EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhÎncărcați și identificați
Primiți dispozitive din tavă, tub, vrac, bandă, cadru de film sau alt mediu de producție.
Integrarea testului final de semiconductori
Sisteme de manipulare a testelor pentru liniile de testare finale ale semiconductorilor
Un dispozitiv de testare a semiconductorilor mută dispozitivele ambalate prin încărcare, condiționare termică, contact electric și sortare pe bază de rezultate. Explorați echipamentele disponibile și combinați dispozitivul de testare, hardware-ul de conversie a ambalajelor, interfața de testare și fluxul de producție ca o singură celulă de testare finală.
Stare și prezent
Controlați orientarea, temperatura, poziția amplasamentului și forța de contact înainte de măsurarea electrică.
Măsurați dispozitivul
Testerul aplică programul electric și returnează informații de tip „acceptat/respins” sau informații detaliate despre locație.
Sortează și continuă
Dirijați dispozitivele acceptate și respinse în tava, tubul, bobina, containerul sau procesul din aval corect.
Unde se potrivește manipulatorul
Construiți gestionatorul de testare în jurul etapei de testare a semiconductorilor
Același dispozitiv poate trece prin sortarea plachetelor, testul final al ambalajului, testul la nivel de sistem și screening-ul fiabilității. Fiecare etapă utilizează mecanisme, interfețe și obiective de producție diferite.
Această pagină se concentrează pe testarea finală a dispozitivelor ambalate și pe sistemele de manipulare care încarcă, condiționează temperatura, contactează și sortează dispozitivele semiconductoare.
Verificați înainte de ambalare
Un sondor poziționează placheta și placa sondei pentru testarea electrică. RevizuireEchipamentul stației de sondăcând dispozitivul este încă pe plachetă.
Manipulați dispozitivele ambalate la scară de producție
Operatorul de testare transportă piesele ambalate, controlează temperatura de testare, le prezintă contactantului și sortează rezultatele returnate.
Executarea sarcinilor de lucru la nivel de aplicație
Echipamentele SLT evaluează dispozitive complexe în condiții de funcționare mai realiste și pot necesita o arhitectură diferită a purtătorului, soclului, temperaturii și plăcii de bază.
Ecran pentru defecțiuni latente
Sistemele de rodaj și fiabilitate aplică solicitări extinse de temperatură, tensiune sau sarcină de lucru, în loc de gestionarea normală a testelor finale de mare randament.
Echipament actual
Sisteme de manipulare a testelor semiconductoare disponibile
Răsfoiți echipamentele atribuite în prezent acestei categorii. Pachetele suportate, modulele termice, interfețele de testare, kiturile de conversie și accesoriile incluse trebuie confirmate pentru fiecare mașină.
Capacitatea categoriei nu este aceeași cu configurația mașinii.
Folosește pagina produsului și cotația de preț pentru a confirma arhitectura reală a handlerului și opțiunile furnizate.
Folosește pagina produsului și cotația de preț pentru a confirma arhitectura reală a handlerului și opțiunile furnizate.
Sistem de testare a nivelului plachetei cu turelă ASM Pacific Technology SUNBIRD
SUNBIRD oferă o soluție eficientă, fiabilă și flexibilă de testare a plachetelor pentru industria semiconductorilor prin inovație...
Manipulator de teste ASM MS100 Plus
Ca o versiune îmbunătățită a modelului MS100, ASM MS100 Plus este, de asemenea, un dispozitiv pentru sortarea și aranjarea cipurilor bazat pe plachete...
Tranzacții de testare ISMECA NY20
ISMECA NY20 (acum deținută de Cohu) este o mașină rotativă de testare și sortare a semiconductorilor de ultra-mare viteză, cu 20 de stații.
Mașină de sortat ASMPT MS90
Mașina de sortare ASM MS90 este un dispozitiv conceput pentru sortarea perlelor de lămpi, cu funcții de sortare eficiente și precise. Aceasta...
Dispozitiv / ProgramNevoi tipice de manipulareFocus pe selecție
Circuite integrate logice, MCU și cu semnal mixt
Test final pentru dispozitive ambalate în volum mare.
