တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း နောက်ဆုံးစမ်းသပ်ပစ္စည်း

IC နောက်ဆုံးစမ်းသပ်မှုအတွက် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်စက်များ

စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်စက်များသည် ထုပ်ပိုးထားသော semiconductor စက်ပစ္စည်းများ၏ ရွေ့လျားမှု၊ အပူချိန်ထိန်းညှိခြင်း၊ အဆက်အသွယ်တင်ဆက်မှုနှင့် အထွက်စီစစ်ခြင်းတို့ကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ပေးသည်။ ထုတ်လုပ်မှုနောက်ဆုံးစမ်းသပ်မှု၊ အင်ဂျင်နီယာအတည်ပြုခြင်း၊ IC package ကိုင်တွယ်ခြင်းနှင့် အလိုအလျောက်ချစ်ပ်စီစစ်ခြင်းအတွက် semiconductor စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်စက်ကိရိယာများကို ရှာဖွေပါ။

စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ အမျိုးအစားများကို ကြည့်ရှုပါ→ သင့်ရဲ့ Test Handler Project ကို ဆွေးနွေးပါ

စက်မော်ဒယ်ကိုသာမက စက်ပစ္စည်းစီးဆင်းမှုဖြင့် စတင်ပါ။

အထုပ်အမျိုးအစား၊ အဝင်နှင့်အထွက်မီဒီယာ၊ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်သူမျက်နှာပြင်၊ အပူချိန်အပိုင်းအခြား၊ ထိတွေ့အား၊ စမ်းသပ်သည့်နေရာအရေအတွက်နှင့် စီစစ်ခြင်းလိုအပ်ချက်တို့သည် မည်သည့်စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူဖွဲ့စည်းပုံသည် သင့်လျော်သည်ကို ဆုံးဖြတ်ပေးသည်။

IC နောက်ဆုံးစမ်းသပ်မှု ရွေးချယ်ပြီး နေရာချထားခြင်း တာယာကိုင်တွယ်သူ ဆွဲငင်အား ဖိဒ် အပူချိန်သုံးမျိုး

၀၁ / ထည့်သွင်းမှု ထုပ်ပိုးထားသော စက်ပစ္စည်းများကို တင်ပါ

ဗန်း၊ ပြွန်၊ အစင်း၊ အမြောက်အမြား၊ တိပ် သို့မဟုတ် ဖလင်ဘောင် ထည့်သွင်းမှုကို လိုအပ်သော ကိရိယာစီးဆင်းမှုနှင့် ကိုက်ညီစေသည်။

၀၂ / သာမိုစတက် စက်ပစ္စည်းကို အခြေအနေသတ်မှတ်ပါ

ပတ်ဝန်းကျင်၊ အပူ၊ အအေး သို့မဟုတ် အပူချိန်သုံးမျိုး ကိုင်တွယ်ခြင်းသည် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းကို တိုင်းတာရန်အတွက် ပြင်ဆင်ပေးသည်။

၀၃ / ဆက်သွယ်ရန် စမ်းသပ်သူထံ တင်ပြပါ

handler သည် IC package ကို contactor၊ test head နှင့် semiconductor tester interface တို့နှင့် ချိန်ညှိပေးသည်။

၀၄ / အထွက် စမ်းသပ်မှုရလဒ်ကို စီပါ

အောင်မြင်သော၊ ကျရှုံးသော နှင့် အဆင့်သတ်မှတ်ထားသော စက်ပစ္စည်းများကို tray၊ tube၊ tape-and-reel သို့မဟုတ် အခြား configure လုပ်ထားသော output သို့ ရွှေ့သည်။

စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ လမ်းညွှန်

ဗိသုကာနှင့် အပလီကေးရှင်းအလိုက် Test Handler စက်များကို ကြည့်ရှုပါ

ဤလမ်းညွှန်သည် All-SMT ရှိ အဓိက semiconductor test handler အမျိုးအစားများကို စုစည်းပေးထားပြီး handler architecture၊ IC package flow နှင့် production လိုအပ်ချက်များအပေါ် အခြေခံ၍ အသင့်တော်ဆုံး equipment စာမျက်နှာများကို ရှာဖွေရန် ကူညီပေးပါသည်။

