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高速半導体最終テスト

高速最終試験用タレット試験ハンドラーシステム

タレット式テストハンドラは、パッケージ化された半導体デバイスをインデックス付きのテスト位置に移動させながら、コンタクト、テスターとの通信、および結果に基づく選別を調整します。このページでは、テスト時間、ステーション数、インデックス時間、コンタクトの完全性、およびテストセルの生産性を維持するために必要な実際のマシン構成など、電気テストのパフォーマンスに焦点を当てます。

テストプログラムから始めましょう

試験セルはどこで時間をロスするのか?

タレット式テストハンドラーは、小型機器や反復的な大量生産に適していますが、最適なプラットフォームは生産ラインの制約要因によって異なります。機械の比較は、単にUPH(1時間あたりの処理能力)の数値だけでなく、テスト時間、接触方法、必要なステーション構成から始めるべきです。

テスト 電気関連のプログラムは、機械関連のプログラムよりも長い。

ATEのリソース、インターフェース、およびハンドラープラットフォームが意図した並列戦略をサポートしている場合、追加のテストステーションが役立つ可能性があります。

接触 再検査や断続的な接触は、効果的な出力を低下させる。

速度を上げる前に、ソケットの設計、位置合わせ、接触力、デバイスの平面性、およびメンテナンス状態を確認する必要があります。

索引 機械的なサイクルは、デバイステストよりも遅い。

砲塔の動き、ピックアップの安定性、向き、配置、およびステーションの同期が、主な性能制約となる。

変化 頻繁なパッケージ変換は、生産時間を減少させている。

交換キット、ノズル、ガイド、ソケット、レシピ、およびセットアップの検証は、機器レビューに含める必要があります。

実効スループット

実際のテスト結果に影響を与える4つの変数

UPH(1時間あたりの処理能力)の数値だけでは、ハンドラーがテストセルを改善するかどうかは判断できません。機器を比較する前に、電気系統、機械的指標、使用可能なテストステーション、および接触安定性を総合的に検討してください。

01 / 電気テスト テスト時間

装置の試験期間は、1つのステーションが機械的指標のペースに追いつけるかどうかを判断する基準となる。

02 / 機械式サイクル インデックス時間

タレットの動作、ピックアップ、配置、および接触シーケンスは、使用可能なデバイスサイクルに影響を与えます。

03 / 並列容量 稼働中の発電所

複数のテストステーションは、ATE、インターフェース、およびプログラムが意図した並列戦略をサポートしている場合にのみ有効です。

04 / 安定した生産 接触歩留まり

再現性のあるアライメント、力、ソケットの状態は、理論上の機械的速度と同じくらい重要です。

現在の設備

利用可能なタレットテストハンドラーシステム

各製品ページを開いて、記載されているモデルを確認してください。実際のテストステーション、インターフェース、接点ハードウェア、入出力モジュール、ソフトウェア、および付属アクセサリは、特定の機種に合わせて確認する必要があります。

ASM MS100 Plus test handler

ASM MS100 Plus テストハンドラ

ASM MS100 Plusは、MS100のアップグレード版として、ウェハベースのチップ選別および配置を行う装置でもあります。

ISMECA test handler NY20

ISMECAテストトレードNY20

ISMECA NY20(現在はCohu社が所有)は、20ステーションの回転式超高速半導体検査・選別機である。

ASMPT sorting machine MS90

ASMPT選別機 MS90

ASM選別機MS90は、ランプビーズの選別用に設計された装置で、効率的かつ正確な選別機能を備えています。この装置は…

試験セル関係

ハンドラーを選択する前にテストステーションを設計する

ハンドラはデバイスを移動および位置決めしますが、テスターを置き換えるものではありません。量産対応のセルは、デバイスインターフェース、接点ハードウェア、ATEリソース、および設置済みのタレットテストステーションとのデータ交換が連携して動作することに依存します。

