ประหยัดถึง 70% สำหรับชิ้นส่วน SMT – มีในสต็อกและพร้อมส่ง
รับใบเสนอราคา →โซลูชันสถานีทดสอบระดับมืออาชีพสำหรับการทดสอบระดับเวเฟอร์ การวัด RF การวิเคราะห์ MEMS การตรวจสอบคุณลักษณะ IC การวิเคราะห์ความล้มเหลว และการวิจัยและพัฒนาเซมิคอนดักเตอร์ มีระบบใหม่ มือสอง และปรับปรุงใหม่พร้อมให้บริการแก่ลูกค้าทั่วโลก
สถานีทดสอบแบบโพรบ (Probe Station) คือระบบทดสอบความแม่นยำสูงที่ใช้ในการสัมผัสแผ่นเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ (Dies) อุปกรณ์ MEMS ชิป RF และชิ้นส่วนไมโครอิเล็กทรอนิกส์ด้วยเข็มโพรบ ช่วยให้วิศวกรสามารถทำการทดสอบทางไฟฟ้า การกำหนดคุณลักษณะของอุปกรณ์ การตรวจสอบกระบวนการ และการวิเคราะห์ความล้มเหลวก่อนการบรรจุภัณฑ์หรือการผลิตจำนวนมาก
ใช้สำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ การวัดทางไฟฟ้า และการตรวจสอบความถูกต้องของอุปกรณ์
รองรับการจัดตำแหน่งหัววัดที่แม่นยำสำหรับแผ่นรองขนาดเล็ก ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ และอุปกรณ์ขั้นสูง
สามารถใช้งานร่วมกับกล้องจุลทรรศน์ เครื่องวิเคราะห์ แท่นวางชิ้นงานแบบใช้ความร้อน หัววัด RF และเครื่องมือทดสอบต่างๆ ได้
งานทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ที่แตกต่างกันนั้นต้องการการกำหนดค่าสถานีทดสอบที่แตกต่างกัน ไม่ว่าคุณจะต้องการการทำงานแบบแมนนวลสำหรับการวิจัยและพัฒนา การตรวจสอบเวเฟอร์อัตโนมัติสำหรับการผลิต การทดสอบ RF สำหรับอุปกรณ์ความถี่สูง หรือการทดสอบความร้อนสำหรับการวิเคราะห์ความน่าเชื่อถือ การเลือกใช้ระบบที่เหมาะสมจะช่วยเพิ่มความแม่นยำ ประสิทธิภาพ และมูลค่าของอุปกรณ์ในระยะยาวได้
ACCRETECH UF200R เป็นสถานีตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์แบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบและคุ้มค่า ซึ่งเปิดตัวโดย ACCRETECH จากประเทศญี่ปุ่น...
ตรวจสอบสต็อกและขอใบเสนอราคา
FP2000 เป็นเครื่องตรวจสอบเวเฟอร์/เฟรมแบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบขนาด 200 มม. (8 นิ้ว) ผลิตโดยบริษัท Accretech จากประเทศญี่ปุ่น
ตรวจสอบสต็อกและขอใบเสนอราคา
เครื่องตรวจสอบด้วยหัววัด ACCRETECH รุ่น AP3000 เป็นเครื่องตรวจสอบด้วยหัววัดที่มีความแม่นยำสูง ประสิทธิภาพสูง การสั่นสะเทือนต่ำ และเสียงรบกวนต่ำ ออกแบบมาเพื่อ...
ตรวจสอบสต็อกและขอใบเสนอราคา
ACCRETECH Probe Station UF3000EX เป็นอุปกรณ์ตรวจจับสัญญาณไฟฟ้าสำหรับแต่ละชิปบนแต่ละแผ่นเวเฟอร์ ออกแบบมาเพื่อรับประกัน...