အနီးကပ်ဆက်စပ်နေသော စမ်းသပ်မှုကိုင်တွယ်သူအသုံးအနှုန်းများသည် မတူညီသော စက်ပစ္စည်းဗိသုကာပုံစံများ၊ အထုပ်စီးဆင်းမှုများနှင့် ထုတ်လုပ်မှုတာဝန်များကို ဖော်ပြနိုင်သည်။ အောက်ဖော်ပြပါ အမျိုးအစားတစ်ခုစီသည် သီးခြားရွေးချယ်မှု သို့မဟုတ် ရင်းမြစ်လိုအပ်ချက်ကို အာရုံစိုက်သည်။

၀၁ / အထွေထွေစမ်းသပ်မှုကိုင်တွယ်ခြင်း

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းနှင့် IC စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သည့် ပစ္စည်းကိရိယာများ

ပရောဂျက်ကို သီးခြားစက်ပိုင်းဆိုင်ရာဗိသုကာလက်ရာတစ်ခုထက် semiconductor နောက်ဆုံးစမ်းသပ်မှု၊ IC package ကိုင်တွယ်မှု၊ device sorting သို့မဟုတ် အထွေထွေစမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူစက်လိုအပ်ချက်ဖြင့် သတ်မှတ်ထားသည့်အခါ ဤနေရာမှစတင်ပါ။

စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သည့် ပစ္စည်းကိရိယာများ စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း IC စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း ချစ်ပ်ကိုင်တွယ်သူ

၀၂ / ရွေးချယ်ပြီး နေရာချထားခြင်း

Pick-and-place စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်စက်များ

ထိန်းချုပ်ထားသော စက်ရုပ်လှုပ်ရှားမှုကို ဗန်းအခြေခံ IC packages များ၊ တိကျသောနေရာချထားမှု၊ အပူချိန်များစွာစမ်းသပ်မှု၊ ရောနှောထုပ်ပိုးမှုထုတ်လုပ်မှုနှင့် စီမံခန့်ခွဲထားသော contact force လိုအပ်သော application များအတွက် အသုံးများသည်။

Pick-and-place စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ Pick-and-place handler အသုံးပြုထားသော Pick-and-Place စမ်းသပ်ကိရိယာ

၀၃ / တာရက်စနစ်များ

Turret စမ်းသပ်ခြင်း၊ စီခြင်းနှင့် Tape-and-Reel ကိုင်တွယ်သူများ

လည်ပတ်သော ဆုံလည်ပလက်ဖောင်းများသည် လျှပ်စစ်စမ်းသပ်မှု၊ မြင်ကွင်းစစ်ဆေးခြင်း၊ ဦးတည်ချက်ထားခြင်း၊ အမှတ်အသားပြုခြင်း၊ စီခြင်းနှင့် တိပ်နှင့်ရစ်အထွက်ကို အညွှန်းတပ်ထားသော ဘူတာရုံများ၏ စဉ်ဆက်မပြတ် အစီအစဉ်တစ်ခုတွင် ပေါင်းစပ်နိုင်သည်။

တာယာကိုင်တွယ်သူ Turret စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ တာရက် စီစက် Turret တိပ်နှင့် Reel စက် Turret စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် Vision Handler

၀၄ / ဆွဲငင်အား ကျွေးမွေးခြင်း

ဆွဲငင်အားစမ်းသပ်ကိရိယာ

ဆွဲငင်အားကိုင်တွယ်သူများသည် တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်သော tube-fed semiconductor devices များကို ထိန်းချုပ်ထားသောလမ်းကြောင်းများမှတစ်ဆင့် စမ်းသပ်နေရာနှင့် စီထားသော output သို့ ရွှေ့ပြောင်းပေးသည်။ Package geometry၊ လမ်းကြောင်းဒီဇိုင်း၊ thermal route နှင့် device movement တို့ကို ဂရုတစိုက်ကိုက်ညီစေရမည်။

