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ASM Pacific Technology 터렛 웨이퍼 레벨 테스트 시스템 SUNBIRD
SUNBIRD는 혁신적인 기술을 통해 반도체 산업에 효율적이고 안정적이며 유연한 웨이퍼 테스트 솔루션을 제공합니다.
고속 반도체 최종 테스트
고속 최종 테스트용 터릿 테스트 핸들러 시스템
터릿 테스트 핸들러는 패키지된 반도체 소자를 인덱싱된 테스트 위치를 통해 이동시키면서 접촉, 테스터 통신 및 결과 기반 분류를 조정합니다. 이 페이지에서는 전기 테스트 성능, 즉 테스트 시간, 스테이션 수, 인덱싱 시간, 접촉 무결성 및 테스트 셀의 생산성을 유지하는 데 필요한 실제 장비 구성에 대해 중점적으로 다룹니다.
테스트 프로그램부터 시작하세요
테스트 셀은 어디에서 시간을 잃는가?
터릿 테스트 핸들러는 소형 장치와 반복적인 대량 생산에 적합하지만, 적합한 플랫폼은 생산 라인의 제약 조건에 따라 달라집니다. 장비 비교는 단순히 시간당 처리량(UPH) 수치에만 의존하기보다는 테스트 시간, 접촉 방식, 필요한 스테이션 구성 등을 고려하여 시작해야 합니다.
시험
전기 프로그램이 기계 지수보다 더 길다.
ATE 리소스, 인터페이스 및 핸들러 플랫폼이 의도된 병렬 전략을 지원하는 경우 추가 테스트 스테이션이 유용할 수 있습니다.
연락하다
재검사 또는 간헐적 접촉은 유효 출력을 감소시킵니다.
속도를 높이기 전에 소켓 설계, 정렬, 접촉력, 장치 평탄도 및 유지 보수 상태를 검토해야 합니다.
색인
기계적 사이클은 장치 테스트보다 느립니다.
터릿의 움직임, 픽업 안정성, 방향, 배치 및 스테이션 동기화가 주요 성능 제약 조건이 됩니다.
변화
잦은 패키지 변환으로 생산적인 시간이 줄어들고 있습니다.
장비 검토에는 교체 키트, 노즐, 가이드, 소켓, 레시피 및 설정 검증이 포함되어야 합니다.
유효 처리량
실제 테스트 결과 뒤에 숨겨진 네 가지 변수
UPH 수치만으로는 핸들러가 테스트 셀의 성능을 향상시킬 수 있는지 여부를 판단할 수 없습니다. 장비를 비교하기 전에 전기 프로그램, 기계적 지표, 사용 가능한 테스트 스테이션 및 접점 안정성을 종합적으로 검토하십시오.
01 / 전기 테스트
시험 시간
장치 테스트 시간은 해당 스테이션이 기계적 지표를 따라잡을 수 있는지 여부를 결정합니다.
02 / 기계식 사이클
인덱스 시간
터릿의 움직임, 픽업, 배치 및 접촉 순서는 사용 가능한 장치 사이클에 영향을 미칩니다.
03 / 병렬 용량
활성 스테이션
여러 테스트 스테이션을 사용하는 것은 ATE, 인터페이스 및 프로그램이 의도된 병렬 전략을 지원하는 경우에만 유용합니다.
04 / 안정적인 생산
연락처 수율
반복 가능한 정렬, 힘, 소켓 상태는 이론적인 기계적 속도만큼이나 중요합니다.
현재 장비
사용 가능한 터릿 테스트 핸들러 시스템
각 제품 페이지를 열어 나열된 모델을 확인하십시오. 실제 테스트 스테이션, 인터페이스, 접점 하드웨어, 입력 및 출력 모듈, 소프트웨어 및 포함된 액세서리는 특정 장비에 대해 확인해야 합니다.
ASM MS100 플러스 테스트 핸들러
MS100의 업그레이드 버전인 ASM MS100 Plus는 웨이퍼 기반의 칩 분류 및 배열 장치입니다.
ISMECA 테스트 거래 NY20
ISMECA NY20(현재 Cohu 소유)은 20개 스테이션을 갖춘 회전식 초고속 반도체 테스트 및 분류 장비입니다.
ASMPT 분류기 MS90
ASM 선별기 MS90은 효율적이고 정확한 선별 기능을 갖춘 램프 비드 선별용 장비입니다. 이 장비는...
테스트 셀 관계
핸들러를 선택하기 전에 테스트 스테이션을 설계하십시오.
핸들러는 장치를 이동시키고 위치를 조정하지만 테스터를 대체하지는 않습니다. 생산 준비가 완료된 셀은 장치 인터페이스, 접점 하드웨어, ATE 리소스 및 데이터 교환이 설치된 터릿 테스트 스테이션과 제대로 작동하는지에 따라 달라집니다.
패키지형 DUT
패키지 크기, 리드 또는 패드 형상, 파손 위험도, 방향 및 온도 요구 사항.
포탑 위치 조정
기기 픽업, 방향 설정, 배치, 스테이션 인덱싱 및 결과 기반 경로 설정.
