ASM AMICRA AFC Plus — это модульная платформа для прецизионного монтажа, используемая в сборке кристаллов методом «флип-чип» и «приклеивания кристаллов». Она входит в портфолио сверхточных решений для монтажа кристаллов компании ASMPT AMICRA и находит применение в таких областях, как микрооптика, MEMS, сборка светодиодов, оптоэлектроника и передовые технологии упаковки полупроводников.
Называть его просто устройством для монтажа кристаллов или просто устройством для монтажа микросхем методом «флип-чип» — значит упрощать его роль. Монтаж кристаллов описывает более широкую задачу сборки, в то время как монтаж микросхем методом «флип-чип» изменяет ориентацию кристалла и предъявляет другие требования к обращению, выравниванию и оснастке.
Платформа может поддерживать несколько направлений обработки, но функциональные возможности отдельной машины определяются установленным оборудованием, программным обеспечением, инструментами и квалифицированной настройкой процесса. В этой статье объясняется взаимосвязь этих функций до начала подбора конфигурации для конкретного проекта.

Что представляет собой ASM AMICRA AFC Plus?
Система AFC Plus предназначена для обработки, выравнивания и приклеивания полупроводникового кристалла или прецизионного компонента к целевой поверхности в контролируемых условиях процесса. В зависимости от области применения, целевой поверхностью может быть подложка, структура устройства или другая сборочная поверхность.
Модульная конструкция позволяет создавать схему соединения с учетом различных ориентаций кристалла, материальных систем, методов обработки, инструментов для соединения и вспомогательных технологических функций. В исторических материалах ASM AMICRA AFC Plus описывается как полностью автоматизированная платформа для соединения кристаллов и флип-чипов, в то время как в современных материалах ASMPT она по-прежнему относится к портфелю прецизионных устройств компании и рассматривается как модульная конструкция с возможностью флип-чипа.
Эти описания определяют техническое направление платформы. Они не описывают конкретные головки, инструменты, функции машинного зрения, модули обработки материалов или программное обеспечение, установленное на конкретной машине.
Методы склеивания кристаллов и флип-чип-склеивания используют разные способы сборки.
Склеивание кристаллов — это более широкий процесс позиционирования и соединения кристалла или прецизионного компонента с целевым элементом. При стыковке лицевой стороной вверх кристалл остается в ориентации, необходимой для последующего процесса соединения или сборки.
Технология «перевернутого чипа» меняет эти взаимоотношения. Активная сторона кристалла, или сторона межсоединений, обращена к сопрягаемой поверхности, поэтому технологический процесс должен контролировать, как кристалл захватывается, поворачивается, поддерживается, выравнивается и приводится в контакт с целевым элементом.
| Аспект процесса | Направление склеивания кристаллов | Направление перевернутого чипа |
|---|---|---|
| Ориентация кристалла | Матрица устанавливается в нужном положении для сборки лицевой стороной вверх. | Активная или соединительная сторона обращена к сопрягаемой поверхности. |
| Целевые отношения | Кристалл позиционируется на подложке или мишени для сборки. | Характеристики кристалла должны точно соответствовать соответствующим целевым характеристикам. |
| Требования к выравниванию | Определяется типом кристалла, целевыми параметрами и допусками технологического процесса. | Часто требуется строгий контроль относительного выравнивания межсоединений. |
| Влияние на инструментарий | Инструменты для захвата и склеивания должны соответствовать поверхности кристалла и технологическому процессу. | В процессе работы может также потребоваться переворачивание штампов и защита открытых поверхностей. |
| Конфигурация машины | Использует установленную систему склеивания и обработки. | Требуется соответствующая ориентация в отношении оборудования, программного обеспечения, инструментов и рецептуры. |
Ни один из способов не является универсально более совершенным. Они решают разные задачи сборки и должны выбираться в зависимости от ориентации кристалла, целевой структуры, материала склеивания и требуемого соединения.
Для работы с технологией флип-чип требуется соответствующий путь перемещения кристалла, среда выравнивания, инструменты, программное обеспечение и продемонстрированная настройка процесса. Одного описания модели недостаточно для подтверждения наличия этих элементов.
Как взаимодействуют обработка, выравнивание и склеивание.
Процесс точного соединения создается несколькими взаимосвязанными функциями. Сначала кристалл должен быть представлен в форме, позволяющей безопасно его захватить. Затем машина перемещает его и, если это требуется процессом, изменяет его ориентацию, прежде чем выровнять его относительно подложки или мишени.
На концептуальном уровне последовательность такова:
Предъявление штампа → Выбор и ориентация → Выравнивание → Нанесение материала или нагрев в необходимых местах → Склеивание → Проверка или регистрация места установки
Это не фиксированная программа AFC Plus. Процесс установки кристалла лицевой стороной вверх может использовать иной подход, чем сборка методом флип-чип. В эпоксидном процессе может применяться штамповка или дозирование, тогда как эвтектический процесс уделяет больше внимания системе материалов, термическому контролю и условиям склеивания.