ဆွဲငင်အား ကိုင်တွယ်သူ

လက်ရှိပစ္စည်းကိရိယာများ

ရရှိနိုင်သော Semiconductor စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သည့် ပစ္စည်းကိရိယာများ

လက်ရှိ စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်စက် စုစည်းမှုကို ကြည့်ရှုပါ။ နောက်ဆုံး တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်မှုသည် package family၊ input နှင့် output media၊ tester platform၊ thermal range၊ စမ်းသပ်သည့်နေရာအရေအတွက်၊ installed change kit နှင့် ရရှိနိုင်သော ပစ္စည်းကိရိယာများ၏ တကယ့် configure ပေါ်တွင် မူတည်ပါသည်။

ဤနေရာတွင် မပြထားသော မော်ဒယ် လိုအပ်ပါသလား။ လက်ရှိ ရင်းမြစ်ရွေးချယ်မှုများကို စစ်ဆေးနိုင်ရန် နှစ်သက်ရာ ထုတ်လုပ်သူ၊ စက်မော်ဒယ်၊ IC အထုပ်နှင့် လိုအပ်သော အခြေအနေကို ပေးပို့ပါ။

ASM Pacific Technology Turret Wafer Level Test System SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

SUNBIRD သည် ဆန်းသစ်တီထွင်မှုမှတစ်ဆင့် semiconductor လုပ်ငန်းအတွက် ထိရောက်ပြီး ယုံကြည်စိတ်ချရသော နှင့် ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ်ရှိသော wafer စမ်းသပ်ခြင်းဖြေရှင်းချက်ကို ပေးစွမ်းသည်...

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM MS100 Plus စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ

MS100 ရဲ့ အဆင့်မြှင့်တင်ထားတဲ့ ဗားရှင်းတစ်ခုအနေနဲ့ ASM MS100 Plus ဟာ wafer ကို အခြေခံပြီး ချစ်ပ်ခွဲခြားသတ်မှတ်ခြင်းနဲ့ စီစဉ်ခြင်းအတွက် ကိရိယာတစ်ခုလည်း ဖြစ်ပါတယ်။...

ASM MS100 Plus စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ

နောက်ဆုံးစမ်းသပ်မှုပေါင်းစပ်မှု

Test Handler သည် Semiconductor Tester နှင့် မည်သို့အလုပ်လုပ်သည်

semiconductor test handler သည် device ကို ရွေ့လျား၊ အခြေအနေပေး နှင့် တင်ပြပေးသည်semiconductor tester သည် လျှပ်စစ်တိုင်းတာမှုကို လုပ်ဆောင်သည်ပြီးတော့ ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ sorting အတွက်အသုံးပြုတဲ့ စမ်းသပ်မှုရလဒ်ကို ပြန်ပေးပါတယ်။

handler၊ package-specific change kit၊ contactor၊ docking hardware၊ test head နှင့် tester interface တို့သည် အတူတကွ အလုပ်လုပ်ရမည်။ တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်သော base machine တစ်ခုတွင် ရည်ရွယ်ထားသော IC package သို့မဟုတ် ရှိပြီးသား test cell အတွက် လိုအပ်သော အစိတ်အပိုင်းတိုင်းကို အလိုအလျောက် မပါဝင်ပါ။

ကျွန်တော်/ကျွန်မမှာ ရှိပါတယ်

ထုပ်ပိုးထားသော IC သို့မဟုတ် စမ်းသပ်ဆဲ ကိရိယာ

ထုပ်ပိုးမှုအတိုင်းအတာ၊ ခဲ သို့မဟုတ် ဘောလုံးဖွဲ့စည်းပုံ၊ ဦးတည်ချက်၊ အလေးချိန်နှင့် ပါဝါပျံ့နှံ့မှုတို့သည် ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ ကိုင်တွယ်မှုလိုအပ်ချက်ကို သတ်မှတ်ပေးသည်။

