Advantest Semiconductor Tester T2000

Advantest T2000 je všestranná testovací platforma SoC (System-on-Chip), která je v oboru proslulá svou výjimečnou flexibilitou, vysoce efektivními možnostmi paralelního testování a robustními funkcemi pro testování analogových/smíšených signálů. Od svého uvedení na trh v roce 2003 se platforma etablovala jako mainstreamový produkt na globálním trhu ATE (Automated Test Equipment) a těší se zvláštní prestiži v oblasti testování analogových a smíšených signálů. Její základní filozofie designu se zaměřuje na řešení problémů spojených s testováním čipů „nízkoobjemově, smíšeně“ s využitím modulární architektury pro uspokojení širokého spektra rozmanitých testovacích požadavků.

Následující část poskytuje komplexní přehled testovacího systému T2000. Pro usnadnění rychlého pochopení klíčových informací jsem shrnul základní podrobnosti v níže uvedené stručné referenční tabulce:

**Základní vlastnosti** | **Podrobný popis**

**Typ zařízení** | SoC (systém na čipu) / Analogový a smíšený signálový automatizovaný testovací systém (ATE)

**Základní architektura** | Modulární a škálovatelná; konfigurace sahají od 13slotových vzduchem chlazených systémů až po 52slotové kapalinou chlazené systémy s podporou až 8 192 digitálních kanálů.

**Klíčové oblasti použití** | Grafické procesory, mikrokontroléry (MCU), RF SoC, procesory pro základní pásmo, integrované obvody pro správu napájení (PMIC), obrazové snímače CMOS (CIS), automobilová elektronika (podpora testování vysokonapěťovým stejnosměrným napětím až do 320 V) atd.

**Softwarové prostředí** | Operační systém Windows + sada pro rychlý vývoj (RDK) + emulátor systémového softwaru

**Hlavní výhody** | **Výjimečná flexibilita:** Rychlé rekonfigurace je dosaženo pouhou výměnou modulů, což umožňuje systému přizpůsobit se specifickým testovacím požadavkům různých typů čipů.

**Výkonné možnosti paralelního testování:** Podporuje až 8 192 digitálních kanálů, což zajišťuje více než dvojnásobnou propustnost paralelního testování oproti modelům předchozí generace.

**Vynikající efektivita vývoje:** Využívá unikátní architekturu „multi-client“, která umožňuje až 8 uživatelům provádět nezávislé vývojové a ladicí úlohy současně.

**Pohodlný softwarový ekosystém:** Sjednocené prostředí pro vývoj programů v kombinaci s RDK výrazně zjednodušuje proces vývoje a portování testovacích programů. **Základní architektura: Modularita a škálovatelnost**

Základní podstatou systému T2000 je jeho flexibilní, modulární architektura. Můžete si ho představit jako systém ve stylu „Lega“, který umožňuje volnou montáž:

**Konfigurace na vyžádání:** V závislosti na konkrétním typu testovaného čipu si uživatelé mohou flexibilně vybírat a kombinovat různé moduly – například digitální moduly, vysoce výkonné analogové moduly, napájecí/smíšené signálové moduly nebo moduly pro snímání obrazu – z rozsáhlé knihovny funkčních komponent. **Vysoce škálovatelný:** Systém se může pohybovat od minimální konfigurace 13slotového vzduchem chlazeného systému (obvykle používaného pro výzkum a vývoj nebo malosériovou výrobu) až po maximální konfiguraci 52slotového kapalinou chlazeného systému (přizpůsobeného pro vysoce výkonná prostředí hromadné výroby).

**Cílové aplikace: Za hranicemi sféry SoC**

Rozsah použití T2000 je rozsáhlý a zahrnuje vše od spotřební elektroniky až po automobilovou elektroniku. Konkrétně se zaměřuje především na testovací požadavky v následujících hlavních kategoriích:

**Testování základních SoC:** Včetně GPU, MCU, RF SoC, procesorů pro základní pásmo a podobných zařízení.

**Testování integrovaných obvodů pro správu napájení (PMIC):** Zařízení T2000 je vybaveno specializovaným řešením IPS (Integrated Power Device Test), které je navrženo speciálně pro vysoce výkonné a propustné testování automobilové elektroniky a čipů pro správu napájení. Systém podporuje testování automobilových zařízení vysokonapěťovým stejnosměrným proudem – dosahujícím napětí až 320 V – a splňuje tak dnešní nejpřísnější testovací standardy.

