Santec 튜닝 레이저 TSL-775

Santec TSL-775는 광통신 테스트, 광 감지, 광자 집적 회로(PIC) 특성화 및 최첨단 과학 연구를 위해 설계된 고출력, 광범위 튜닝 가능 레이저입니다. Santec의 고급 튜닝 가능 레이저 시리즈의 대표인 TSL-775는 출력 전력, 파장 정확도 및 튜닝 속도에서 뛰어나며 광원 성능에 대한 엄격한 요구 사항이 있는 애플리케이션에 적합합니다.

1. 핵심 기능 및 기술적 장점

(1) 넓은 파장 튜닝 범위

파장 범위: 1480–1640 nm(C 대역 및 L 대역 포함), 주류 광섬유 통신 창과 호환 가능.

튜닝 분해능: 0.1pm(피코미터 수준), 고정밀 파장 스캐닝 지원.

(2) 높은 출력 전력

최대 출력 전력: 80mW(일반)는 장거리 광섬유 테스트 및 고손실 장치 특성화 요구 사항을 충족합니다.

전력 안정성: ±0.02dB(단기), 테스트 데이터의 신뢰성을 보장합니다.

(3) 고속파장 튜닝

튜닝 속도: 최대 200 nm/s, 빠른 스캐닝 응용 분야(예: 스펙트럼 분석, OCT)에 적합합니다.

파장 반복성: ±1pm, 여러 번의 스캔의 일관성을 보장합니다.

(4) 낮은 노이즈 및 좁은 선폭

스펙트럼 선폭: <100 kHz (코히어런트 통신 레벨), 매우 낮은 위상 잡음.

상대 강도 잡음(RIN): <-150 dB/Hz, 고감도 감지에 적합합니다.

(5) 유연한 변조 및 제어

직접 변조 대역폭: DC–100MHz, 아날로그/디지털 변조 지원.

인터페이스: GPIB, USB, LAN, 자동화 테스트 시스템과 호환 가능.

2. 일반적인 적용 분야

(1) 광통신 시험

DWDM 시스템 검증: 다중 파장 채널 시뮬레이션, 광 모듈 및 ROADM 성능 테스트.

실리콘 광소자 특성 분석: 변조기와 광도파관의 파장에 따른 응답을 측정합니다.

(2) 광 센싱

FBG(Fiber Bragg Grating) 복조: 온도/변형으로 인한 파장 이동을 고정밀로 감지합니다.

분산형 파이버 센싱(DAS/DTS): 고출력의 안정적인 광원을 제공합니다.

(3) 광자집적회로(PIC) 테스트

실리콘 광자 칩 디버깅: 빠른 파장 스캐닝, 소자 삽입 손실, 크로스토크 및 기타 매개변수 평가.

조정 가능한 레이저 소스 통합: PIC의 파장 관련 성능 검증에 사용됩니다.

(4) 과학연구실험

양자 광학: 얽힌 광자 쌍의 생성, 양자 키 분배(QKD).

비선형 광학 연구: 자극 브릴루앙 산란(SBS), 4파장 혼합(FWM).

3. 기술적 매개변수(일반적인 값)

매개변수 TSL-775 사양

파장 범위 1480–1640 nm (C/L 대역)

출력 전력 80mW(최대)

파장 정확도 ±1pm(내장 파장계 교정)

튜닝 속도 최대 200 nm/s

스펙트럼 선폭 <100 kHz

전력 안정성 ±0.02dB(단기)

변조 대역폭 DC–100MHz

인터페이스 GPIB, USB, LAN

4. 경쟁사와의 비교 (TSL-775 대 기타 튜닝 가능 레이저)

특징 TSL-775(Santec) Keysight 81600B Yenista T100S-HP

파장대역 1480~1640nm 1460~1640nm 1500~1630nm

출력 전력 80mW 10mW 50mW

튜닝 속도 200 nm/s 100 nm/s 50 nm/s

파장 정확도 ±1 pm ±5 pm ±2 pm

적용 시나리오 고속 테스트/PIC 특성화 일반 통신 테스트 고전력 감지

5. 핵심 장점 요약

고전력 출력(80mW) - 장거리 또는 고손실 테스트 시나리오에 적합합니다.

초고속 튜닝(200 nm/s) - 테스트 효율성을 높이고 동적 스캐닝 요구 사항에 적응합니다.

피코미터 수준의 파장 정확도 - 광자 집적 회로(PIC)의 정밀 테스트 요구 사항을 충족합니다.

낮은 노이즈와 좁은 선폭 - 일관된 통신과 양자 실험을 위한 순수한 광원을 제공합니다.

일반적인 사용자:

광통신 장비 제조업체(예: Huawei, Cisco)

광자칩 R&D 연구실(인텔 실리콘 포토닉스 팀 등)

국가 과학 연구 기관(양자 기술, 광 센싱)