EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhMuatkan dan Kenal Pasti
Terima peranti daripada dulang, tiub, pukal, jalur, bingkai filem atau media pengeluaran yang lain.
Integrasi Ujian Akhir Semikonduktor
Sistem Pengendali Ujian untuk Talian Ujian Akhir Semikonduktor
Pengendali ujian semikonduktor menggerakkan peranti yang dibungkus melalui pemuatan, penyaman haba, sentuhan elektrik dan pengisihan berasaskan keputusan. Terokai peralatan yang tersedia dan padankan pengendali, perkakasan penukaran pakej, antara muka penguji dan aliran pengeluaran sebagai satu sel ujian akhir.
Keadaan dan Masa Kini
Kawal orientasi, suhu, kedudukan tapak dan daya sentuhan sebelum pengukuran elektrik.
Ukur Peranti
Penguji menggunakan program elektrik dan mengembalikan maklumat lulus/gagal atau maklumat terperinci tentang tong sampah.
Isih dan Teruskan
Halakan peranti yang diterima dan ditolak ke dalam dulang, tiub, gelendong, tong sampah atau proses hiliran yang betul.
Di Mana Pengendali Sesuai
Bina Pengendali Ujian Di Sekitar Peringkat Ujian Semikonduktor
Peranti yang sama mungkin melalui proses pengisihan wafer, ujian akhir berpakej, ujian peringkat sistem dan saringan kebolehpercayaan. Setiap peringkat menggunakan mekanik, antara muka dan objektif pengeluaran yang berbeza.
Halaman ini memberi tumpuan kepada ujian akhir peranti berpakej dan sistem pengendali yang memuatkan, menyahsuhukan, menghubungi dan menyusun peranti semikonduktor.
Siasati Sebelum Pembungkusan
Sebuah prob meletakkan wafer dan kad prob untuk ujian elektrik.Peralatan Stesen Probeapabila peranti masih berada di atas wafer.
Kendalikan Peranti Berbungkus pada Skala Pengeluaran
Pengendali ujian mengangkut bahagian yang dibungkus, mengawal suhu ujian, membentangkannya kepada penghubung dan menyusun keputusan yang dikembalikan.
Jalankan Beban Kerja Peringkat Aplikasi
Peralatan SLT menilai peranti kompleks di bawah keadaan operasi yang lebih realistik dan mungkin memerlukan seni bina pembawa, soket, haba dan papan yang berbeza.
Skrin untuk Kegagalan Laten
Sistem pembakaran masuk dan kebolehpercayaan menggunakan tekanan suhu, voltan atau beban kerja yang dilanjutkan dan bukannya pengendalian ujian akhir berdaya pemprosesan tinggi biasa.
Peralatan Semasa
Sistem Pengendali Ujian Semikonduktor yang Tersedia
Layari peralatan yang sedang diberikan kepada kategori ini. Sokongan pakej sebenar, modul terma, antara muka ujian, kit penukaran dan aksesori yang disertakan hendaklah disahkan untuk setiap mesin.
Keupayaan kategori tidak sama dengan konfigurasi mesin.
Gunakan halaman produk dan sebut harga untuk mengesahkan seni bina pengendali sebenar dan pilihan yang dibekalkan.
Gunakan halaman produk dan sebut harga untuk mengesahkan seni bina pengendali sebenar dan pilihan yang dibekalkan.
Sistem Ujian Tahap Wafer Turret Teknologi ASM Pasifik SUNBIRD
SUNBIRD menyediakan penyelesaian ujian wafer yang cekap, andal dan fleksibel untuk industri semikonduktor melalui inovasi...
Pengendali ujian ASM MS100 Plus
Sebagai versi MS100 yang dinaik taraf, ASM MS100 Plus juga merupakan peranti untuk menyusun dan menyusun cip berdasarkan wafer...
Dagangan ujian ISMECA NY20
ISMECA NY20 (kini dimiliki oleh Cohu) ialah mesin pengujian dan pengisihan semikonduktor berkelajuan ultra tinggi berputar 20 stesen
Mesin pengisih ASMPT MS90
Mesin penyusun ASM MS90 ialah peranti yang direka untuk penyusunan manik lampu, dengan fungsi penyusunan yang cekap dan tepat. Mesin ini...
