EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhDen verpackten Apparat kréien
Apparater aus Schachtel, Réier, Sträifen, Filmrahmen oder engem anere ënnerstëtzte Produktiounsmedium lueden.
Ëmgang mat robotesche Semiconductor-Schlusstester
Pick-and-Place Test Handler fir Hallefleiter Schlusstest
E Pick-and-Place-Testhandler beweegt verpackte Hallefleederkomponenten tëscht Inputmedien, Orientéierung, thermescher Konditionéierung, elektreschen Testplazen an sortéierten Ausgäng. Déi nëtzlech Konfiguratioun gëtt vum Pak, der Testdauer, dem Hallefleedertester, der Kontaktmethod, der Unzuel vun de Plazen an der DUT-Temperatur bestëmmt - net eleng vum Handler-Modell.
Kontrollorientéierung a Placement
Visioun, Ofhuelkäpp a robotesch Bewegung riichten d'Verpakung aus, ier se d'elektresch Kontaktplaz erreecht.
Presentéiert den DUT dem Tester
Den Handler kontrolléiert d'Positioun, d'Aschlagbewegung an d'Kontaktkraaft, während den Hallefleedertester d'Miessung duerchféiert.
Sortéiert d'Elektrescht Resultat
Leet d'Geräter op déi richteg Schacht, Réier, Roll, Ofworfsplaz oder downstream-Veraarbechtung.
Applikatiounsgrenzen
Fänkt mam Apparat an dem Testprogramm un
Pakbehandlung, Testerressourcen, Kontaktgeometrie an DUT-Temperatur bestëmmen déi éischt Grenzen vun enger funktionéierender Pick-and-Place-Testzell. Dës Inputen si méi nëtzlech wéi e Vergläich vu Modellnimm oder bewäerten UPH eenzel.
Apparat, Pak a Medienfloss
D'Kontur vum Pak, d'Terminaler, d'Gewiicht, d'Opnahmuewerfläch an d'Zerbriechlechkeet beaflossen d'Düs oder de Grëffer, den Nest, d'Visiounsastellungen an d'Tools um Teststandort.
Bestätegen:Pakzeechnung, Dimensiounen, Gewiicht, Orientéierungsmarkéierungen an erfuerderlech Input- an Outputmedien.
Testdauer a Produktiounszil
Kuerz Tester weisen d'Zäit op, déi fir d'Opnam, d'Ausriichtung, de Kontakt an d'Sortéierung gebraucht gëtt. Méi laang Tester kënne parallel Standuerter wäertvoll maachen, wann den Tester gläichzäiteg Ausféierung ënnerstëtzt.
Bestätegen:Testzäit no Temperatur, Zil-Gutt-Eenheeten pro Stonn, erwaart Widdertestrate a Produktwiesselfrequenz.
Tester, Interface a Kontaktmethod
Den Handler positionéiert den DUT, awer de elektresche Wee hänkt ëmmer nach vun der Sockel oder dem Kontaktor, der Interface-Hardware, der Lastkaart an dem Hallefleeder-Tester of.
Bestätegen:Testermodell, Testkopf, Dockingstatioun, Kontakthardware, Kommunikatiounsprotokoll a virgesinn aktiv Standuerter.
DUT Temperatur a Leeschtung
Ambient-, Hëtzt- a Kaltetester benotzen ënnerschiddlech Hardware fir Heizung, Killung, Sensorik, Aschlagung a Fiichtegkeetskontroll. D'Selbsterhëtzung vum Apparat kann och déi tatsächlech Temperatur vum Testdüse veränneren.
Bestätegen:erfuerderlechen Temperaturberäich, Toleranz, Leeschtung vum Apparat, Aschwäichzäit a verfügbar Dréchenloft- oder Killungsanlagen.
Aktuell Ausrüstung
Frot no der aktueller Disponibilitéit
Verfügbar Pick-and-Place Test Handler
Iwwerpréift déi aktuell Lëschten, a bestätegt dann déi installéiert Paketkits, Testplazen, Steckdousen oder Kontaktoren, Testerinterface, thermesch Optiounen, Software an Accessoiren op der jeeweileger Maschinn.
