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Halbleiter-Endprüfgeräte

Halbleiter-Testgeräte für IC-Endprüfung

Testhandhabungsgeräte automatisieren die Bewegung, Temperaturkonditionierung, Kontaktierung und Ausgabesortierung von verpackten Halbleiterbauelementen. Entdecken Sie unsere Testhandhabungsgeräte für die Halbleiterfertigung, z. B. für Endprüfungen, die technische Verifizierung, die Handhabung von IC-Gehäusen und die automatisierte Chipsortierung.

01 / Eingabe Verpackte Geräte laden

Die Zufuhr erfolgt über Trays, Tuben, Streifen, Schüttgut, Bänder oder Filmrahmen, abgestimmt auf den erforderlichen Gerätefluss.

02 / Thermisch Gerät konditionieren

Die Handhabung bei Umgebungstemperatur, Hitze, Kälte oder drei Temperaturen bereitet das Halbleiterbauelement für die Messung vor.

03 / Kontakt Dem Tester präsentieren

Der Handler richtet das IC-Gehäuse an der Schnittstelle zwischen Schütz, Testkopf und Halbleitertester aus.

04 / Ausgang Sortieren Sie das Testergebnis

Die als bestanden, nicht bestanden und bewerteten Geräte werden in die Ausgabefächer, Röhren, Gurt- und Spulenfächer oder einen anderen konfigurierten Ausgang verschoben.

Testhandler-Verzeichnis

Testhandler-Maschinen nach Architektur und Anwendung durchsuchen

Dieses Verzeichnis vereint die wichtigsten Kategorien von Halbleiter-Testhandlern auf All-SMT und hilft Ihnen, die relevantesten Geräteseiten basierend auf der Handler-Architektur, dem IC-Gehäuseablauf und den Produktionsanforderungen zu finden.

Eng verwandte Begriffe aus dem Bereich der Testhandhabung können unterschiedliche Gerätearchitekturen, Paketverarbeitungsabläufe und Produktionsaufgaben beschreiben. Jede der folgenden Kategorien konzentriert sich auf eine separate Auswahl- oder Beschaffungsanforderung.
04 / Schwerkraftzufuhr

Schwerkrafttest-Handling-Ausrüstung

Schwerkraftförderer transportieren kompatible, röhrengespeiste Halbleiterbauelemente über kontrollierte Bahnen zur Teststation und zum sortierten Ausgang. Gehäusegeometrie, Bahndesign, Wärmeleitung und Bauelementbewegung müssen sorgfältig aufeinander abgestimmt sein.

Aktuelle Ausrüstung

Verfügbare Testgeräte für Halbleiter

Durchsuchen Sie die aktuelle Auswahl an Testhandhabungsgeräten. Die endgültige Kompatibilität hängt von der Gehäusefamilie, den Ein- und Ausgabemedien, der Testerplattform, dem Temperaturbereich, der Anzahl der Teststellen, dem installierten Wechselkit und der tatsächlichen Konfiguration der verfügbaren Geräte ab.

Benötigen Sie ein hier nicht aufgeführtes Modell? Bitte senden Sie uns den bevorzugten Hersteller, das Maschinenmodell, das IC-Gehäuse und die erforderlichen Bedingungen, damit wir die aktuellen Bezugsquellen prüfen können.
ASM MS100 Plus test handler

ASM MS100 Plus Testhandler

Als verbesserte Version des MS100 ist der ASM MS100 Plus ebenfalls ein Gerät zur Chip-Sortierung und -Anordnung auf Wafer-Basis...

ASM MS100 Plus test handler

ASM MS100 Plus Testhandler

Als verbesserte Version des MS100 ist der ASM MS100 Plus ebenfalls ein Gerät zur Chip-Sortierung und -Anordnung auf Wafer-Basis...

ASM MS100 Plus test handler

ASM MS100 Plus Testhandler

Als verbesserte Version des MS100 ist der ASM MS100 Plus ebenfalls ein Gerät zur Chip-Sortierung und -Anordnung auf Wafer-Basis...

ASM MS100 Plus test handler

ASM MS100 Plus Testhandler

Als verbesserte Version des MS100 ist der ASM MS100 Plus ebenfalls ein Gerät zur Chip-Sortierung und -Anordnung auf Wafer-Basis...

ASM MS100 Plus test handler

ASM MS100 Plus Testhandler

Als verbesserte Version des MS100 ist der ASM MS100 Plus ebenfalls ein Gerät zur Chip-Sortierung und -Anordnung auf Wafer-Basis...

Integration des Abschlusstests

Funktionsweise des Test-Handlers mit dem Halbleitertester

Ein Halbleitertester bewegt, konditioniert und präsentiert das Bauelement, währendDer Halbleitertester führt die elektrische Messung durch.und gibt das für die physische Sortierung verwendete Testergebnis zurück.

