magkaroon ng hanggang 70% sa Mga Bahagi ng SMT – Nasa Stock at Handa nang Ipadala
Kumuha ng Quote →Mga propesyonal na solusyon sa istasyon ng probe para sa pagsubok sa antas ng wafer, pagsukat ng RF, pagsusuri ng MEMS, paglalarawan ng IC, pagsusuri ng pagkabigo, at R&D ng semiconductor. May mga bago, gamit na, at naayos na sistema na magagamit para sa mga pandaigdigang customer.
Ang probe station ay isang sistema ng precision testing na ginagamit upang idikit ang mga semiconductor wafer, die, MEMS device, RF chip, at microelectronic component gamit ang mga probe needle. Nakakatulong ito sa mga inhinyero na magsagawa ng electrical testing, device characterization, process verification, at failure analysis bago ang packaging o mass production.
Ginagamit para sa inspeksyon ng semiconductor wafer, pagsukat ng kuryente, at pagpapatunay ng aparato.
Sinusuportahan ang tumpak na pagkakahanay ng probe para sa maliliit na pad, die, at mga advanced na device.
Tugma sa mga mikroskopyo, analyzer, thermal chuck, RF probe, at mga instrumento sa pagsubok.
Ang iba't ibang gawain sa pagsubok ng semiconductor ay nangangailangan ng iba't ibang configuration ng probe station. Kung kailangan mo man ng manual operation para sa R&D, automatic wafer probing para sa produksyon, RF testing para sa mga high-frequency device, o thermal testing para sa reliability analysis, ang pagpili ng tamang sistema ay maaaring magpabuti sa katumpakan ng pagsubok, kahusayan, at pangmatagalang halaga ng kagamitan.
Ang ACCRETECH UF200R ay isang ganap na awtomatiko, matipid na istasyon ng semiconductor prober na inilunsad ng ACCRETECH ng Japan,...
Suriin ang Stock at Mag-quote
Ang FP2000 ay isang 200mm (8-pulgada) na ganap na awtomatikong wafer/frame dual-purpose prober na gawa ng Accretech ng Japan.
Suriin ang Stock at Mag-quote
Ang ACCRETECH Probe Station AP3000 ay isang high-precision, high-efficiency, low-vibration, at low-noise probe machine na idinisenyo para...
Suriin ang Stock at Mag-quote
Ang ACCRETECH Probe Station UF3000EX ay isang electrical signal detection device para sa bawat chip sa bawat wafer, na idinisenyo upang matiyak...
Suriin ang Stock at Mag-quoteMalawakang ginagamit ang mga probe station sa mga semiconductor fab, mga kumpanya ng disenyo ng IC, mga instituto ng pananaliksik, mga unibersidad, mga packaging house, at mga laboratoryo ng pagsusuri ng pagkabigo.
Makipag-usap sa Aming InhinyeroMaaaring i-configure ang iba't ibang sistema ng istasyon ng probe ayon sa laki ng wafer, katumpakan ng probing, uri ng chuck, kinakailangan sa mikroskopyo, kondisyon ng pagsubok sa RF, saklaw ng temperatura, at antas ng automation.
Piliin ang sistema ayon sa mga pangangailangan sa pagsubok ng wafer na 2-pulgada, 4-pulgada, 6-pulgada, 8-pulgada, o 12-pulgada.
Ang iba't ibang aplikasyon tulad ng RF, MEMS, IC testing, at failure analysis ay nangangailangan ng iba't ibang configuration.
Mahalaga ang katumpakan ng pagpoposisyon sa antas ng micron para sa maliliit na pad, mga advanced na die, at mga high-density na device.
Angkop ang mga manu-manong sistema para sa mga laboratoryo at R&D, habang mas mainam naman ang mga awtomatikong sistema para sa pagsubok sa produksyon.
Ang RF testing at temperature-controlled testing ay nangangailangan ng mga espesyal na probe, chuck system, at test setup.
