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no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhCarga ha Identificación rehegua
Ojehupyty umi dispositivo bandeja, tubo, a granel, tira, marco de película térã ambue medio de producción-gui.
Integración Prueba Final Semiconductor rehegua
Sistemas de Manipulador de Prueba umi Línea de Prueba Final Semiconductora-pe g̃uarã
Peteĩ manipulador prueba semiconductor rehegua omomýi umi dispositivo envasado carga, acondicionamiento térmico, contacto eléctrico ha clasificación basada resultado rupive. Ehecháke umi tembipuru ojeguerekóva ha embojoaju pe manejador, hardware ñemboheko paquete rehegua, interfaz tester ha flujo producción rehegua peteĩ célula prueba paha ramo.
Condición ha Presente rehegua
Control orientación, temperatura, posición sitio ha fuerza de contacto medición eléctrica mboyve.
Omedi pe Dispositivo
Pe probador o’aplika pe programa eléctrico ha ome’ẽ jey marandu pase/fail térã bin detallado.
Oñemohenda ha Oñemotenonde
Ombohasa umi dispositivo ojeaceptáva ha oñemboykéva bandeja, tubo, carrete, cubo térã proceso aguas abajo correcto-pe.
Moõpa Oike pe Manejo
Emopuꞌa pe Manejo de Prueba Etapa de Prueba Semiconductora jerére
Peteĩchagua tembipuru ikatu ohasa oblea ñemohenda rupive, prueba paha envasado, prueba nivel sistema rehegua ha jesareko jeroviapy rehegua. Káda etapa oipuru iñambuéva mecánica, interfaz ha objetivo producción rehegua.
Ko página oñecentra prueba paha dispositivo envasado ha umi sistema manejador okargáva, temperatura-condición, contacto ha ordenación umi dispositivo semiconductor.
Sonda Ojejapo mboyve Envasado
Peteĩ sonda omoĩ pe oblea ha tarjeta sonda rehegua ojejapo hag̃ua prueba eléctrica. VicheaEstación de Sonda tembipurukuérape aparato oĩ jave gueteri pe oblea ári.
Omaneja umi Dispositivo Envasado Escala de Producción-pe
Pe manipulador de prueba ogueraha umi parte envasada, ocontrola temperatura prueba rehegua, opresenta contactor-pe ha omohenda umi resultado ojegueru jeýva.
Emombaꞌapo Tembiaporã Nivel de Aplicación rehegua
Umi tembipuru SLT oevalua umi dispositivo complejo condición de funcionamiento añeteguávape ha ikatu oikotevẽ peteĩ arquitectura portadora, toma, térmico ha tablero iñambuéva.
Pantalla Falla Latente rehegua
Umi sistema de quemadura ha confiabilidad o’aplika temperatura extendida, tensión térã tensión carga de trabajo rehegua, ndaha’éiramo manejo normal de alto rendimiento prueba paha rehegua.
Tembiporu Ko’áĝagua
Sistemas de Manejo de Prueba Semiconductora ojeguerekóva
Eheka umi tembipuru oñeme’ẽva ko’áĝa ko categoría-pe. Oñemoañeteva’erã pytyvõ paquete añeteguáva, módulo térmico, interfaces de prueba, kits de conversión ha accesorio oikeva’ekue peteĩteĩva máquina-pe g̃uarã.
Categoría katupyry ndahaꞌei peteĩchagua máquina ñemboheko ndive.
Eipuru producto página ha cotización emoañete hag̃ua arquitectura manipulador añetegua ha opción oñemeꞌevaꞌekue.
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ASM Tecnología Pacífico Torreta Sistema de Prueba Nivel de Oblea SUNBIRD
SUNBIRD ome'ë peteî solución eficiente, confiable ha flexible prueba de oblea industria semiconductor-pe guarã innov...
ASM MS100 Plus jesarekoha jesarekoha
MS100 versión oñembopyahúva ramo, ASM MS100 Plus haꞌehína avei peteĩ tembipuru ojejapo hag̃ua chip clasificación ha arreglo oñemopyendáva oblea...
ISMECA prueba oñenegosia NY20
ISMECA NY20 (ko'ágã Cohu mba'e) ha'e peteĩ máquina de prueba ha clasificación semiconductor giratorio ultra-alta velocidad orekóva 20 estaciones
Máquina de clasificación ASMPT rehegua MS90
Máquina de clasificación ASM MS90 haꞌehína peteĩ tembipuru ojejapóva oñembojaꞌo hag̃ua lámpara ryru rehegua, oguerekóva tembiaporã clasificación rehegua hekopete ha hekopete. Kóva...