Handler, gehäusespezifischer Wechselsatz, Schütz, Docking-Hardware, Testkopf und Testerschnittstelle müssen zusammenarbeiten. Eine kompatible Basismaschine enthält nicht automatisch alle für das vorgesehene IC-Gehäuse oder die vorhandene Testzelle erforderlichen Komponenten.

ICH HABE
Verpackter IC oder Prüfling

Die Abmessungen des Gehäuses, die Leiterbahn- oder Kugelstruktur, die Ausrichtung, das Gewicht und die Verlustleistung bestimmen die Anforderungen an die Handhabung.

HND
Testhandler und Gehäusehardware

Der Handler lädt, bereitet vor, richtet das Gerät aus und präsentiert es über das erforderliche Wechselkit und die Kontaktschnittstelle.

PRÜFEN
Halbleitertester

Der Tester legt den elektrischen Reiz an, misst die Reaktion und sendet das Ergebnis zur Sortierung an den Bediener zurück.

Auswahleingaben

Welche Voraussetzungen müssen erfüllt sein, damit ein Test-Handler empfohlen werden kann?

Nutzen Sie die Angaben zu Verpackung, Medienfluss, Temperaturanforderungen, Testerschnittstelle und Produktionsziel, um die Maschinenarchitektur und die tatsächliche Konfiguration einzugrenzen. Modellname oder beworbener Durchsatz allein reichen nicht aus.

Kundenanforderung Was ändert sich dadurch am Handler? Was muss bestätigt werden?
IC-Gehäuse und Bauelement Schiene, Schale, Nest, Düse, Kolben, Sicht, Ausrichtung und Kontaktkraft. Gehäusefamilie, Gehäuseabmessungen, Anschluss- oder Kugelstruktur, Gewicht, Ausrichtung und Verlustleistung.
Eingabe- und Ausgabemedien Traystapler, Rohrstapler, Schüttgutstapler, Streifenstapler, Filmrahmenstapler, Bandstapler oder andere Be- und Entlademodule. Wie die Geräte ankommen, wie die Testbehälter getrennt werden und ob Inspektion, Kennzeichnung oder Endverpackung inbegriffen sind.
Temperaturanforderung Umgebungs-, Heiß-, Kalt- oder Drei-Temperatur-System, Einweichpfad, aktive Temperaturregelung und Versorgungseinrichtungen. Erforderliche Reichweite, Stabilität, Testzeit, Eigenerwärmung des Geräts, Wärmerückgewinnung und verfügbare Kältemittel- oder Trockenluftunterstützung.
Tester und Schnittstelle Andockrichtung, HIFIX, Schütz, Testkopf, Standortzählung, Kommunikation und mechanischer Freiraum. Halbleitertesterplattform, vorhandene Schnittstellenhardware, Binärsignale, Softwarekommunikation und erforderliche Testplätze.
Produktionsziel Indexierungszeit, parallele Standorte, Staubehebung, Zellbalance und Verpackungswechselstrategie. Zielvorgabe für die Betriebsstundenzahl (UPH), elektrische Prüfzeit, Produktmix, Schichtmuster, Inspektionsanforderungen und zukünftige Umstellungspläne.

Nützlicher Ausgangspunkt:Bitte senden Sie die Zeichnung des Gehäuses, das aktuelle Testgerät, den Temperaturbereich, die Anzahl der Standorte, die Eingangs- und Ausgangsmedien, das Zielvolumen und das bevorzugte Testhandhabungsmodell.

Senden Sie Ihre Testanforderung
Gebrauchte Testgeräte

Worauf Sie beim Kauf eines gebrauchten Testhandhabungsgeräts achten sollten

Ein und dasselbe Halbleiter-Testhandhabungsgerät kann je nach Gehäusehardware, thermischen Optionen, Testerschnittstelle, Software, Wartungszustand und mitgeliefertem Zubehör einen sehr unterschiedlichen kommerziellen Wert haben.

Maschinenidentität Vollständiges Modell, Seriennummer und Produktionsjahr

Bitte bestätigen Sie die genaue Plattform, die Maschinenidentität und die verfügbaren Wartungsunterlagen.

Paketumwandlung Wechselsets, Schienen, Nester, Düsen und Tabletts

Prüfen Sie, ob die im Lieferumfang enthaltene Hardware mit dem vorgesehenen Halbleiterbauelement übereinstimmt.

Testerschnittstelle HIFIX, Schütz, Dockingstation und Teststandortzählung

Prüfen Sie die mechanische und kommunikative Kompatibilität mit dem vorhandenen Tester und Testkopf.

