EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xhMuat dan Identifikasi
Menerima perangkat dari baki, tabung, curah, strip, bingkai film, atau media produksi lainnya.
Integrasi Uji Akhir Semikonduktor
Sistem Penanganan Uji untuk Jalur Uji Akhir Semikonduktor
Sebuah unit penanganan uji semikonduktor memindahkan perangkat yang telah dikemas melalui proses pemuatan, pengkondisian termal, kontak listrik, dan penyortiran berdasarkan hasil. Jelajahi peralatan yang tersedia dan cocokkan unit penanganan, perangkat keras konversi kemasan, antarmuka penguji, dan alur produksi sebagai satu sel uji akhir.
Kondisi dan Keadaan Saat Ini
Kontrol orientasi, suhu, posisi lokasi, dan gaya kontak sebelum melakukan pengukuran listrik.
Ukur Perangkat
Penguji menerapkan program kelistrikan dan memberikan hasil lulus/gagal atau informasi detail mengenai kategori pengujian.
Urutkan dan Lanjutkan
Arahkan perangkat yang diterima dan ditolak ke baki, tabung, gulungan, wadah, atau proses hilir yang tepat.
Di mana Handler Berada
Bangun Pengelola Pengujian di Sekitar Tahap Pengujian Semikonduktor
Perangkat yang sama dapat melewati tahap penyortiran wafer, pengujian akhir kemasan, pengujian tingkat sistem, dan penyaringan keandalan. Setiap tahap menggunakan mekanisme, antarmuka, dan tujuan produksi yang berbeda.
Halaman ini berfokus pada pengujian akhir perangkat yang dikemas dan sistem penanganan yang memuat, mengatur suhu, menghubungkan, dan memilah perangkat semikonduktor.
Periksa Sebelum Pengemasan
Alat pemeriksa memposisikan wafer dan kartu pemeriksa untuk pengujian listrik. TinjauPeralatan Stasiun Penyelidikanketika perangkat tersebut masih berada di atas wafer.
Menangani Perangkat yang Dikemas dalam Skala Produksi
Petugas pengujian mengangkut komponen yang telah dikemas, mengontrol suhu pengujian, menyerahkannya kepada petugas pemeriksa, dan menyortir hasil yang dikembalikan.
Menjalankan Beban Kerja Tingkat Aplikasi
Peralatan SLT mengevaluasi perangkat kompleks dalam kondisi operasi yang lebih realistis dan mungkin memerlukan arsitektur pembawa, soket, termal, dan papan yang berbeda.
Lakukan pemeriksaan untuk mendeteksi kegagalan laten.
Sistem burn-in dan keandalan menerapkan tekanan suhu, tegangan, atau beban kerja yang diperpanjang, bukan penanganan pengujian akhir dengan throughput tinggi yang normal.
Peralatan Saat Ini
Sistem Penanganan Uji Semikonduktor yang Tersedia
Telusuri peralatan yang saat ini ditugaskan ke kategori ini. Dukungan paket aktual, modul termal, antarmuka pengujian, kit konversi, dan aksesori yang disertakan harus dikonfirmasi untuk setiap mesin.
Kemampuan kategori tidak sama dengan konfigurasi mesin.
Gunakan halaman produk dan penawaran harga untuk mengkonfirmasi arsitektur handler yang sebenarnya dan opsi yang disediakan.
Gunakan halaman produk dan penawaran harga untuk mengkonfirmasi arsitektur handler yang sebenarnya dan opsi yang disediakan.
Sistem Uji Level Wafer Turret ASM Pacific Technology SUNBIRD
SUNBIRD menyediakan solusi pengujian wafer yang efisien, andal, dan fleksibel untuk industri semikonduktor melalui inovasi...
Penanganan uji ASM MS100 Plus
Sebagai versi yang ditingkatkan dari MS100, ASM MS100 Plus juga merupakan perangkat untuk penyortiran dan pengaturan chip berdasarkan wafer...
ISMECA uji perdagangan NY20
ISMECA NY20 (sekarang dimiliki oleh Cohu) adalah mesin pengujian dan penyortiran semikonduktor berkecepatan sangat tinggi tipe putar dengan 20 stasiun.
Mesin sortir ASMPT MS90
Mesin sortir ASM MS90 adalah perangkat yang dirancang untuk menyortir manik lampu, dengan fungsi penyortiran yang efisien dan akurat. Ini...