Pick-and-Place Test Handler
ASM Pacific Technology Turret Wafer Niveau Test System SUNBIRD
SUNBIRD bitt eng effizient, zouverlässeg a flexibel Wafer-Testléisung fir d'Hallefleederindustrie duerch Innovatioun...
Pick-and-Place Test Handler
ASM MS100 Plus Testhandler
Als verbessert Versioun vum MS100 ass den ASM MS100 Plus och en Apparat fir Chipsortéierung an -arrangement baséiert op Wafer...
Pick-and-Place Test Handler
ISMECA Testgeschäfter NY20
D'ISMECA NY20 (haut am Besëtz vu Cohu) ass eng rotéierend Ultra-High-Speed-Halbleiterprüfungs- a Sortéiermaschinn mat 20 Statiounen.
Pick-and-Place Test Handler
ASMPT Sortéierungsmaschinn MS90
D'ASM Sortéiermaschinn MS90 ass en Apparat, deen fir d'Sortéierung vu Lampeperlen entwéckelt gouf, mat effizienten a präzise Sortéierfunktiounen. Dës...
Effektiv Testausgab
Bewäert UPH ass nëmmen den Ausgangspunkt
Déi mechanesch Geschwindegkeet beschreift déi schnellst Handhabungssequenz ënner definéierte Konditiounen. D'Produktiounsleistung ëmfaasst och d'Zäit vun der elektrescher Testung, aktivéiert Standuerter, Kontaktausbezuelung, Neitestung, Temperaturerhuelung, Ëmstellung an Ausfallzäit.
Zäit vun der elektrescher Testung
Den DUT besetzt eng Plaz, während den Tester de Programm ausféiert an d'Resultat transferéiert. Wann d'Testzäit laang ass, gëtt d'Besetzung vum Tester anstatt d'Roboterbewegung déi Haaptbeschränkung vum Zyklus.
Mechanesch Handhabungszäit
Ophiewen, Ausriichtung, Bewegung, Asetzen, Entfernen an Ausgangsplazéierung bleiwen Deel vun all Zyklus. Dës Beweegunge kënnen Uwendungen mat ganz kuerzen Testprogrammer dominéieren.
Aktivéiert parallel Säiten
D'Zuel vun den installéierten an benotzbare Site ass net ëmmer déiselwecht. All aktiv Site brauch Testerkanäl, Interfaceweeër, Kontakthardware, Software-Mapping an thermeschen Support.
Kontaktrendement a Verfügbarkeet
Nei Kontakter, Neitester, Kontaktorreinigung, Austausch vu Schachten, Alarmbehebung a Maintenance verbrauchen d'Produktiounszäit ouni d'Zuel vun de fäerdege gudden Apparater ze erhéijen.
Vergläicht erwaart gutt Eenheeten pro Stonn mat Hëllef vun der tatsächlecher Testdauer, der Unzuel vun aktivéierte Standuerter, dem Kontaktausbezuelung beim éischte Duerchlaf, dem Temperaturrezept an den Ëmstellungsviraussetzungen. Déi maximal mechanesch UPH soll als Limit anstatt als Produktiounsprognose behandelt ginn.
Site-Count Strategie
Wann manner Site méi Sënn maachen
Zousätzlech Standuerter schafen nëmme Wäert, wann den Tester, d'Kontaktinterface an den thermesche System se gläichzäiteg bedreiwe kënnen. Fir méi niddreg Volumen, heefeg Wiesselen oder empfindlech Kontaktapplikatiounen, kënne manner Standuerter méi einfach ze stabiliséieren an ze pflegen sinn.
Entscheedungsfaktor
Eenzel Site / Niddreg Site Zuel
Parallelle Test op verschiddene Plazen
Typesch Passform
Ingenieursaarbechten, méi kleng Volumen, heefeg Produktwiesselen oder Uwendungen, wou Ausriichtung an Temperatur méi einfach mat manner gläichzäitege Kontakter ze kontrolléieren sinn.
