EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhSAKI 2D AOI BF-TristarⅡ သည် တစ်ဖက်သတ်တစ်ပြိုင်နက် စစ်ဆေးခြင်းအတွက် မြန်နှုန်းမြင့် အမြင်အာရုံစစ်ဆေးခြင်းစက် (AOI) ဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် ရှေ့နှင့်နောက်၏ လုပ်ငန်းစဉ်နှစ်ခုကို လုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုအဖြစ် ပေါင်းစည်းရန် တစ်ဖက်သတ်နှစ်ထပ်စစ်ဆေးခြင်းကိရိယာကို လက်ခံရရှိပြီး ထုတ်လုပ်မှုစွမ်းဆောင်ရည်ကို မြှင့်တင်ပေးပါသည်။ အွန်လိုင်း အလင်းစစ်ဆေးရေးကိရိယာများအတွက် အထူးသင့်လျော်သည့် အပြည့်အဝ coaxial vertical illumination နှင့် ပေါင်းစပ်ထားသော linear scanning နည်းပညာဖြင့် စက်ကရိယာသည် မြန်နှုန်းမြင့်၊ တိကျမှုနှင့် ယုံကြည်စိတ်ချရမှုမြင့်မားသော စစ်ဆေးမှုကို သိရှိနားလည်ပါသည်။
နည်းပညာပိုင်းပါရှိပါတယ်။
တစ်ပြိုင်နက်တည်း နှစ်ဖက်စစ်ဆေးခြင်း- BF-TristarⅡ သည် စကင်ဖတ်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုတွင် အလွှာ၏ရှေ့နှင့်နောက်ကို တစ်ပြိုင်နက်စစ်ဆေးနိုင်ပြီး ထုတ်လုပ်မှုလိုင်း၏အချိန်ကို လျှော့ချကာ ထုတ်လုပ်မှုစွမ်းဆောင်ရည်ကို ပိုမိုကောင်းမွန်စေသည်။
မျဉ်းသားစကင်န်နည်းပညာ- ၎င်းသည် မြန်နှုန်းမြင့်စကင်န်ဖတ်စဉ်အတွင်း စစ်ဆေးရေးအရာဝတ္တုကို မလွတ်သွားစေရန်အတွက် အဆင့်မြင့်လိုင်းနားကင်မရာစနစ်နှင့် အပြည့်အ၀ ပူးပေါင်းထားသော ဒေါင်လိုက်အလင်းရောင်ကို အသုံးပြုထားသည်။
ကျစ်လစ်သောဒီဇိုင်း- linear scanning ၏ ဒီဇိုင်းသဘောတရားကြောင့် BF-TristarⅡ သည် တစ်ယူနစ်ဧရိယာအလိုက် ကုန်ထုတ်စွမ်းအားအမြင့်ဆုံးရရှိနိုင်သည့် ကျစ်လစ်သောကိုယ်ထည်ဒီဇိုင်းကို ရရှိထားပြီး စက်ကိရိယာများသည် လည်ပတ်နေစဉ်အတွင်း တုန်ခါမှုမရှိကြောင်း၊ တိကျမှုနှင့် ချို့ယွင်းမှုနှုန်းနည်းပါးကြောင်း သေချာစေပါသည်။ . ဆော့ဖ်ဝဲလ်ပံ့ပိုးမှု- စက်ပစ္စည်းသည် သုံးစွဲသူများ၏ မတူကွဲပြားသော လိုအပ်ချက်များကို ဖြည့်ဆည်းပေးပြီး ၎င်းတို့၏ရေရှည်ရင်းနှီးမြှုပ်နှံမှုကို ကာကွယ်ရန်အတွက် ချိတ်ဆက်မှုများစွာရှိသော စက်တစ်ခု၊ ဘားကုဒ်ခြေရာခံခြင်း၊ MES ဝင်ရောက်ခြင်းနှင့် အခြားလုပ်ဆောင်ချက်များကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။
လျှောက်လွှာအခြေအနေများ
SAKI 2D AOI BF-TristarⅡသည် အမျိုးမျိုးသော မြန်နှုန်းမြင့်ထုတ်လုပ်မှုလိုင်းများအတွက် သင့်လျော်သည်။ ၎င်းသည် မီးဖိုမ၀င်မီနှင့် အပြီးတွင် အလိုအလျောက် အလင်းစစ်ဆေးခြင်းကို အပြည့်အဝ လုပ်ဆောင်နိုင်ပြီး ပြီးပြည့်စုံသော စစ်ဆေးမှုကို လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။ အထူးသဖြင့် တိကျမှုနှင့် စွမ်းဆောင်ရည်မြင့် စစ်ဆေးခြင်း လိုအပ်သော အခြေအနေများတွင် အီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်း ထုတ်လုပ်ရေးလုပ်ငန်းတွင် တွင်ကျယ်စွာ အသုံးပြုပါသည်။
