EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhIelādēt un identificēt
Saņemiet ierīces no paplātes, tūbiņas, lielapjoma, sloksnes, plēves rāmja vai cita ražošanas materiāla.
Pusvadītāju galīgā testa integrācija
Testa apstrādes sistēmas pusvadītāju gala testēšanas līnijām
Pusvadītāju testēšanas apstrādātājs pārvieto iepakotās ierīces, veicot ielādi, termisko apstrādi, elektrisko kontaktu un uz rezultātiem balstītu šķirošanu. Izpētiet pieejamo aprīkojumu un saskaņojiet apstrādātāju, iepakojuma konvertēšanas aparatūru, testētāja saskarni un ražošanas plūsmu vienā gala testa šūnā.
Stāvoklis un tagadne
Pirms elektriskā mērījuma kontrolējiet orientāciju, temperatūru, vietas pozīciju un kontakta spēku.
Izmēriet ierīci
Testeris pielieto elektrisko programmu un atgriež rezultātu — atbilst/ne atbilst vai detalizētu informāciju par nodalījumu.
Kārtot un turpināt
Novirziet pieņemtās un noraidītās ierīces uz pareizo paplāti, mēģeni, spoli, tvertni vai lejupējo procesu.
Kur piemērots apstrādātājs
Izveidojiet testa apstrādātāju ap pusvadītāju testa posmu
Viena un tā pati ierīce var iziet cauri vafeļu šķirošanai, iepakotās galīgajai pārbaudei, sistēmas līmeņa pārbaudei un uzticamības pārbaudei. Katrā posmā tiek izmantota atšķirīga mehānika, saskarnes un ražošanas mērķi.
Šajā lapā galvenā uzmanība pievērsta iepakotu ierīču galīgajai pārbaudei un apstrādes sistēmām, kas ielādē, kontrolē temperatūru, kontaktē un šķiro pusvadītāju ierīces.
Zonde pirms iepakošanas
Zondētājs novieto plāksni un zondes karti elektriskajai pārbaudei. PārskatsZondes stacijas aprīkojumskad ierīce joprojām atrodas uz plates.
Rīkojieties ar iepakotām ierīcēm ražošanas mērogā
Testa apstrādātājs transportē iepakotās detaļas, kontrolē testa temperatūru, iesniedz tās līgumslēdzējam un sakārto atgrieztos rezultātus.
Palaist lietojumprogrammas līmeņa darba slodzes
SLT iekārtas novērtē sarežģītas ierīces reālistiskākos darbības apstākļos un var pieprasīt atšķirīgu nesēju, ligzdu, termisko un plates arhitektūru.
Latentas kļūmes ekrāns
Iededzināšanas un uzticamības sistēmas izmanto ilgstošu temperatūras, sprieguma vai darba slodzes slodzi, nevis parastu augstas caurlaidspējas gala testu apstrādi.
Pašreizējais aprīkojums
Pieejamās pusvadītāju testu apstrādes sistēmas
Pārlūkojiet aprīkojumu, kas pašlaik ir piešķirts šai kategorijai. Katrai iekārtai jāapstiprina faktiskais pakotnes atbalsts, termiskie moduļi, testa saskarnes, pārveidošanas komplekti un iekļautie piederumi.
Kategorijas iespējas nav tas pats, kas mašīnas konfigurācija.
Izmantojiet produkta lapu un piedāvājumu, lai apstiprinātu faktisko apstrādātāja arhitektūru un piegādātās opcijas.
Izmantojiet produkta lapu un piedāvājumu, lai apstiprinātu faktisko apstrādātāja arhitektūru un piegādātās opcijas.
ASM Pacific Technology tornīšu vafeļu līmeņa pārbaudes sistēma SUNBIRD
SUNBIRD nodrošina efektīvu, uzticamu un elastīgu vafeļu testēšanas risinājumu pusvadītāju rūpniecībai, izmantojot inovatīvus...
ASM MS100 Plus testa apstrādātājs
Kā uzlabota MS100 versija, ASM MS100 Plus ir arī ierīce mikroshēmu šķirošanai un sakārtošanai, kuras pamatā ir vafeļu...
ISMECA testa darījumi NY20
ISMECA NY20 (tagad pieder Cohu) ir 20 staciju rotējoša īpaši ātrdarbīga pusvadītāju testēšanas un šķirošanas iekārta.
ASMPT šķirošanas iekārta MS90
ASM šķirošanas iekārta MS90 ir ierīce, kas paredzēta lampu lodīšu šķirošanai, ar efektīvām un precīzām šķirošanas funkcijām. Šī...
Ierīce/programmaTipiskas apstrādes vajadzībasAtlases fokuss
Loģikas, mikrokontrolleru un jaukto signālu integrālās shēmas
Lielapjoma iepakotas ierīces galīgā pārbaude.
