ACCRETECH Probe Station UF3000EX

ACCRETECH Probe Station UF3000EX ເປັນອຸປະກອນກວດຈັບສັນຍານໄຟຟ້າສໍາລັບແຕ່ລະຊິບໃນແຕ່ລະ wafer, ອອກແບບເພື່ອຮັບປະກັນຄຸນນະພາບຂອງຜະລິດຕະພັນ semiconductor. ອຸປະກອນດັ່ງກ່າວໃຊ້ເທກໂນໂລຍີລຸ້ນຕໍ່ໄປ, ເຊິ່ງປັບປຸງຄວາມສາມາດໃນການຜະລິດຢ່າງຫຼວງຫຼາຍໂດຍຜ່ານລະບົບສູດການຄິດໄລ່ໃຫມ່ແລະເຕັກໂນໂລຢີການຈັດການ wafer. ເວທີແກນ X ແລະ Y ທີ່ມີຄວາມໄວສູງ, ສຽງຕ່ໍາ, ໄດ້ຮັບຜົນປະໂຫຍດຈາກລະບົບໄດໃຫມ່, ໃນຂະນະທີ່ແກນ Z ຮັບປະກັນຄວາມສາມາດໃນການໂຫຼດລະດັບໂລກແລະຄວາມແມ່ນຍໍາສູງ. ໂຄງສ້າງການອອກແບບຂອງອຸປະກອນດັ່ງກ່າວສາມາດກໍາຈັດກໍາລັງຂອງຍົນໄດ້ຢ່າງຫນ້າເຊື່ອຖືໂດຍຜ່ານການປະສົມປະສານທີ່ດີຂອງການອອກແບບໂຄງສ້າງທີ່ດີທີ່ສຸດແລະ topology. ນອກຈາກນັ້ນ, ລະບົບການປຸງແຕ່ງຕໍາແຫນ່ງ OTS ກ້າວຫນ້າແລະລະບົບການຈັດຕໍາແຫນ່ງຮູບພາບ wafer ສີ, ເຊັ່ນດຽວກັນກັບຫນ້າທີ່ຂະຫຍາຍສູງສຸດຂະຫນາດນ້ອຍທີ່ຕິດຕັ້ງ, ເຮັດໃຫ້ UF3000EX ເປັນອຸປະກອນທີ່ມີຄວາມແມ່ນຍໍາສູງແລະສາມາດປະຕິບັດໄດ້ໃນອຸດສາຫະກໍາ.

ຄຸນນະສົມບັດຕົ້ນຕໍ

ຄວາມໄວສູງແລະສຽງຕ່ໍາ: ລະບົບຂັບໃຫມ່ເຮັດໃຫ້ເວທີແກນ X ແລະ Y ເຮັດວຽກຢ່າງມີປະສິດທິພາບແລະງຽບ.

ຄວາມແມ່ນຍໍາສູງ: ແກນ Z ຮັບປະກັນຄວາມສາມາດໃນການໂຫຼດລະດັບໂລກແລະຄວາມແມ່ນຍໍາສູງ.

ການເພີ່ມປະສິດທິພາບໂຄງສ້າງ: ກໍາລັງຂອງຍົນໄດ້ຖືກລົບລ້າງໂດຍຜ່ານການປະສົມປະສານທີ່ດີຂອງການອອກແບບໂຄງສ້າງທີ່ດີທີ່ສຸດແລະ topology.

ລະບົບການຈັດຕໍາແຫນ່ງແບບພິເສດ: ມີລະບົບການປຸງແຕ່ງຕໍາແຫນ່ງ OTS ຂັ້ນສູງແລະລະບົບການຈັດຕໍາແຫນ່ງຮູບພາບ wafer ສີ, ມີຟັງຊັນການຂະຫຍາຍການຂະຫຍາຍສູງສຸດຂະຫນາດນ້ອຍ.

ຄວາມເຂົ້າກັນໄດ້: ເຫມາະສໍາລັບ wafers ເສັ້ນຜ່າກາງຂະຫນາດໃຫຍ່ (φ300 ມມ, ສູງເຖິງ 12 ນິ້ວ), ມີລະບົບປະຕິບັດງານອັດຕະໂນມັດ, ການກວດສອບຄວາມແມ່ນຍໍາສູງ, throughput ສູງ, ການສັ່ນສະເທືອນຕ່ໍາ, ແລະອື່ນໆ.

ພາກສະຫນາມຄໍາຮ້ອງສະຫມັກ

ສະຖານີ probe UF3000EX ຖືກນໍາໃຊ້ຢ່າງກວ້າງຂວາງໃນການທົດສອບ wafer ໃນຂະບວນການຜະລິດ semiconductor, ໂດຍສະເພາະໃນສາຍການຜະລິດຂອງ LSI ແລະ VLSI, ເຊິ່ງສາມາດສະຫນອງການກວດສອບສັນຍານໄຟຟ້າທີ່ມີປະສິດທິພາບແລະຖືກຕ້ອງເພື່ອຮັບປະກັນຄຸນນະພາບຂອງຜະລິດຕະພັນແລະປະສິດທິພາບການຜະລິດ.