EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhHoge testnauwkeurigheid: AUTOPIA-TCT heeft een test-FOV (Field of View) van maximaal 2100, wat zeer nauwkeurige testresultaten kan opleveren.
Hoge mate van vrijheid: De apparatuur heeft 11 vrijheidsgraden, wat de kalibratiekwaliteit verbetert en de nauwkeurigheid van de test garandeert.
Zeer configureerbaar: de apparatuur biedt een breed scala aan door de gebruiker gedefinieerde procesparameters om aan verschillende productiebehoeften te kunnen voldoen.
Efficiënte productie: De sensornivelleringsfunctie verbetert de kalibratieresultaten aanzienlijk en de automatische en nauwkeurige laad-/losfunctie ondersteunt massaproductie.
Flexibele uitbreiding: De apparatuur kan worden uitgebreid voor online productie en de productiereinheid bereikt klasse 100, wat geschikt is voor productieomgevingen met een hoge reinheid.
Toepassingsscenario's en marktbehoeften
AUTOPIA-TCT-apparatuur wordt voornamelijk gebruikt op het gebied van wafer-halfgeleiderverpakkingen, is geschikt voor productiesequenties met een groot volume of grote UPH (Units Per Hour) en kan eenvoudig schakelen tussen verschillende productiesequenties om aan uiteenlopende marktbehoeften te voldoen. De hoge precisie en efficiënte productiemogelijkheden bieden brede toepassingsmogelijkheden in de halfgeleiderverpakkingsindustrie.
