Economisiți până la 70% la piese SMT – În stoc și gata de livrare
Obțineți o ofertă →Un operator de testare a circuitelor integrate prezintă testerului dispozitive semiconductoare ambalate în condiții mecanice și termice controlate, apoi le direcționează în funcție de rezultatul electric. Selecția echipamentului depinde de ambalaj, mediul de producție, temperatura de testare, numărul de locații active, interfața de contact și testerul de semiconductori deja utilizat pe linie.
Familia de pachete, dimensiunea corpului, structura terminalului, suprafața de preluare, puterea dispozitivului și zonele sensibile.
Tavă, tub, bandă, vrac, bandă, ramă de film sau alt suport de producție acceptat.
Testare la temperatură ambientală, caldă, rece sau tri-temperatură, cu condițiile de impregnare și recuperare necesare.
Locații active, durata testului electric, metoda de contact, resursele testerului și cerințele interfeței.
Examinați mașinile disponibile, apoi confirmați kitul instalat, configurația termică, locațiile de testare active, interfața testerului, software-ul și accesoriile incluse pe unitatea individuală.
SUNBIRD oferă o soluție eficientă, fiabilă și flexibilă de testare a plachetelor pentru industria semiconductorilor prin inovație...
Ca o versiune îmbunătățită a modelului MS100, ASM MS100 Plus este, de asemenea, un dispozitiv pentru sortarea și aranjarea cipurilor bazat pe plachete...
ISMECA NY20 (acum deținută de Cohu) este o mașină rotativă de testare și sortare a semiconductorilor de ultra-mare viteză, cu 20 de stații.
Mașina de sortare ASM MS90 este un dispozitiv conceput pentru sortarea perlelor de lămpi, cu funcții de sortare eficiente și precise. Aceasta...
Aceeași familie de manipulatoare poate utiliza kituri de dispozitive, contactoare, căi media și hardware termic diferite. Un desen al pachetului și dimensiunile reale ale dispozitivului oferă de obicei un punct de plecare mai bun decât un nume general al pachetului.
Corpuri subțiri ale pachetelor, plăcuțe expuse, orientare, geometrie a buzunarului și plasare repetabilă la locul de contact.
Conturul corpului, grosimea, dispunerea terminalelor, partea expusă a pad-ului, formatul tăvii sau tubului, pasul contactorului și cerințele de vizibilitate.
Dimensiuni foarte mici ale corpului, protecție împotriva mingii sau a loviturilor, suprafață de preluare, aliniere vizuală și poziționare stabilă a contactului.
Dimensiunea corpului, harta sferică, înălțimea coletului, formatul transportorului, restricțiile de suprafață, înclinarea amplasamentului și metoda de inspecție necesară.
Deformarea pachetului, protecția bilei, alinierea soclului, forța de contact, puterea dispozitivului și răspunsul termic în timpul testului.
Dimensiunile pachetului, harta terminalelor, înălțimea, disiparea puterii, numărul de locații țintă și priza sau contactorul selectat.
Protecție cu plumb, compatibilitate cu tava sau tubul, orientarea pachetului, prevenirea blocajelor și așezare repetabilă la locul de testare.
Numărul de plumb, pasul, grosimea pachetului, mediile de intrare, recipientele de ieșire și dacă este necesară inspecția plumbului sau a orientării.
Forță de contact mai mare, căldură a dispozitivului, structuri sensibile, cerințe de stimulare sau orientare și inspecție speciale.
Sarcina electrică, autoîncălzirea, stimulul de presiune sau mișcare, fragilitatea ambalajului și interfața necesară dintre celula de testare.
Testarea înainte de singularizarea completă sau direct dintr-un cadru, menținând în același timp precizia hărții și protecția pachetului.
Dimensiunile benzii sau cadrului, harta unității, pasul dispozitivului, temperatura de testare, amplasarea amplasamentului și ruta de ieșire în aval.
Un gestionator rapid nu creează automat o celulă de testare rapidă. Rezultatul efectiv este determinat de timpul de testare electrică, locațiile paralele utilizabile, indexul și timpul de contact, recuperarea temperaturii, regulile de retestare și stabilitatea interfeței de contact.
Programele de testare mai lungi pot ocupa amplasamentul pentru cea mai mare parte a ciclului, chiar și atunci când manipulantul mișcă rapid dispozitivele.
Testarea paralelă crește randamentul numai atunci când testerul, programul, hardware-ul interfeței și contactorii acceptă același număr de locații.
Preluarea, orientarea, plasarea, inserarea, eliberarea și mișcarea de ieșire determină cât de eficient este utilizat testerul.
Timpul de impregnare, autoîncălzirea dispozitivului, recontactarea, retestarea, blocajele și gestionarea ieșirii pot modifica producția reală de unități bune.
Comparați celula de testare finală completă a dispozitivului ambalat, în loc să selectați un dispozitiv de gestionare a testului IC doar dintr-o cifră de randament mecanic maxim.
Manipulatorul trebuie să aducă dispozitivul în starea necesară și să îl prezinte în mod consecvent interfeței electrice. Aceste două aspecte determină adesea dacă o platformă existentă poate fi reutilizată sau necesită o configurație diferită.
