Spar opptil 70 % på SMT-deler – På lager og klar til forsendelse
Få et tilbud →Profesjonelle probestasjonsløsninger for wafernivåtesting, RF-måling, MEMS-analyse, IC-karakterisering, feilanalyse og forskning og utvikling av halvledere. Nye, brukte og renoverte systemer er tilgjengelige for globale kunder.
En probestasjon er et presisjonstestsystem som brukes til å kontakte halvlederwafere, brikker, MEMS-enheter, RF-brikker og mikroelektroniske komponenter med probenåler. Det hjelper ingeniører med å utføre elektrisk testing, enhetskarakterisering, prosessverifisering og feilanalyse før pakking eller masseproduksjon.
Brukes til inspeksjon av halvlederwafere, elektrisk måling og enhetsvalidering.
Støtter nøyaktig probejustering for små pads, brikker og avanserte enheter.
Kompatibel med mikroskoper, analysatorer, termiske chucker, RF-prober og testinstrumenter.
Ulike oppgaver for halvledertesting krever ulike konfigurasjoner av probestasjoner. Enten du trenger manuell drift for FoU, automatisk waferprobing for produksjon, RF-testing for høyfrekvente enheter eller termisk testing for pålitelighetsanalyse, kan valg av riktig system forbedre testnøyaktighet, effektivitet og langsiktig verdi av utstyr.
ACCRETECH UF200R er en helautomatisert, kostnadseffektiv halvlederprobestasjon lansert av ACCRETECH i Japan, d...
Sjekk lagerbeholdning og tilbud
FP2000 er en 200 mm (8-tommers) helautomatisk wafer/frame-prober med dobbeltfunksjon produsert av Accretech i Japan.
Sjekk lagerbeholdning og tilbud
ACCRETECH Probe Station AP3000 er en høypresisjons, høyeffektiv, lavvibrasjons- og støysvak probemaskin designet for å ...
Sjekk lagerbeholdning og tilbud
ACCRETECH Probe Station UF3000EX er en elektrisk signaldeteksjonsenhet for hver brikke på hver wafer, designet for å sikre...
Sjekk lagerbeholdning og tilbudProbestasjoner er mye brukt i halvlederfabrikker, IC-designselskaper, forskningsinstitutter, universiteter, pakkefirmaer og feilanalyselaboratorier.
Snakk med ingeniøren vårUlike probestasjonssystemer kan konfigureres i henhold til waferstørrelse, probeenøyaktighet, chucktype, mikroskopkrav, RF-testforhold, temperaturområde og automatiseringsnivå.
Velg system i henhold til behovene for wafertesting på 2-tommers, 4-tommers, 6-tommers, 8-tommers eller 12-tommers.
Ulike applikasjoner som RF, MEMS, IC-testing og feilanalyse krever forskjellige konfigurasjoner.
Posisjoneringsnøyaktighet på mikronnivå er viktig for små pads, avanserte brikker og enheter med høy tetthet.
Manuelle systemer passer for laboratorier og FoU, mens automatiske systemer er bedre for produksjonstesting.
RF-testing og temperaturkontrollert testing krever spesielle prober, chucksystemer og testoppsett.
Nye, brukte og renoverte probestasjoner gir ulike kostnads- og leveringsfordeler.
Prisene på probestasjoner varierer avhengig av merke, waferstørrelse, automatiseringsnivå, RF-kapasitet, termisk chuck, mikroskopsystem, tilbehør og utstyrets tilstand.
| Sondestasjonstype | Typisk prisklasse | Best for |
|---|---|---|
| Manuell sondestasjon | $3,000 – $20,000+ | FoU, laboratorier, universiteter, lavvolumstesting |
| Halvautomatisk sondestasjon | $20,000 – $80,000+ | Ingeniørverifisering og testing i mellomstore volum |
| Automatisk sondestasjon | $80,000 – $300,000+ | Høykapasitets halvlederproduksjon |
| RF-sondestasjon | Avhenger av RF-oppsettet | RF-brikker, mikrobølgeenheter, 5G-komponenter |
| Renovert sondestasjon | Lavere enn nytt utstyr | Kostnadsbesparende halvledertestingsprosjekter |
Den endelige prisen avhenger av faktisk konfigurasjon og tilgjengelig lagerbeholdning. Kontakt oss med dine testkrav for et mer nøyaktig pristilbud.
Vi hjelper kunder med å finne, inspisere og levere probestasjonssystemer fra kjente merker av halvlederutstyr i henhold til testkrav og budsjett.
Tilgjengelige modeller kan endres avhengig av lagerbeholdning. Kontakt oss for å bekrefte gjeldende lagerbeholdning, konfigurasjon, tilstand, leveringstid og pristilbud.