소켓 또는 접촉기
기계적 정렬, 힘, 순응도, 핀 상태 및 패키지별 인터페이스 하드웨어.
DUT/인터페이스 보드
신호 경로, 테스터 연결, 테스트 사이트 지도 및 지원되는 전기 자원.
ATE 및 프로그램
전기 자극, 측정, 합격/불합격 결과, 다중 사이트 리소스 및 데이터 통신.
물리적 장비는 적합할 수 있지만 제공된 테스트 셀은 적합하지 않을 수 있습니다. 견적서에는 핸들러 플랫폼과 프로젝트에 필요한 소켓, 접촉기, 인터페이스 보드, 테스터 리소스 및 테스트 프로그램을 명확히 구분하여 명시해야 합니다.
역 계획
여러 개의 테스트 스테이션을 사용하는 것이 도움이 되는 경우는 언제입니까?
여러 개의 테스트 스테이션이 있다고 해서 무조건 더 좋은 것은 아닙니다. 그 가치는 테스트 시간과 기계적 지표 간의 관계, 사용 가능한 테스트 채널 수, 인터페이스 설계, 그리고 플랫폼이 필요한 동시 또는 순차 테스트 전략을 지원하는지 여부에 따라 달라집니다.
명확한 병목 현상이 없는 상태에서 스테이션을 추가하기보다는 안정적인 픽업, 배치, 접촉 및 터렛 동기화에 집중하십시오.
터릿이 계속해서 인덱싱하는 동안 여러 테스트 위치를 통해 테스트 대상 장치를 고정할 수 있으며, 이는 ATE 및 인터페이스 용량에 따라 달라질 수 있습니다.
일부 시스템은 테스트 시퀀스를 배포할 수 있지만, 실제 아키텍처와 테스터 지원 여부는 해당 기기에 대해 검증해야 합니다.
접촉 항복, 소켓 상태, 정렬 및 힘 제어는 테스트 위치 수를 늘리기 전에 수정해야 합니다.
연락처 무결성
접촉을 반복하는 동안 기기를 보호하십시오.
고속 전기 테스트는 취급자가 포장을 손상시키거나 접촉 불량을 발생시키지 않고 각 장치를 일관되게 배치할 수 있을 때만 가치를 발휘합니다. 이는 특히 작고 얇고 깨지기 쉽거나 고주파 장치일수록 중요합니다.
정렬 및 방향
비전, 네스팅, 노즐 및 가이드는 장치가 접촉기에 도달하기 전에 패키지를 정확한 위치에 배치해야 합니다.
접촉력
힘의 범위와 제어 방식은 소켓, 패키지 구조 및 접점 수에 적합해야 합니다.
소켓 상태
접촉 하드웨어가 마모되거나 오염되면 재시험, 잘못된 고장 판정 및 불안정한 생산 결과가 발생할 수 있습니다.
열 조건
주변 환경 또는 고온 테스트 요구 사항에 따라 접점 하드웨어, 침지 전략, 유틸리티 및 달성 가능한 처리량이 변경될 수 있습니다.
생산 경제학
세포 전체를 통해 테스트 비용을 절감하세요
장비 가격이 낮다고 해서 테스트 대상 장치당 비용이 반드시 낮아지는 것은 아닙니다. 유용한 비교 기준은 핸들러, 테스트 인터페이스 및 ATE가 지속적인 생산 환경에서 함께 어떻게 작동하는지입니다.
효과적인 UPH
평가 대상은 시간당 테스트 및 승인된 장치이며, 단순히 부하가 없는 기계의 최대 성능만 평가해서는 안 됩니다.
연락처 수율
재시험, 오판 및 접점 유지보수는 더 빠른 공칭 주기라는 이점을 상쇄할 수 있습니다.
OEE 및 회복
경보 처리, 예비 부품, 소프트웨어 안정성 및 유지 보수 접근성은 테스트 현장의 생산적인 시간에 영향을 미칩니다.
전환 시간
여러 패키지가 동일한 제품 라인을 공유하는 경우 변환 키트, 저장된 레시피 및 반복 가능한 설정이 중요합니다.
시험 현장 상관관계
모든 테스트 스테이션에서 비교 가능한 결과가 나오도록 하십시오.
여러 개의 테스트 스테이션을 사용하면 각 스테이션에서 동일한 전기적 결과가 나올 때만 용량이 증가합니다. 제품 출시 전에 모든 스테이션에서 동일한 기준 장치를 사용하여 측정값, 합격/불합격 판정, 재시험 동작 및 접점 안정성을 비교하십시오.
모든 활성 스테이션에서 동일한 장치를 사용하십시오.
DUT 로트, 테스트 프로그램, 온도, ATE 설정 및 접점 조건을 일정하게 유지하여 장치 변동으로 인해 스테이션별 차이가 가려지지 않도록 하십시오.
접촉 및 측정 사이클 전체를 반복합니다.
각 기준 장치를 모든 스테이션에서 두 번 이상 작동시키십시오. 첫 번째 테스트 결과, 재테스트 동작, 접점 경보 및 간헐적 오류를 기록하십시오.
