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ne
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ny
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om
per
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sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhCharger et identifier
Réception des dispositifs à partir de plateaux, tubes, vrac, bandes, pellicules ou autres supports de production.
Intégration des tests finaux des semi-conducteurs
Systèmes de manipulation de tests pour lignes de test finales de semi-conducteurs
Un système de test pour semi-conducteurs déplace les composants encapsulés à travers les étapes de chargement, de conditionnement thermique, de contact électrique et de tri en fonction des résultats. Explorez les équipements disponibles et associez le système de test, le matériel de conversion d'encapsulation, l'interface du testeur et le flux de production pour créer une cellule de test finale.
État et présent
Contrôler l'orientation, la température, la position du site et la force de contact avant la mesure électrique.
Mesurer l'appareil
Le testeur applique le programme électrique et renvoie un résultat réussi/échoué ou des informations détaillées sur le bac.
Trier et continuer
Acheminer les dispositifs acceptés et rejetés vers le plateau, le tube, la bobine, le conteneur ou le processus en aval approprié.
Où se situe le manipulateur
Concevoir le gestionnaire de tests autour de l'étage de test des semi-conducteurs
Un même dispositif peut passer par le tri des plaquettes, le test final d'encapsulation, le test au niveau système et le contrôle de fiabilité. Chaque étape utilise des mécanismes, des interfaces et des objectifs de production différents.
Cette page est consacrée aux tests finaux des dispositifs encapsulés et aux systèmes de manutention qui chargent, conditionnent la température, établissent les contacts et trient les dispositifs semi-conducteurs.
Sonder avant emballage
Un appareil de test positionne la plaquette et la carte de test pour le test électrique.Équipement de station de sondagelorsque le dispositif est encore sur la plaquette.
Manipuler les dispositifs emballés à l'échelle de la production
Le dispositif de test transporte les pièces emballées, contrôle la température de test, les présente au contacteur et trie les résultats obtenus.
Exécuter des charges de travail au niveau de l'application
L'équipement SLT évalue les dispositifs complexes dans des conditions de fonctionnement plus réalistes et peut nécessiter une architecture de support, de socket, thermique et de carte différente.
Dépistage des défaillances latentes
Les systèmes de rodage et de fiabilité appliquent des contraintes prolongées de température, de tension ou de charge de travail plutôt que les traitements normaux des tests finaux à haut débit.
Équipement actuel
Systèmes de test de semi-conducteurs disponibles
Consultez la liste des équipements actuellement classés dans cette catégorie. Pour chaque machine, veuillez vérifier la compatibilité avec votre système de gestion des paquets, les modules thermiques, les interfaces de test, les kits de conversion et les accessoires inclus.
La capacité d'une catégorie ne correspond pas à la configuration d'une machine.
Veuillez utiliser la page produit et le devis pour confirmer l'architecture réelle du gestionnaire et les options fournies.
Veuillez utiliser la page produit et le devis pour confirmer l'architecture réelle du gestionnaire et les options fournies.
Système de test de niveau de plaquettes à tourelle ASM Pacific Technology SUNBIRD
SUNBIRD propose une solution de test de plaquettes efficace, fiable et flexible pour l'industrie des semi-conducteurs grâce à des innovations...
Gestionnaire de tests ASM MS100 Plus
Version améliorée du MS100, l'ASM MS100 Plus est également un appareil de tri et d'agencement de puces en fonction de la plaquette...
ISMECA teste les transactions NY20
L'ISMECA NY20 (désormais propriété de Cohu) est une machine rotative de test et de tri de semi-conducteurs à 20 stations et à très haute vitesse.
Machine de tri ASMPT MS90
La trieuse ASM MS90 est un appareil conçu pour le tri des perles de lampes, offrant des fonctions de tri efficaces et précises.
Dispositif / ProgrammeBesoins de manutention typiquesFocus sur la sélection
Circuits intégrés logiques, microcontrôleurs et circuits intégrés mixtes
Test final d'un dispositif conditionné en grande série.
