EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhПолучите упакованное устройство
Загрузка устройств осуществляется из лотков, трубок, лент, пленочных рамок или других поддерживаемых производственных носителей.
Роботизированная обработка полупроводниковых компонентов на заключительном этапе тестирования
Инструменты для захвата и перемещения компонентов при окончательном тестировании полупроводниковых изделий
Устройство для захвата и перемещения полупроводниковых приборов перемещает упакованные полупроводниковые устройства между средой ввода, ориентацией, терморегулированием, участками электрического тестирования и отсортированными выходами. Полезная конфигурация определяется типом корпуса, продолжительностью тестирования, полупроводниковым тестером, методом контакта, количеством участков тестирования и температурой тестируемого устройства, а не только моделью устройства.
Контроль ориентации и размещения
Система машинного зрения, захватывающие головки и роботизированное перемещение обеспечивают выравнивание упаковки до того, как она достигнет места электрического контакта.
Предъявите тестируемое устройство (DUT) тестировщику.
Оператор контролирует положение, движение при вставке и усилие контакта, в то время как тестер полупроводников выполняет измерение.
Отсортировать результаты электромонтажа
Направляйте устройства к соответствующему лотку, трубке, катушке, месту отбраковки или последующему процессу финишной обработки.
Границы приложений
Начните с устройства и программы тестирования.
Обращение с упаковкой, ресурсы тестера, геометрия контактов и температура тестируемого устройства определяют первые границы работоспособности ячейки для тестирования методом "захвата и перемещения". Эти данные более полезны, чем сравнение названий моделей или номинальной производительности в секунду по отдельности.
Поток устройства, упаковки и носителя
Контуры корпуса, клеммы, вес, поверхность захвата и хрупкость влияют на конструкцию сопла или захватного устройства, размещение компонентов, настройки системы технического зрения и инструменты для проведения испытаний.
Подтверждать:Чертеж упаковки, размеры, вес, маркировка ориентации, а также необходимые входные и выходные носители.
Продолжительность тестирования и целевые показатели производства
Кратковременные тесты позволяют выявить время, затраченное на захват, выравнивание, контакт и сортировку. Более длительные тесты могут сделать использование параллельных площадок более ценным, если тестировщик поддерживает одновременное выполнение.
Подтверждать:Время тестирования в зависимости от температуры, целевое количество исправных единиц в час, ожидаемая частота повторных испытаний и частота смены продукции.
Тестировщик, интерфейс и метод связи
Устройство позиционировает тестируемое устройство, но электрический путь по-прежнему зависит от разъема или контактора, интерфейсного оборудования, нагрузочной платы и тестера полупроводников.
Подтверждать:Модель тестера, тестовая головка, стыковочное устройство, контактное оборудование, протокол связи и предполагаемые активные площадки.
Температура и мощность тестируемого устройства
При проведении испытаний в условиях окружающей среды, высоких и низких температур используются различные устройства для нагрева, охлаждения, измерения температуры, а также контроля влажности и воздействия влаги. Самонагрев устройства также может изменять реальную температуру тестируемого устройства.
Подтверждать:требуемый диапазон температур, допуск, мощность устройства, время выдержки и доступные средства подачи сухого воздуха или охлаждения.
Текущее оборудование
Уточните наличие свободных мест.
Доступные манипуляторы для тестирования устройств захвата и перемещения.
Ознакомьтесь с текущими предложениями, затем подтвердите наличие установленных комплектов оборудования, мест тестирования, розеток или контакторов, интерфейса тестера, вариантов терморегулирования, программного обеспечения и принадлежностей для конкретного устройства.
Устройство для тестирования захвата и перемещения
ASM Pacific Technology Turret Система тестирования уровня пластин SUNBIRD
Компания SUNBIRD предлагает эффективное, надежное и гибкое решение для тестирования полупроводниковых пластин благодаря инновационным разработкам...
Устройство для тестирования захвата и перемещения
Испытательный стенд ASM MS100 Plus
Являясь модернизированной версией MS100, ASM MS100 Plus также представляет собой устройство для сортировки и размещения микросхем на основе кремниевых пластин...