Ang mga bago, gamit na, at inayos na istasyon ng probe ay nagbibigay ng iba't ibang bentahe sa gastos at paghahatid.
Nag-iiba-iba ang mga presyo ng probe station depende sa brand, laki ng wafer, antas ng automation, kakayahan sa RF, thermal chuck, microscope system, mga aksesorya, at kondisyon ng kagamitan.
| Uri ng Istasyon ng Probe | Karaniwang Saklaw ng Presyo | Pinakamahusay Para sa |
|---|---|---|
| Istasyon ng Manu-manong Probe | $3,000 – $20,000+ | R&D, mga laboratoryo, mga unibersidad, mababang dami ng pagsubok |
| Istasyon ng Probe na Semi-Awtomatikong | $20,000 – $80,000+ | Pag-verify ng inhinyero at pagsubok sa katamtamang dami |
| Awtomatikong Istasyon ng Probe | $80,000 – $300,000+ | Produksyon ng semiconductor na may mataas na throughput |
| Istasyon ng Probe ng RF | Depende sa RF setup | Mga RF chip, mga microwave device, mga bahagi ng 5G |
| Isinaayos na Istasyon ng Probe | Mas mababa kaysa sa mga bagong kagamitan | Mga proyektong nagtitipid sa gastos sa pagsubok ng semiconductor |
Ang pangwakas na presyo ay depende sa aktwal na konfigurasyon at magagamit na imbentaryo. Makipag-ugnayan sa amin para sa iyong mga kinakailangan sa pagsubok para sa mas tumpak na sipi.
Tinutulungan namin ang mga customer na maghanap, mag-inspeksyon, at mag-supply ng mga probe station system mula sa mga kilalang brand ng semiconductor equipment ayon sa mga kinakailangan sa pagsubok at badyet.
Maaaring magbago ang mga modelong magagamit depende sa imbentaryo. Makipag-ugnayan sa amin upang kumpirmahin ang kasalukuyang stock, configuration, kondisyon, oras ng paghahatid, at quotation.
Angkop para sa wafer probing, device characterization, at mga aplikasyon sa semiconductor lab.
Suriin ang AvailabilityPropesyonal na pagpipilian para sa advanced wafer testing, RF probing, at mga aplikasyon na may mataas na katumpakan.
Suriin ang AvailabilityGinagamit para sa pagsusuri ng semiconductor wafer, pagsukat ng RF, at mga kapaligiran sa pagsusuri sa laboratoryo.
Suriin ang AvailabilityMagagamit para sa mga customer na naghahanap ng sulit na gamit nang semiconductor testing equipment.
Suriin ang AvailabilitySanhi ng pagkasira ng probe, pagkakamali sa pagkakahanay, maruming pad, o hindi angkop na puwersa ng probing.
Kadalasang nauugnay sa katumpakan ng pagpoposisyon, setup ng mikroskopyo, pagiging patag ng chuck, o paghawak ng operator.
Nangangailangan ng wastong RF probes, mga kable, pagkakalibrate, grounding, at compatible na setup ng probe station.
Ang thermal testing ay nangangailangan ng matatag na kontrol ng chuck at angkop na kompensasyon sa temperatura.
Ang precision probing ay maaaring mangailangan ng vibration isolation, matatag na disenyo ng platform, at wastong pag-install.
Maraming customer ang pumipili ng mga hindi angkop na sistema nang hindi isinasaalang-alang ang laki ng wafer, aplikasyon, at setup ng pagsubok.
Sinusuportahan namin ang mga tagagawa ng semiconductor, unibersidad, R&D center, testing lab, mga kumpanya ng packaging, at mga kumpanya ng electronics na nangangailangan ng maaasahang kagamitan sa pagsubok ng wafer.
Para sa mga customer na nangangailangan ng pinakabagong configuration, pangmatagalang estabilidad, at kumpletong suporta sa lifecycle ng kagamitan.
Matipid na pagpipilian para sa mga laboratoryo, pabrika, at mga tagagawa na nangangailangan ng maaasahang kagamitan sa pagsusuri na may mas mababang puhunan.