Peranti / ProgramKeperluan Pengendalian LazimFokus Pemilihan
Logik, MCU dan IC Isyarat Campuran
Ujian akhir peranti pakej isipadu tinggi.
Dulang, tiub, graviti atau aliran pilih dan letak
Padankan keluarga pakej, kiraan tapak, masa indeks dan antara muka penguji.
Daya pemprosesan dengan sentuhan yang stabil
Imbangkan keselarian, suhu, masa penukaran dan pemulihan jem.
Peranti Kuasa dan Analog
Peranti dengan kepekaan arus, haba atau daya sentuh yang lebih tinggi.
Kawalan terma dan antara muka yang mantap
Periksa kawalan suhu aktif, prestasi kontaktor dan pelesapan kuasa.
Ketepatan terma di bawah beban
Pemanasan sendiri boleh mengubah strategi pengendali dan sentuhan.
MEMS dan Peranti Sensor
Gerakan, tekanan, mikrofon, komponen inersia atau optik.
Rangsangan, orientasi dan integrasi pemeriksaan
Sel mungkin memerlukan fungsi pengaktifan, penentukuran atau penglihatan tambahan.
Ujian serta rangsangan fizikal
Sahkan sama ada pengendali IC standard mencukupi.
WLCSP dan Pakej Tanpa Plumbum
Peranti BGA, QFN, DFN, WLCSP dan pasca gergaji kecil.
Pengendalian bingkai filem, jalur atau ketepatan yang disingulasi
Kerapuhan pakej dan media persembahan boleh menentukan platform.
Penjajaran pic halus dan daya terkawal
Kelengkapan kit ganti menjadi kritikal apabila mendapatkan peralatan terpakai.
Antara Muka Ujian Akhir
Pengendali Mesti Menyambungkan Empat Keperluan Pengeluaran Semikonduktor
Integrasi yang berjaya bergantung pada produk yang memasuki mesin, penguji menerima sentuhan elektrik yang stabil, peranti kekal pada suhu yang diperlukan dan hasil akhir dihalakan dengan betul.
Pakej dan Media Input
Trek, sarang, dulang, tiub, mangkuk, jalur, bingkai filem, muncung dan sistem orientasi mesti sepadan dengan peranti fizikal.
ATE, Ketua Ujian dan Kontaktor
Arah dok, HIFIX, soket atau kontaktor, kiraan tapak, daya dan komunikasi perisian mesti sejajar dengan penguji.
Kawalan Panas, Sejuk dan Aktif
Masa rendaman, penyejuk, pemanas, udara kering, LN₂, pemanasan kendiri peranti dan masa pemulihan mempengaruhi output sel ujian sebenar.
Pengisihan, Data dan Output
Pemetaan tong sampah, pemeriksaan, kebolehkesanan, penandaan dan pengendalian media akhir mesti sesuai dengan aliran bahagian belakang semikonduktor yang lebih luas.
Pilih Peringkat Ujian yang Betul
Pengendali Ujian Akhir, Pengendali SLT atau Sistem Pemeriksaan?
Sistem-sistem ini boleh muncul bersebelahan antara satu sama lain dalam pengeluaran bahagian belakang semikonduktor, tetapi ia tidak melaksanakan tugas yang sama.
Ujian Akhir Elektrik Peranti Berbungkus
Memuatkan, keadaan terma, peranti kenalan dan menyusun semasa ATE melakukan pengukuran elektrik.
Ujian Fungsian Peringkat Sistem
Menjalankan peranti dalam persekitaran seperti papan atau aplikasi dan mungkin menggunakan pembawa, soket dan beban kerja tidak seperti ujian akhir biasa.
Operasi Visi, Penandaan dan Pembungkusan
AOI, pemeriksaan 3D, penandaan, pelekat pita atau kemasan dulang boleh disepadukan dengan platform pengendali tetapi harus dinyatakan secara berasingan.
01
Sahkan Pakej Semikonduktor
Berikan keluarga pakej, dimensi, struktur plumbum atau bola, orientasi, berat dan pelesapan kuasa peranti.
02
Kenal pasti Platform Ujian
Senaraikan sistem ATE, kepala ujian, perkakasan HIFIX atau antara muka sedia ada, penghubung dan kiraan tapak selari yang diperlukan.