Устройство для тестирования захвата и перемещения
ISMECA проводит тестовые сделки в Нью-Йорке в 2020 году.
ISMECA NY20 (в настоящее время принадлежит компании Cohu) — это 20-позиционная роторная сверхскоростная машина для тестирования и сортировки полупроводников.
Устройство для тестирования захвата и перемещения
Сортировочная машина АСМПТ MS90
Сортировочная машина ASM MS90 — это устройство, предназначенное для сортировки светодиодов, обладающее эффективными и точными функциями сортировки. Это...
Эффективный результат тестирования
Рейтинг UPH — это только отправная точка.
Механическая скорость описывает наиболее быструю последовательность операций при заданных условиях. К производственным показателям также относятся время электрических испытаний, количество задействованных площадок, выход годных контактов, время повторных испытаний, восстановление температуры, время переналадки и время простоя.
Время проведения электрических испытаний
Испытуемое устройство занимает место, пока тестировщик выполняет программу и передает результат. При длительном времени тестирования основным ограничением цикла становится занятость тестировщика, а не движение робота.
Время механической обработки
Захват, выравнивание, перемещение, вставка, извлечение и размещение выходного элемента остаются частью каждого цикла. Эти движения могут доминировать в приложениях с очень короткими программами тестирования.
Включены параллельные сайты
Количество установленных и количество используемых площадок не всегда совпадают. Для каждой активной площадки необходимы каналы тестирования, интерфейсные пути, контактное оборудование, программное обеспечение для сопоставления параметров и тепловая поддержка.
Доступность и эффективность связи
Повторная проверка контактов, очистка контакторов, замена лотков, восстановление работоспособности при срабатывании сигнализации и техническое обслуживание отнимают производственное время, не увеличивая при этом количество готовых изделий.
Сравните ожидаемое количество годных единиц в час, используя фактическую продолжительность испытаний, количество задействованных площадок, выход годных изделий с первого контакта, температурный режим и предположения о переналадке. Максимальное количество годных единиц в час, полученных механическим способом, следует рассматривать как верхний предел, а не как прогноз производства.
Стратегия подсчета количества объектов
Когда меньшее количество сайтов имеет больше смысла
Дополнительные площадки создают ценность только тогда, когда тестер, контактный интерфейс и термосистема могут работать с ними одновременно. Для небольших объемов производства, частых переналадок или чувствительных контактных приложений меньшее количество площадок может быть проще в плане стабилизации и обслуживания.
Фактор принятия решения
Однообъектные / Малообъектные
Параллельное тестирование на нескольких площадках
Типичная посадка
Инженерные работы, небольшие объемы производства, частая смена продукции или области применения, где выравнивание и температура легче контролируются при меньшем количестве одновременных контактов.
Стабильное крупносерийное производство и более длительные тесты, в которых несколько тестируемых устройств могут одновременно использовать поддерживаемые ресурсы тестера.
Ресурсы тестировщика
Требуется меньше каналов, более простое интерфейсное оборудование и менее сложная схема размещения объектов.
Для каждой действующей площадки необходимы тестовые каналы, интерфейсные пути, контактное оборудование и программное обеспечение для управления.
Контактный и терморегулирование
Как правило, выравнивание, контактное усилие и температуру тестируемого объекта проще охарактеризовать при меньшем количестве активных центров.
Различия в контактном сопротивлении, силе и восстановлении температуры между отдельными участками должны оставаться в пределах технологических ограничений.
Преобразование и техническое обслуживание
Уменьшение количества разъемов, гнезд и интерфейсных цепей позволяет снизить затраты на переналадку, калибровку и потребность в запасных частях.
Увеличение количества инструментов повышает трудозатраты на настройку и техническое обслуживание, а нестабильная площадка может снизить ценность параллельной конфигурации.
Выберите количество площадок, исходя из реальной программы тестирования, ресурсов тестировщиков и ожидаемого объема производства, а не просто из максимального количества площадок, указанного в брошюре платформы.
Сквозной контактный путь
Контактный путь должен функционировать как единая система.