ตรวจสอบสต็อกและขอใบเสนอราคาสถานีทดสอบ (Probe stations) ถูกใช้งานอย่างแพร่หลายในโรงงานผลิตเซมิคอนดักเตอร์ บริษัทออกแบบวงจรรวม สถาบันวิจัย มหาวิทยาลัย โรงงานบรรจุภัณฑ์ และห้องปฏิบัติการวิเคราะห์ความล้มเหลว
พูดคุยกับวิศวกรของเราสามารถกำหนดค่าระบบสถานีตรวจสอบแบบต่างๆ ได้ตามขนาดของเวเฟอร์ ความแม่นยำในการตรวจสอบ ประเภทของหัวจับ ความต้องการของกล้องจุลทรรศน์ สภาพการทดสอบ RF ช่วงอุณหภูมิ และระดับการทำงานอัตโนมัติ
เลือกใช้ระบบตามความต้องการในการทดสอบเวเฟอร์ขนาด 2 นิ้ว, 4 นิ้ว, 6 นิ้ว, 8 นิ้ว หรือ 12 นิ้ว
การใช้งานที่แตกต่างกัน เช่น RF, MEMS, การทดสอบ IC และการวิเคราะห์ความล้มเหลว ต้องการการกำหนดค่าที่แตกต่างกัน
ความแม่นยำในการกำหนดตำแหน่งระดับไมครอนมีความสำคัญอย่างยิ่งสำหรับแผ่นรองขนาดเล็ก ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ขั้นสูง และอุปกรณ์ที่มีความหนาแน่นสูง
ระบบแบบใช้มือเหมาะสำหรับห้องปฏิบัติการและการวิจัยและพัฒนา ในขณะที่ระบบอัตโนมัติเหมาะกว่าสำหรับการทดสอบในกระบวนการผลิต
การทดสอบคลื่นวิทยุและการทดสอบควบคุมอุณหภูมิจำเป็นต้องใช้หัววัด ระบบจับยึด และชุดอุปกรณ์ทดสอบแบบพิเศษ
สถานีตรวจวัดแบบใหม่ มือสอง และที่ได้รับการปรับปรุงใหม่ มีข้อดีด้านต้นทุนและระยะเวลาการจัดส่งที่แตกต่างกัน
ราคาของสถานีตรวจสอบชิ้นงานจะแตกต่างกันไป ขึ้นอยู่กับยี่ห้อ ขนาดของเวเฟอร์ ระดับการทำงานอัตโนมัติ ความสามารถด้าน RF หัวจับความร้อน ระบบกล้องจุลทรรศน์ อุปกรณ์เสริม และสภาพของอุปกรณ์
| ประเภทสถานีโพรบ | ช่วงราคาทั่วไป | ดีที่สุดสำหรับ |
|---|---|---|
| สถานีตรวจวัดแบบแมนนวล | $3,000 – $20,000+ | งานวิจัยและพัฒนา ห้องปฏิบัติการ มหาวิทยาลัย การทดสอบปริมาณน้อย |
| สถานีตรวจวัดแบบกึ่งอัตโนมัติ | $20,000 – $80,000+ | การตรวจสอบทางวิศวกรรมและการทดสอบปริมาณปานกลาง |
| สถานีตรวจสอบอัตโนมัติ | $80,000 – $300,000+ | การผลิตเซมิคอนดักเตอร์ที่มีประสิทธิภาพสูง |
| สถานีตรวจวัด RF | ขึ้นอยู่กับการตั้งค่า RF | ชิป RF, อุปกรณ์ไมโครเวฟ, ส่วนประกอบ 5G |
| สถานีโพรบที่ได้รับการปรับปรุงใหม่ | ต่ำกว่าอุปกรณ์ใหม่ | โครงการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ที่ช่วยประหยัดต้นทุน |
ราคาสุดท้ายขึ้นอยู่กับการกำหนดค่าจริงและสินค้าคงคลังที่มีอยู่ โปรดติดต่อเราเพื่อแจ้งความต้องการในการทดสอบของคุณเพื่อขอใบเสนอราคาที่แม่นยำยิ่งขึ้น
เราช่วยลูกค้าจัดหา ตรวจสอบ และจัดส่งระบบสถานีทดสอบจากแบรนด์อุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ชั้นนำตามข้อกำหนดการทดสอบและงบประมาณ