Flux cu tavă, tub, gravitațional sau pick-and-place
Potriviți familia de pachete, numărul de site-uri, timpul de indexare și interfața testerului.
Randament cu contact stabil
Echilibrează paralelismul, temperatura, timpul de conversie și recuperarea din blocaje.
Dispozitive de alimentare și analogice
Dispozitive cu sensibilitate mai mare la curent, căldură sau forță de contact.
Control termic și interfață robustă
Verificați controlul activ al temperaturii, performanța contactorului și disiparea puterii.
Precizie termică sub sarcină
Autoîncălzirea poate schimba manipulatorul și strategia de contact.
Dispozitive MEMS și senzoriale
Mișcare, presiune, microfon, componente inerțiale sau optice.
Integrarea stimulului, orientării și inspecției
Celula poate necesita funcții suplimentare de acționare, calibrare sau vizualizare.
Test plus stimul fizic
Confirmați dacă un dispozitiv standard de gestionare a circuitelor integrate este suficient.
Pachete WLCSP și fără plumb
Dispozitive mici BGA, QFN, DFN, WLCSP și post-fierăstrău.
Manipulare individuală de precizie, cu ramă de film, bandă sau benzi
Fragilitatea ambalajului și suporturile de prezentare pot determina platforma.
Aliniere fină și forță controlată
Completitudinea kitului de schimbare devine esențială atunci când se aprovizionează cu echipamente uzate.
Interfețe de test final
Manipulatorul trebuie să conecteze patru cerințe de producție a semiconductorilor
Integrarea cu succes depinde de intrarea produsului în mașină, de contactul electric stabil al testerului, de menținerea temperaturii necesare a dispozitivului și de direcționarea corectă a rezultatului final.
Pachet și suport de intrare
Șinele, cuiburile, tăvile, tuburile, bolurile, benzile, ramele de film, duzele și sistemele de orientare trebuie să corespundă dispozitivului fizic.
ATE, Cap de testare și Contactor
Direcția de andocare, HIFIX, priza sau contactorul, numărul de locații, forța și comunicarea software trebuie să fie aliniate cu testerul.
Control cald, rece și activ
Timpul de impregnare, răcitorul, încălzitorul, aerul uscat, LN₂, autoîncălzirea dispozitivului și timpul de recuperare influențează randamentul real al celulei de testare.
Sortare, date și ieșire
Cartografierea containerelor, inspecția, trasabilitatea, marcarea și manipularea finală a mediilor trebuie să se potrivească fluxului mai larg de semiconductori din spate.
Alegeți etapa corectă de testare
Manipulator de testare finală, manipulator SLT sau sistem de inspecție?
Aceste sisteme pot apărea unul lângă altul în producția back-end de semiconductori, dar nu îndeplinesc aceeași sarcină.
Test final electric pentru dispozitive ambalate
Încarcă, condiționează termic, contactează și sortează dispozitivele în timp ce ATE efectuează măsurătorile electrice.
Test funcțional la nivel de sistem
Rulează dispozitive într-un mediu similar unei plăci de bază sau unei aplicații și poate utiliza operatori, socketuri și sarcini de lucru, spre deosebire de testul final normal.
Operațiuni de Viziune, Marcare și Ambalare
AOI, inspecția 3D, marcarea, lipirea cu bandă sau finisarea tăvilor pot fi integrate cu o platformă de manipulare, dar ar trebui specificate separat.
01
Confirmați pachetul semiconductorului
Furnizați familia de ambalaje, dimensiunile, structura cablului sau a bilei, orientarea, greutatea și disiparea puterii dispozitivului.
02
Identificați platforma de testare
Enumerați sistemul ATE, capul de testare, hardware-ul HIFIX sau de interfață existent, contactorul și numărul necesar de locații paralele.
03
Definiți programul termic
Indicați cerințele privind temperatura ambientală, caldă, rece sau cele trivalente, așteptările privind absorbția și dacă dispozitivul se autoîncălzește în timpul testului.