Egnet for waferprobing, enhetskarakterisering og halvlederlaboratorieapplikasjoner.
Sjekk tilgjengelighetProfesjonelt valg for avansert wafertesting, RF-prober og høypresisjonsapplikasjoner.
Sjekk tilgjengelighetBrukes til testing av halvlederwafere, RF-måling og laboratorietestmiljøer.
Sjekk tilgjengelighetTilgjengelig for kunder som ser etter kostnadseffektivt brukt testutstyr for halvledere.
Sjekk tilgjengelighetForårsaket av probeslitasje, justeringsfeil, skitne elektroder eller uegnet probekraft.
Ofte relatert til posisjoneringsnøyaktighet, mikroskopoppsett, chuckens flathet eller operatørhåndtering.
Krever riktige RF-prober, kabler, kalibrering, jording og oppsett av kompatibel probestasjon.
Termisk testing krever stabil chuckkontroll og passende temperaturkompensasjon.
Presisjonssondering kan kreve vibrasjonsisolasjon, stabil plattformdesign og riktig installasjon.
Mange kunder velger uegnede systemer uten å vurdere waferstørrelse, applikasjon og testoppsett.
Vi støtter halvlederprodusenter, universiteter, FoU-sentre, testlaboratorier, emballasjeselskaper og elektronikkselskaper som trenger pålitelig utstyr for testing av wafere.
For kunder som trenger den nyeste konfigurasjonen, langsiktig stabilitet og full støtte for utstyrets livssyklus.
Kostnadseffektivt valg for laboratorier, fabrikker og produsenter som trenger pålitelig testutstyr med lavere investering.
Passer for presserende prosjekter, budsjettsensitive kjøp og erstatningsbehov.
Vi selger ikke bare utstyr. Vi hjelper kunder med å velge passende probestasjonssystemer i henhold til waferstørrelse, testapplikasjon, probe-nøyaktighet, RF-krav, termiske testforhold, budsjett og leveringsplan.
Erfaring med levering av utstyr for testing, pakkeing og inspeksjon av halvledere.
Hvert system kan kontrolleres, konfigureres og verifiseres før eksport.
Eksportemballasje, logistikkstøtte og verdensomspennende utstyrslevering tilgjengelig.
Hjelp kunder med å finne riktig modell basert på testformål og tekniske krav.
En probestasjon brukes til elektrisk testing på wafernivå, karakterisering av halvlederenheter, RF-måling, MEMS-testing og feilanalyse.
En manuell probestasjon betjenes manuelt og er egnet for FoU eller lavvolumstesting. En automatisk probestasjon tilbyr høyere gjennomstrømning og brukes ofte i produksjonstesting.
Ja. Brukte og renoverte probestasjoner er populære alternativer for kunder som ønsker pålitelig wafertestutstyr med lavere investering og raskere levering.
RF-probestasjoner er designet for testing av høyfrekvente enheter, mikrobølgemåling, 5G-komponenter, RF-brikker og avanserte halvlederapplikasjoner.
Prisen avhenger av merke, waferstørrelse, automatiseringsnivå, RF-kapasitet, termisk chuck, mikroskopsystem, tilbehør og om utstyret er nytt eller renovert.
Du bør vurdere waferstørrelse, testapplikasjon, posisjoneringsnøyaktighet, mikroskopkrav, RF-kompatibilitet, krav til termisk chuck, automatiseringsnivå og budsjett.
Fortell oss din waferstørrelse, bruksområde, foretrukket merke, manuelle eller automatiske krav, behov for RF- eller termisk testing og budsjett. Teamet vårt vil anbefale passende utstyr.
Hvorfor velger så mange å jobbe med GeekValue?
Merket vårt sprer seg fra by til by, og utallige har spurt meg: «Hva er GeekValue?» Det stammer fra en enkel visjon: å styrke kinesisk innovasjon med banebrytende teknologi. Dette er en merkevareånd for kontinuerlig forbedring, skjult i vår ustanselige jakt på detaljer og gleden ved å overgå forventningene med hver leveranse. Dette nesten obsessive håndverket og dedikasjonen er ikke bare grunnleggernes utholdenhet, men også essensen og varmen i merkevaren vår. Vi håper du vil starte her og gi oss en mulighet til å skape perfeksjon. La oss samarbeide for å skape det neste «nullfeil»-mirakelet.
DetaljerKontakt en salgsekspert
Se ut til salgslaget vårt for å utforske egnet løsninger som fullstendig møter forretningsbehov og avtale spørsmål du kan ha.
© Alle rettigheter bevares. Teknisk støtte: TiaoQingCMS
EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xh