Probador de semiconductores Teradyne TITAN

Teradyne Test TITAN no es un equipo de prueba automático (ATE) tradicional, sino una plataforma de prueba a nivel de sistema (SLT) diseñada específicamente para escenarios de operación de chips en el mundo real. Simula entornos de uso final para verificar la funcionalidad y el rendimiento de los chips.

Modelos y especificaciones principales

La plataforma TITAN cuenta con varios modelos adaptados a diferentes escenarios y necesidades de aplicación. La plataforma principal Titan está diseñada para escenarios de alto volumen, como los procesadores móviles, mientras que la plataforma insignia Titan HP está creada para los requisitos de alto rendimiento de SLT (Sistema de Logística de Software) de los chips de IA y la nube. Las diferencias específicas se pueden comprender mediante la comparación en la tabla siguiente: Características Teradyne Titan Teradyne Titan HP Core Aplicaciones Chips SLT de alto volumen para procesadores de aplicaciones móviles, IA e infraestructura en la nube Capacidad de prueba paralela SLT 320 o 424 sitios de prueba Información faltante Consumo de energía de un solo chip Hasta 50 W por dispositivo bajo prueba (a través de refrigeración por aire) Actualmente admite hasta 2 kW, con planes futuros para admitir 4 kW Rendimiento del sistema Arquitectura de ranura asíncrona, que ofrece una ventaja de rendimiento del 30 % sobre los sistemas por lotes tradicionales Información faltante Gestión térmica Sistema de refrigeración por aire de 15 °C Refrigeración líquida de placa fría de múltiples ramas y control térmico asíncrono PID Rendimiento eléctrico Proporciona una velocidad de datos de 20 Gbps y hasta 100 000 conectores de prueba confiables Información faltante Interfaz de datos Cada sitio de prueba está equipado con un puerto Ethernet de 1 Gbps, puerto serie, JTAG e interfaz SPI Información faltante Admite paquetes PoP, BGA, PGA, LGA, etc. Información faltante Desarrollo y mantenimiento Proporciona una Estación de desarrollo de 20 sitios, compatible con mantenimiento de intercambio en caliente Plataforma de software de información faltante Todas las plataformas Titan comparten un Atlas unificado La plataforma de software SLT permite una portabilidad perfecta de los programas de prueba.

El modelo derivado, Titan-RF, proporciona pruebas SLT automatizadas y masivamente paralelas para dispositivos que requieren conectividad por radiofrecuencia (RF), y admite hasta 320 sitios de prueba habilitados para RF.

¿Qué se prueba? Áreas de aplicación principales:

La plataforma TITAN se utiliza principalmente en las siguientes áreas de vanguardia y de alto crecimiento:

Inteligencia artificial e infraestructura en la nube: Pruebas de rendimiento, consumo de energía y estabilidad de aceleradores de IA, GPU, CPU, etc., bajo cargas elevadas.

Procesadores de aplicaciones móviles: Como solución SLT principal para procesadores móviles, garantizamos su rendimiento y fiabilidad en escenarios reales.

Electrónica automotriz: Se utiliza para probar componentes críticos de seguridad, como los sistemas avanzados de asistencia al conductor (ADAS) y los sistemas de infoentretenimiento del vehículo.

Equipos de RF: Mediante el modelo Titan-RF, se realizan pruebas en dispositivos que requieren conectividad de radiofrecuencia.

Las áreas de aplicación de TITAN contrastan notablemente con las de Advantest T2000, que se centra en equipos de prueba automáticos (ATE). El T2000, como sistema de prueba de SoC, abarca principalmente pruebas funcionales, de parámetros y a nivel de oblea tradicionales.

Comparación horizontal: TITAN vs. Advantest T2000

Para comprender mejor las diferencias entre ambos, consulte la tabla comparativa que aparece a continuación:

Dimensiones de comparación:

Teradyne

TITÁN

Ventaja

T2000

Tipo de prueba:

Pruebas a nivel de sistema (SLT)

SoC (Sistema en un chip)

COMIÓ

Funciones principales:

Verifica el sistema general en condiciones de funcionamiento reales, haciendo hincapié en la sinergia entre hardware y software y la interoperabilidad de la interfaz;

Verifica las funciones lógicas y los parámetros de CC del chip mediante pruebas de vectores y parámetros de CC.

Objeto de prueba:

El dispositivo bajo prueba (DUT) se trata como un sistema completo que ejecuta aplicaciones de software reales.

El dispositivo bajo prueba (DUT) se trata como un circuito que recibe excitación mediante señal electrónica.

Capacidad de paralelismo:

Extremadamente alto (320/424 puntos)

Alto (admite hasta 8192 canales digitales)

Compatibilidad: Integración con procedimientos de prueba ATE

La plataforma Titan puede ejecutar programas de prueba desarrollados previamente en ATE, logrando una integración perfecta con los procedimientos de prueba ATE tradicionales.

Posición en el mercado y ventajas

Liderazgo tecnológico: Teradyne y Advantest son consideradas los "dos gigantes" en el campo de los equipos de prueba automáticos (ATE), y en conjunto ocupan la gran mayoría de la cuota de mercado mundial de alta gama.

Ventajas competitivas clave: La principal ventaja de la plataforma Titan reside en su arquitectura asíncrona. Cada sitio de prueba se puede cargar, probar y descargar de forma independiente, lo que permite un mantenimiento en caliente sin afectar el funcionamiento de otros sitios, maximizando así la utilización del sistema.