Mirtec 3d aoi MV-7DL

Mirtec AOI MV-7DL on sisäänrakennettu automatisoitu optinen tarkastusjärjestelmä, joka on suunniteltu tarkastamaan ja tunnistamaan piirilevyjen komponentit ja viat.

Ominaisuudet ja käyttötarkoitukset

Korkearesoluutioiset kamerat: MV-7DL on varustettu yläkuvakameralla, jonka natiiviresoluutio on 4 megapikseliä (2 048 x 2 048) ja neljällä sivukameralla, joiden alkuperäinen resoluutio on 2 megapikseliä (1 600 x 1 200). Neljän kulman valaistusjärjestelmä: Järjestelmässä on neljä itsenäisesti ohjelmoitavaa vyöhykettä, jotka tarjoavat optimaalisen valaistuksen erilaisiin tarkastustarpeisiin. Suurinopeuksinen tarkastus: MV-7DL:n suurin tarkastusnopeus on 4 940 mm/s (7,657 in/s), joten se sopii erityisen hyvin erittäin nopeaan piirilevytarkastukseen. Älykäs skannauslaserjärjestelmä: "3D-tarkastuskyvyn" avulla se voi mitata tarkasti Z-akselin korkeuden tietyltä alueelta, mikä sopii nostettujen tappien havaitsemiseen ja lokin siipilaitteiden BGA-mittaukseen.

Tarkka liikkeenohjausjärjestelmä: Korkea toistettavuus ja toistettavuus, mikä varmistaa havaitsemisen tarkkuuden.

Tehokas OCR-moottori: Voi suorittaa edistyneen komponentintunnistuksen.

Tekniset parametrit Alustan koko: Vakio 350×250mm, iso 500×400mm Alustan paksuus: 0.5mm-3mm Sijoituspäiden lukumäärä: 1 pää, 6 suutinta Resoluutioarvo: 10 miljoonaa pikseliä (2 048 × 2 048 pikseliä) Testinopeus: 4 miljoonaa pikseliä toinen 4.940m²/s Sovellusskenaariot MV-7DL soveltuu erilaisten piirilevyjen tuotantolinjojen tunnistustarpeisiin, erityisesti skenaarioissa, jotka vaativat suurta tarkkuutta ja nopeaa tunnistusta. Sen tehokkaat toiminnot ja tehokas suorituskyky tekevät siitä tärkeän työkalun nykyaikaisessa elektroniikan valmistuksessa