en
id
sk
srp
swe
it
pt
ben
may
bel
nl
fra
th
vie
ru
jp
kor
de
arm
aze
bos
bul
bur
cs
dan
div
el
est
fil
fin
gle
glg
grn
heb
hi
hkm
hrv
hu
ice
kan
kin
lao
lav
lit
ltz
lug
mao
mlt
nep
nor
nya
ori
orm
per
pl
rom
san
som
spa
swa
tam
tr
ukr
urd
wel
xho
ACCRETECH Probe Station UF3000EX-ը էլեկտրական ազդանշանի հայտնաբերման սարք է յուրաքանչյուր վաֆլիի վրա գտնվող յուրաքանչյուր չիպի համար, որը նախատեսված է կիսահաղորդչային արտադրանքի որակը ապահովելու համար: Սարքն օգտագործում է նոր սերնդի տեխնոլոգիա, որը զգալիորեն բարելավում է արտադրական հզորությունը նոր ալգորիթմների և վաֆլիների մշակման տեխնոլոգիայի միջոցով: Դրա բարձր արագությամբ, ցածր աղմուկով X և Y առանցքային հարթակները օգտվում են նոր շարժիչ համակարգից, մինչդեռ Z առանցքը ապահովում է համաշխարհային մակարդակի բեռնունակություն և բարձր ճշգրտություն: Սարքի նախագծային կառուցվածքը հուսալիորեն վերացնում է հարթության վրա ուժը՝ օպտիմալ կառուցվածքային նախագծման և տոպոլոգիայի լավ համադրության միջոցով: Բացի այդ, առաջադեմ OTS դիրքի մշակման համակարգը և գունավոր վաֆլի պատկերի հավասարեցման համակարգը, ինչպես նաև փոքր առավելագույն մեծացման ֆունկցիան, UF3000EX-ը դարձնում են բարձր ճշգրտության և շահագործման համար հարմար սարք արդյունաբերության մեջ:
Հիմնական առանձնահատկությունները
Բարձր արագություն և ցածր աղմուկ. Նոր շարժիչ համակարգը X և Y առանցքների հարթակները դարձնում է արդյունավետ և անաղմուկ։
Բարձր ճշգրտություն. Z առանցքը ապահովում է համաշխարհային կարգի բեռնունակություն և բարձր ճշգրտություն:
Կառուցվածքային օպտիմալացում. Հարթության վրա ուժը վերացվում է կառուցվածքային օպտիմալ նախագծման և տոպոլոգիայի լավ համադրության միջոցով։
Առաջադեմ դիրքորոշման համակարգ. Հագեցած է առաջադեմ OTS դիրքորոշման մշակման համակարգով և գունավոր վաֆլի պատկերի հավասարեցման համակարգով, փոքր առավելագույն մեծացման ֆունկցիայով։
Համատեղելիություն՝ Հարմար է մեծ տրամագծով վեֆլիների համար (φ300 մմ, մինչև 12 դյույմ), ավտոմատ կառավարման համակարգով, բարձր ճշգրտության հայտնաբերմամբ, բարձր թողունակությամբ, ցածր թրթռումով և այլն։
Կիրառման դաշտ
UF3000EX զոնդային կայանը լայնորեն օգտագործվում է կիսահաղորդչային արտադրության գործընթացում վաֆլիների փորձարկման համար, մասնավորապես LSI և VLSI արտադրական գծերում, որոնք կարող են ապահովել էլեկտրական ազդանշանի արդյունավետ և ճշգրիտ հայտնաբերում՝ ապահովելու համար արտադրանքի որակը և արտադրության արդյունավետությունը։
