Teradyne Halbleiter-Tester TITAN

Den Teradyne Test TITAN ass keng traditionell ATE (Automatic Test Equipment), mä eng System Level Test (SLT) Plattform, déi speziell fir real Chip-Betribsszenarie entwéckelt gouf. E simuléiert Endbenotzungsëmfeld fir d'Funktionalitéit an d'Performance vu Chips ze verifizéieren.

Kärmodeller a Spezifikatiounen

D'TITAN Plattform huet verschidde Modeller, déi op verschidden Applikatiounsszenarien a Bedierfnesser zougeschnidden sinn. Déi zentral Titan Plattform ass fir grouss Volumen Szenarien wéi mobil Prozessoren entwéckelt, während de Flaggschëff Titan HP fir déi héich performant SLT Ufuerderunge vun AI a Cloud Chips gebaut ass. Déi spezifesch Ënnerscheeder kënnen duerch e Verglach an der Tabell hei ënnendrënner verstanen ginn: Funktiounen Teradyne Titan Teradyne Titan HP Kärapplikatiounen Héichvolumen SLT-Chips fir mobil Applikatiounsprozessoren, KI a Cloud-Infrastruktur SLT Parallel Testfäegkeet 320 oder 424 Testplazen Fehlend Informatiounen Stroumverbrauch vun engem eenzege Chip Bis zu 50 W pro Apparat ënner Test (iwwer Loftkillung) Ënnerstëtzt aktuell bis zu 2 kW, mat zukünftege Pläng fir 4 kW Systemdurchsatz z'ënnerstëtzen Asynchrone Slotarchitektur, déi en Duerchsatzvirdeel vun 30 % géintiwwer traditionelle Batchsystemer bitt Fehlend Informatiounen Thermal Management 15 °C Loftkillungssystem Multi-Brage-Kälteplackflëssegkeetskühlung an PID asynchrone thermesch Kontroll Elektresch Leeschtung Bitt eng Datenrate vun 20 Gbps a bis zu 100.000 zouverléisseg Test-Plugins Fehlend Informatiounen Dateninterface All Testplaz ass mat engem 1 Gbps Ethernet-Port, engem serielle Port, engem JTAG- an engem SPI-Interface ausgestatt Fehlend Informatiounen Ënnerstëtzt Paketen PoP, BGA, PGA, LGA, etc. Fehlend Informatiounen Entwécklung a Maintenance Bitt eng Entwécklungsstatioun mat 20 Site, déi Hot-Swap-Wartung ënnerstëtzt Fehlend Informatiounen Software Plattform All Titan Plattforme deelen eng vereenegt Atlas D'SLT Softwareplattform erméiglecht eng nahtlos Portabilitéit vun Testprogrammer.

Den Derivatmodell, Titan-RF, bitt massiv parallel, automatiséiert SLT fir Apparater, déi Radiofrequenz (RF) Konnektivitéit erfuerderen, an ënnerstëtzt bis zu 320 RF-aktivéiert Testplazen.

Wat gëtt getest? Kär Uwendungsberäicher:

D'TITAN Plattform gëtt haaptsächlech an de folgende modernen a staark wuessende Beräicher benotzt:

KI- a Cloud-Infrastruktur: Testen vun der Leeschtung, dem Stroumverbrauch an der Stabilitéit vun KI-Beschleuniger, GPUs, CPUs, etc., ënner héijen Belaaschtungen.

Mobil Applikatiounsprozessoren: Als déi Mainstream SLT-Léisung fir mobil Prozessoren, déi hir Leeschtung a Zouverlässegkeet a realen Szenarie garantéiert.

Automobilelektronik: Gëtt benotzt fir kritesch Sécherheetskomponenten wéi ADAS an Infotainmentsystemer am Gefier ze testen.

RF-Ausrüstung: Iwwer den Titan-RF Modell bitt et Tester fir Apparater, déi RF-Konnektivitéit erfuerderen.

D'Uwendungsberäicher vum TITAN ënnerscheede sech staark vum Advantest T2000, deen sech op ATE (Automatic Test Equipment) konzentréiert. Den T2000, als SoC-Testsystem, deckt haaptsächlech traditionell funktionell, Parameter- an Wafer-Niveau-Tester of.

Horizontalen Verglach: TITAN vs. Advantest T2000

Fir d'Ënnerscheeder tëscht deenen zwee besser ze verstoen, kuckt w.e.g. d'Tabell hei ënnendrënner zum Verglach:

Vergläichsdimensiounen:

Teradyne

TITAN

Virdeel

T2000

Testtyp:

Systemniveau Testen (SLT)

SoC (System-op-Chip)

IESSE

Kärfunktiounen:

Verifizéiert de Gesamtsystem ënner realen Betribsbedingungen, mat Betonung op Hardware-Software-Synergie an Interface-Interoperabilitéit;

Verifizéiert d'Logikfunktiounen an d'DC-Parameter vum Chip duerch Vektor- an DC-Parametertest.

Testobjekt:

DUT gëtt als e komplette System behandelt, deen tatsächlech Softwareapplikatioune leeft.

DUT gëtt wéi e Circuit behandelt, deen elektronesch Signalerregung empfängt.

Parallelismus-Fäegkeet:

Extrem héich (320/424 Punkten)

Héich (ënnerstëtzt bis zu 8192 digital Kanäl)

Kompatibilitéit: Integratioun mat ATE-Testprozeduren

D'Titan Plattform kann Testprogrammer ausféieren, déi virdru op ATE entwéckelt goufen, wouduerch eng nahtlos Integratioun mat traditionellen ATE-Testprozeduren erreecht gëtt.

Maartpositioun a Virdeeler

Technologesch Féierung: Teradyne an Advantest gëllen als déi "zwee Risen" am Beräich vun den ATE (Automatic Test Equipment) a besetzen zesummen de groussen Deel vum weltwäite Maartundeel am High-End-Beräich.

Schlëssel Konkurrenzvirdeeler: De Kärvirdeel vun der Titan Plattform läit an hirer asynchroner Architektur. All Testplaz kann onofhängeg gelueden, getest an entlueden ginn, wat Hot-Swap-Maintenance erméiglecht, ouni de Betrib vun anere Standuerter ze beaflossen, wouduerch d'Systemauslastung maximéiert gëtt.