Tester per semiconduttori Teradyne TITAN

Teradyne Test TITAN non è un tradizionale ATE (Automatic Test Equipment), bensì una piattaforma di test a livello di sistema (SLT) progettata specificamente per scenari operativi reali dei chip. Simula gli ambienti di utilizzo finale per verificare la funzionalità e le prestazioni dei chip.

Modelli e specifiche principali

La piattaforma TITAN offre diversi modelli pensati per differenti scenari applicativi ed esigenze. La piattaforma Titan di base è progettata per scenari ad alto volume, come i processori per dispositivi mobili, mentre il modello di punta Titan HP è realizzato per soddisfare i requisiti SLT ad alte prestazioni dei chip per intelligenza artificiale e cloud. Le differenze specifiche possono essere comprese attraverso il confronto nella tabella seguente: Caratteristiche Teradyne Titan Teradyne Titan Applicazioni principali HP Chip SLT ad alto volume per processori di applicazioni mobili, IA e infrastrutture cloud Capacità di test parallelo SLT 320 o 424 siti di test Informazioni mancanti Consumo energetico del singolo chip Fino a 50 W per dispositivo in fase di test (tramite raffreddamento ad aria) Attualmente supporta fino a 2 kW, con piani futuri per supportare 4 kW Throughput del sistema Architettura slot asincrona, che offre un vantaggio di throughput del 30% rispetto ai sistemi batch tradizionali Informazioni mancanti Gestione termica Sistema di raffreddamento ad aria a 15 °C Raffreddamento a liquido a piastra fredda multi-ramo e controllo termico asincrono PID Prestazioni elettriche Fornisce una velocità dati di 20 Gbps e fino a 100.000 plug-in di test affidabili Informazioni mancanti Interfaccia dati Ogni sito di test è dotato di una porta Ethernet da 1 Gbps, porta seriale, JTAG e interfaccia SPI Informazioni mancanti Supporta package PoP, BGA, PGA, LGA, ecc. Informazioni mancanti Sviluppo e manutenzione Fornisce uno sviluppo a 20 siti stazione, supporta la manutenzione hot-swappable Piattaforma software per informazioni mancanti Tutte le piattaforme Titan condividono un Atlas unificato La piattaforma software SLT consente la portabilità senza soluzione di continuità dei programmi di test.

Il modello derivato, Titan-RF, offre test SLT automatizzati e massivamente paralleli per dispositivi che richiedono connettività a radiofrequenza (RF), supportando fino a 320 siti di test abilitati RF.

Cosa viene testato? Principali aree di applicazione:

La piattaforma TITAN viene utilizzata principalmente nei seguenti settori all'avanguardia e ad alta crescita:

Intelligenza artificiale e infrastrutture cloud: test delle prestazioni, del consumo energetico e della stabilità di acceleratori AI, GPU, CPU, ecc., sotto carichi elevati.

Processori per applicazioni mobili: in quanto soluzione SLT di riferimento per i processori mobili, ne garantisce prestazioni e affidabilità in scenari reali.

Elettronica automobilistica: utilizzata per testare componenti critici per la sicurezza, come i sistemi ADAS e i sistemi di infotainment di bordo.

Apparecchiature RF: tramite il modello Titan-RF, offre la possibilità di testare dispositivi che richiedono connettività RF.

Le aree di applicazione di TITAN contrastano nettamente con quelle di Advantest T2000, che si concentra sulle apparecchiature di test automatiche (ATE). Il T2000, in quanto sistema di test per SoC, copre principalmente i test funzionali, parametrici e a livello di wafer tradizionali.

Confronto orizzontale: TITAN vs. Advantest T2000

Per comprendere meglio le differenze tra i due, si prega di fare riferimento alla tabella comparativa sottostante:

Dimensioni di confronto:

Teradyne

TITAN

Vantaggio

T2000

Tipo di test:

Test a livello di sistema (SLT)

SoC (System-on-a-Chip)

MANGIÒ

Funzioni principali:

Verifica il funzionamento complessivo del sistema in condizioni operative reali, ponendo l'accento sulla sinergia hardware-software e sull'interoperabilità delle interfacce;

Verifica le funzioni logiche e i parametri CC del chip tramite test vettoriali e parametri CC.

Oggetto di prova:

Il dispositivo in prova (DUT) viene trattato come un sistema completo, in cui sono in esecuzione applicazioni software reali.

Il dispositivo in prova (DUT) viene trattato come un circuito che riceve un segnale di eccitazione elettronico.

Capacità di parallelismo:

Estremamente alto (320/424 punti)

Elevata (supporta fino a 8192 canali digitali)

Compatibilità: Integrazione con le procedure di test ATE

La piattaforma Titan è in grado di eseguire programmi di test precedentemente sviluppati su sistemi ATE, garantendo una perfetta integrazione con le procedure di test ATE tradizionali.

Posizione di mercato e vantaggi

Leadership tecnologica: Teradyne e Advantest sono considerate le "due giganti" nel settore delle apparecchiature di test automatiche (ATE), detenendo insieme la stragrande maggioranza della quota di mercato globale di fascia alta.

Principali vantaggi competitivi: Il vantaggio principale della piattaforma Titan risiede nella sua architettura asincrona. Ogni sito di test può essere caricato, testato e scaricato in modo indipendente, consentendo la manutenzione a caldo senza influire sul funzionamento degli altri siti, massimizzando così l'utilizzo del sistema.