EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhTerima Peranti yang Dibungkus
Muatkan peranti daripada dulang, tiub, jalur, bingkai filem atau medium pengeluaran lain yang disokong.
Pengendalian Ujian Akhir Semikonduktor Robotik
Pengendali Ujian Pilih-dan-Letak untuk Ujian Akhir Semikonduktor
Pengendali ujian pilih dan letakkan menggerakkan peranti semikonduktor yang dibungkus antara media input, orientasi, penyaman haba, tapak ujian elektrik dan output yang disusun. Konfigurasi yang berguna ditentukan oleh pakej, tempoh ujian, penguji semikonduktor, kaedah sentuhan, kiraan tapak dan suhu DUT—bukan sahaja oleh model pengendali.
Orientasi dan Penempatan Kawalan
Penglihatan, kepala pengutip dan gerakan robot menyelaraskan pakej sebelum ia sampai ke tapak sentuhan elektrik.
Tunjukkan DUT kepada Penguji
Pengendali mengawal kedudukan, gerakan pemasukan dan daya sentuhan semasa penguji semikonduktor melakukan pengukuran.
Susun Keputusan Elektrik
Halakan peranti ke dulang, tiub, gelendong, lokasi tolak atau proses kemasan hiliran yang betul.
Sempadan Aplikasi
Mulakan dengan Program Peranti dan Ujian
Pengendalian pakej, sumber penguji, geometri sentuhan dan suhu DUT menetapkan sempadan pertama sel ujian pilih dan letakkan yang boleh digunakan. Input ini lebih berguna daripada membandingkan nama model atau UPH yang dinilai secara berasingan.
Peranti, Pakej dan Aliran Media
Garis besar pakej, terminal, berat, permukaan pengutip dan kerapuhan mempengaruhi muncung atau pencengkam, sarang, tetapan penglihatan dan perkakas tapak ujian.
Sahkan:lukisan pakej, dimensi, berat, tanda orientasi dan media input dan output yang diperlukan.
Tempoh Ujian dan Sasaran Pengeluaran
Ujian pendek mendedahkan masa yang digunakan untuk pengambilan, penjajaran, sentuhan dan pengisihan. Ujian yang lebih panjang boleh menjadikan tapak selari berharga apabila penguji menyokong pelaksanaan serentak.
Sahkan:masa ujian mengikut suhu, sasaran unit baik sejam, kadar ujian semula yang dijangkakan dan kekerapan perubahan produk.
Penguji, Antara Muka dan Kaedah Sentuhan
Pengendali meletakkan DUT, tetapi laluan elektrik masih bergantung pada soket atau kontaktor, perkakasan antara muka, papan beban dan penguji semikonduktor.
Sahkan:model penguji, kepala ujian, susunan dok, perkakasan sentuhan, protokol komunikasi dan tapak aktif yang dimaksudkan.
Suhu dan Kuasa DUT
Ujian ambien, panas dan sejuk menggunakan perkakasan pemanasan, penyejukan, pengesanan, rendaman dan kawalan kelembapan yang berbeza. Pemanasan sendiri peranti juga boleh mengubah suhu DUT sebenar.
Sahkan:julat suhu, toleransi, kuasa peranti, masa rendaman yang diperlukan dan utiliti udara kering atau penyejukan yang tersedia.
Peralatan Semasa
Tanya Tentang Ketersediaan Semasa
Pengendali Ujian Pilih-dan-Letak yang Tersedia
Semak penyenaraian semasa, kemudian sahkan kit pakej yang dipasang, tapak ujian, soket atau penyentuh, antara muka penguji, pilihan terma, perisian dan aksesori pada mesin individu.
Pengendali Ujian Pilih dan Letakkan
Sistem Ujian Tahap Wafer Turret Teknologi ASM Pasifik SUNBIRD
SUNBIRD menyediakan penyelesaian ujian wafer yang cekap, andal dan fleksibel untuk industri semikonduktor melalui inovasi...
Pengendali Ujian Pilih dan Letakkan
Pengendali ujian ASM MS100 Plus
Sebagai versi MS100 yang dinaik taraf, ASM MS100 Plus juga merupakan peranti untuk menyusun dan menyusun cip berdasarkan wafer...
