Advantest T2000 — это универсальная платформа для тестирования SoC (систем на кристалле), известная в отрасли своей исключительной гибкостью, высокоэффективными возможностями параллельного тестирования и надежными функциями тестирования аналоговых и смешанных сигналов. С момента своего появления в 2003 году платформа зарекомендовала себя как основной игрок на мировом рынке автоматизированного тестирования (ATE), пользуясь особым престижем в области тестирования аналоговых и смешанных сигналов. Ее основная концепция основана на решении проблем, связанных с тестированием микросхем в условиях «малых объемов и широкого ассортимента», с использованием модульной архитектуры для удовлетворения широкого спектра разнообразных требований к тестированию.
В следующем разделе представлен исчерпывающий обзор тестовой системы T2000. Для облегчения быстрого понимания ключевой информации я обобщил основные сведения в краткой справочной таблице ниже:
**Основные функции** | **Подробное описание**
**Тип устройства** | SoC (система на кристалле) / Автоматизированная система тестирования аналоговых и смешанных сигналов (ATE)
**Основная архитектура** | Модульная и масштабируемая; конфигурации варьируются от 13-слотовых систем с воздушным охлаждением до 52-слотовых систем с жидкостным охлаждением, поддерживающих до 8192 цифровых каналов.
**Основные области применения** | Графические процессоры, микроконтроллеры (MCU), радиочастотные системы на кристалле (SOC), процессоры базовой полосы, микросхемы управления питанием (PMIC), CMOS-датчики изображения (CIS), автомобильная электроника (поддержка высоковольтных испытаний постоянного тока до 320 В) и т. д.
**Программная среда** | Операционная система Windows + Комплект для быстрой разработки (RDK) + Эмулятор системного программного обеспечения
**Основные преимущества** | **Исключительная гибкость:** Быстрая переконфигурация достигается простой заменой модулей, что позволяет системе адаптироваться к специфическим требованиям тестирования различных типов микросхем.
**Мощные возможности параллельного тестирования:** Поддерживает до 8192 цифровых каналов, обеспечивая пропускную способность параллельного тестирования, более чем вдвое превышающую показатели моделей предыдущего поколения.
**Высокая эффективность разработки:** Используется уникальная многоклиентская архитектура, позволяющая до 8 пользователям одновременно выполнять независимые задачи разработки и отладки.
**Удобная программная экосистема:** Единая среда разработки программного обеспечения в сочетании с RDK значительно упрощает процесс разработки и переноса тестовых программ. **Основная архитектура: модульность и масштабируемость**
Суть системы T2000 заключается в ее гибкой модульной архитектуре. Ее можно представить как систему в стиле «конструктора Lego», позволяющую собирать конструкции произвольной формы:
**Конфигурация по запросу:** В зависимости от конкретного типа тестируемого чипа пользователи могут гибко выбирать и комбинировать различные модули — такие как цифровые модули, высокопроизводительные аналоговые модули, силовые/смешанные сигнальные модули или модули захвата изображений — из обширной библиотеки функциональных компонентов. **Высокая масштабируемость:** Масштаб системы может варьироваться от минимальной конфигурации 13-слотовой системы с воздушным охлаждением (обычно используемой для НИОКР или мелкосерийного производства) до максимальной конфигурации 52-слотовой системы с жидкостным охлаждением (специально разработанной для высокопроизводительных сред массового производства).
**Целевые области применения: за пределами области SoC**
Область применения T2000 весьма обширна и охватывает все — от бытовой электроники до автомобильной электроники. В частности, он в первую очередь отвечает требованиям тестирования в следующих основных категориях:
**Тестирование основных SoC:** Включая графические процессоры, микроконтроллеры, радиочастотные SoC, процессоры базовой полосы и аналогичные устройства.
**Тестирование микросхем управления питанием (PMIC):** T2000 оснащен специализированным решением IPS (Integrated Power Device Test), разработанным специально для высокопроизводительного тестирования автомобильной электроники и микросхем управления питанием. Система поддерживает тестирование автомобильных устройств при высоком напряжении постоянного тока — до 320 В — что соответствует самым строгим современным стандартам тестирования.