HND

စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူနှင့် ပက်ကေ့ချ်ဟာ့ဒ်ဝဲ

handler သည် လိုအပ်သော change kit နှင့် contact interface မှတစ်ဆင့် device ကို load လုပ်ခြင်း၊ condition လုပ်ခြင်း၊ align လုပ်ခြင်းနှင့် တင်ပြခြင်းတို့ကို လုပ်ဆောင်သည်။

စမ်းသပ်ခြင်း

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာ

စမ်းသပ်သူသည် လျှပ်စစ်လှုံ့ဆော်မှုကို အသုံးပြုပြီး တုံ့ပြန်မှုကို တိုင်းတာကာ အမှိုက်ပုံးရလဒ်ကို စီစစ်ရန်အတွက် ကိုင်တွယ်သူထံ ပြန်ပို့ပေးသည်။

ရွေးချယ်မှုထည့်သွင်းမှုများ

Test Handler ကို အကြံပြုနိုင်ခင် ဘာတွေကို ကိုက်ညီအောင်လုပ်ရမလဲ။

စက်ဗိသုကာနှင့် တကယ့်ဖွဲ့စည်းပုံကို ကျဉ်းမြောင်းစေရန်အတွက် package၊ media flow၊ temperature လိုအပ်ချက်၊ tester interface နှင့် production target ကို အသုံးပြုပါ။ မော်ဒယ်အမည် သို့မဟုတ် ကြော်ငြာထားသော throughput တစ်ခုတည်းဖြင့် မလုံလောက်ပါ။

ဖောက်သည်လိုအပ်ချက်	Handler မှာ ဘာတွေပြောင်းလဲသွားလဲ	ဘာတွေကို အတည်ပြုရမှာလဲ
IC အထုပ်နှင့် ကိရိယာ	လမ်းကြောင်း၊ ဗန်း၊ အသိုက်၊ နော်ဇယ်၊ ပလပ်ဂါ၊ မြင်ကွင်း၊ ဦးတည်ချက် နှင့် ထိတွေ့မှုအား။	ပက်ကေ့ဂျ်မိသားစု၊ ခန္ဓာကိုယ်အတိုင်းအတာ၊ ခဲ သို့မဟုတ် ဘောလုံးဖွဲ့စည်းပုံ၊ အလေးချိန်၊ ဦးတည်ချက်နှင့် ပါဝါပျံ့နှံ့မှု။
အဝင်နှင့် အထွက် မီဒီယာများ	ဗန်းပုံတင်စက်၊ ပြွန်၊ အစုလိုက်အပြုံလိုက်၊ အစင်း၊ ဖလင်ဘောင်၊ တိပ်နှင့် ရီးလ် သို့မဟုတ် အခြား တင်/ချ မော်ဂျူးများ။	စက်ပစ္စည်းများ မည်သို့ရောက်ရှိလာသည်၊ စမ်းသပ်ပုံးများကို မည်သို့ခွဲခြားထားသည်နှင့် စစ်ဆေးခြင်း၊ အမှတ်အသားပြုခြင်း သို့မဟုတ် နောက်ဆုံးထုပ်ပိုးခြင်း ပါဝင်ခြင်း ရှိမရှိ။
အပူချိန်လိုအပ်ချက်	ပတ်ဝန်းကျင်၊ အပူ၊ အအေး သို့မဟုတ် အပူချိန်သုံးမျိုးစနစ်၊ ရေစိမ်လမ်းကြောင်း၊ တက်ကြွသောအပူချိန်ထိန်းချုပ်မှုနှင့် အသုံးအဆောင်များ။	လိုအပ်သော အကွာအဝေး၊ တည်ငြိမ်မှု၊ စမ်းသပ်ချိန်၊ စက်ပစ္စည်း ကိုယ်တိုင်အပူပေးခြင်း၊ အပူပြန်လည်ရယူခြင်းနှင့် ရရှိနိုင်သော အအေးပေးစက် သို့မဟုတ် ခြောက်သွေ့သောလေပံ့ပိုးမှု။
စမ်းသပ်သူနှင့် interface	ဆိုက်ကပ်ရာ ဦးတည်ရာ၊ HIFIX၊ contactor၊ စမ်းသပ်ခေါင်း၊ နေရာအရေအတွက်၊ ဆက်သွယ်ရေးနှင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ရှင်းလင်းရေး။	တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်သူပလက်ဖောင်း၊ ရှိပြီးသား interface hardware၊ bin signals၊ software ဆက်သွယ်ရေးနှင့် လိုအပ်သောစမ်းသပ်နေရာများ။
ထုတ်လုပ်မှုပစ်မှတ်	အညွှန်းကိန်းအချိန်၊ parallel sites များ၊ jam ပြန်လည်ကောင်းမွန်လာခြင်း၊ ဆဲလ်လက်ကျန်နှင့် package changeover ဗျူဟာ။	ပစ်မှတ် UPH၊ လျှပ်စစ်စမ်းသပ်မှုအချိန်၊ အထုပ်ရောနှောမှု၊ အလှည့်ကျပုံစံ၊ စစ်ဆေးမှုလိုအပ်ချက်နှင့် အနာဂတ်ပြောင်းလဲမှုအစီအစဉ်များ။