03
Tentukan Program Termal
Nyatakan keperluan ambien, panas, sejuk atau tri-suhu, jangkaan rendaman dan sama ada peranti memanas sendiri semasa ujian.
04
Input, Pengisihan dan Output Peta
Terangkan bagaimana bahagian-bahagian memasuki sel, bagaimana tong elektrik perlu diasingkan dan sama ada penandaan, pemeriksaan atau pelekat pita diperlukan.
05
Sahkan Konfigurasi Mesin Sebenar
Untuk peralatan terpakai atau yang telah diubah suai, sahkan kit, perisian, modul terma, antara muka penguji, aksesori dan keadaan operasi yang telah dipasang.
Peralatan Ujian Berkaitan
Teruskan Membina Sel Ujian Semikonduktor
Gunakan halaman ini apabila projek tersebut juga merangkumi penguji teras, sentuhan aras wafer, alat ganti atau kategori peralatan pengendali ujian induk.
KATEGORI TERAS
Peralatan Pengendali Ujian
Layari kategori pengendali yang lebih luas dan bandingkan laluan peralatan berasaskan jalur, turet, graviti dan pilih dan letakkan.
Lihat Pengendali Ujian → UJIAN ELEKTRIKSistem ATE
Semak penguji semikonduktor yang menjana rangsangan, mengukur peranti dan mengembalikan keputusan ujian kepada pengendali.
Terokai Sistem ATE → UJIAN WAFERStesen Probe
Bandingkan peralatan sentuh dan pengukuran aras wafer apabila peranti belum memasuki ujian akhir yang dibungkus.
Terokai Peralatan Probe → ALAT GANTI & SOKONGANBahagian Pengendali Ujian
Cari muncung, papan, motor, sensor dan komponen gantian yang dipilih untuk platform pengendali yang disokong.
Layari Bahagian Pengendali →Soalan Lazim
Soalan Lazim Pengendali Ujian Semikonduktor
Jawapan-jawapan ini merangkumi soalan-soalan integrasi yang biasanya mempengaruhi pemilihan dan sebut harga peralatan ujian akhir.
Apakah yang dilakukan oleh pengendali ujian dalam ujian akhir semikonduktor?
Ia mengangkut peranti yang dibungkus, mengawal orientasi dan suhu, membentangkan setiap peranti kepada penghubung ujian, menerima keputusan ATE dan menyusun peranti ke dalam tong output atau media yang diperlukan.
Adakah pengendali ujian semikonduktor sama seperti ATE?
Tidak. Pengendali melakukan pengendalian mekanikal, penyaman haba, kedudukan sentuhan dan pengisihan. ATE menggunakan program ujian elektrik, mengukur peranti dan mengembalikan keputusan.
Bagaimanakah saya boleh memilih antara ujian akhir dan pengendalian ujian peringkat sistem?
Gunakan pengendali ujian akhir untuk ujian pengeluaran elektrik peranti berpakej konvensional. Pilih sistem SLT apabila peranti mesti berjalan dalam persekitaran seperti papan atau aplikasi dengan soket, pembawa atau beban kerja yang berbeza.
Apakah maklumat yang diperlukan untuk memadankan pengendali dengan pakej IC?
Berikan lukisan pakej, dimensi, orientasi, media input/output, suhu ujian, platform ATE, kepala ujian, kiraan tapak, masa ujian dan operasi pengisihan atau pemeriksaan yang diperlukan.
Bolehkah pengendali ujian terpakai ditukar kepada pakej lain?
Kadangkala, penukaran bergantung pada seni bina mesin, kit perubahan yang tersedia, trek, sarang, muncung, antara muka kontaktor, konfigurasi terma, perisian dan julat mekanikal. Item ini mesti disahkan sebelum pembelian.
Apakah yang perlu disertakan dalam sebut harga pengendali ujian semikonduktor?
Sebut harga tersebut hendaklah mengenal pasti mesin, tahun dan nombor siri yang tepat, kit perubahan yang dipasang, antara muka penguji, sistem terma, perisian, modul input/output, aksesori, keadaan, skop pemeriksaan dan sokongan penghantaran.
Padankan Pengendali dengan Sel Ujian Akhir Semikonduktor Lengkap
Hantar pakej, penguji, suhu, kiraan tapak dan keperluan aliran pengeluaran untuk menyemak konfigurasi peralatan semasa dan mesin sebenar.