Trecerea la o altă capsula de circuit integrat poate afecta încărcarea, transportul dispozitivului, hardware-ul de contact, controlul termic, viziunea, software-ul și sortarea finală. Aceleași puncte ar trebui verificate atunci când se compară o mașină disponibilă sau utilizată.
O tavă sau un soclu nou este rareori suficient de unul singur. Revizuiți hardware-ul și software-ul de la prezentarea intrărilor până la rezultatul final.
Tava, tubul, banda, bolul, banda sau componentele cadrului trebuie să accepte noul ambalaj și să își păstreze orientarea.
Instrumentele de preluare, cuiburile, șinele, buzunarele, eșapamentele, pistonurile și ghidajele pot necesita înlocuire sau reglare.
Priza, contactorul, placa de încărcare, pasul dintre amplasament, hardware-ul de andocare și forța de contact trebuie să corespundă noului dispozitiv.
Hardware-ul instalat pentru încălzire, răcire și controlul DUT trebuie să fie compatibil cu noul interval de temperatură și putere.
Camerele, iluminatul, citirea marcajelor, orientarea pinului unu și rețetele de inspecție pot necesita o configurație diferită.
Rețetele, logica bin, comunicarea cu testerul, limitele de siguranță și validarea tehnică trebuie finalizate înainte de lansare.
Două mașini din aceeași familie de platforme pot avea opțiuni instalate diferite și valori de conversie diferite.
Producător, model complet, număr de serie, anul de fabricație, generația controlerului și starea actuală.
Pachet acceptat, interval de dimensiuni, încărcătoare, descărcătoare, cuiburi, tăvi, tuburi și piese de conversie specifice pachetului.
Numărul de locații active, dispunerea capetelor de testare, prizele sau contactoarele, hardware-ul de andocare și comunicarea testerului.
Module, senzori, echipamente de răcire și utilități necesare pentru temperatură ambientală, caldă, rece sau tri-temperatură.
PC, sistem de operare, versiune aplicație, licențe, rețete, copii de rezervă, opțiuni de vizualizare și trasabilitate.
Accesorii, kituri de rezervă, manuale, înregistrări disponibile, ambalare, instalare și asistență incluse în ofertă.
Compatibilitatea finală depinde de pachetul circuitului integrat, configurația mașinii instalate, interfața testerului, cerințele de temperatură și obiectivul de producție.
Suportul depinde de arhitectura handlerului și de kitul de conversie instalat. Aplicațiile comune includ QFN, DFN, WLCSP, BGA, CSP, LGA, QFP, TSOP, TSSOP, pachete de alimentare și senzori, dar dimensiunile exacte, mediul și interfața de contact trebuie verificate pe fiecare mașină în parte.
Testarea multi-site prezintă testerului mai multe dispozitive în același timp. Aceasta poate îmbunătăți randamentul atunci când resursele testerului, programul de testare, configurația locației, contactoarele și sistemul termic suportă același nivel de funcționare în paralel.
Multe dispozitive trebuie testate în condiții ambientale, la cald sau la rece pentru a le verifica performanța. Manipulatorul poate condiționa pachetul înainte de contact și poate menține temperatura DUT necesară în timpul testului electric.
Acest lucru poate fi posibil atunci când platforma acceptă pachetul, suportul media, aspectul amplasamentului, condițiile de temperatură și interfața testerului necesare. Conversia poate implica încărcarea hardware-ului, a sculelor dispozitivului, a prizelor, a contactoarelor, a sistemelor de inspecție video, a software-ului și a validării.
Manipulatorul mișcă, condiționează, poziționează și sortează circuitul integrat încapsulat. Testerul de semiconductori aplică stimuli electrici, măsoară răspunsul și returnează rezultatul utilizat pentru binning sau rutare a ieșirii.
Furnizați modelul preferat, dacă este cunoscut, desenul capsulare circuit integrat, mediul de intrare și ieșire, temperatura de testare, numărul de locații țintă, timpul aproximativ de testare, platforma de testare, starea echipamentului necesar, cantitatea și destinația.
Trimiteți desenul ambalajului, formatul suportului media, cerințele de temperatură, numărul de locații active, timpul de testare și modelul testerului, astfel încât echipamentul disponibil să poată fi verificat în raport cu celula de testare finală prevăzută.
De ce aleg atât de mulți oameni să lucreze cu GeekValue?
Brandul nostru se răspândește din oraș în oraș, iar nenumărați oameni m-au întrebat: „Ce este GeekValue?”. Aceasta pornește dintr-o viziune simplă: să susținem inovația chineză cu tehnologie de ultimă generație. Acesta este spiritul unui brand de îmbunătățire continuă, ascuns în căutarea noastră neobosită a detaliilor și încântarea de a depăși așteptările cu fiecare livrare. Această măiestrie și dăruire aproape obsesivă nu reprezintă doar perseverența fondatorilor noștri, ci și esența și căldura brandului nostru. Sperăm că veți începe aici și ne veți oferi oportunitatea de a crea perfecțiunea. Haideți să lucrăm împreună pentru a crea următorul miracol „zero defecte”.
DetaliiContactați un expert în vânzări
Contactați echipa noastră de vânzări pentru a explora soluții personalizate care satisfac perfect nevoile afacerii dvs. și pentru a răspunde oricăror întrebări pe care le puteți avea.
© Toate drepturile rezervate. Suport tehnic: TiaoQingCMS
EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xh