Paplāte, caurule, gravitācijas vai savākšanas un novietošanas plūsma
Saskaņot pakotņu saimi, vietņu skaitu, indeksēšanas laiku un testētāja saskarni.
Caurlaidspēja ar stabilu kontaktu
Līdzsvarojiet paralēlismu, temperatūru, konversijas laiku un iestrēgumu atgūšanu.
Jaudas un analogās ierīces
Ierīces ar lielāku strāvas, siltuma vai kontaktspēka jutību.
Termiskā kontrole un stabila saskarne
Pārbaudiet aktīvo temperatūras kontroli, kontaktora darbību un jaudas izkliedi.
Termiskā precizitāte slodzes laikā
Pašsilšana var mainīt apstrādātāju un saskares stratēģiju.
MEMS un sensoru ierīces
Kustība, spiediens, mikrofons, inerciālie vai optiskie komponenti.
Stimuls, orientācija un pārbaudes integrācija
Šūnai var būt nepieciešamas papildu aktivizācijas, kalibrēšanas vai redzes funkcijas.
Tests plus fizisks stimuls
Pārliecinieties, vai standarta IC apstrādātājs ir pietiekams.
WLCSP un bezvada paketes
Mazas BGA, QFN, DFN, WLCSP un pēczāģēšanas ierīces.
Filmas kadru, lentes vai precīzas atdalīšanas apstrāde
Platformu var noteikt iepakojuma trauslums un prezentācijas vide.
Precīza regulēšana un kontrolēts spēks
Iegādājoties lietotu aprīkojumu, maiņas komplekta pilnīgums kļūst kritiski svarīgs.
Galīgā testa saskarnes
Apstrādātājam ir jāpieslēdz četras pusvadītāju ražošanas prasības
Veiksmīga integrācija ir atkarīga no produkta nonākšanas iekārtā, testera stabila elektriskā kontakta, ierīces temperatūras uzturēšanas nepieciešamajā līmenī un gala rezultāta pareizas novirzīšanas.
Pakotnes un ievades datu nesēji
Sliežu ceļiem, ligzdām, paplātēm, caurulēm, bļodām, sloksnēm, plēves rāmjiem, sprauslām un orientācijas sistēmām jāatbilst fiziskajai ierīcei.
ATE, testa galva un kontaktors
Pieslēgšanas virzienam, HIFIX, kontaktligzdai vai kontaktoram, vietu skaitam, spēkam un programmatūras komunikācijai ir jāsakrīt ar testera datiem.
Karsts, auksts un aktīvā kontrole
Mērcēšanas laiks, dzesētājs, sildītājs, sausais gaiss, LN₂, ierīces pašsilšana un atjaunošanās laiks ietekmē reālo testa kameras jaudu.
Kārtošana, dati un izvade
Tvertņu kartēšanai, pārbaudei, izsekojamībai, marķēšanai un galīgajai datu nesēja apstrādei ir jāatbilst plašākai pusvadītāju aizmugures plūsmai.
Izvēlieties pareizo testa posmu
Galīgā testa apstrādātājs, SLT apstrādātājs vai pārbaudes sistēma?
Šīs sistēmas var parādīties blakus viena otrai pusvadītāju aizmugursistēmas ražošanā, taču tās neveic vienu un to pašu uzdevumu.
Iepakotās ierīces elektriskā gala pārbaude
Noslogo, termiski apstrādā, kontaktē un šķiro ierīces, kamēr ATE veic elektriskos mērījumus.
Sistēmas līmeņa funkcionālā pārbaude
Darbina ierīces plates vai lietojumprogrammas līdzīgā vidē un var izmantot nesējus, ligzdas un darba slodzes, kas atšķiras no parastā gala testa.
Redzes, marķēšanas un iepakošanas operācijas
AOI, 3D pārbaude, marķēšana, līmēšana vai paplāšu apdare var būt integrēta ar apstrādes platformu, bet tā jānorāda atsevišķi.
01
Apstipriniet pusvadītāju iepakojumu
Norādiet iepakojuma saimi, izmērus, svina vai lodītes struktūru, orientāciju, svaru un ierīces jaudas izkliedi.
02
Testēšanas platformas identificēšana
Uzskaitiet ATE sistēmu, testa galviņu, esošo HIFIX vai saskarnes aparatūru, kontaktoru un nepieciešamo paralēlo vietņu skaitu.
03
Definējiet termisko programmu
Norādiet apkārtējās vides, karstā, aukstā vai trīskāršās temperatūras prasības, mērcēšanas paredzamos apstākļus un to, vai ierīce testa laikā pašsilst.