အသုံးဝင်သော စတင်သည့်နေရာ-ပက်ကေ့ချ်ပုံ၊ လက်ရှိစမ်းသပ်ကိရိယာ၊ အပူချိန်အပိုင်းအခြား၊ နေရာအရေအတွက်၊ အဝင်နှင့်အထွက်မီဒီယာ၊ ပစ်မှတ်ပမာဏနှင့် နှစ်သက်ရာစမ်းသပ်ကိရိယာမော်ဒယ်ကို ပေးပို့ပါ။

သင့်ရဲ့ စမ်းသပ်မှု လိုအပ်ချက်ကို ပို့ပါ

အသုံးပြုပြီးသား စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သည့် ပစ္စည်းကိရိယာများ

အသုံးပြုပြီးသား Test Handler စက်ဝယ်ယူရာတွင် မည်သည့်အချက်များကို စစ်ဆေးရမည်နည်း

တူညီသော semiconductor test handler မော်ဒယ်သည် ၎င်း၏ package hardware၊ thermal options၊ tester interface၊ software၊ maintenance condition နှင့် ပါဝင်သော accessories များပေါ် မူတည်၍ အလွန်ကွဲပြားသော commercial value ရှိနိုင်သည်။

စက်၏ အထောက်အထား မော်ဒယ်အပြည့်အစုံ၊ စီးရီးနံပါတ်နှင့် ထုတ်လုပ်သည့်ခုနှစ်

တိကျသော ပလက်ဖောင်း၊ စက်၏ အထောက်အထားနှင့် ရရှိနိုင်သော ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းမှု မှတ်တမ်းများကို အတည်ပြုပါ။

ပက်ကေ့ဂျ်ပြောင်းလဲခြင်း ကိရိယာတန်ဆာပလာများ၊ လမ်းကြောင်းများ၊ အသိုက်များ၊ နော်ဇယ်များနှင့် ဗန်းများကို လဲလှယ်ပါ

ပါ၀င်သော package hardware သည် ရည်ရွယ်ထားသော semiconductor device နှင့် ကိုက်ညီမှုရှိမရှိ စစ်ဆေးပါ။

စမ်းသပ်သူ အင်တာဖေ့စ် HIFIX၊ contactor၊ docking နှင့် စမ်းသပ်နေရာအရေအတွက်

ရှိပြီးသား စမ်းသပ်ကိရိယာနှင့် စမ်းသပ်ခေါင်းနှင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် ဆက်သွယ်ရေး လိုက်ဖက်ညီမှုကို အတည်ပြုပါ။

အပူဖွဲ့စည်းပုံ အအေးပေးစက်၊ အပူပေးစက်၊ LN₂၊ ATC နှင့် ခြောက်သွေ့သောလေ မော်ဂျူးများ

အပူချိန်အပိုင်းအခြား၊ လိုအပ်သော အသုံးအဆောင်များ၊ ရေခဲသေတ္တာအခြေအနေနှင့် ပါဝင်သော အပူဆိုင်ရာ ဟာ့ဒ်ဝဲကို အတည်ပြုပါ။