01 / デバイス

パッケージ化されたDUT

パッケージの寸法、リード線またはパッドの形状、脆弱性、向き、および温度要件。

02 / ハンドラー

砲塔の位置決め

ピックアップ、方向付け、配置、ステーションインデックス付け、および結果に基づくデバイスルーティング。

03 / お問い合わせ

ソケットまたはコンタクタ

機械的な位置合わせ、力、コンプライアンス、ピンの状態、およびパッケージ固有のインターフェースハードウェア。

04 / インターフェース

DUT / インターフェースボード

信号経路、テスターへの接続、テストサイトのマッピング、およびサポートされる電気設備。

05 / テスター

ATEとプログラム

電気刺激、測定、合否判定、複数拠点のリソース、およびデータ通信。

物理的な機械自体は適切でも、提供されるテストセルが適切でない場合があります。見積書には、ハンドラープラットフォームと、プロジェクトに必要なソケット、コンタクタ、インターフェースボード、テスターリソース、テストプログラムを区別して記載する必要があります。
駅計画

複数のテストステーションはどのような場合に役立つのか?

複数のステーションがあれば必ずしも優れているとは限りません。その価値は、試験時間と機械的指標の関係、利用可能なテスターチャンネルの数、インターフェース設計、そしてプラットフォームが必要な同時試験または逐次試験戦略をサポートしているかどうかによって決まります。

短いテスト 機械的指数がサイクルを定義する可能性がある。

明確なボトルネックがないのにステーションを追加するのではなく、安定したピックアップ、配置、接触、およびタレットの同期に重点を置く。

より長いテスト 並列ステーションはスループットを保護する可能性がある。

ATEとインターフェースの容量にもよりますが、複数のテスト位置で、タレットがインデックス付けを継続している間も、テスト対象のデバイスを保持することができます。

混合テスト 試験手順は複数のステーションに分割される場合があります。

一部のシステムではテストシーケンスを配布できますが、実際のアーキテクチャとテスターのサポート状況は、そのマシンに合わせて検証する必要があります。

再検査 基地局を増やしても、不安定な通信状況は改善されない。

テスト位置の数を増やす前に、接触歩留まり、ソケットの状態、アライメント、および力制御を修正する必要があります。

接触の完全性

接触を繰り返しながらデバイスを保護してください

高速電気テストは、ハンドラーがパッケージを損傷したり、接触不良を起こしたりすることなく、各デバイスを確実に配置できる場合にのみ価値を発揮します。これは、小型、薄型、壊れやすい、または高周波デバイスの場合に特に重要になります。

位置合わせと方向

ビジョン、ネスト、ノズル、ガイドは、デバイスが接触器に到達する前に、パッケージを正しく配置する必要があります。

接触力

力の範囲と制御方法は、ソケット、パッケージ構造、および接点の数に適合している必要があります。

ソケットの状態

接点部品の摩耗や汚染は、再検査、誤検出、および不安定な生産結果の原因となる可能性があります。

熱条件

周囲環境や高温試験の要件によっては、接点ハードウェア、浸漬方法、ユーティリティ、および達成可能なスループットが変更される場合があります。

生産経済学

細胞全体を通して検査コストを削減する

機械価格が低いからといって、必ずしも検査対象デバイスあたりのコストが最低になるとは限りません。重要なのは、ハンドラー、テストインターフェース、ATEが継続的な生産においてどのように連携して動作するかを比較することです。

スループット

有効UPH

試験済みで承認された機器を1時間あたりで評価する。無負荷状態の機械の機械的最大値だけを評価するのではない。

品質

接触歩留まり

再テスト、誤検出、および接点メンテナンスは、より速い公称サイクルの利点を損なう可能性があります。

可用性

OEEと回復

アラーム処理、スペアパーツ、ソフトウェアの安定性、およびメンテナンスへのアクセスは、テストフロアでの生産時間に影響を与える。

柔軟性

切り替え時間

複数のパッケージが同じ製造ラインを共有する場合、変換キット、保存されたレシピ、再現可能なセットアップが重要になります。

試験実施場所の相関関係

すべてのテストステーションで同等の結果が得られるようにする

複数のテストステーションを増設する理由は、各ステーションで同等の電気的結果が得られる場合に限られます。製品リリース前に、すべてのステーションで同じ基準デバイスを実行し、測定値、合否判定、再テスト時の挙動、および接点の安定性を比較してください。

