Spara upp till 70 % på SMT-delar – I lager och redo att skickas
Få offert →Professionella probstationslösningar för wafernivåtestning, RF-mätning, MEMS-analys, IC-karakterisering, felanalys och forskning och utveckling av halvledare. Nya, begagnade och renoverade system finns tillgängliga för globala kunder.
En probstation är ett precisionstestsystem som används för att kontakta halvledarskivor, chips, MEMS-enheter, RF-chips och mikroelektroniska komponenter med probnålar. Det hjälper ingenjörer att utföra elektriska tester, enhetskarakterisering, processverifiering och felanalys före paketering eller massproduktion.
Används för inspektion av halvledarskivor, elektrisk mätning och enhetsvalidering.
Stöder noggrann probjustering för små dynor, brickor och avancerade enheter.
Kompatibel med mikroskop, analysatorer, termiska chuckar, RF-prober och testinstrument.
Olika halvledartestningsuppgifter kräver olika konfigurationer av probstationer. Oavsett om du behöver manuell drift för forskning och utveckling, automatisk waferprobning för produktion, RF-testning för högfrekventa enheter eller termisk testning för tillförlitlighetsanalys, kan valet av rätt system förbättra testnoggrannheten, effektiviteten och det långsiktiga värdet på utrustningen.
ACCRETECH UF200R är en helautomatiserad, kostnadseffektiv halvledarprobstation lanserad av ACCRETECH i Japan, d...
Kontrollera lager och offert
FP2000 är en 200 mm (8 tum) helautomatisk wafer/frame-prober med dubbla funktioner, tillverkad av Accretech i Japan.
Kontrollera lager och offert
ACCRETECH Probe Station AP3000 är en högprecisions-, högeffektiv, vibrationssvag och ljudlös probmaskin utformad för att ...
Kontrollera lager och offert
ACCRETECH Probe Station UF3000EX är en elektrisk signaldetekteringsenhet för varje chip på varje wafer, utformad för att säkerställa...
Kontrollera lager och offertProbstationer används ofta i halvledarfabriker, IC-designföretag, forskningsinstitut, universitet, förpackningsföretag och felanalyslabb.
Prata med vår ingenjörOlika probstationssystem kan konfigureras beroende på waferstorlek, probnoggrannhet, chucktyp, mikroskopkrav, RF-testförhållanden, temperaturområde och automatiseringsnivå.
Välj system enligt behoven för wafertestning på 2-tums, 4-tums, 6-tums, 8-tums eller 12-tums.
Olika tillämpningar som RF, MEMS, IC-testning och felanalys kräver olika konfigurationer.
Positioneringsnoggrannhet på mikronnivå är viktig för små plattor, avancerade brickor och högdensitetsenheter.
Manuella system passar laboratorier och FoU, medan automatiska system är bättre för produktionstester.
RF-testning och temperaturkontrollerad testning kräver speciella sonder, chucksystem och testuppställningar.
Nya, begagnade och renoverade mätstationer erbjuder olika kostnads- och leveransfördelar.
Priserna för probstationer varierar beroende på märke, waferstorlek, automationsnivå, RF-kapacitet, termisk chuck, mikroskopsystem, tillbehör och utrustningens skick.
| Typ av sondstation | Typiskt prisintervall | Bäst för |
|---|---|---|
| Manuell sondstation | $3,000 – $20,000+ | FoU, laboratorier, universitet, lågvolymstestning |
| Halvautomatisk sondstation | $20,000 – $80,000+ | Ingenjörsverifiering och testning i medelstora volymer |
| Automatisk sondstation | $80,000 – $300,000+ | Högkapacitetsproduktion av halvledare |
| RF-sondstation | Beror på RF-inställningen | RF-chips, mikrovågsenheter, 5G-komponenter |
| Renoverad sondstation | Lägre än ny utrustning | Kostnadsbesparande halvledartestningsprojekt |
Slutpriset beror på faktisk konfiguration och tillgängligt lager. Kontakta oss med dina testbehov för en mer exakt offert.
Vi hjälper kunder att hitta, inspektera och leverera probstationssystem från välkända varumärken för halvledarutrustning enligt testkrav och budget.
Tillgängliga modeller kan variera beroende på lager. Kontakta oss för att bekräfta aktuellt lager, konfiguration, skick, leveranstid och offert.
Lämplig för waferprobning, enhetskarakterisering och halvledarlaboratorieapplikationer.