Stabil Produktioun a grousse Volumen a méi laang Tester, wou verschidden DUTs gläichzäiteg ënnerstëtzt Testerressourcen besetzen kënnen.
Ressourcen fir Tester
Erfuerdert manner Kanäl, eng méi einfach Interface-Hardware a manner komplex Site-Mapping.
All aktiv Plaz erfuerdert Testerkanäl, Interfaceweeër, Kontakthardware a Softwarekontroll.
Kontakt- a Wärmekontroll
Ausriichtung, Kontaktkraaft an DUT-Temperatur sinn am Allgemengen méi einfach ze charakteriséieren mat manner aktiven Plazen.
Ënnerscheeder tëscht de Plazen am Kontaktwidderstand, der Kraaft an der Temperaturerhuelung mussen innerhalb vun de Prozessgrenzen bleiwen.
Ëmbau an Ënnerhalt
Manner Sockets, Nester a Schnittstellenweeër kënnen d'Ëmstellungskäschten, d'Kalibrierungsaarbechten an de Besoin un Ersatzdeeler reduzéieren.
Méi Tools erhéijen den Opbau- an Ënnerhaltsopwand, an eng onstabil Plaz kann de Wäert vun der paralleler Konfiguratioun reduzéieren.
Wielt d'Zuel vun de Standuerter aus dem tatsächlechen Testprogramm, den Testerressourcen an dem erwaarten Produktiounsvolumen - net einfach aus der maximaler Unzuel vun de Standuerter, déi an enger Plattformbroschür ugewise gëtt.
End-to-End Kontaktwee
De Kontaktwee muss als ee System funktionéieren
Den Handler suergt fir eng kontrolléiert Bewegung an Aféierung. Den Hallefleedertester féiert d'elektresch Miessung duerch. Eng funktionéierend Testzell hänkt dovun of, datt de Pak, de Kontaktor, d'Interface-Hardware, d'Handlerbewegung an den Testerprogramm vun Ufank bis Enn kompatibel bleiwen.
1
DUT a Pak
De Pak definéiert d'Gréisst vum Kierper, d'Layout vun den Terminaler, d'Orientéierung, sensibel Flächen an déi elektresch Knuet, déi während dem Test erreecht musse ginn.
2
Steckdous oder Kontaktor
De Kontaktor erstellt déi widderhuelbar Verbindung mam DUT. Pakungspassung, Stroum, Frequenz, Kontaktwiderstand, Verschleiung an Ersatzverfügbarkeet beaflossen all d'Ausbezuelung beim Éischte Duerchgank.
3
Interface-Hardware
Interface-Boards, Laaschtboards, Kabelen an Docking-Hardware transportéieren Signaler a Stroum tëscht dem Kontaktor an dem Tester. Hiren elektreschen an mechaneschen Design muss der virgesinner Plattform entspriechen.
4
Positioun a Kraaft vum Handler
Den Opnahmkapp, d'Nest an d'Beweegungssystem riichten den DUT aus, setzen en an de Kontaktor an a üben kontrolléiert Kraaft aus, ouni d'Packung oder d'Kontakthardware ze beschiedegen.
5
Tester a Resultatkontroll
Den Tester liwwert Kanäl, Timing- a Miessressourcen. D'Ufanks-, d'Enn-, d'Site-Mapping- an d'Bin-Date mussen mam Handler-Rezept iwwereneestëmmen.
En Handler kann de Pak korrekt placéieren an trotzdem net gëeegent sinn, wann de Socket, d'Interface Board, d'Testerressourcen oder de Kommunikatiounsprotokoll net mam virgesinnten Testprogramm iwwereneestëmmen.
Thermesch Konfiguratioun
Wielt Thermal Hardware aus DUT Konditiounen
Déi gewielte Method muss den DUT op déi erfuerderlech Testkonditioun bréngen, d'Kontaktplaz an hirem validéierten Operatiounsberäich halen a sech séier genuch fir d'Produktioun erhuelen. De Sollwäert vun der Kammer, d'Temperatur vum DUT an d'Variatioun tëscht de verschiddene Plazen däerfen net als déiselwecht Miessung behandelt ginn.