Pengendali Ujian Pilih dan Letakkan
Dagangan ujian ISMECA NY20
ISMECA NY20 (kini dimiliki oleh Cohu) ialah mesin pengujian dan pengisihan semikonduktor berkelajuan ultra tinggi berputar 20 stesen
Pengendali Ujian Pilih dan Letakkan
Mesin pengisih ASMPT MS90
Mesin penyusun ASM MS90 ialah peranti yang direka untuk penyusunan manik lampu, dengan fungsi penyusunan yang cekap dan tepat. Mesin ini...
Output Ujian Berkesan
UPH yang Dinilai Hanyalah Titik Permulaan
Kelajuan mekanikal menerangkan urutan pengendalian terpantas di bawah keadaan yang ditetapkan. Output pengeluaran juga termasuk masa ujian elektrik, tapak yang diaktifkan, hasil sentuhan, ujian semula, pemulihan suhu, pertukaran dan masa henti.
Masa Ujian Elektrik
DUT menduduki sesuatu tapak semasa penguji melaksanakan program dan memindahkan hasilnya. Apabila masa ujian panjang, penghunian penguji dan bukannya gerakan robot menjadi kekangan kitaran utama.
Masa Pengendalian Mekanikal
Pengambilan, penjajaran, pergerakan, penyisipan, penyingkiran dan penempatan output kekal sebagai sebahagian daripada setiap kitaran. Pergerakan ini boleh menguasai aplikasi dengan program ujian yang sangat singkat.
Tapak Selari yang Didayakan
Kiraan tapak yang dipasang dan kiraan tapak yang boleh digunakan tidak selalunya sama. Setiap tapak aktif memerlukan saluran penguji, laluan antara muka, perkakasan kenalan, pemetaan perisian dan sokongan terma.
Hasil dan Ketersediaan Hubungi
Sentuhan semula, ujian semula, pembersihan kontaktor, pertukaran dulang, pemulihan penggera dan penyelenggaraan menggunakan masa pengeluaran tanpa meningkatkan bilangan peranti baik yang telah siap.
Bandingkan unit baik yang dijangkakan sejam menggunakan tempoh ujian sebenar, kiraan tapak yang didayakan, hasil sentuhan laluan pertama, resipi suhu dan andaian pertukaran. UPH mekanikal maksimum harus dianggap sebagai siling dan bukannya ramalan pengeluaran.
Strategi Kiraan Tapak
Apabila Lebih Sedikit Laman Web Lebih Masuk Akal
Tapak tambahan hanya mencipta nilai apabila penguji, antara muka sentuhan dan sistem terma boleh mengendalikannya secara serentak. Untuk isipadu yang lebih rendah, pertukaran yang kerap atau aplikasi sentuhan sensitif, tapak yang lebih sedikit mungkin lebih mudah untuk distabilkan dan diselenggara.
Faktor Keputusan
Bilangan Tapak Tunggal / Tapak Rendah
Ujian Selari Berbilang Tapak
Padanan tipikal
Kerja kejuruteraan, isipadu yang lebih rendah, perubahan produk yang kerap atau aplikasi yang mana penjajaran dan suhu lebih mudah dikawal dengan sentuhan serentak yang lebih sedikit.
Pengeluaran volum tinggi yang stabil dan ujian yang lebih lama di mana beberapa DUT boleh menduduki sumber penguji yang disokong pada masa yang sama.
Sumber penguji
Memerlukan saluran yang lebih sedikit, perkakasan antara muka yang lebih ringkas dan pemetaan tapak yang kurang kompleks.
Setiap tapak aktif memerlukan saluran penguji, laluan antara muka, perkakasan kenalan dan kawalan perisian.
Kawalan sentuh dan haba
Penjajaran, daya sentuh dan suhu DUT pada amnya lebih mudah dicirikan dengan tapak aktif yang lebih sedikit.
Perbezaan rintangan sentuhan, daya dan pemulihan suhu dari tapak ke tapak mesti kekal dalam had proses.
Penukaran dan penyelenggaraan
Soket, sarang dan laluan antara muka yang lebih sedikit dapat mengurangkan kos pertukaran, kerja penentukuran dan permintaan alat ganti.
Lebih banyak perkakasan meningkatkan usaha persediaan dan penyelenggaraan, dan tapak yang tidak stabil boleh mengurangkan nilai konfigurasi selari.
Pilih bilangan tapak daripada program ujian sebenar, sumber penguji dan jumlah pengeluaran yang dijangkakan—bukan sekadar daripada kiraan tapak maksimum yang ditunjukkan dalam brosur platform.