รุ่นที่มีจำหน่ายอาจเปลี่ยนแปลงได้ขึ้นอยู่กับสินค้าคงคลัง โปรดติดต่อเราเพื่อยืนยันสินค้าคงคลังปัจจุบัน รูปแบบ สภาพสินค้า ระยะเวลาจัดส่ง และราคา
เหมาะสำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์ การวิเคราะห์คุณสมบัติของอุปกรณ์ และการใช้งานในห้องปฏิบัติการเซมิคอนดักเตอร์
ตรวจสอบความพร้อมใช้งานตัวเลือกที่มืออาชีพเลือกใช้สำหรับการทดสอบเวเฟอร์ขั้นสูง การตรวจสอบด้วยคลื่นวิทยุ และการใช้งานที่ต้องการความแม่นยำสูง
ตรวจสอบความพร้อมใช้งานใช้สำหรับการทดสอบแผ่นเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ การวัดคลื่นความถี่วิทยุ และสภาพแวดล้อมการทดสอบในห้องปฏิบัติการ
ตรวจสอบความพร้อมใช้งานเหมาะสำหรับลูกค้าที่มองหาอุปกรณ์ทดสอบเซมิคอนดักเตอร์มือสองราคาประหยัด
ตรวจสอบความพร้อมใช้งานสาเหตุเกิดจากหัววัดสึกหรอ การจัดตำแหน่งผิดพลาด แผ่นรองสกปรก หรือแรงกดหัววัดไม่เหมาะสม
มักเกี่ยวข้องกับความแม่นยำในการจัดตำแหน่ง การตั้งค่ากล้องจุลทรรศน์ ความเรียบของหัวจับ หรือการควบคุมโดยผู้ปฏิบัติงาน
ต้องใช้หัววัด RF ที่เหมาะสม สายเคเบิล การสอบเทียบ การต่อสายดิน และการตั้งค่าสถานีวัดที่เข้ากันได้
การทดสอบทางความร้อนต้องอาศัยการควบคุมหัวจับที่เสถียรและการชดเชยอุณหภูมิที่เหมาะสม
การตรวจสอบด้วยหัววัดที่มีความแม่นยำสูงอาจต้องอาศัยการแยกแรงสั่นสะเทือน การออกแบบแท่นวางที่มั่นคง และการติดตั้งที่ถูกต้อง
ลูกค้าจำนวนมากเลือกใช้ระบบที่ไม่เหมาะสม โดยไม่พิจารณาขนาดของเวเฟอร์ การใช้งาน และการตั้งค่าการทดสอบ
เราให้การสนับสนุนผู้ผลิตเซมิคอนดักเตอร์ มหาวิทยาลัย ศูนย์วิจัยและพัฒนา ห้องปฏิบัติการทดสอบ บริษัทบรรจุภัณฑ์ และบริษัทอิเล็กทรอนิกส์ที่ต้องการอุปกรณ์ทดสอบเวเฟอร์ที่เชื่อถือได้
สำหรับลูกค้าที่ต้องการการกำหนดค่าล่าสุด ความเสถียรในระยะยาว และการสนับสนุนตลอดอายุการใช้งานของอุปกรณ์อย่างครบถ้วน
ทางเลือกที่คุ้มค่าสำหรับห้องปฏิบัติการ โรงงานผลิต และผู้ผลิตที่ต้องการอุปกรณ์ทดสอบที่เชื่อถือได้ด้วยการลงทุนที่ต่ำกว่า
เหมาะสำหรับโครงการเร่งด่วน การจัดซื้อที่คำนึงถึงงบประมาณ และความต้องการเปลี่ยนทดแทน
เราไม่ได้แค่ขายอุปกรณ์เท่านั้น เรายังช่วยลูกค้าเลือกใช้ระบบสถานีทดสอบที่เหมาะสมตามขนาดของเวเฟอร์ การใช้งานทดสอบ ความแม่นยำในการตรวจสอบ ข้อกำหนดด้าน RF สภาพการทดสอบทางความร้อน งบประมาณ และกำหนดการส่งมอบอีกด้วย
มีประสบการณ์ในการจัดหาอุปกรณ์ทดสอบ บรรจุภัณฑ์ และตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์
แต่ละระบบสามารถตรวจสอบ กำหนดค่า และยืนยันก่อนส่งออกได้