Для фиксации основания в заданном положении и обеспечения доступа клеевой головки к нужному месту можно использовать зажимы, приспособления или другие опоры.
В этом процессе система машинного зрения соединяет матрицу и мишень. Камеры, оптика и освещение идентифицируют опорные элементы, а метод выравнивания определяет их относительное положение перед склеиванием. На качество распознавания могут влиять контрастность элементов, состояние поверхности, калибровка, стабильность инструмента и термические деформации.
Точность на уровне модели не может описать все результаты проекта, поскольку качество выравнивания зависит от всей технологической среды. Характеристики цели, установленная оптика, инструменты, калибровка и условия склеивания должны работать согласованно.
Программные рецепты координируют эти физические функции. Они могут управлять положениями манипуляторов, эталонными точками выравнивания, этапами нанесения материала, последовательностями движений и другими параметрами процесса. Таким образом, пригодный для использования маршрут склеивания формируется аппаратным обеспечением, инструментами, программным обеспечением и калибровкой, действующими как единая система.

Склеивающие материалы и вспомогательные технологические функции
Штамповка и дозирование эпоксидной смолы
При штамповке эпоксидной смолы клеящий материал наносится с помощью специального штампа или инструмента. Этот метод может быть полезен, когда процесс требует определенной формы нанесения или повторяемого количества материала в конкретном месте.
Дозирование предполагает подачу материала через установленную систему дозирования и может поддерживать различные положения, схемы или объемы нанесения. Хотя оба метода используют технологический материал, они предъявляют разные требования к оснастке, управлению и программному обеспечению.
Для штамповки требуется подходящее штамповочное оборудование и геометрия инструмента. Для дозирования необходима совместимая система дозирования, траектория движения материала и контроль процесса. Их использование зависит от предполагаемого способа склеивания, а не только от названия AFC Plus.
Эвтектическое и термическое склеивание
Эвтектическая сварка использует контролируемый материал и термический процесс для формирования соединения. На результат могут влиять температура, усилие, состояние поверхности и специфические для процесса инструменты.
В официальных исторических материалах технология AFC Plus связывается с эвтектическими и эпоксидными соединениями, а среди доступных опций упоминаются нагреваемые инструменты. Это подтверждает взаимосвязь процесса, но не указывает на единую универсальную температуру, усилие или последовательность склеивания. Эти значения определяются выбранной системой материалов, термооборудованием, клеевой головкой, инструментом и утвержденной рецептурой.
Картирование пластин, УФ-отверждение и контроль после склеивания.
Картирование пластин может поддерживать идентификацию кристалла, выбор положения или другие данные, используемые в процессе обработки. Его использование зависит от соответствующего программного обеспечения, интерфейсов и поддерживаемой структуры данных.
УФ-отверждение может быть применено, если после нанесения или укладки склеиваемого материала необходимо облучение ультрафиолетом. Для этого требуется совместимое оборудование для отверждения и последовательность процессов, разработанная для выбранного материала.
Контроль после склеивания может проверять наличие кристалла, его положение или другие заданные параметры после склеивания. В официальных материалах он указан как дополнительная функция AFC Plus, а фактический объем контроля определяется установленной оптикой, программным обеспечением, калибровкой и критериями приемки.
Функциональные возможности платформы и установленная конфигурация — это не одно и то же.
Документация по платформе описывает технологические направления, которые может поддерживать данное семейство машин. Она не обязательно описывает конфигурацию отдельной машины AFC Plus.
В исторической брошюре в качестве опций могут быть указаны такие методы, как обработка микросхем методом «перевернутого чипа», картирование пластин, нагревательные инструменты или контроль после склеивания. На странице текущего портфолио вместо этого можно сделать акцент на точном позиционировании и целевых областях применения. Оба источника полезны, но их не следует объединять в единое стандартное оборудование.
Для каждой технологической функции требуется правильное сочетание аппаратного обеспечения, программного обеспечения и инструментов. Для операции «перевернутого чипа» может потребоваться специальный механизм ориентации и соответствующие инструменты. Картирование пластины зависит от соответствующего программного обеспечения и интерфейса данных. Контроль качества осуществляется с помощью установленной системы машинного зрения, а для термосварки необходимы соответствующие тепловые устройства и системы управления.
Именно поэтому две машины AFC Plus могут использоваться для совершенно разных задач. Система, сконфигурированная для микрооптики, может иметь другие головки, приспособления, оптику и программы, чем система, подготовленная для MEMS, сборки светодиодов или упаковки полупроводников.
Опубликованные данные о точности и времени цикла также нуждаются в контексте. Исторические значения могут относиться к устаревшей конфигурации оборудования, определенному процессу или конкретным условиям эксплуатации, в то время как более новые сводки по портфелю могут описывать более широкое позиционирование платформы.