Устройство для манипулирования обеспечивает контролируемое перемещение и установку. Полупроводниковый тестер выполняет электрические измерения. Работоспособность испытательной ячейки зависит от совместимости корпуса, контактора, интерфейсного оборудования, движения устройства для манипулирования и программы тестера от начала до конца.
1
Тестируемое устройство и корпус
В описании указаны габариты корпуса, расположение клемм, ориентация, чувствительные поверхности и электрические узлы, до которых необходимо дотянуться во время тестирования.
2
Розетка или контактор
Контактор обеспечивает стабильное соединение с тестируемым устройством. Размеры корпуса, ток, частота, контактное сопротивление, износ и доступность запасных частей — все это влияет на выход годных изделий с первого раза.
3
Интерфейсное оборудование
Интерфейсные платы, платы нагрузки, кабели и соединительное оборудование передают сигналы и питание между контактором и тестером. Их электрическая и механическая конструкция должна соответствовать предполагаемой платформе.
4
Положение и сила, прилагаемые к человеку, занимающемуся этим делом
Система захвата, размещения и перемещения обеспечивает выравнивание тестируемого устройства, его установку в контактор и приложение контролируемого усилия без повреждения корпуса или контактной аппаратуры.
5
Тестирование и контроль результатов
Тестер предоставляет каналы, временные параметры и ресурсы для измерений. Данные о начале и конце теста, схеме площадки и данных по контейнерам должны соответствовать алгоритму обработки.
Устройство может правильно разместить пакет, но при этом он может оказаться непригодным, если разъем, интерфейсная плата, ресурсы тестера или протокол связи не соответствуют предполагаемой программе тестирования.
Тепловая конфигурация
Выберите параметры терморегулирования в соответствии с условиями тестирования.
Выбранный метод должен доводить тестируемое устройство до требуемых условий тестирования, поддерживать контактную зону в пределах проверенного рабочего диапазона и обеспечивать достаточно быстрое восстановление для использования в производстве. Уставка камеры, температура тестируемого устройства и вариации между контактными зонами не должны рассматриваться как одно и то же измерение.
Контролируемая работа при температуре, близкой к комнатной.
При проведении испытаний в условиях окружающей среды контроль температуры может по-прежнему потребоваться, если длительное время тестирования или мощность устройства повышают температуру тестируемого объекта выше температуры окружающего воздуха.
Подтвердите на аппарате.
Воздушный поток, условия внутри корпуса, датчики, программные ограничения и любая теплоизоляция, используемая в установленной конфигурации и контактирующая с корпусом.
Главный вопрос
Остается ли тестируемое устройство в пределах заданного диапазона при многократных подключениях и непрерывном производстве?
Нагрев, замачивание и восстановление
Для проведения испытаний в условиях высоких температур обычно требуется, чтобы корпус достиг заданного состояния до контакта и оставался в пределах допустимых значений на протяжении всего процесса электрических испытаний.
Подтвердите на аппарате.
Нагревательная камера, термоголовка или канал подачи горячего воздуха, место выдержки, контроллер, датчики, изоляция и необходимые коммуникации.
Главный вопрос
Способна ли система восстановиться после замены устройства и компенсировать энергопотребление тестируемого устройства без чрезмерного перерегулирования или потери пропускной способности?
Тестирование при низких, комнатной и высоких температурах на одной платформе.
Применение холодных и трехтемпературных систем позволяет увеличить холодопроизводительность, контролировать влажность и сократить время перехода между режимами производства.
Подтвердите на аппарате.
Метод охлаждения, подача сухого воздуха, изолированная камера, нагреватели, датчики, контроль конденсации и состояние калибровки.
Главный вопрос
Может ли устройство обеспечить требуемое состояние тестируемого устройства, предотвратить образование конденсата и поддерживать стабильное восстановление на всех активных участках?
Для мощных тестируемых устройств:В некоторых областях применения может потребоваться активный терморегулирование на уровне объекта, а не только условия в камере или при выдержке. Подтвердите используемый метод установки, поддерживаемый диапазон мощности, расположение датчиков, используемые ресурсы и имеющиеся записи о калибровке или испытаниях.
Данные приложения
Отправьте входные данные, изменяющие конфигурацию.