Thermische Konfiguration Kältemaschine, Heizung, LN₂, ATC und Trockenluftmodule

Bitte prüfen Sie den Temperaturbereich, die benötigten Versorgungsleitungen, den Kältemittelstatus und die mitgelieferte thermische Hardware.

Software und Optionen Softwareversion, Lizenzen, Vision und Kennzeichnung

Die ursprüngliche Plattformspezifikation beweist nicht, dass jede Option installiert oder aktiviert ist.

Zustand und Unterstützung Betriebszustand, Wartungshistorie und enthaltene Ersatzteile

Bitten Sie um Angaben zum Inspektionsumfang, zur Verpackungsmethode, zu den Installationsbedingungen und zum verfügbaren technischen Support.

Käuferfragen

Häufig gestellte Fragen zu Halbleiter-Testgeräten

Häufig gestellte Fragen zur Auswahl, zum Austausch und zur Beschaffung von Halbleiter-Testgeräten.

Was macht ein Halbleitertestgerät?

Ein Halbleitertest-Handler lädt verpackte Bauelemente, steuert deren Bewegung und Temperatur, führt sie der Testschnittstelle zu und sortiert sie nach dem vom Halbleitertester zurückgegebenen elektrischen Ergebnis.

Worin besteht der Unterschied zwischen einem Testhandler und einem Halbleitertester?

Das Testgerät führt die elektrische Messung durch. Das Testhandhabungssystem übernimmt das Laden, den Transport, die Temperaturkonditionierung, die Kontaktierung und die physikalische Sortierung der Geräte. Beide Systeme benötigen kompatible mechanische und Kommunikationsschnittstellen.

Was sind die wichtigsten Arten von Testverarbeitungsmaschinen?

Gängige Kategorien sind Pick-and-Place-Testsysteme, Revolversysteme, Schwerkraftzuführungssysteme und spezialisierte Systeme für Streifen, Filmrahmen oder Träger. Die geeignete Architektur hängt von der Verpackung und dem Produktionsablauf ab.

Was ist ein Tri-Temperature-Testhandler?

Ein Dreitemperatur-Prüfgerät ermöglicht Prüfungen bei Kälte, Umgebungstemperatur und Hitze. Der genaue Temperaturbereich, die Haltezeit, die Stabilität und die erforderlichen Versorgungsleistungen hängen vom installierten Wärmesystem ab.

Kann ein IC-Testhandler mehrere Gehäusetypen verarbeiten?

Oft ja, aber für jedes Paket können ein kompatibles Wechselset, Hardware für Träger oder Schienen, eine Kontaktschnittstelle, eine Softwarekonfiguration und eine Handhabungsoption erforderlich sein. Das Basismaschinenmodell allein bestätigt nicht, dass diese Teile enthalten sind.

Welche Informationen werden benötigt, um ein Angebot für einen gebrauchten Testhandler zu erstellen?

Bitte geben Sie das bevorzugte Modell, die Gehäusezeichnung, die Ein- und Ausgabemedien, das Testgerät und den Testkopf, den Temperaturbereich, die Anzahl der Standorte, das Produktionsziel, die erforderlichen Bedingungen und den Bestimmungsort an. Vorhandene Schnittstellen- oder Wechselkit-Teilenummern sind ebenfalls hilfreich.

Wählen Sie den Testhandler passend zu Ihrem IC-Gehäuse, Tester und Produktionsziel.

Bitte senden Sie uns die Paketinformationen, das Medienformat, den Halbleitertester, die thermischen Anforderungen, die Anzahl der Standorte, das bevorzugte Gerät und den Bestimmungsort. Anschließend können wir die verfügbare Ausrüstung und die erforderlichen Konfigurationspunkte prüfen.

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Warum entscheiden sich so viele Menschen für eine Zusammenarbeit mit GeekValue?

Unsere Marke verbreitet sich von Stadt zu Stadt, und unzählige Menschen fragen mich: „Was ist GeekValue?“ Sie entspringt einer einfachen Vision: Chinesische Innovation mit Spitzentechnologie zu stärken. Dieser Markengeist der kontinuierlichen Verbesserung verbirgt sich in unserem unermüdlichen Streben nach Details und der Freude, mit jeder Lieferung Erwartungen zu übertreffen. Diese fast obsessive Handwerkskunst und Hingabe ist nicht nur die Beharrlichkeit unserer Gründer, sondern auch die Essenz und Wärme unserer Marke. Wir hoffen, Sie beginnen hier und geben uns die Chance, Perfektion zu schaffen. Lassen Sie uns gemeinsam das nächste „Null-Fehler“-Wunder schaffen.

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