Kontrolléiert Operatioun bei Raumtemperatur
Ëmfeldtester kënnen ëmmer nach eng Temperaturiwwerwaachung erfuerderen, wann laang Testzäiten oder d'Leeschtung vum Apparat den DUT iwwer d'Ëmgéigendlofttemperatur dreiwen.
Confirméieren op der Maschinn
Loftstroum, Gehäusebedingungen, Sensoren, Softwarelimiten an all Isolatioun vun der Kontaktplaz, déi vun der installéierter Konfiguratioun benotzt gëtt.
Haaptfro
Bleift den DUT bei widderhollten Asätz an der kontinuéierlecher Produktioun am spezifizéierte Beräich?
Heizung, Erwiermung a Regeneratioun
Fir den elektreschen Test muss d'Verpakung normalerweis den Zilzoustand virum Kontakt erreecht hunn a wärend dem Laf vum elektreschen Test bannent der Toleranz bleiwen.
Confirméieren op der Maschinn
Beheizt Kammer, Wärmekapp oder Waarmloftwee, Soak-Plaz, Controller, Sensoren, Isolatioun an erfuerderlech Versuergungsinfrastrukturen.
Haaptfro
Kann de System sech nom Austausch vun den Apparater erhuelen a fir d'DUT-Leeschtung kompenséieren, ouni exzessiv Iwwerschwemmung oder Verloscht vum Duerchgank?
Kale, Ambient an Hot Test op enger Plattform
Kalt- an Dräitemperaturapplikatioune addéieren Killkapazitéit, Fiichtegkeetskontroll an Iwwergangszäit zum Produktiounszyklus.
Confirméieren op der Maschinn
Killmethod, Dréchenloftversuergung, isoléiert Kammer, Heizungen, Sensoren, Kondensatiounskontroll a Kalibrierungsstatus.
Haaptfro
Kann den Handler déi erfuerderlech DUT-Konditioun erreechen, Kondensatioun verhënneren an eng konsequent Erhuelung op all aktiven Standuerter erhalen?
Fir DUTs mat héijer Leeschtung:Verschidden Uwendungen erfuerderen eventuell eng aktiv thermesch Kontroll op Standuertniveau, anstatt sech nëmmen op d'Kammer- oder Iwachsbedingungen ze verloossen. Bestätegt déi installéiert Method, den ënnerstëtzte Leeschtungsberäich, d'Sensoranordnung, d'Versuergungsinfrastrukturen an déi verfügbar Kalibrierungs- oder Testdaten.
Applikatiounsdaten
Schéckt d'Inputen, déi d'Konfiguratioun änneren
Déi folgend Informatioune sinn normalerweis genuch fir ongeeignet Plattformen ze läschen, ier eng detailléiert Iwwerpréiwung vun der Ausrüstung ufänkt. Feelend maschinnespezifesch Detailer kënnen dann un de verfügbare Lëschten iwwerpréift ginn.
Schéckt Är Testufuerderungen
Applikatiounsinput
Wéi et d'Iwwerpréiwung vun der Ausrüstung beaflosst
Zeechnung vum Apparat a vum Pak
Weist de Verpackungskierper, d'Terminaler, d'Orientéierung, d'Ofhuelbeschränkungen an d'Konversiounsinstrumenter un, déi fir e sécheren Ëmgang a Kontakt erfuerderlech sinn.
Zäit vun der elektrescher Testphase
Weist un, ob d'Bewegung vum Handler oder d'Besetzung vum Tester de Zyklus wahrscheinlech kontrolléiert a ob parallel Standuerter nëtzlech Kapazitéit kéinte schafen.
Hallefleiter-Tester
Identifizéiert den Testkapp, d'Interface-Hardware, d'Ladeplat, d'Kanäl, d'Kommunikatioun an d'Site-Mapping, déi den Handler ënnerstëtze muss.
