MIRTEC 2D AOI MV-6e

MIRTEC 2D AOI MV-6e yra galinga automatinio optinio tikrinimo įranga, plačiai naudojama įvairiuose elektronikos gamybos procesuose, ypač tikrinant PCB ir elektroninius komponentus.

Savybės Didelės raiškos kamera: MV-6e yra 15 megapikselių didelės raiškos kamera, kuri gali užtikrinti didelio tikslumo 2D vaizdą. Daugiakryptis patikrinimas: įranga naudoja šešių segmentų spalvotą apšvietimą, kad būtų galima tiksliau patikrinti. Be to, jis taip pat palaiko „Side-Viewer“ daugiakryptį patikrinimą (pasirinktinai). Defektų aptikimas: gali aptikti įvairius defektus, pvz., trūkstamas dalis, poslinkį, antkapį, šoną, per daug skardos, per mažai skardos, aukštį, IC kaiščio šaltą litavimą, dalių deformaciją, BGA deformaciją ir kt. Nuotolinio valdymo pultas: per Intellisys galima pasiekti ryšio sistemą, nuotolinį valdymą ir defektų prevenciją, sumažinant darbo jėgos praradimą ir pagerinant efektyvumą. Techniniai parametrai

Dydis: 1080 mm x 1470 mm x 1560 mm (ilgis x plotis x aukštis)

PCB dydis: 50 mm x 50 mm ~ 480 mm x 460 mm

Maksimalus komponento aukštis: 5 mm

Aukščio tikslumas: ±3um

2D tikrinimo elementai: trūkstamos dalys, poslinkis, pasvirimas, paminklas, į šoną, apverstos dalys, atvirkštinė dalis, netinkamos dalys, pažeidimai, skardinimas, šaltas litavimas, tuštumos, OCR

3D tikrinimo elementai: nukritusios dalys, aukštis, padėtis, per daug skardos, per mažai skardos, nesandarus lydmetalis, dvigubas lustas, dydis, IC pėdos šaltas litavimas, pašalinės medžiagos, dalių deformacija, BGA deformacija, šliaužiančios skardos patikrinimas ir kt.

Patikrinimo greitis: 2D tikrinimo greitis yra 0,30 sekundės / FOV, 3D tikrinimo greitis yra 0,80 sekundės / FOV

Taikymo scenarijai

MIRTEC 2D AOI MV-6e yra plačiai naudojamas tikrinant PCB ir elektroninius komponentus, ypač tikrinant trūkstamas dalis, ofsetą, antkapius, į šonus, perteklinį alavo kiekį, nepakankamą skardą, aukštį, IC kaiščio šaltą litavimą, dalių deformaciją, BGA deformaciją. ir kiti defektai. Dėl didelio tikslumo ir didelio efektyvumo jis yra nepakeičiamas tikrinimo įrankis elektronikos gamybos procese.