Как правило, приведенной ниже информации достаточно, чтобы исключить неподходящие платформы до начала детального анализа оборудования. Отсутствующие специфические для машины данные затем можно проверить по имеющимся спискам.
Отправьте ваши требования к тестированию.
Ввод данных приложения
Как это повлияет на проверку оборудования
Чертеж устройства и корпуса
На изображении показаны корпус упаковки, клеммы, ориентация, ограничения по захвату и инструменты для безопасного обращения и контакта.
время электрических испытаний
Указывает, будет ли движение оператора или занятость тестировщика влиять на цикл, и могут ли параллельные площадки создать полезную пропускную способность.
тестер полупроводников
Определяет тестовую головку, интерфейсное оборудование, плату загрузки, каналы, средства связи и схему размещения оборудования, которые должен поддерживать обработчик.
Стратегия сайта и взаимодействия с аудиторией
Подтверждает наличие необходимых активных участков, силу контакта, тип разъема или контактора, а также повторяемость, необходимую для приемлемого выхода годных изделий с первого раза.
Тепловые требования
Задает требуемую температуру тестируемого устройства, допуск, рассеиваемую мощность, ожидаемый период выдержки или восстановления, а также доступные тепловые ресурсы.
Ввод, вывод и переключение
Уточняет способ транспортировки: в лотке, трубке, ленте или носителе, требования к сортировке, ассортимент продукции и частоту изменений в оснастке или рецептуре.
Вопросы для поступления
Часто задаваемые вопросы по инструменту тестирования захвата и перемещения
Эти вопросы касаются совместимости корпусов, конфигурации испытательного полигона, интеграции тестового оборудования, контроля температуры и реалистичных результатов производства.
В чём разница между манипулятором для захвата и перемещения и манипулятором для тестирования, предназначенным для захвата и перемещения?
Устройство для захвата и перемещения описывает архитектуру роботизированного перемещения устройств. Устройство для тестирования и захвата и перемещения добавляет одну или несколько контролируемых точек электрического тестирования, контактное оборудование, связь с тестером и сортировку на основе результатов.
Всегда ли увеличение количества тестовых площадок приводит к увеличению результатов тестирования?
Нет. Полупроводниковый тестер должен обеспечивать достаточное количество параллельных ресурсов, и каждый активный участок должен иметь совместимое интерфейсное оборудование, контакторы, терморегулирование и программное обеспечение для сопоставления параметров. Повторное тестирование и нестабильный контакт также могут снизить полезный выходной сигнал.
Может ли один и тот же обработчик тестировать различные корпуса полупроводниковых устройств?
Многие платформы могут поддерживать более одного типа корпусов с помощью комплектов для переоборудования. Для каждого устройства должны быть доступны необходимые лотки, гнезда, сопла, прецизионные элементы, разъемы, контакторы и программные рецепты.
Может ли устройство для установки компонентов подключаться к любому тестеру полупроводниковых приборов?
Не автоматически. Механическая стыковка, интерфейсные платы, платы нагрузки, кабельные трассы, протокол тестера, программное обеспечение и управление на объекте — все должно совпадать. Полупроводниковые тестеры также часто называют автоматическим тестовым оборудованием, или ATE.
Как следует проверять возможность работы при трех температурах?
Подтвердите установленное оборудование для отопления и охлаждения, камеру или тепловой модуль, требования к энергоснабжению, датчики, программное обеспечение управления, защиту от конденсации, а также наличие недавней калибровки температуры или подтверждающих документов.
Какая информация необходима для составления точной сметы?
Укажите тип корпуса устройства, входные и выходные среды, время электрических испытаний, целевое количество исправных единиц в час, предполагаемое количество площадок, полупроводниковый тестер, требования к контакторам, температуру тестируемого устройства и предпочтительное состояние оборудования.
Сопоставьте обработчик с пакетом, тестировщиком и тестовой программой.
Отправьте чертеж корпуса, информацию о полупроводниковом тестере, методе подключения, количестве тестовых площадок, времени электрических испытаний, диапазоне температур и целевом объеме производства, чтобы имеющееся оборудование можно было проверить на соответствие требуемой тестовой ячейке.