Laluan Sentuhan Hujung-ke-Hujung
Laluan Hubungan Perlu Berfungsi sebagai Satu Sistem
Pengendali menyediakan pergerakan dan penyisipan terkawal. Penguji semikonduktor melakukan pengukuran elektrik. Sel ujian yang berfungsi bergantung pada pakej, kontaktor, perkakasan antara muka, gerakan pengendali dan program penguji yang kekal serasi dari hujung ke hujung.
1
DUT dan Pakej
Pakej ini mentakrifkan saiz badan, susun atur terminal, orientasi, permukaan sensitif dan nod elektrik yang mesti dicapai semasa ujian.
2
Soket atau Kontaktor
Kontaktor mencipta sambungan boleh ulangan kepada DUT. Padanan pakej, arus, frekuensi, rintangan sentuhan, haus dan ketersediaan penggantian semuanya mempengaruhi hasil laluan pertama.
3
Perkakasan Antara Muka
Papan antara muka, papan beban, kabel dan perkakasan dok membawa isyarat dan kuasa antara penghubung dan penguji. Reka bentuk elektrik dan mekanikalnya mesti sepadan dengan platform yang dimaksudkan.
4
Kedudukan dan Daya Pengendali
Kepala pengutip, sarang dan sistem gerakan menyelaraskan DUT, memasukkannya ke dalam kontaktor dan mengenakan daya terkawal tanpa merosakkan pakej atau perkakasan kontak.
5
Penguji dan Kawalan Keputusan
Penguji membekalkan saluran, masa dan sumber pengukuran. Data permulaan ujian, akhir ujian, pemetaan tapak dan bin mesti sepadan dengan resipi pengendali.
Pengendali boleh meletakkan pakej dengan betul dan masih tidak sesuai jika soket, papan antara muka, sumber penguji atau protokol komunikasi tidak sepadan dengan program ujian yang dimaksudkan.
Konfigurasi Terma
Pilih Perkakasan Termal daripada Syarat DUT
Kaedah yang dipilih mesti membawa DUT kepada keadaan ujian yang diperlukan, memastikan tapak sentuhan berada dalam julat operasi yang disahkan dan pulih cukup pantas untuk pengeluaran. Titik set ruang, suhu DUT dan variasi tapak ke tapak tidak boleh dianggap sebagai ukuran yang sama.
Operasi Terkawal Berhampiran Suhu Bilik
Ujian ambien mungkin masih memerlukan pemantauan suhu apabila masa ujian yang panjang atau kuasa peranti meningkatkan DUT melebihi suhu udara sekeliling.
Sahkan pada mesin
Aliran udara, keadaan kandang, sensor, had perisian dan sebarang penebat tapak sentuhan yang digunakan oleh konfigurasi yang dipasang.
Soalan utama
Adakah DUT kekal dalam julat yang ditentukan semasa penyisipan berulang dan pengeluaran berterusan?
Pemanasan, Rendam dan Pemulihan
Ujian panas biasanya memerlukan pakej mencapai keadaan sasaran sebelum bersentuhan dan kekal dalam toleransi semasa ujian elektrik dijalankan.
Sahkan pada mesin
Ruang yang dipanaskan, kepala haba atau laluan udara panas, lokasi rendaman, pengawal, sensor, penebat dan utiliti yang diperlukan.
Soalan utama
Bolehkah sistem pulih selepas pertukaran peranti dan mengimbangi kuasa DUT tanpa lebihan kuasa atau kehilangan daya pemprosesan?
Ujian Sejuk, Ambien dan Panas pada Satu Platform
Aplikasi sejuk dan tiga suhu menambah kapasiti penyejukan, kawalan kelembapan dan masa peralihan kepada kitaran pengeluaran.
Sahkan pada mesin
Kaedah penyejukan, bekalan udara kering, ruang bertebat, pemanas, sensor, kawalan pemeluwapan dan status penentukuran.
Soalan utama
Bolehkah pengendali mencapai keadaan DUT yang diperlukan, mencegah pemeluwapan dan mengekalkan pemulihan yang konsisten merentasi semua tapak aktif?
Untuk DUT berkuasa tinggi:sesetengah aplikasi mungkin memerlukan kawalan terma aktif peringkat tapak dan bukannya hanya bergantung pada keadaan ruang atau rendaman. Sahkan kaedah yang dipasang, julat kuasa yang disokong, susunan sensor, utiliti dan rekod penentukuran atau ujian yang tersedia.