Dispositivo / Programa reheguaTekotevẽ Típico de Manejo reheguaJeporavo rehegua Enfoque
Lógica, MCU ha IC Señal Mixto rehegua
Prueba paha dispositivo envasado volumen yvate rehegua.
Bandeja, tubo, gravedad térã pick-and-place flujo
Ombojoaju paquete rogaygua, tenda jepapa, aravo índice ha interfaz probador rehegua.
Rendimiento orekóva contacto estable
Paralelismo equilibrio, temperatura, tiempo de conversión ha recuperación atasco rehegua.
Poder ha Dispositivos Analógicos rehegua
Umi tembipuru oguerekóva sensibilidad corriente, haku térã contacto-fuerza yvatevéva.
Control térmico ha interfaz robusto
Ojesareko control activo temperatura rehe, contactor rendimiento ha disipación de potencia.
Precisión térmica carga guýpe
Pe autocalentamiento ikatu omoambue pe manejador ha estrategia de contacto.
MEMS ha Dispositivos Sensor rehegua
Movimiento, presión, micrófono, componente inercial térã óptico rehegua.
Estímulo, orientación ha integración inspección rehegua
Pe célula ikatu oikotevẽ función adicional accionamiento, calibración térã visión rehegua.
Prueba más estímulo físico rehegua
Emoañete peteĩ IC mboguatahára estándar haꞌepa suficiente.
WLCSP ha Paquete sin Plomo rehegua
Umi tembipuru michĩva BGA, QFN, DFN, WLCSP ha sierra riregua.
Película-marco, tira térã precisión singular manejo
Fragilidad paquete ha umi medio de presentación ikatu odetermina plataforma.
Alineación de tono fino ha fuerza controlada
Pe cambio-kit completidad oiko crítico ojehupyty jave umi tembipuru ojeporúva.
Interfaces Ñeha’ã Paha rehegua
Pe Manipulador Ombojoaju vaꞌerã irundy Semiconductor Producción Requisito
Integración exitosa odepende producto oikéva máquina-pe, probador ohupytýva contacto eléctrico estable, dispositivo opytáva temperatura oñeikotevëva ha resultado paha oñembohasáva hekoitépe.
Paquete ha Medio de Entrada rehegua
Umi pista, nido, bandeja, tubo, tazón, tira, marco de película, boquilla ha sistema de orientación ojoaju va era dispositivo físico ndive.
ATE, Akãrapu’ã ha Contactor
Dirección de acoplamiento, HIFIX, toma térã contactor, conteo sitio, fuerza ha software comunicación oñemohendavaꞌerã probador ndive.
Control Haku, Ro’ysã ha Activo
Tiempo de remojo, enfriador, calentador, aire seco, LN2, autocalentamiento dispositivo ha tiempo de recuperación oinflui salida prueba-célula añeteguáva.
Ñemohenda, Dato ha Salida
Mapeo cubo rehegua, inspección, trazabilidad, marcado ha medio paha jeporu oikeva’erã pe flujo semiconductor back-end tuichavévape.
Eiporavo pe Etapa de Prueba Correcta
¿Prueba paha rehegua, SLT rehegua térã Sistema de Inspección rehegua?
Koꞌã sistema ikatu ojekuaa ojoykére producción de retroceso semiconductor-pe, ha katu ndojapói peteĩ tembiapo.
Prueba Final Eléctrica Dispositivo Envasado rehegua
Okarga, ocondiciona térmicamente, ocontacta ha oordena umi dispositivo ATE ojapo aja medición eléctrica.
Prueba Funcional Nivel Sistema rehegua
Omombaꞌapo tembipurukuéra peteĩ tekoha ojoguáva tablero térã aplicación-pe ha ikatu oipuru portador, socket ha carga de trabajo ojoavyva prueba paha normal-gui.
Visión, Marcamiento ha Operaciones de Envasado rehegua
AOI, inspección 3D, marcado, grabación térã acabado bandeja rehegua ikatu oñeintegra peteĩ plataforma manejador ndive ha katu ojehechaukavaꞌerã por separado.
01
Omoañete Paquete Semiconductor rehegua
Omeꞌe familia paquete rehegua, dimensión, estructura plomo térã bola rehegua, orientación, peso ha disipación potencia dispositivo rehegua.
02
Oikuaauka pe Plataforma de Prueba
Emoĩ lista ATE sistema, prueba akã, hardware HIFIX térã interfaz oĩmava, contactor ha conteo sitio paralelo oñeikotevẽva.
03
Edefini pe Programa Térmico rehegua
Emombe’u umi mba’e ojejeruréva ambiente, haku, ro’ysã térã tri-temperatura rehegua, umi mba’e oñeha’arõva remojo ha pe dispositivo ojeautocalentápa prueba aja.