01 参照デバイス

すべての稼働ステーションで同じデバイスを使用する

デバイスのばらつきによってステーション固有の差異が隠蔽されないように、DUTロット、テストプログラム、温度、ATE設定、および接触条件を一定に保つ。

02 駅までの道のり

接触と測定のサイクル全体を繰り返す

各基準装置をすべてのステーションで複数回実行してください。初回実行結果、再テスト時の動作、接点アラーム、および断続的な故障を記録してください。

03 測定レビュー

合格か不合格かだけでなく、値も比較する

地点間のオフセット、ばらつき、試験限界からの距離、再現性を確認してください。測定可能なバイアスが発生していても、試験所によっては合格と判定される場合があります。

04 制作リリース

各ステーションを承認、修正、または隔離する

許容される変動幅、最大再テスト率、およびソケットの保守、インターフェースの検査、再マッピング、またはステーションの無効化が必要となる条件を定義する。

駅が承認されました

試験セル全体で結果は同等である。

  • 測定値は承認されたサイト間範囲内に収まっている。
  • 初回合格率と再検査時の挙動は一貫している
  • 接触再現性は繰り返しサイクルを通して安定している。
  • ステーション固有のオフセットやアラームパターンは継続的に発生しません。
駅の見直しが必要

局所的な差異が電気的な結果に影響を与えている

  • ある観測所では、常に高い値または低い値が測定される。
  • 再テストまたは接触アラームが同じ位置に集中している
  • ソケット、ケーブル、またはインターフェースの交換後に結果が変わる
  • ATEサイトマッピングまたはテストヘッド通信に一貫性がない
相関記録 記録すべき事項
駅のアイデンティティ

砲塔ステーション番号、ソケットまたはコンタクタID、アクチュエータ位置、およびメンテナンス状況。

ATEマッピング

試験サイト、チャネル割り当て、インターフェースボード、ロードボード、および信号経路の関係。

試験条件

プログラムバージョン、電気的制限値、温度、接触力設定値、および基準デバイスのロット番号。

相関関係の証拠

測定値、合否判定結果、初回合格率、再検査回数、接触アラーム、および承認済み処理結果。

砲塔テストハンドラーに関するよくある質問

テスト構成を選択する前に確認すべき事項

これらの質問は、一般的なタレット構造ではなく、電気的テスト性能とテストセル統合に焦点を当てています。

砲塔型テストハンドラーはどのような場合に適していますか?

これは、小型パッケージデバイス、反復的な大量生産、およびインデックス付きマルチステーション処理によってデバイスのテスト時間と必要な仕上げ工程に合わせることができるテストセルにおいて一般的に検討されています。

必要な検査ステーションの数はいくつですか?

答えは、テスト時間、メカニカルインデックス時間、ATEリソース、テストサイト戦略、および実際のマシンアーキテクチャによって異なります。ステーション数を増やすことは、検証済みのボトルネックに対処する場合にのみ有効です。

複数の試験ステーションの結果をどのように関連付けるべきでしょうか?

同一の基準装置を、同一のプログラム、温度、接触条件で、すべての稼働ステーションで実行してください。測定値、初回合格率、再テスト時の挙動、接触アラームを比較してから、生産開始を承認してください。

ハンドラにはATEとテストプログラムが含まれていますか?

必ずしもそうとは限りません。ハンドラー、テスター、インターフェースボード、コンタクタ、ソケット、テストプログラムは別々に供給される場合があります。見積書には、何が含まれているかが明確に記載されているはずです。

コンタクトレンズの互換性を確認するには、どのような情報が必要ですか?

パッケージ図面、パッドまたはリードのレイアウト、デバイスの厚さ、接触力要件、試験時間、温度条件、および推奨ソケットまたはコンタクタの情報を提供してください。

中古のタレットテストハンドラーを別のパッケージ用に変換することは可能ですか?

多くの場合可能ですが、変換には新しいノズル、ガイド、ネスト、交換キット、ソケット、インターフェースハードウェア、レシピが必要になる場合があります。経済的な価値は、利用可能な基本構成によって異なります。

砲塔試験用ハンドラーの見積書には何を含めるべきですか?

見積書には、正確な機械、設置済みのテストステーション、接点およびインターフェースハードウェア、交換キット、入出力モジュール、ソフトウェア、付属品、状態、検証範囲、および配送サポートを明記する必要があります。

パッケージの図面とテスト時間から始めましょう

機器パッケージ、試験期間、ATEプラットフォーム、必要なステーション、温度条件、数量、および配送先をお知らせください。弊社にて、利用可能なタレット型試験ハンドラーの構成と見積もり範囲を検討いたします。

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