Angkop para sa mga agarang proyekto, mga pagbiling sensitibo sa badyet, at mga pangangailangan sa kapalit.
Hindi lang kami nagbebenta ng mga kagamitan. Tinutulungan din namin ang mga customer na pumili ng mga angkop na sistema ng istasyon ng probe ayon sa laki ng wafer, aplikasyon sa pagsubok, katumpakan ng probing, kinakailangan sa RF, kondisyon ng thermal testing, badyet, at iskedyul ng paghahatid.
May karanasan sa pagsusuplay ng mga kagamitan sa pagsubok, pagpapakete, at inspeksyon para sa semiconductor.
Maaaring suriin, i-configure, at beripikahin ang bawat sistema bago i-export.
May serbisyo ng pag-export ng packaging, suporta sa logistik, at paghahatid ng kagamitan sa buong mundo.
Tulungan ang mga customer na itugma ang tamang modelo batay sa layunin ng pagsubok at mga teknikal na kinakailangan.
Ang isang probe station ay ginagamit para sa wafer-level electrical testing, semiconductor device characterization, RF measurement, MEMS testing, at failure analysis.
Ang manu-manong istasyon ng probe ay pinapatakbo gamit ang kamay at angkop para sa R&D o low-volume testing. Ang awtomatikong istasyon ng probe ay nag-aalok ng mas mataas na throughput at karaniwang ginagamit sa pagsubok sa produksyon.
Oo. Ang mga gamit na at nire-refurbish na probe station ay mga sikat na opsyon para sa mga customer na nagnanais ng maaasahang kagamitan sa pagsubok ng wafer na may mas mababang puhunan at mas mabilis na paghahatid.
Ang mga istasyon ng RF probe ay idinisenyo para sa pagsubok ng mga high-frequency device, pagsukat ng microwave, mga bahagi ng 5G, mga RF chip, at mga advanced na aplikasyon ng semiconductor.
Ang presyo ay depende sa tatak, laki ng wafer, antas ng automation, kakayahan sa RF, thermal chuck, sistema ng microscope, mga aksesorya, at kung ang kagamitan ay bago o refurbished.
Dapat mong isaalang-alang ang laki ng wafer, aplikasyon sa pagsubok, katumpakan sa pagpoposisyon, kinakailangan sa mikroskopyo, RF compatibility, kinakailangan sa thermal chuck, antas ng automation, at badyet.
Sabihin sa amin ang laki ng iyong wafer, aplikasyon, gustong brand, manual o automatic na kinakailangan, mga pangangailangan sa RF o thermal testing, at saklaw ng badyet. Magrerekomenda ang aming team ng mga angkop na kagamitan.
Bakit pinipili ng napakaraming tao na magtrabaho sa GeekValue?
Ang aming brand ay kumakalat mula sa lungsod patungo sa lungsod, at hindi mabilang na mga tao ang nagtanong sa akin, "Ano ang GeekValue?" Nagmumula ito sa isang simpleng pananaw: upang bigyang kapangyarihan ang makabagong ideya ng Tsino gamit ang makabagong teknolohiya. Ito ay isang tatak ng diwa ng patuloy na pagpapabuti, na nakatago sa aming walang humpay na pagtugis ng detalye at ang kasiyahan ng paglampas sa mga inaasahan sa bawat paghahatid. Ang halos obsessive na craftsmanship at dedikasyon na ito ay hindi lamang ang pagtitiyaga ng aming mga founder, kundi pati na rin ang kakanyahan at init ng aming brand. Umaasa kaming magsisimula ka rito at bigyan kami ng pagkakataong lumikha ng pagiging perpekto. Magtulungan tayo upang lumikha ng susunod na "zero defect" na himala.
Mga detalyeMakipag-ugnayan ang isang eksperto sa tindahan
Reach out to our sales team to explore customized solutions that perfectly meet your business needs and address any questions you may have.
© All Rights Reserved. Technical Support:TiaoQingCMS
EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xh