มีบริการบรรจุภัณฑ์เพื่อการส่งออก การสนับสนุนด้านโลจิสติกส์ และการจัดส่งอุปกรณ์ทั่วโลก
ช่วยลูกค้าเลือกโมเดลที่เหมาะสมตามวัตถุประสงค์การทดสอบและข้อกำหนดทางเทคนิค
สถานีทดสอบ (Probe Station) ใช้สำหรับการทดสอบทางไฟฟ้าในระดับเวเฟอร์ การกำหนดคุณลักษณะของอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ การวัดค่า RF การทดสอบ MEMS และการวิเคราะห์ความล้มเหลว
สถานีทดสอบแบบใช้มือควบคุมนั้นใช้งานด้วยมือและเหมาะสำหรับงานวิจัยและพัฒนาหรือการทดสอบปริมาณน้อย ในขณะที่สถานีทดสอบแบบอัตโนมัติให้ปริมาณงานที่สูงกว่าและนิยมใช้ในการทดสอบในสายการผลิต
ใช่แล้ว สถานีทดสอบเวเฟอร์มือสองและที่ได้รับการปรับปรุงใหม่เป็นตัวเลือกยอดนิยมสำหรับลูกค้าที่ต้องการอุปกรณ์ทดสอบเวเฟอร์ที่เชื่อถือได้ ด้วยการลงทุนที่ต่ำกว่าและการจัดส่งที่รวดเร็วกว่า
สถานีทดสอบ RF ถูกออกแบบมาเพื่อการทดสอบอุปกรณ์ความถี่สูง การวัดคลื่นไมโครเวฟ ชิ้นส่วน 5G ชิป RF และการใช้งานเซมิคอนดักเตอร์ขั้นสูง
ราคาขึ้นอยู่กับยี่ห้อ ขนาดเวเฟอร์ ระดับการทำงานอัตโนมัติ ความสามารถด้าน RF หัวจับความร้อน ระบบกล้องจุลทรรศน์ อุปกรณ์เสริม และว่าอุปกรณ์นั้นเป็นของใหม่หรือได้รับการปรับปรุงใหม่
คุณควรพิจารณาขนาดของเวเฟอร์ การใช้งานในการทดสอบ ความแม่นยำในการกำหนดตำแหน่ง ข้อกำหนดของกล้องจุลทรรศน์ ความเข้ากันได้กับคลื่นวิทยุ ข้อกำหนดของแท่นจับความร้อน ระดับของระบบอัตโนมัติ และงบประมาณ
โปรดแจ้งขนาดเวเฟอร์ การใช้งาน ยี่ห้อที่ต้องการ ความต้องการใช้งานแบบแมนนวลหรืออัตโนมัติ ความต้องการทดสอบ RF หรือความร้อน และงบประมาณของคุณ ทีมงานของเราจะแนะนำอุปกรณ์ที่เหมาะสมให้คุณ
เหตุใดผู้คนจำนวนมากจึงเลือกทำงานกับ GeekValue?
แบรนด์ของเรากำลังแพร่กระจายจากเมืองหนึ่งสู่อีกเมืองหนึ่ง และผู้คนมากมายถามผมว่า "GeekValue คืออะไร" แนวคิดนี้เกิดจากวิสัยทัศน์ที่เรียบง่าย นั่นคือการเสริมพลังนวัตกรรมจีนด้วยเทคโนโลยีที่ล้ำสมัย นี่คือจิตวิญญาณของแบรนด์ในการพัฒนาอย่างต่อเนื่อง ซึ่งแฝงอยู่ในการมุ่งมั่นในรายละเอียดอย่างไม่ลดละและความยินดีที่ได้ส่งมอบผลงานที่เหนือความคาดหมายทุกครั้ง ฝีมือและความทุ่มเทที่แทบจะเรียกได้ว่าเป็นหัวใจสำคัญนี้ ไม่เพียงแต่มาจากความมุ่งมั่นของผู้ก่อตั้งเท่านั้น แต่ยังเป็นแก่นแท้และความอบอุ่นของแบรนด์เราด้วย เราหวังว่าคุณจะเริ่มต้นจากตรงนี้ และมอบโอกาสให้เราสร้างสรรค์ผลงานที่สมบูรณ์แบบ มาร่วมกันสร้างปาฏิหาริย์ "ไร้ตำหนิ" ครั้งต่อไป
รายละเอียด
© สงวนลิขสิทธิ์ การสนับสนุนทางเทคนิค: CMS ปรับสีเขียว
EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xh