합격 여부만 비교하지 말고, 값들을 비교하세요.
측정 지점 간 편차, 분산, 테스트 한계와의 거리 및 반복성을 검토하십시오. 측정 가능한 편향이 발생하더라도 측정값을 통과한 것으로 나타날 수 있습니다.
각 스테이션을 승인, 수정 또는 격리합니다.
허용 가능한 변동, 최대 재시험률 및 소켓 서비스, 인터페이스 검사, 재매핑 또는 스테이션 비활성화가 필요한 조건을 정의하십시오.
테스트 셀 전체에서 결과는 유사하게 유지됩니다.
- 측정값은 승인된 현장 간 범위 내에 유지됩니다.
- 첫 번째 시도 수율과 재시험 결과는 일관성이 있습니다.
- 접촉 반복성은 반복 주기 동안 안정적으로 유지됩니다.
- 지속적인 스테이션별 오프셋 또는 경보 패턴은 나타나지 않습니다.
국부적인 차이가 전기적 결과에 영향을 미치고 있습니다.
- 한 측정소에서 지속적으로 높거나 낮은 수치가 측정됩니다.
- 재시험 또는 접촉 경보는 동일한 위치에 집중됩니다.
- 소켓, 케이블 또는 인터페이스를 교체하면 결과가 달라집니다.
- ATE 사이트 매핑 또는 테스트 헤드 통신이 일관적이지 않습니다.
상관관계 기록
무엇을 문서화해야 할까요?
역 정보
터렛 스테이션 번호, 소켓 또는 접촉기 ID, 액추에이터 위치 및 유지보수 상태.
ATE 매핑
테스트 사이트, 채널 할당, 인터페이스 보드, 부하 보드 및 신호 경로 관계.
테스트 조건
프로그램 버전, 전기적 제한, 온도, 접촉력 설정 및 기준 장치 로트.
상관관계 증거
측정값, 합격/불합격 결과, 1차 합격률, 재시험 횟수, 접촉 경보 및 승인된 처리 결과.
터렛 테스트 핸들러 FAQ
테스트 구성 선택 전 질문 사항
이 질문들은 일반적인 터릿 구조보다는 전기 테스트 성능 및 테스트 셀 통합에 초점을 맞추고 있습니다.
포탑 시험 담당자는 어떤 경우에 적합할까요?
이 방식은 소형 패키지 장치, 반복적인 대량 생산 및 테스트 셀에서 일반적으로 고려되며, 이러한 환경에서는 인덱싱된 다중 스테이션 핸들링이 장치 테스트 시간 및 필요한 마무리 공정에 맞춰 조정될 수 있습니다.
테스트 스테이션은 몇 개가 필요합니까?
답은 테스트 시간, 기계식 인덱싱 시간, ATE 리소스, 테스트 사이트 전략 및 실제 장비 아키텍처에 따라 달라집니다. 스테이션 수를 늘리는 것은 검증된 병목 현상을 해결할 때만 유용합니다.
여러 테스트 스테이션 간의 상관관계는 어떻게 설정해야 할까요?
모든 활성 스테이션에서 동일한 프로그램, 온도 및 접촉 조건 하에 동일한 기준 장치를 사용하여 테스트를 진행하십시오. 측정값, 1차 합격률, 재테스트 동작 및 접촉 경보를 비교한 후 생산 승인을 진행하십시오.
핸들러에 ATE와 테스트 프로그램이 포함되어 있습니까?
반드시 그런 것은 아닙니다. 핸들러, 테스터, 인터페이스 보드, 접촉기, 소켓 및 테스트 프로그램은 별도로 제공될 수 있습니다. 견적서에는 포함되는 항목이 명확하게 명시되어야 합니다.
접점 호환성을 검토하는 데 필요한 정보는 무엇입니까?
패키지 도면, 패드 또는 리드 배치, 장치 두께, 접촉력 요구 사항, 테스트 시간, 온도 조건 및 선호하는 소켓 또는 접촉기 정보를 제공하십시오.
중고 터렛 테스트 핸들러를 다른 패키지용으로 변환할 수 있습니까?
대부분의 경우 가능하지만, 변환 과정에서 새로운 노즐, 가이드, 네스트, 교체 키트, 소켓, 인터페이스 하드웨어 및 레시피가 필요할 수 있습니다. 경제적 가치는 사용 가능한 기본 구성에 따라 달라집니다.
터렛 테스트 핸들러 견적서에는 무엇이 포함되어야 할까요?
견적서에는 정확한 장비, 설치된 테스트 스테이션, 접점 및 인터페이스 하드웨어, 교체 키트, 입출력 모듈, 소프트웨어, 액세서리, 상태, 검증 범위 및 납품 지원 내용이 명시되어야 합니다.
패키지 도면 및 테스트 시간부터 시작하세요.
장비 패키지, 테스트 기간, ATE 플랫폼, 필요한 스테이션, 온도 조건, 수량 및 목적지를 보내주십시오. 저희가 사용 가능한 터렛 테스트 핸들러 구성 및 견적 범위를 검토하겠습니다.