Perangkat / ProgramKebutuhan Penanganan KhasFokus Seleksi
IC Logika, MCU, dan Sinyal Campuran
Pengujian akhir perangkat kemasan bervolume tinggi.
Alur baki, tabung, gravitasi, atau ambil-dan-tempatkan
Cocokkan paket keluarga, jumlah situs, waktu pengindeksan, dan antarmuka penguji.
Throughput dengan kontak stabil
Keseimbangan paralelisme, suhu, waktu konversi, dan pemulihan kemacetan.
Power dan Analog Devices
Perangkat dengan sensitivitas arus, panas, atau gaya kontak yang lebih tinggi.
Kontrol termal dan antarmuka yang andal
Periksa kontrol suhu aktif, kinerja kontaktor, dan disipasi daya.
Akurasi termal di bawah beban
Pemanasan sendiri dapat mengubah penanganan dan strategi kontak.
Perangkat MEMS dan Sensor
Komponen gerak, tekanan, mikrofon, inersia, atau optik.
Integrasi stimulus, orientasi, dan inspeksi
Sel tersebut mungkin memerlukan aktuasi, kalibrasi, atau fungsi penglihatan tambahan.
Tes ditambah rangsangan fisik
Konfirmasikan apakah penanganan IC standar sudah memadai.
Paket WLCSP dan Tanpa Kabel
Perangkat BGA, QFN, DFN, WLCSP, dan post-saw berukuran kecil.
Penanganan bingkai film, strip, atau pemisahan presisi
Kerapuhan kemasan dan media presentasi dapat menentukan platform yang digunakan.
Penyelarasan dengan jarak antar lubang yang rapat dan gaya yang terkontrol.
Kelengkapan perlengkapan pengganti menjadi sangat penting saat mencari peralatan bekas.
Antarmuka Uji Akhir
Pengelola Harus Menghubungkan Empat Persyaratan Produksi Semikonduktor
Keberhasilan integrasi bergantung pada produk yang masuk ke mesin, penguji yang menerima kontak listrik yang stabil, perangkat yang tetap berada pada suhu yang dibutuhkan, dan hasil akhir yang dialirkan dengan benar.
Paket dan Media Masukan
Rel, sarang, baki, tabung, mangkuk, strip, bingkai film, nosel, dan sistem orientasi harus sesuai dengan perangkat fisik.
ATE, Kepala Uji, dan Kontaktor
Arah penyambungan, HIFIX, soket atau kontaktor, jumlah lokasi, gaya, dan komunikasi perangkat lunak harus selaras dengan penguji.
Kontrol Panas, Dingin, dan Aktif
Waktu perendaman, pendingin, pemanas, udara kering, LN₂, pemanasan sendiri perangkat, dan waktu pemulihan memengaruhi keluaran sel uji sebenarnya.
Pengurutan, Data, dan Output
Pemetaan bin, inspeksi, ketertelusuran, penandaan, dan penanganan media akhir harus sesuai dengan alur kerja back-end semikonduktor yang lebih luas.
Pilih Tahap Tes yang Tepat
Final Test Handler, SLT Handler, atau Sistem Inspeksi?
Sistem-sistem ini dapat tampak berdampingan dalam produksi bagian belakang semikonduktor, tetapi mereka tidak melakukan tugas yang sama.
Pengujian Akhir Elektrik Perangkat Terpaket
Memuat, mengatur kondisi termal, menghubungkan, dan memilah perangkat sementara ATE melakukan pengukuran listrik.
Pengujian Fungsional Tingkat Sistem
Menjalankan perangkat dalam lingkungan yang menyerupai papan sirkuit atau aplikasi dan dapat menggunakan pembawa, soket, dan beban kerja yang berbeda dari pengujian akhir normal.
Operasi Penglihatan, Penandaan, dan Pengemasan
AOI, inspeksi 3D, penandaan, penempelan pita, atau penyelesaian baki dapat diintegrasikan dengan platform penanganan, tetapi harus ditentukan secara terpisah.
01
Konfirmasikan Paket Semikonduktor
Sebutkan jenis kemasan, dimensi, struktur kaki atau bola, orientasi, berat, dan daya disipasi perangkat.