Kontrollera tillgänglighetProfessionellt val för avancerad wafertestning, RF-probning och högprecisionstillämpningar.
Kontrollera tillgänglighetAnvänds för testning av halvledarskivor, RF-mätning och laboratorietestmiljöer.
Kontrollera tillgänglighetTillgänglig för kunder som söker kostnadseffektiv begagnad utrustning för halvledartestning.
Kontrollera tillgänglighetOrsakas av probslitage, justeringsfel, smutsiga dynor eller olämplig probkraft.
Ofta relaterat till positioneringsnoggrannhet, mikroskopinställning, chuckens planhet eller operatörshantering.
Kräver korrekta RF-prober, kablar, kalibrering, jordning och installation av kompatibel probstation.
Termisk provning kräver stabil chuckkontroll och lämplig temperaturkompensation.
Precisionssondering kan kräva vibrationsisolering, stabil plattformsdesign och korrekt installation.
Många kunder väljer olämpliga system utan att beakta waferstorlek, tillämpning och testuppställning.
Vi stöder halvledartillverkare, universitet, FoU-center, testlaboratorier, förpackningsföretag och elektronikföretag som behöver pålitlig utrustning för wafertestning.
För kunder som behöver den senaste konfigurationen, långsiktig stabilitet och support under hela utrustningens livscykel.
Kostnadseffektivt val för laboratorier, fabriker och tillverkare som behöver pålitlig testutrustning med lägre investering.
Lämplig för brådskande projekt, budgetkänsliga inköp och utbytesbehov.
Vi säljer inte bara utrustning. Vi hjälper kunder att välja lämpliga probstationssystem baserat på waferstorlek, testapplikation, probnoggrannhet, RF-krav, termiska testförhållanden, budget och leveransschema.
Erfarenhet av att leverera utrustning för halvledartestning, paketering och inspektion.
Varje system kan kontrolleras, konfigureras och verifieras före export.
Exportförpackning, logistikstöd och leverans av utrustning över hela världen tillgängligt.
Hjälp kunder att matcha rätt modell baserat på teständamål och tekniska krav.
En probstation används för elektrisk testning på wafernivå, karakterisering av halvledarkomponenter, RF-mätning, MEMS-testning och felanalys.
En manuell probstation manövreras manuellt och är lämplig för FoU eller lågvolymstestning. En automatisk probstation erbjuder högre genomströmning och används ofta vid produktionstestning.
Ja. Begagnade och renoverade probstationer är populära alternativ för kunder som vill ha pålitlig utrustning för wafertestning med lägre investering och snabbare leverans.
RF-probstationer är utformade för testning av högfrekventa enheter, mikrovågsmätning, 5G-komponenter, RF-chip och avancerade halvledarapplikationer.
Priset beror på märke, waferstorlek, automationsnivå, RF-kapacitet, termisk chuck, mikroskopsystem, tillbehör och om utrustningen är ny eller renoverad.
Du bör ta hänsyn till waferstorlek, testapplikation, positioneringsnoggrannhet, mikroskopkrav, RF-kompatibilitet, krav på termisk chuck, automationsnivå och budget.
Berätta för oss din waferstorlek, applikation, önskat märke, manuella eller automatiska krav, behov av RF- eller termisk testning och budget. Vårt team kommer att rekommendera lämplig utrustning.
Varför väljer så många att arbeta med GeekValue?
Vårt varumärke sprider sig från stad till stad, och otaliga människor har frågat mig: "Vad är GeekValue?" Det härrör från en enkel vision: att stärka kinesisk innovation med banbrytande teknik. Detta är en varumärkesanda av kontinuerlig förbättring, dold i vår obevekliga strävan efter detaljer och glädjen i att överträffa förväntningarna med varje leverans. Detta nästan besatta hantverk och engagemang är inte bara våra grundares uthållighet, utan också essensen och värmen i vårt varumärke. Vi hoppas att du börjar här och ger oss en möjlighet att skapa perfektion. Låt oss arbeta tillsammans för att skapa nästa "nollfels"-mirakel.
DetaljerKontakta en säljare
Nå ut till vårt säljteam för att utforska skräddarsydda lösningar som perfekt uppfyller dina affärsbehov och ta itu med eventuella frågor du kan ha.
© Alla rättigheter förbehållna. Teknisk support: TiaoQingCMS
EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xh