EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhMarca: Phoenix;
Modelo: micromex;
Origem: Alemanha;
Palavras-chave: RAY-X, máquina de raios X, sistema de inspeção de raios X;
Introdução do equipamento de inspecção por raios X Phoenix
O raio X Phoenix fornece sistemas de raios X de microfocagem e nanofocusTM de acordo com diferentes campos de aplicação e fornece soluções completas e personalizadas para sistemas de inspeção automática bidimensional usados em muitas indústrias, tais como eletrônica, semicondutores, automóveis, aviação, etc. Estas soluções são usadas principalmente em embalagens de semicondutores, montagem de PCB (placa de circuito impresso), produção de placas multicamadas de placa de circuito impresso, micromecânica e motores.
Sistema de tecnologia de tomografia computadorizada de resolução submicrónica
Além dos sistemas de inspeção bidimensional, phoenix|xray também fornece sistemas de tecnologia de tomografia computadorizada de alta resolução com uma ampla gama de aplicações. Por exemplo, nanotom® é um sistema nanofocusTM de 160 kV especialmente usado em ciência de materiais, micromecânica, eletrônica, geologia e biologia. O sistema pode ser usado para detecção tridimensional de microestruturas de várias amostras de material, tais como materiais sintéticos, cerâmicas, materiais compostos, metais ou rochas.
