EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhအမှတ်တံဆိပ်- Phoenix;
မော်ဒယ်- micromex;
မူရင်းက ဂျာမန်၊
သော့ချက်စာလုံးများ- X-RAY၊ X-ray စက်၊ X-ray စစ်ဆေးရေးစနစ်၊
Phoenix X-ray စစ်ဆေးရေးကိရိယာ မိတ်ဆက်
Phoenix x ray သည် မတူညီသော အပလီကေးရှင်းနယ်ပယ်များအလိုက် microfocus နှင့် nanofocusTM X-ray စနစ်များကို ထောက်ပံ့ပေးပြီး အီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်း၊ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း၊ မော်တော်ကား၊ လေကြောင်းစသည်ဖြင့် စက်မှုလုပ်ငန်းများစွာတွင် အသုံးပြုသည့် နှစ်ဖက်မြင် အလိုအလျောက်စစ်ဆေးရေးစနစ်များအတွက် ပြီးပြည့်စုံသောနှင့် စိတ်ကြိုက်ဖြေရှင်းချက်များကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ ဤဖြေရှင်းချက်များကို ဆီမီးကွန်ဒတ်တာထုပ်ပိုးမှု၊ PCB (ပရင့်ထုတ်ထားသော ဆားကစ်ဘုတ်)၊ micromechanics နှင့် မော်တာများ။
Submicron ရုပ်ထွက် ကွန်ပျူတာ ဓာတ်မှန်ရိုက်နည်းပညာ စနစ်
နှစ်ဘက်မြင်စစ်ဆေးခြင်းစနစ်များအပြင် phoenix|xray သည် အသုံးချပရိုဂရမ်များစွာဖြင့် ကြည်လင်ပြတ်သားမှုမြင့်မားသော ကွန်ပျူတာဓာတ်မှန်ရိုက်နည်းပညာစနစ်များကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ nanotom® သည် 160 kV nanofocusTM စနစ်အား ပစ္စည်းများသိပ္ပံ၊ အဏုစက်မှုပညာ၊ အီလက်ထရွန်နစ်၊ ဘူမိဗေဒနှင့် ဇီဝဗေဒတို့တွင် အထူးအသုံးပြုထားသော စနစ်တစ်ခုဖြစ်သည်။ ဓာတုဗေဒပစ္စည်းများ၊ ကြွေထည်များ၊ ပေါင်းစပ်ပစ္စည်းများ၊ သတ္တုများ သို့မဟုတ် ကျောက်တုံးများကဲ့သို့သော အမျိုးမျိုးသော ပစ္စည်းနမူနာများ၏ အသေးစားဖွဲ့စည်းပုံများကို သုံးဖက်မြင်သိရှိနိုင်စေရန်အတွက် အသုံးပြုနိုင်သည်။
