EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhFeniks;
Model: mikromeks;
Prvo: Nemačka;
Ključne reči: X-RAY, X-ray mašina, X-ray inspekcijski sistem;
Uvedenje feniksa rendgenske inspekcijske opreme
Feniks x zrak pruža mikrofokus i nanofokus TM X-zračne sisteme u skladu sa različitim poljima aplikacije i pruža kompletne i personalizovane rešenje za dvodimenzionalne automatske inspekcije koje se koriste u mnogim industrijama poput elektronike, polupravljača, automobila, avijacije itd. Ova rešenja se uglavnom koriste u pakiranju polupravljača, komplekciji PCB (pritiskana ploča za cirkus), proizvodnji multislojnih ploča za osiguranje cirkuskih ploča, mikromehanika i motori.
Kompjuterski tomografijski sistem tehnologije za submikronsku rezoluciju
Pored dva dimenzionalnih inspekcijskih sustava, feniks.reniks takođe pruža visoke rezolucije kompjuterske tomografijske tehnologije sa širom niz aplikacija. Na primjer, nanotom® je 160 kV nanofokus TM sistem posebno korišteni u nauci materijala, mikromehaniku, elektroniku, geologiji i biologiji. Sistem se može koristiti za trodimenzionalno otkrivanje mikrostruktura različitih materijalnih uzorka kao što su sintetički materijali, keramike, kompozitni materijali, metali ili kamenje.
