnosticeringsprocessen.

Markedsposition og milepæle: Bredt anerkendt i branchen

T2000 har opnået bred markedsanerkendelse og betydelige milepæle:

Milepælspræstation: Det 1000. T2000-system er blevet leveret til førende globale halvlederproducenter, herunder Xilinx.

Omfattende global kundebase: Med 55 unikke globale kunder, dybt integreret i avanceret halvlederdesign og produktionslinjer.

Højeste kundepræference: Toyota har taget T2000-platformen til brug til test af sine IGBT-strømforsyningsenheder.

Udbredt anerkendelse i branchen: Set af et stigende antal IDM'er, fabless-virksomheder og OSAT'er verden over som en platform til at sikre højere teknisk produktivitet og effektivitet.

Resumé: T2000's branchepositionering

Advanced Test Systems positionerer T2000 og dens flagskibsplatform V93000 som en komplementær strategisk kombination. Kort sagt henvender T2000 sig til det brede marked af fleksible, effektive og mellem- til high-end produkter, mens V93000 specialiserer sig i test af ultra-storskala, ultra-komplekse top-tier SoC'er.

Hvad den udmærker sig ved: Behandling af chips med rig analog/blandet signalbehandling, strømstyringschips, billedsensorer osv.

Dens kerneværdi: Med ekstremt høj fleksibilitet og modularitet tilpasser den sig hurtigt til skiftende produkter, og gennem førende parallelle testfunktioner og et brugervenligt softwareøkosystem reducerer den effektivt testomkostningerne, samtidig med at den sikrer høj kvalitet og accelererer produktets time-to-market.

Dette er en omfattende introduktion til T2000-testsystemet. Vil du gerne forstå dets sammenligning med andre platforme (såsom...)