MIRTEC 3D AOI MV-6e OMNI

MIRTEC 3D AOI MV-6E OMNI သည် PCB ဂဟေဆက်ခြင်း အရည်အသွေးကို သိရှိရန် အဓိကအားဖြင့် အသုံးပြုသည့် အစွမ်းထက်သော အလိုအလျောက် အလင်းစစ်ဆေးရေးကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။

အင်္ဂါရပ်များ

တိကျသော 3D တိုင်းတာခြင်း- MV-6E OMNI သည် 3D ရုပ်ပုံများရရှိရန်၊ ပျက်စီးမှုဘေးကင်းပြီး မြန်နှုန်းမြင့်ချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေတွေ့ရှိမှုရရှိရန် အရှေ့၊ တောင်၊ အနောက်နှင့် မြောက်ဘက်သို့ အစိတ်အပိုင်းလေးခုမှ အစိတ်အပိုင်းများကို တိုင်းတာရန် Moore projection နည်းပညာကို အသုံးပြုထားသည်။

အရည်အသွေးမြင့် ကင်မရာ- 15-megapixel ပင်မကင်မရာကို တပ်ဆင်ထားပြီး၊ ၎င်းသည် တိကျသောစစ်ဆေးမှုများကို လုပ်ဆောင်နိုင်ပြီး 0.3mm အပိုင်းကွဲခြင်းနှင့် အအေးမိဂဟေအဆစ်များကဲ့သို့သော ပြဿနာများကိုပင် သိရှိနိုင်သည်။

ဘေးဘက်ကင်မရာ- J pins ကဲ့သို့သော ရှုပ်ထွေးသောဖွဲ့စည်းပုံများကို စစ်ဆေးရန်အတွက် အထူးသင့်လျော်သော အရိပ်ပုံသဏ္ဍာန်ကို ထိရောက်စွာသိရှိနိုင်စေရန် ပုံရိပ်ပြတ်သားမှုမြင့်မားသော ဘေးဘက်ကင်မရာ 4 လုံး တပ်ဆင်ထားပါသည်။

အရောင်အလင်းစနစ်- 8-segment ရောင်စုံအလင်းစနစ်သည် ကြည်လင်ပြတ်သားပြီး ဆူညံမှုမရှိသောပုံများကိုရရှိနိုင်ပြီး အမျိုးမျိုးသောဂဟေဆက်မှုဆိုင်ရာချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေတွေ့ရှိမှုအတွက်သင့်လျော်သောအလင်းရောင်ပေါင်းစပ်မှုအမျိုးမျိုးကိုပေးဆောင်သည်။

Deep learning အလိုအလျောက် ပရိုဂရမ်းမင်းတူးလ်- နက်ရှိုင်းသော သင်ယူမှုနည်းပညာကို အသုံးပြု၍ အသင့်လျော်ဆုံး အစိတ်အပိုင်းများကို အလိုအလျောက် ရှာဖွေပြီး စစ်ဆေးခြင်း အရည်အသွေးနှင့် ထိရောက်မှု တိုးတက်စေရန် ၎င်းတို့နှင့် ကိုက်ညီပါသည်။ Industry 4.0 ဖြေရှင်းချက်- ကြီးမားသောဒေတာခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းအားဖြင့်၊ ကိန်းဂဏန်းဆိုင်ရာလုပ်ငန်းစဉ်ထိန်းချုပ်မှုဆာဗာသည် ထုတ်လုပ်မှုစွမ်းဆောင်ရည်ကိုတိုးတက်စေရန်အတွက် စမ်းသပ်ဒေတာအများအပြားကို အချိန်ကြာမြင့်စွာ သိမ်းဆည်းထားသည်။

လျှောက်လွှာအခြေအနေများ

MV-6E OMNI သည် ပျောက်ဆုံးနေသောအစိတ်အပိုင်းများ၊ အော့ဖ်ဆက်၊ သင်္ချိုင်းကျောက်တုံးများ၊ ဘေးဘက်၊ အလွန်အကျွံသွပ်၊ မလုံလောက်သော သံဖြူ၊ အမြင့်၊ IC pin အအေးမိဂဟေ၊ တစ်စိတ်တစ်ပိုင်း warping၊ BGA warping စသည်တို့အပါအဝင် ဂဟေချို့ယွင်းချက်အမျိုးမျိုးကို ထောက်လှမ်းရန်အတွက် သင့်လျော်ပါသည်။ မိုဘိုင်းဖုန်းဖန်ချပ်ပြားများတွင် စာလုံးများ သို့မဟုတ် ပိုးသားစခရင်များကို ထောက်လှမ်းနိုင်သည့်အပြင် အကာအကွယ်သုံးလွှာဖြင့် ဖုံးအုပ်ထားသော PCBAs