ဆော့ဖ်ဝဲနှင့် ရွေးချယ်စရာများ ဆော့ဖ်ဝဲဗားရှင်း၊ လိုင်စင်များ၊ ရူပါရုံနှင့် အမှတ်အသားပြုခြင်း

မူရင်းပလက်ဖောင်းသတ်မှတ်ချက်သည် ရွေးချယ်မှုတိုင်းကို ထည့်သွင်းထားသည် သို့မဟုတ် ဖွင့်ထားသည်ကို သက်သေမပြပါ။

အခြေအနေနှင့် ပံ့ပိုးမှု လည်ပတ်မှုအခြေအနေ၊ ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းမှုမှတ်တမ်းနှင့် ပါဝင်သော အပိုပစ္စည်းများ

စစ်ဆေးခြင်းအတိုင်းအတာ၊ ထုပ်ပိုးမှုနည်းလမ်း၊ တပ်ဆင်မှုအခြေအနေများနှင့် ရရှိနိုင်သော နည်းပညာပံ့ပိုးမှုကို တောင်းဆိုပါ။

အသုံးဝင်သော ဈေးနှုန်းတောင်းဆိုပါ

Handler Model သို့မဟုတ် သင့် IC Package ဖြင့် စတင်ပါ

ရရှိနိုင်သော စက်နှင့် မဖြေရှင်းရသေးသော လိုက်ဖက်ညီမှုအချက်များကို ပြန်လည်သုံးသပ်နိုင်ရန် သိရှိထားသော ပရောဂျက်အချက်အလက်များကို ပေးပို့ပါ။

နှစ်သက်ရာ ထုတ်လုပ်သူနှင့် မော်ဒယ်
IC ပက်ကေ့ချ်မိသားစုနှင့် အတိုင်းအတာများ
အဝင်နှင့် အထွက် မီဒီယာများ
တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာနှင့် စမ်းသပ်ခေါင်း
အပူချိန်အပိုင်းအခြားနှင့် စမ်းသပ်သည့်နေရာအရေအတွက်
အသစ်၊ အသုံးပြုပြီးသား သို့မဟုတ် ပြန်လည်ပြုပြင်ထားသော ဦးစားပေးမှု
ဦးတည်ရာနှင့် စီမံကိန်းအချိန်ဇယား

စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ ဈေးနှုန်းတောင်းဆိုပါ

ဆက်စပ်သော တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းကိရိယာများ

စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် ကိုင်တွယ်ခြင်း ပရောဂျက်ကို ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ပါ

စီမံကိန်းတွင် လျှပ်စစ်စမ်းသပ်ခြင်း၊ wafer-level probing၊ အစားထိုးအစိတ်အပိုင်းများ သို့မဟုတ် အခြား semiconductor ထုတ်လုပ်သည့် ပစ္စည်းကိရိယာများလည်း ပါဝင်သည့်အခါ ဆက်စပ်ပစ္စည်းများကို စူးစမ်းလေ့လာပါ။

စမ်းသပ်ခြင်း

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာ

လျှပ်စစ်လှုံ့ဆော်မှုထုတ်လုပ်ရန်၊ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းတုံ့ပြန်မှုကို တိုင်းတာရန်နှင့် စမ်းသပ်မှုရလဒ်များထုတ်လုပ်ရန်အသုံးပြုသော စက်ပစ္စည်းများကို ကြည့်ရှုပါ။

→ စီပီ

စုံစမ်းစစ်ဆေးရေးစခန်း

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းထုပ်ပိုးမှုနှင့် နောက်ဆုံးစမ်းသပ်မှုမပြုလုပ်မီ အသုံးပြုခဲ့သော wafer-level contact နှင့် တိုင်းတာရေးပစ္စည်းများကို လေ့လာပါ။

→ အပိုင်း

စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်ကိရိယာ အစိတ်အပိုင်းများနှင့် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ

ပံ့ပိုးပေးထားသော handler platform များအတွက် ရွေးချယ်ထားသော nozzle များ၊ board များ၊ မော်တာများ၊ အာရုံခံကိရိယာများနှင့် အစားထိုးအစိတ်အပိုင်းများကို ရှာဖွေပါ။

→ တစ်ပိုင်း

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းကိရိယာများ

wafer လုပ်ဆောင်ခြင်း၊ ထုပ်ပိုးခြင်း၊ ချည်နှောင်ခြင်းနှင့် စမ်းသပ်ခြင်းစနစ်များအတွက် အဓိက semiconductor ပစ္စည်းလမ်းညွှန်သို့ ပြန်သွားပါ။

→

ဝယ်သူမေးခွန်းများ

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာဆိုင်ရာ မကြာခဏမေးလေ့ရှိသောမေးခွန်းများ

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း စမ်းသပ်ကိရိယာစက်များကို ရွေးချယ်ခြင်း၊ အစားထိုးခြင်းနှင့် ရင်းမြစ်ရယူခြင်းနှင့်ပတ်သက်သည့် အမေးများသော မေးခွန်းများ

semiconductor test handler က ဘာလုပ်သလဲ။

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုသည်ထုပ်ပိုးထားသောကိရိယာများကိုတင်ပြီး ၎င်းတို့၏ရွေ့လျားမှုနှင့် အပူချိန်ကိုထိန်းချုပ်ကာ စမ်းသပ်မျက်နှာပြင်သို့တင်ပြပြီး တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာမှပြန်ပေးသော လျှပ်စစ်ရလဒ်အရ ၎င်းတို့ကို စီစစ်ပါသည်။

စမ်းသပ်ကိရိယာနှင့် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာတို့၏ ကွာခြားချက်ကား အဘယ်နည်း။

စမ်းသပ်သူက လျှပ်စစ်တိုင်းတာမှုကို လုပ်ဆောင်သည်။ စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူက စက်ပစ္စည်းတင်ခြင်း၊ ရွေ့လျားခြင်း၊ အပူချိန်ထိန်းညှိခြင်း၊ ထိတွေ့မှုတင်ပြခြင်းနှင့် ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာခွဲခြားခြင်းတို့ကို လုပ်ဆောင်သည်။ စနစ်နှစ်ခုစလုံးသည် သဟဇာတဖြစ်သော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် ဆက်သွယ်ရေးမျက်နှာပြင်များ လိုအပ်သည်။

စမ်းသပ်စက်တွေရဲ့ အဓိကအမျိုးအစားတွေက ဘာတွေလဲ။

အဖြစ်များသော အမျိုးအစားများတွင် pick-and-place test handlers၊ turret handlers၊ gravity-feed handlers နှင့် specialized strip, film-frame သို့မဟုတ် carrier-based systems တို့ ပါဝင်သည်။ သင့်လျော်သော ဗိသုကာပုံစံသည် package နှင့် production flow ပေါ်တွင် မူတည်သည်။

အပူချိန်သုံးမျိုးစမ်းသပ်ကိရိယာဆိုတာဘာလဲ။

အပူချိန်သုံးမျိုးသုံး စမ်းသပ်ကိရိယာသည် အအေး၊ ပတ်ဝန်းကျင်နှင့် ပူသောအခြေအနေများတွင် စမ်းသပ်ခြင်းကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ တိကျသော အပူချိန်အပိုင်းအခြား၊ စိုစွတ်နည်းလမ်း၊ တည်ငြိမ်မှုနှင့် အသုံးဝင်မှုလိုအပ်ချက်များသည် တပ်ဆင်ထားသော အပူစနစ်ပေါ်တွင် မူတည်ပါသည်။

IC test handler တစ်ခုတည်းက package အမျိုးအစားများစွာကို run နိုင်ပါသလား။

မကြာခဏတော့ ဟုတ်ပါတယ်၊ ဒါပေမယ့် package တစ်ခုချင်းစီမှာ တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်တဲ့ change kit၊ tray ဒါမှမဟုတ် track hardware၊ contact interface၊ software recipe နဲ့ handling option လိုအပ်နိုင်ပါတယ်။ အခြေခံစက်မော်ဒယ်တစ်ခုတည်းနဲ့ ဒီအစိတ်အပိုင်းတွေ ပါဝင်တယ်ဆိုတာကို အတည်မပြုနိုင်ပါဘူး။