**Тестирование CMOS-датчиков изображения (CIS):** Прибор T2000 предлагает выделенное решение для тестирования датчиков изображения (ISS), позволяющее одновременно тестировать до 64 устройств, оснащенных интерфейсами MIPI C-PHY. Он поддерживает высокоскоростную передачу изображений со скоростью до 1,2 Гбит/с и имеет двухканальную память для захвата изображений высокого разрешения, а также независимый процессор обработки изображений, выделенный для каждой тестовой площадки.
**Специализированное тестирование интерфейсов:** Используя специализированные модули, такие как 8GDM (8 Гбит/с цифровой модуль), система эффективно решает задачи тестирования, связанные со сверхскоростными интерфейсами.
**Производительность и эффективность: прорыв в тестировании**
Прибор T2000 обладает рядом ключевых технологий, повышающих эффективность тестирования:
Непревзойденные возможности параллельного тестирования: T2000 предлагает лучшие в отрасли возможности многосайтового и параллельного тестирования, что крайне важно для снижения стоимости тестирования отдельного чипа.
Высокоэффективный многосайтовый контроллер: В отличие от традиционных методов, многосайтовый контроллер T2000 устраняет дополнительные накладные расходы на обмен данными, связанные с параллельным тестированием нескольких тестируемых устройств (DUT), что значительно сокращает общее время тестирования и обеспечивает высокую пропускную способность.
Параллельное выполнение тестов: T2000 поддерживает параллельное тестирование, обеспечивая плавное переключение между последовательным и параллельным выполнением в рамках одной тестовой программы, что еще больше сокращает время тестирования сложных микросхем.
Многопользовательская параллельная разработка: уникальная архитектура позволяет до восьми инженерам одновременно подключаться к одной тестовой машине, независимо разрабатывая и отлаживая тестовые программы, что значительно сокращает время выхода на рынок и экономит инженерные затраты.
Программная экосистема: удобная среда разработки
Удобство для программирования: Основанная на операционной системе Windows и комплекте для быстрой разработки (RDK), она предоставляет среду для упрощенного кодирования, высокой степени повторного использования кода и быстрой отладки.
Поддержка автономной разработки: Предоставляет симулятор системного программного обеспечения, позволяющий инженерам разрабатывать и отлаживать тестовые программы заранее без использования реального оборудования.
Многофункциональные инструменты отладки: Встроенные интуитивно понятные инструменты отладки, такие как инструменты для анализа осциллограмм, графики Shmoo и редактор шаблонов, упрощают процесс диагностики.
Позиция на рынке и достижения: Широкое признание в отрасли.
Модель T2000 получила широкое признание на рынке и достигла значительных успехов:
Знаковое достижение: 1000-я система T2000 поставлена ведущим мировым производителям полупроводников, включая компанию Xilinx.
Обширная глобальная клиентская база: 55 уникальных клиентов по всему миру, глубоко интегрированных в передовые линии проектирования и производства полупроводников.
Наибольшее предпочтение клиентов: Toyota использует платформу T2000 для тестирования своих силовых IGBT-транзисторов.
Широкое признание в отрасли: все большее число независимых производителей микросхем, компаний, не имеющих собственных производственных мощностей, и компаний, занимающихся сборкой и тестированием полупроводниковых образцов, рассматривают эту платформу как средство повышения производительности и эффективности инженерных работ.
Краткое описание: Позиционирование T2000 в отрасли
Компания Advanced Test Systems позиционирует T2000 и свою флагманскую платформу V93000 как взаимодополняющее стратегическое сочетание. Вкратце, T2000 ориентирован на широкий рынок гибких, эффективных и средне- и высокопроизводительных продуктов, в то время как V93000 специализируется на тестировании сверхкрупномасштабных, сверхсложных топовых SoC.
В чём его сильные стороны: микросхемы обработки аналоговых/смешанных сигналов, микросхемы управления питанием, датчики изображения и т. д.
Его ключевое преимущество: благодаря чрезвычайно высокой гибкости и модульности, он быстро адаптируется к меняющимся продуктам, а благодаря передовым возможностям параллельного тестирования и удобной программной экосистеме, он эффективно снижает затраты на тестирование, обеспечивая при этом высокое качество и ускоряя вывод продукта на рынок.
Это подробное введение в систему тестирования T2000. Хотите подробнее ознакомиться с ее сравнением с другими платформами (такими как...)?