04
Introducerea, sortarea și ieșirea hărții
Explicați cum intră piesele în celulă, cum ar trebui separate recipientele electrice și dacă este necesară marcarea, inspecția sau lipirea cu bandă adezivă.
05
Verificați configurația reală a mașinii
Pentru echipamentele uzate sau recondiționate, confirmați kiturile instalate, software-ul, modulele termice, interfața testerului, accesoriile și starea de funcționare.
Echipamente de testare conexe
Continuați construirea celulei de testare a semiconductorilor
Folosiți aceste pagini atunci când proiectul include și testerul de bază, contactul la nivel de wafer, piesele de schimb sau categoria de echipamente principale pentru gestionarea testelor.
CATEGORIA DE PRINCIPALĂ
Echipament pentru manipularea testelor
Răsfoiți categoria mai largă de echipamente de manipulare și comparați rutele echipamentelor pick-and-place, cu turelă, gravitaționale și pe bandă rulantă.
Vizualizați gestionatoarele de teste → TEST ELECTRICSistem ATE
Verificați testerul de semiconductori care generează stimuli, măsoară dispozitivul și returnează rezultatul testului către utilizator.
Explorează sistemele ATE → TESTUL PLAQUETEIStația de sondă
Comparați echipamentele de contact și măsurare la nivel de plachetă atunci când dispozitivul nu a intrat încă în testul final ambalat.
Explorează echipamentele de sondă → PIESE ȘI ASISTENȚĂPiese pentru manipulatorul de testare
Găsiți duze, plăci, motoare, senzori și componente de schimb selectate pentru platformele de manipulare compatibile.
Răsfoiți piesele manipulatorului →Întrebări frecvente
Întrebări frecvente despre gestionarea testelor de semiconductori
Aceste răspunsuri acoperă întrebările de integrare care afectează în mod normal selecția și cotația echipamentelor de testare finală.
Ce face un specialist în testarea semiconductorilor?
Transportă dispozitivele ambalate, controlează orientarea și temperatura, prezintă fiecare dispozitiv contactorului de testare, primește rezultatul ATE și sortează dispozitivele în recipientele sau mediile de ieșire necesare.
Este un dispozitiv de gestionare a testelor de semiconductori același lucru cu ATE?
Nu. Manipulatorul efectuează manipularea mecanică, condiționarea termică, poziționarea contactelor și sortarea. ATE aplică programul de testare electrică, măsoară dispozitivul și returnează rezultatul.
Cum aleg între testul final și gestionarea testelor la nivel de sistem?
Folosiți un sistem de gestionare a testelor finale pentru testele electrice de producție ale dispozitivelor convenționale încapsulate. Alegeți un sistem SLT atunci când dispozitivul trebuie să funcționeze într-un mediu similar unei plăci de bază sau unei aplicații, cu o soclu, o purtătoare sau o sarcină de lucru diferită.
Ce informații sunt necesare pentru a potrivi un handler cu un pachet IC?
Furnizați desenul ambalajului, dimensiunile, orientarea, mediul de intrare/ieșire, temperatura de testare, platforma ATE, capul de testare, numărul de locații, timpul de testare și operațiunile de sortare sau inspecție necesare.
Poate fi convertit un handler de testare utilizat într-un alt pachet?
Uneori, dar conversia depinde de arhitectura mașinii, kitul de schimbare disponibil, șine, cuiburi, duze, interfața contactorului, configurația termică, software și gama mecanică. Aceste elemente trebuie verificate înainte de cumpărare.
Ce ar trebui inclus într-o ofertă pentru un furnizor de servicii de testare a semiconductorilor?
Oferta trebuie să identifice exact mașina, anul și numărul de serie, kitul de modificare instalat, interfața testerului, sistemul termic, software-ul, modulele de intrare/ieșire, accesoriile, starea, domeniul de inspecție și asistența pentru livrare.
Potriviți manipulatorul cu celula completă de testare finală a semiconductorilor
Trimiteți pachetul, testerul, temperatura, numărul de locații și cerințele fluxului de producție pentru a analiza echipamentul actual și configurațiile reale ale mașinii.