Flux en plateau, en tube, par gravité ou par prélèvement et dépôt
Correspondance entre la famille de packages, le nombre de sites, le temps d'indexation et l'interface du testeur.
Débit avec contact stable
Équilibre du parallélisme, de la température, du temps de conversion et de la récupération de la confiture.
Dispositifs de puissance et analogiques
Dispositifs présentant une sensibilité plus élevée au courant, à la chaleur ou à la force de contact.
Contrôle thermique et interface robuste
Vérifier la régulation active de la température, les performances du contacteur et la dissipation de puissance.
Précision thermique sous charge
L'auto-échauffement peut modifier la stratégie de manipulation et de contact.
Dispositifs MEMS et capteurs
Composants de mouvement, de pression, de microphone, inertiels ou optiques.
Intégration des stimuli, de l'orientation et de l'inspection
La cellule peut nécessiter des fonctions d'actionnement, d'étalonnage ou de vision supplémentaires.
Test plus stimulus physique
Vérifiez si un gestionnaire de circuits intégrés standard est suffisant.
WLCSP et boîtiers sans plomb
Petits dispositifs BGA, QFN, DFN, WLCSP et dispositifs post-sciés.
Manipulation de pellicules, de bandes ou de films individuels de précision
La fragilité de l'emballage et le support de présentation peuvent déterminer la plateforme.
Alignement précis et force contrôlée
L'intégralité du kit de remplacement devient cruciale lors de l'approvisionnement en matériel d'occasion.
Interfaces de test final
Le manipulateur doit connecter quatre exigences de production de semi-conducteurs
La réussite de l'intégration dépend de l'entrée du produit dans la machine, de la stabilité du contact électrique du testeur, du maintien de l'appareil à la température requise et de l'acheminement correct du résultat final.
Emballage et supports d'entrée
Les rails, les nids, les plateaux, les tubes, les bols, les bandes, les cadres de film, les buses et les systèmes d'orientation doivent correspondre au dispositif physique.
ATE, tête de test et contacteur
Le sens d'amarrage, le type de connecteur HIFIX, la prise ou le contacteur, le nombre de sites, la force et la communication logicielle doivent correspondre au testeur.
Contrôle du chaud, du froid et actif
Le temps de trempage, le refroidisseur, le chauffage, l'air sec, le LN₂, l'auto-échauffement de l'appareil et le temps de récupération influencent le rendement réel de la cellule de test.
Tri, données et sortie
Le tri des déchets, l'inspection, la traçabilité, le marquage et la manipulation finale des supports doivent s'intégrer au flux de production global des semi-conducteurs.
Choisissez l'étape de test appropriée
Système de test final, système de test SLT ou système d'inspection ?
Ces systèmes peuvent apparaître côte à côte dans la chaîne de production des semi-conducteurs, mais ils n'effectuent pas la même tâche.
Test final électrique de l'appareil emballé
Charge, conditionne thermiquement, contacte et trie les dispositifs pendant que l'ATE effectue la mesure électrique.
Test fonctionnel au niveau du système
Exécute les périphériques dans un environnement de type carte ou application et peut utiliser des supports, des sockets et des charges de travail différents de ceux d'un test final normal.
Opérations de vision, de marquage et d'emballage
L'inspection optique automatisée (AOI), l'inspection 3D, le marquage, le rubanage ou la finition des plateaux peuvent être intégrés à une plateforme de manutention, mais doivent être spécifiés séparément.
01
Vérifier l'emballage du semi-conducteur
Indiquez la famille de boîtier, les dimensions, la structure des broches ou des billes, l'orientation, le poids et la dissipation de puissance du dispositif.
02
Identifier la plateforme de test
Indiquez le système ATE, la tête de test, le matériel HIFIX ou d'interface existant, le contacteur et le nombre de sites parallèles requis.
03
Définir le programme thermique
Indiquez les exigences en matière de température ambiante, chaude, froide ou triple, les attentes concernant le trempage et si l'appareil s'auto-échauffe pendant le test.