Data Aplikasi
Hantar Input Yang Mengubah Konfigurasi
Maklumat berikut biasanya mencukupi untuk mengalih keluar platform yang tidak sesuai sebelum semakan peralatan terperinci bermula. Butiran khusus mesin yang hilang kemudiannya boleh disemak dengan senarai yang tersedia.
Hantar Keperluan Ujian Anda
Input Aplikasi
Bagaimana Ia Mempengaruhi Semakan Peralatan
Lukisan peranti dan pakej
Menunjukkan badan bungkusan, terminal, orientasi, sekatan pengambilan dan peralatan penukaran yang diperlukan untuk pengendalian dan sentuhan yang selamat.
Masa ujian elektrik
Menunjukkan sama ada gerakan pengendali atau penghunian penguji berkemungkinan mengawal kitaran dan sama ada tapak selari boleh mewujudkan kapasiti yang berguna.
Penguji semikonduktor
Mengenal pasti kepala ujian, perkakasan antara muka, papan beban, saluran, komunikasi dan pemetaan tapak yang mesti disokong oleh pengendali.
Strategi tapak dan hubungan
Mengesahkan tapak aktif yang dimaksudkan, daya sentuhan, soket atau jenis kontaktor dan kebolehulangan yang diperlukan untuk hasil laluan pertama yang boleh diterima.
Keperluan terma
Menetapkan suhu DUT, toleransi, pelesapan kuasa, jangkaan rendaman atau pemulihan dan utiliti terma yang tersedia.
Input, output dan pertukaran
Menjelaskan laluan dulang, tiub, jalur atau pembawa, keperluan pengisihan, campuran produk dan kekerapan perubahan perkakas atau resipi.
Soalan Permohonan
Soalan Lazim Pengendali Ujian Pilih dan Letakkan
Soalan-soalan ini memberi tumpuan kepada keserasian pakej, konfigurasi tapak ujian, integrasi penguji, kawalan suhu dan output pengeluaran yang realistik.
Apakah perbezaan antara pengendali pilih-dan-letak dan pengendali ujian pilih-dan-letak?
Pengendali pilih dan letak menerangkan seni bina penggerak peranti robotik. Pengendali ujian pilih dan letak menambah satu atau lebih tapak ujian elektrik terkawal, perkakasan sentuhan, komunikasi penguji dan pengisihan berasaskan hasil.
Adakah kiraan tapak yang lebih tinggi sentiasa meningkatkan output ujian?
Tidak. Penguji semikonduktor mesti menyediakan sumber selari yang mencukupi dan setiap tapak aktif memerlukan perkakasan antara muka yang serasi, penyentuh, kawalan haba dan pemetaan perisian. Ujian semula dan sentuhan yang tidak stabil juga boleh mengurangkan output yang berguna.
Bolehkah pengendali yang sama menguji pakej semikonduktor yang berbeza?
Banyak platform boleh menyokong lebih daripada satu pakej melalui kit penukaran. Dulang, sarang, muncung, pemeriksa, soket, penyentuh dan resipi perisian yang diperlukan mesti tersedia untuk setiap peranti.
Bolehkah pengendali ujian pilih dan letakkan bersambung dengan mana-mana penguji semikonduktor?
Bukan secara automatik. Dok mekanikal, papan antara muka, papan beban, laluan kabel, protokol penguji, jabat tangan perisian dan kawalan tapak semuanya mesti sepadan. Penguji semikonduktor juga biasanya dirujuk sebagai peralatan ujian automatik atau ATE.
Bagaimanakah keupayaan tiga suhu perlu disahkan?
Sahkan perkakasan pemanasan dan penyejukan yang dipasang, ruang atau modul terma, keperluan utiliti, sensor, perisian kawalan, perlindungan pemeluwapan dan bukti penentukuran suhu atau demonstrasi terkini.
Apakah maklumat yang diperlukan untuk sebut harga yang tepat?
Sediakan pakej peranti, media input dan output, masa ujian elektrik, unit sasaran yang baik sejam, kiraan tapak yang dimaksudkan, penguji semikonduktor, keperluan kontaktor, suhu DUT dan keadaan peralatan yang diutamakan.
Padankan Pengendali dengan Pakej, Penguji dan Program Ujian
Hantar lukisan pakej, penguji semikonduktor, kaedah sentuhan, kiraan tapak, masa ujian elektrik, julat suhu dan sasaran pengeluaran supaya peralatan yang tersedia dapat disemak terhadap sel ujian yang dimaksudkan.
