EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhMarca: Phoenix;
Modelo: micromex;
Orixe: Alemaña;
Palabras clave: RAIOS X, máquina de raios X, sistema de inspección de raios X;
Introdución ao equipo de inspección de raios X Phoenix
Phoenix x ray ofrece sistemas de raios X microfocus e nanofocusTM segundo diferentes campos de aplicación, e ofrece solucións completas e personalizadas para sistemas de inspección automática bidimensionais utilizados en moitas industrias como a electrónica, semicondutores, automóbiles, aviación, etc. Estas solucións son principalmente usado en envases de semicondutores, montaxe de PCB (placa de circuíto impreso), produción de placas multicapa de placas de circuíto impreso, micromecánica e motores.
Sistema de tecnoloxía de tomografía computarizada de resolución submicronica
Ademais dos sistemas de inspección bidimensional, phoenix|xray tamén ofrece sistemas de tecnoloxía de tomografía informática de alta resolución cunha ampla gama de aplicacións. Por exemplo, nanotom® é un sistema nanofocusTM de 160 kV usado especialmente en ciencia de materiais, micromecánica, electrónica, xeoloxía e bioloxía. O sistema pódese utilizar para a detección tridimensional de microestruturas de varias mostras de materiais como materiais sintéticos, cerámicas, materiais compostos, metais ou rochas.
