SAKI 3D AOI 3Si MS2

Dyfais archwilio optegol awtomataidd (AOI) yw SAKI 3D AOI 3Si MS2 a ddefnyddir yn bennaf ar gyfer rheoli ansawdd llinellau cynhyrchu technoleg mowntio wyneb (UDRh). Mae gan y ddyfais y nodweddion a'r swyddogaethau canlynol:

Arolygiad manwl uchel: Mae SAKI 3Si MS2 yn gallu archwilio'n fanwl iawn mewn moddau 2D a 3D, gydag ystod mesur uchder uchaf o hyd at 40mm, sy'n addas ar gyfer amrywiaeth o gydrannau mowntio wyneb cymhleth.

Amlochredd: Mae'r ddyfais yn cefnogi archwiliad fformat mawr ac mae'n addas ar gyfer byrddau cylched o wahanol feintiau. Mae ei blatfform yn cefnogi meintiau bwrdd cylched hyd at 19.7 x 20.07 modfedd (500 x 510 mm), ac yn darparu tri phenderfyniad o 7μm, 12μm, a 18μm i fodloni gwahanol ofynion manwl gywir.

Technoleg arloesol: Mae SAKI 3Si MS2 yn cymhwyso swyddogaethau rheoli pen optegol echel Z arloesol, a all archwilio cydrannau uchel, cydrannau crychlyd, a PCBAs mewn gosodiadau, gan wella effeithlonrwydd cynhyrchu ac ansawdd y cynnyrch.

Defnyddiwr-gyfeillgar: Mae'r ddyfais wedi'i dylunio'n gryno ac yn addas i'w defnyddio mewn cyfluniadau offer llinell cydosod UDRh. Mae'n hawdd ei weithredu ac yn addas ar gyfer amgylcheddau cynhyrchu amrywiol.

Senarios cais ac adolygiadau defnyddwyr

Defnyddir SAKI 3Si MS2 yn eang mewn llinellau cynhyrchu technoleg mowntio wyneb, yn enwedig mewn sefyllfaoedd lle mae angen manylder uchel a rheolaeth ansawdd. Mae adolygiadau defnyddwyr yn dangos y gall y ddyfais wella effeithlonrwydd ac ansawdd cynhyrchu yn effeithiol, lleihau diffygion, a lleihau costau cynnal a chadw. Mae ei ddatrysiad echel Z arloesol yn perfformio'n dda mewn arolygu cydrannau cymhleth ac mae defnyddwyr wedi canmol yn fawr