Ориентация штампа, оснастка, метод выравнивания, обработка материала, термические этапы и установленные опции — все это может изменить эффективный технологический цикл и результат. Данные из разных источников должны сохранять свои исходные даты и условия, а не объединяться в одну универсальную спецификацию.
Области применения не определяют совместимость проекта.
ASMPT связывает AFC Plus с микрооптикой, сборкой светодиодов и MEMS, передовой упаковкой полупроводников и другими областями серийного производства. Эти обозначения указывают на рынки, где могут быть актуальны функции прецизионного соединения.
Они не доказывают, что каждый продукт на этих рынках может работать на каждом устройстве AFC Plus. В двух проектах в области фотоники или MEMS могут использоваться разные размеры кристалла, материалы подложки, среды склеивания, ориентация, оптические эталоны и температурные условия.
Вместо этого техническую значимость следует оценивать с учетом формы матрицы, целевой поверхности, материала склеивания и требуемого технологического процесса. Затем необходимо определить, какие функции станка требуют более тщательного изучения, исходя из обработки входных и выходных данных, оснастки, программного обеспечения, контроля качества, требований к нагреву и усилию.
После определения деталей проекта следующим шагом является оценка конфигурации, специфичная для данного проекта, а не более широкое сравнение описаний моделей.
Переход от исследования платформы к подбору конфигурации
Исследование платформы считается выполненным, когда предполагаемая сборка может быть четко описана. Полезный обзор начинается с размеров и материала кристалла, подложки или мишени, ориентации кристалла, метода склеивания и материала склеивания.
Также следует учитывать параметры выравнивания, требования к нагреву или усилию, способ нанесения материала, обработку на входе и выходе, имеющуюся оснастку и любые этапы контроля или отверждения. Эти детали определяют, какую сварочную головку, устройство обработки, оптику и вспомогательные модули необходимо исследовать.
ИспользуйтеКонфигурация ASM AMICRA AFC PlusЧтобы сравнить эти требования с соответствующими функциями оборудования, перейдите на соответствующую страницу или свяжитесь с технической командой по электронной почте или WhatsApp, чтобы начать обсуждение проекта. Чертежи штампов, изображения подложек, фотографии оснастки и технологическую документацию можно прикрепить после начала обсуждения.
Вопросы совместимости, установленных опций, производительности, цены и сроков поставки следует обсуждать только после того, как будут сопоставлены требования проекта и соответствующая конфигурация оборудования.
Часто задаваемые вопросы о ASM AMICRA AFC Plus
Является ли ASM AMICRA AFC Plus устройством для монтажа кристаллов или устройством для монтажа микросхем методом «флип-чип»?
Это связано как с процессом склеивания кристаллов, так и с процессом флип-чипа. Склеивание кристаллов — это более общая задача сборки, в то время как для эффективного использования технологии флип-чипа необходимы соответствующая ориентация, выравнивание, оснастка, программное обеспечение и конфигурация процесса.
В чём разница между технологиями пайки кристалла (die bonding) и флип-чип-бондинга (flip chip bonding) на плате AFC Plus?
Основное различие заключается в ориентации кристалла и его отношении к целевому объекту. При использовании технологии флип-чип-бондинга активная сторона или сторона межсоединений располагается ближе к сопрягаемой поверхности, что изменяет порядок работы, выравнивания, оснастки и последовательность склеивания.
В каждой ли модели AFC Plus используется технология флип-чип-бондинга?
Нет. В официальных исторических материалах технология «перевернутого чипа» указана как один из вариантов. Необходимо наличие соответствующего оборудования, программного обеспечения, инструментов и технологического процесса на конкретном оборудовании.
Что представляют собой штамповка и дозирование эпоксидной смолы?
Оба метода обеспечивают передачу технологического материала, но используют разные способы. При штамповке материал наносится с помощью специального инструмента, а при дозировании — с помощью установленной системы дозирования.
Что такое эвтектическая связь на AFC Plus?
Это направление склеивания, при котором контролируемая система материалов, термический процесс и специально разработанная оснастка способствуют формированию соединения. Температура, усилие и последовательность определяются областью применения и установленной системой.
Может ли AFC Plus поддерживать проекты в области фотоники, MEMS или передовых технологий корпусирования?
Это общепризнанные направления применения платформы, но они не гарантируют совместимость со всеми продуктами. Для проекта необходимо проверить матрицу, подложку, систему материалов, ориентацию, оснастку, выравнивание и необходимые модули.
Заключение:Платформа ASM AMICRA AFC Plus представляет собой модульную систему для прецизионной сварки кристаллов и флип-чипов, однако два направления сварки предполагают различную ориентацию кристалла, требования к выравниванию и требования к оснастке. Системы машинного зрения, нанесения материала, нагрева, картирования пластины, отверждения и контроля поддерживают различные этапы процесса и могут потребовать установки специальных модулей. Описание платформы может подтвердить техническую значимость, в то время как совместимость с проектом требует анализа конфигурации на основе фактического кристалла, подложки, метода сварки и условий процесса.