04
Kartes ievade, kārtošana un izvade
Paskaidrojiet, kā detaļas nonāk šūnā, kā jāatdala elektrības konteineri un vai ir nepieciešama marķēšana, pārbaude vai nostiprināšana ar līmlenti.
05
Pārbaudiet faktisko iekārtas konfigurāciju
Lietotām vai atjaunotām iekārtām apstipriniet uzstādītos komplektus, programmatūru, termiskos moduļus, testera saskarni, piederumus un darbības stāvokli.
Saistītais testa aprīkojums
Turpiniet pusvadītāju testa kameras būvniecību
Izmantojiet šīs lapas, ja projektā ir iekļauts arī kodola testeris, plākšņu līmeņa kontakts, rezerves daļas vai vecāku testu apstrādātāja aprīkojuma kategorija.
PAMATA KATEGORIJA
Testa apstrādātāja aprīkojums
Pārlūkojiet plašāku manipulatoru kategoriju un salīdziniet savākšanas un novietošanas, torņu, gravitācijas un lentveida aprīkojuma maršrutus.
Skatīt testu apstrādātājus → ELEKTRISKĀ PĀRBAUDEATE sistēma
Apskatiet pusvadītāju testeri, kas ģenerē stimulu, mēra ierīci un atgriež testa rezultātu apstrādātājam.
Iepazīstieties ar ATE sistēmām → VAFEĻU TESTSZondes stacija
Salīdziniet plāksnīšu līmeņa kontakta un mērīšanas iekārtas, kad ierīce vēl nav nonākusi iepakotās galīgās pārbaudes stadijā.
Iepazīstieties ar zondes aprīkojumu → REZERVES DAĻAS UN ATBALSTSTesta apstrādātāja daļas
Atrodiet atlasītās sprauslas, plates, motorus, sensorus un rezerves daļas atbalstītajām apstrādes platformām.
Pārlūkot manipulatoru detaļas →Bieži uzdotie jautājumi
Pusvadītāju testu apstrādātāja bieži uzdotie jautājumi
Šīs atbildes aptver integrācijas jautājumus, kas parasti ietekmē galīgās pārbaudes iekārtu izvēli un cenu piedāvājumu.
Ko testa apstrādātājs dara pusvadītāju gala testā?
Tas transportē iepakotas ierīces, kontrolē orientāciju un temperatūru, nodod katru ierīci testa kontaktoram, saņem ATE rezultātu un sašķiro ierīces nepieciešamajās izvades kastēs vai datu nesējos.
Vai pusvadītāju testu apstrādātājs ir tas pats, kas ATE?
Nē. Apstrādātājs veic mehānisku apstrādi, termisko apstrādi, kontaktu pozicionēšanu un šķirošanu. ATE piemēro elektriskās pārbaudes programmu, mēra ierīci un atgriež rezultātu.
Kā izvēlēties starp gala testu un sistēmas līmeņa testu apstrādi?
Izmantojiet gala testēšanas apstrādātāju parastajām iepakotu ierīču elektriskās ražošanas pārbaudēm. Izvēlieties SLT sistēmu, ja ierīcei jādarbojas plates vai lietojumprogrammas līdzīgā vidē ar atšķirīgu ligzdu, nesēju vai darba slodzi.
Kāda informācija ir nepieciešama, lai saskaņotu apstrādātāju ar IC pakotni?
Sniedziet iepakojuma rasējumu, izmērus, orientāciju, ievades/izvades datus, testa temperatūru, ATE platformu, testa galviņu, vietu skaitu, testa laiku un nepieciešamās šķirošanas vai pārbaudes darbības.
Vai izmantotu testa apstrādātāju var konvertēt citā pakotnē?
Dažreiz, bet pārveidošana ir atkarīga no iekārtas arhitektūras, pieejamā maiņas komplekta, sliedēm, ligzdām, sprauslām, kontaktora saskarnes, termiskās konfigurācijas, programmatūras un mehāniskā diapazona. Šīs vienības ir jāpārbauda pirms iegādes.
Kas jāiekļauj pusvadītāju testu apstrādātāja piedāvājumā?
Piedāvājumā jānorāda precīza iekārta, ražošanas gads un sērijas numurs, uzstādītais maiņas komplekts, testera saskarne, termiskā sistēma, programmatūra, ieejas/izejas moduļi, piederumi, stāvoklis, pārbaudes apjoms un piegādes atbalsts.
Saskaņojiet apstrādātāju ar pilnīgu pusvadītāju gala testa šūnu
Nosūtiet iepakojuma informāciju, testeri, temperatūru, objektu skaitu un ražošanas plūsmas prasības, lai pārskatītu pašreizējās iekārtas un faktiskās mašīnu konfigurācijas.