04
Mapa Entrada, Clase ha Salida rehegua
Amombe u mba éichapa oike umi parte célulape, mba éichapa ojeseparava era umi cubo eléctrico ha oñeikotevepa marca, inspección téra cinta.
05
Emoañete Máquina Ñemohenda Añetéva
Umi equipo ojeporúva térã oñembopyahúvape guarã, omoañete umi kits instalado, software, módulo térmico, interfaz tester, accesorios ha condición de funcionamiento.
Tembiporu Prueba rehegua ojoajúva
Eñeha’ã emopu’ã pe Célula de Prueba Semiconductora
Eipuru ko’ã página pe proyecto oike jave avei pe probador núcleo rehegua, contacto nivel de oblea rehegua, umi pieza de reemplazo térã pe categoría equipo túva test-manipulador rehegua.
CATEGORÍA Núcleo rehegua
Tembipurukuéra Ñemboguatarã Prueba rehegua
Eheka categoría manipulador tuichavéva ha embojoja umi ruta equipo pick-and-place, torreta, gravedad ha tira-pe.
Ojehechakuaa Ñeha’ã Ñemboguataha → PRUEBA ELÉCTRICO reheguaSistema ATE rehegua
Ehechamína pe probador semiconductor rehegua omoheñóiva estímulo, omediva pe dispositivo ha omeꞌejeýva pe prueba resultado pe manejador-pe.
Ehecháke umi Sistema ATE → PRUEBA DE ODAEstación de Sonda rehegua
Ombojoja umi equipo de contacto ha medición nivel de oblea rehegua pe dispositivo ndoikéiramo gueteri prueba final envasada-pe.
Ojeporeka Tembiporu Sonda rehegua → PARTE & APOYOPrueba Manejo rehegua Partes
Eheka boquilla, tablero, motor, sensor ha componente reemplazo ojeporavóva umi plataforma manipulador oipytyvõvape g̃uarã.
Eheka umi Pehẽngue Manejo rehegua →Porandu ojejapóva jepi
Semiconductor Prueba Ñemboguatarã FAQ
Ko’ã ñembohovái ocubri umi porandu integración rehegua ohypýiva normalmente selección ha cotización equipo prueba paha rehegua.
Mba épa ojapo petet prueba manejador prueba paha semiconductor rehegua.
Ogueraha umi dispositivo envasado, ocontrola orientación ha temperatura, opresenta cada dispositivo contactor de prueba-pe, ohupyty resultado ATE ha omohenda umi dispositivo umi cubo de salida térã medio oñeikotevëvape.
¿Ojoguápa peteĩ semiconductor prueba jesarekoha ATE ndive?
Nahániri, pe manejador ojapo manejo mecánico, acondicionamiento térmico, posicionamiento de contacto ha clasificación. ATE oaplika programa de prueba eléctrica, omedi dispositivo ha ome'ë jey resultado.
Mba’éichapa aiporavo prueba paha ha prueba nivel sistema jeporu rehegua?
Eipuru peteĩ manipulador prueba paha rehegua prueba producción eléctrica dispositivo envasado convencional-pe g̃uarã. Eiporavo peteĩ sistema SLT pe tembipuru ombaꞌapovaꞌerã jave peteĩ tekoha ojoguáva tablero térã aplicación-pe peteĩ socket, carrier térã carga de trabajo iñambuéva reheve.
Mbaꞌe marandupa oñeikotevẽ oñembojoaju hag̃ua peteĩ handler peteĩ IC paquete ndive.
Omeꞌe dibujo paquete rehegua, dimensión, orientación, medio de entrada/salida, temperatura prueba rehegua, plataforma ATE, cabeza de prueba, conteo sitio rehegua, tiempo de prueba ha umi operación clasificación térã inspección rehegua oñeikotevẽva.
¿Ikatu piko peteĩ prueba ñangarekoha ojeporúva ambue paquete-pe?
Sapy’ánte, ha katu conversión odepende máquina arquitectura rehe, kit de cambio ojeguerekóva, pista, nido, boquilla, interfaz contactor, configuración térmica, software ha rango mecánico. Ko'ã mba'e ojehechava'erã ojejogua mboyve.
Mba épa oikeva era petet cotización manipulador de prueba semiconductor rehegua.
Ko cotización ohechakuaava'erã máquina exacta, año ha número de serie, kit de cambio instalado, interfaz tester, sistema térmico, software, módulo entrada/salida, accesorios, condición, ámbito de inspección ha soporte de entrega.
Embojoaju pe Manipulador pe Célula de Prueba Final Semiconductor Completa ndive
Omondo paquete, tester, temperatura, conteo sitio ha producción-flujo umi mba'e ojejeruréva ohesa'ÿijo haguã umi equipo ko'ágãgua ha configuraciones máquina añeteguáva.