Site- a Kontaktstrategie
Bestätegt déi beabsichtigt aktiv Plazen, Kontaktkraaft, Sockel- oder Kontaktortyp an d'Widderhuelbarkeet, déi fir eng akzeptabel Éischt-Duerchgangs-Ausbezuelung néideg ass.
Thermesch Ufuerderung
Setzt déi erfuerderlech DUT-Temperatur, Toleranz, Leeschtungsoflaf, Soak- oder Recovery-Erwaardung an verfügbar thermesch Versuergungsméiglechkeeten.
Input, Output an Ëmstellung
Kläert de Wee fir d'Schacht, d'Röhr, d'Sträif oder den Träger, d'Sortéierungsufuerderungen, de Produktmix an d'Frequenz vun den Tools- oder Rezeptännerungen.
Froen iwwer d'Applikatioun
FAQ iwwer Pick-and-Place Test Handler
Dës Froen konzentréiere sech op d'Kompatibilitéit vum Pak, d'Konfiguratioun vum Testsite, d'Integratioun vum Tester, d'Temperaturkontroll an d'realistesch Produktiounsleistung.
Wat ass den Ënnerscheed tëscht engem Pick-and-Place-Handler an engem Pick-and-Place-Testhandler?
E Pick-and-Place-Handler beschreift d'Architektur vun der roboterbedreiwung vun Apparater. E Pick-and-Place-Testhandler füügt eng oder méi kontrolléiert elektresch Testplazen, Kontakthardware, Testerkommunikatioun an eng resultatsbaséiert Sortéierung bäi.
Erhéicht eng méi héich Zuel vu Siten ëmmer d'Testeroutput?
Nee. Den Hallefleedertester muss genuch parallel Ressourcen zur Verfügung stellen, an all aktiv Plaz brauch kompatibel Interface-Hardware, Kontaktoren, thermesch Kontroll a Software-Mapping. En neien Test an en onstabilen Kontakt kënnen och déi nëtzlech Leeschtung reduzéieren.
Kann dee selwechten Handler verschidde Hallefleederpakete testen?
Vill Plattforme kënnen duerch Konversiounskits méi wéi ee Pak ënnerstëtzen. Déi néideg Schachtel, Näschter, Düsen, Präzisiounsquellen, Steckdosen, Kontaktoren a Softwarerezepter musse fir all Apparat verfügbar sinn.
Kann e Pick-and-Place-Testhandler sech mat all Hallefleedertester verbannen?
Net automatesch. Mechanesch Docking, Interface-Boards, Lastboards, Kabelweeër, Testerprotokoll, Software-Handshake a Site-Kontroll mussen all iwwereneestëmmen. Hallefleitertester ginn och dacks als automatesch Testausrüstung oder ATE bezeechent.
Wéi soll d'Tritemperatur-Fäegkeet verifizéiert ginn?
Bestätegt déi installéiert Heiz- a Killhardware, de Kammer oder den Thermomodul, d'Ufuerderunge fir d'Versuergung, d'Sensoren, d'Steierungssoftware, de Kondensatiounsschutz an déi rezent Temperaturkalibratioun oder Demonstratiounsbeweiser.
Wéi eng Informatioune si fir eng korrekt Offer néideg?
Gitt de Pak vum Apparat, d'Input- an Outputmedien, d'Zäit fir den elektreschen Test, d'Zil-Gutt-Eenheeten pro Stonn, déi virgesinn Unzuel u Standuerter, den Hallefleedertester, de Kontaktorufuerderung, d'DUT-Temperatur an de gewënschten Zoustand vun der Ausrüstung un.
Den Handler mam Package, dem Tester an dem Testprogramm ofstëmmen
Schéckt d'Packungszeechnung, den Hallefleedertester, d'Kontaktmethod, d'Zuel vun de Standuerter, d'Zäit vum elektreschen Test, den Temperaturberäich an d'Produktiounszil, fir datt déi verfügbar Ausrüstung mat der virgesinner Testzell vergläicht ka ginn.