**Testování obrazových senzorů CMOS (CIS):** T2000 nabízí specializované řešení pro obrazové senzory (ISS) schopné simultánně testovat až 64 zařízení vybavených rozhraními MIPI C-PHY. Podporuje vysokorychlostní snímání obrazu až 1,2 Gb/s a je vybaven pamětí pro snímání obrazu s vysokým rozlišením a dvěma bankami a nezávislým procesorem pro zpracování obrazu vyhrazeným pro každé testovací místo.

**Specializované testování rozhraní:** Systém využívá specializované moduly, jako je 8GDM (8 Gbps Digital Module), a efektivně řeší testovací výzvy, které představují ultrarychlá rozhraní.

**Výkon a produktivita: Průlomová efektivita testování**

T2000 se může pochlubit několika klíčovými technologiemi pro zvýšení efektivity testování:

Bezkonkurenční možnosti paralelního testování: T2000 nabízí špičkové možnosti vícemístného a paralelního testování, což je klíčové pro snížení nákladů na testování jediného čipu.

Vysoce efektivní vícemístný kontrolér: Na rozdíl od konvenčních metod eliminuje vícemístný kontrolér T2000 dodatečnou komunikační režii spojenou s paralelním testováním více DUT (testovaných zařízení), čímž výrazně zkracuje celkový čas testování a dosahuje vysoké propustnosti.

Souběžné provádění testů: T2000 podporuje souběžné testování a plynule přepíná mezi sekvenčním a paralelním prováděním v rámci jednoho testovacího programu, což dále zkracuje dobu testování složitých čipů.

Souběžný vývoj s více klienty: Jeho unikátní architektura umožňuje až osmi inženýrům současně se přihlásit k jednomu testovacímu počítači, nezávisle vyvíjet a ladit testovací programy, což výrazně zkracuje dobu uvedení na trh a šetří náklady na inženýrské práce.

Softwarový ekosystém: Pohodlné vývojové prostředí

Programovatelné: Je založeno na operačním systému Windows a sadě Rapid Development Kit (RDK) a poskytuje prostředí pro zjednodušené kódování, vysokou opakovanou použitelnost kódu a rychlé ladění.

Podpora offline vývoje: Poskytuje simulátor systémového softwaru, který umožňuje inženýrům vyvíjet a ladit testovací programy předem bez skutečného hardwaru.

Bohaté ladicí nástroje: Vestavěné intuitivní ladicí nástroje, jako jsou nástroje pro práci s průběhy signálu, grafy Shmoo a editor vzorů, zjednodušují diagnostický proces.

Pozice na trhu a milníky: V oboru široce uznávané

Model T2000 dosáhl širokého uznání na trhu a významných milníků:

Milník: Předním světovým výrobcům polovodičů, včetně společnosti Xilinx, byl dodán 1000. systém T2000.

Rozsáhlá globální zákaznická základna: S 55 unikátními globálními zákazníky, kteří jsou hluboce integrováni do pokročilého návrhu a výrobních linek polovodičů.

Nejvyšší preference zákazníků: Toyota přijala platformu T2000 pro testování svých výkonových zařízení IGBT.

Široké uznání v oboru: Rostoucí počet IDM, společností bez výrobních závodů a OSAT po celém světě ji vnímá jako platformu pro zajištění vyšší produktivity a efektivity inženýrství.

Shrnutí: Postavení T2000 v odvětví

Společnost Advanced Test Systems staví T2000 a jeho vlajkovou loď, platformu V93000, do strategického doplňujícího se spojení. Stručně řečeno, T2000 cílí na široký trh flexibilních, efektivních a středně až vysoce výkonných produktů, zatímco V93000 se specializuje na testování ultra-rozsáhlých a ultra-komplexních SoC nejvyšší úrovně.

V čem vyniká: Čipy pro zpracování analogových/smíšených signálů, čipy pro správu napájení, obrazové senzory atd.

Jeho klíčová hodnota: Díky extrémně vysoké flexibilitě a modularitě se rychle přizpůsobuje měnícím se produktům a díky špičkovým možnostem paralelního testování a uživatelsky přívětivému softwarovému ekosystému efektivně snižuje náklady na testování a zároveň zajišťuje vysokou kvalitu, čímž zrychluje dobu uvedení produktu na trh.

Toto je komplexní úvod do testovacího systému T2000. Chcete se lépe seznámit s jeho srovnáním s jinými platformami (jako například...)?