04
Saisie, tri et sortie de la carte
Expliquez comment les pièces entrent dans la cellule, comment les bacs électriques doivent être séparés et si un marquage, une inspection ou un ruban adhésif est nécessaire.
05
Vérifiez la configuration réelle de la machine.
Pour les équipements d'occasion ou remis à neuf, vérifiez les kits installés, les logiciels, les modules thermiques, l'interface du testeur, les accessoires et l'état de fonctionnement.
Équipements de test associés
Poursuivre la construction de la cellule de test pour semi-conducteurs
Utilisez ces pages lorsque le projet inclut également le testeur de base, le contact au niveau de la plaquette, les pièces de rechange ou la catégorie d'équipement de manipulation de test parent.
CATÉGORIE PRINCIPALE
Équipement de manipulation d'essai
Explorez la catégorie plus large des manutentionnaires et comparez les itinéraires des équipements de prélèvement et de placement, à tourelle, à gravité et à bande.
Afficher les gestionnaires de tests → TEST ÉLECTRIQUESystème ATE
Examinez le testeur de semi-conducteurs qui génère un stimulus, mesure le dispositif et renvoie le résultat du test à l'opérateur.
Explorer les systèmes ATE → TEST DE PLAQUETTESStation de sonde
Comparer les équipements de contact et de mesure au niveau de la plaquette lorsque le dispositif n'a pas encore subi le test final d'encapsulation.
Explorer les équipements de sondage → PIÈCES ET ASSISTANCEPièces de test de manipulation
Trouvez les buses, cartes, moteurs, capteurs et composants de remplacement sélectionnés pour les plateformes de manutention prises en charge.
Parcourir les composants du gestionnaire →Questions fréquentes
FAQ sur les manipulateurs de test de semi-conducteurs
Ces réponses couvrent les questions d'intégration qui influent généralement sur le choix et le devis des équipements de test final.
Que fait un technicien de test lors du test final des semi-conducteurs ?
Il transporte les dispositifs emballés, contrôle leur orientation et leur température, présente chaque dispositif au contacteur de test, reçoit le résultat du test automatique et trie les dispositifs dans les bacs ou supports de sortie requis.
Un manipulateur de test de semi-conducteurs est-il la même chose qu'un ATE ?
Non. Le manipulateur effectue la manutention mécanique, le conditionnement thermique, le positionnement des contacts et le tri. Le testeur automatique applique le programme de test électrique, mesure l'appareil et renvoie le résultat.
Comment choisir entre la gestion des tests finaux et celle des tests au niveau système ?
Utilisez un système de test final pour les tests électriques de production conventionnels des composants encapsulés. Choisissez un système SLT lorsque le composant doit fonctionner dans un environnement de type carte ou application avec un socket, un support ou une charge de travail différents.
Quelles informations sont nécessaires pour associer un manipulateur à un boîtier de circuit intégré ?
Fournir le schéma du boîtier, les dimensions, l'orientation, les supports d'entrée/sortie, la température de test, la plateforme ATE, la tête de test, le nombre de sites, la durée du test et les opérations de tri ou d'inspection requises.
Un gestionnaire de tests usagé peut-il être converti en un autre package ?
La conversion est parfois possible, mais elle dépend de l'architecture de la machine, des kits de conversion disponibles, des rails, des supports, des buses, de l'interface du contacteur, de la configuration thermique, du logiciel et de la plage de fonctionnement mécanique. Ces éléments doivent être vérifiés avant l'achat.
Que doit inclure un devis pour un manipulateur de test de semi-conducteurs ?
Le devis doit identifier précisément la machine, son année et son numéro de série, le kit de modification installé, l'interface du testeur, le système thermique, le logiciel, les modules d'entrée/sortie, les accessoires, l'état, le périmètre d'inspection et le support à la livraison.
Associez le manipulateur à la cellule de test finale complète du semi-conducteur
Veuillez envoyer le colis, le testeur, la température, le nombre de sites et les exigences du flux de production afin d'examiner l'équipement actuel et les configurations réelles des machines.