အသုံးပြုပြီးသား test handler တစ်ခုကို ကိုးကားဖို့ ဘယ်လိုအချက်အလက်တွေ လိုအပ်ပါသလဲ။

နှစ်သက်ရာ မော်ဒယ်၊ ပက်ကေ့ချ်ပုံ၊ အဝင်နှင့်အထွက် မီဒီယာ၊ စမ်းသပ်ကိရိယာနှင့် စမ်းသပ်ခေါင်း၊ အပူချိန်အပိုင်းအခြား၊ နေရာအရေအတွက်၊ ထုတ်လုပ်မှုပစ်မှတ်၊ လိုအပ်သောအခြေအနေနှင့် ဦးတည်ရာကို ပေးပါ။ ရှိပြီးသား interface သို့မဟုတ် change-kit အပိုင်းနံပါတ်များသည်လည်း အသုံးဝင်ပါသည်။

Test Handler ကို သင့်ရဲ့ IC Package၊ Tester နဲ့ Production Target တွေနဲ့ တွဲစပ်ပါ။

ပက်ကေ့ဂျ်၊ မီဒီယာဖော်မတ်၊ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာ၊ အပူချိန်လိုအပ်ချက်၊ နေရာအရေအတွက်၊ နှစ်သက်ရာစက်နှင့် ဦးတည်ရာတို့ကို ပေးပို့ပါ။ ရရှိနိုင်သော ပစ္စည်းကိရိယာများနှင့် လိုအပ်သော ပြင်ဆင်မှုအချက်များကို ပြန်လည်သုံးသပ်နိုင်ပါသည်။

သင့်ရဲ့ Test Handler Project ကို ဆွေးနွေးပါ

IC နောက်ဆုံးစမ်းသပ်မှုအတွက် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်စက်များ

ဗိသုကာနှင့် အပလီကေးရှင်းအလိုက် Test Handler စက်များကို ကြည့်ရှုပါ

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းနှင့် IC စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သည့် ပစ္စည်းကိရိယာများ

Pick-and-place စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်စက်များ

Turret စမ်းသပ်ခြင်း၊ စီခြင်းနှင့် Tape-and-Reel ကိုင်တွယ်သူများ

ဆွဲငင်အားစမ်းသပ်ကိရိယာ

ရရှိနိုင်သော Semiconductor စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သည့် ပစ္စည်းကိရိယာများ

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM Pacific နည်းပညာ Turret Wafer အဆင့်စမ်းသပ်မှုစနစ် SUNBIRD

ASM MS100 Plus စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ

ASM MS100 Plus စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ

ASM MS100 Plus စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ

ASM MS100 Plus စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ

ASM MS100 Plus စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်သူ

Test Handler သည် Semiconductor Tester နှင့် မည်သို့အလုပ်လုပ်သည်

Test Handler ကို အကြံပြုနိုင်ခင် ဘာတွေကို ကိုက်ညီအောင်လုပ်ရမလဲ။

အသုံးပြုပြီးသား Test Handler စက်ဝယ်ယူရာတွင် မည်သည့်အချက်များကို စစ်ဆေးရမည်နည်း

စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် ကိုင်တွယ်ခြင်း ပရောဂျက်ကို ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ပါ

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာ

စုံစမ်းစစ်ဆေးရေးစခန်း

စမ်းသပ်ကိုင်တွယ်ကိရိယာ အစိတ်အပိုင်းများနှင့် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းကိရိယာများ

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာဆိုင်ရာ မကြာခဏမေးလေ့ရှိသောမေးခွန်းများ

Test Handler ကို သင့်ရဲ့ IC Package၊ Tester နဲ့ Production Target တွေနဲ့ တွဲစပ်ပါ။

SMT စက်

SMT အစိတ်အပိုင်းများ

Quote တောင်းပါ။