02
Identifikasi Platform Pengujian
Cantumkan sistem ATE, kepala uji, perangkat keras HIFIX atau antarmuka yang ada, kontaktor, dan jumlah lokasi paralel yang dibutuhkan.
03
Tentukan Program Termal
Sebutkan persyaratan suhu sekitar, panas, dingin, atau tiga suhu, ekspektasi waktu perendaman, dan apakah perangkat memanas sendiri selama pengujian.
04
Input, Pengurutan, dan Output Peta
Jelaskan bagaimana komponen masuk ke dalam sel, bagaimana tempat penyimpanan komponen listrik harus dipisahkan, dan apakah diperlukan penandaan, inspeksi, atau penempelan selotip.
05
Verifikasi Konfigurasi Mesin yang Sebenarnya
Untuk peralatan bekas atau yang telah diperbarui, pastikan kelengkapan perangkat yang terpasang, perangkat lunak, modul termal, antarmuka penguji, aksesori, dan kondisi pengoperasiannya.
Peralatan Uji Terkait
Lanjutkan Pembangunan Sel Uji Semikonduktor
Gunakan halaman ini jika proyek juga mencakup penguji inti, kontak tingkat wafer, suku cadang pengganti, atau kategori peralatan penanganan uji induk.
KATEGORI INTI
Peralatan Penanganan Uji
Telusuri kategori penanganan yang lebih luas dan bandingkan rute peralatan pick-and-place, turret, gravitasi, dan berbasis strip.
Lihat Penanganan Pengujian → UJI LISTRIKSistem ATE
Tinjau alat penguji semikonduktor yang menghasilkan stimulus, mengukur perangkat, dan mengembalikan hasil pengujian kepada operator.
Jelajahi Sistem ATE → UJI WAFERStasiun Penyelidikan
Bandingkan peralatan kontak dan pengukuran tingkat wafer ketika perangkat belum memasuki tahap pengujian akhir pengemasan.
Jelajahi Peralatan Penyelidikan → SUKU CADANG & DUKUNGANKomponen Penanganan Uji
Temukan nozzle, papan sirkuit, motor, sensor, dan komponen pengganti pilihan untuk platform handler yang didukung.
Telusuri Suku Cadang Handler →Pertanyaan Umum
Pertanyaan yang Sering Diajukan (FAQ) tentang Penanganan Uji Semikonduktor
Jawaban-jawaban ini mencakup pertanyaan-pertanyaan integrasi yang biasanya memengaruhi pemilihan dan penawaran peralatan uji akhir.
Apa yang dilakukan oleh seorang test handler dalam pengujian akhir semikonduktor?
Alat ini mengangkut perangkat yang telah dikemas, mengontrol orientasi dan suhu, menyajikan setiap perangkat ke kontaktor pengujian, menerima hasil ATE, dan memilah perangkat ke dalam wadah atau media keluaran yang dibutuhkan.
Apakah test handler semikonduktor sama dengan ATE?
Tidak. Operator melakukan penanganan mekanis, pengkondisian termal, penempatan kontak, dan penyortiran. ATE menerapkan program uji listrik, mengukur perangkat, dan mengembalikan hasilnya.
Bagaimana cara saya memilih antara pengujian akhir dan penanganan pengujian tingkat sistem?
Gunakan penanganan uji akhir untuk pengujian produksi listrik perangkat kemasan konvensional. Pilih sistem SLT (Selective Light Transfer) ketika perangkat harus dijalankan dalam lingkungan seperti papan atau aplikasi dengan soket, pembawa, atau beban kerja yang berbeda.
Informasi apa yang dibutuhkan untuk mencocokkan handler dengan paket IC?
Sertakan gambar kemasan, dimensi, orientasi, media input/output, suhu pengujian, platform ATE, kepala pengujian, jumlah lokasi, waktu pengujian, dan operasi penyortiran atau inspeksi yang diperlukan.
Bisakah handler pengujian yang sudah digunakan dikonversi ke paket lain?
Terkadang, tetapi konversi bergantung pada arsitektur mesin, kit perubahan yang tersedia, rel, dudukan, nosel, antarmuka kontaktor, konfigurasi termal, perangkat lunak, dan jangkauan mekanis. Hal-hal ini harus diverifikasi sebelum pembelian.
Apa saja yang harus disertakan dalam penawaran harga untuk operator pengujian semikonduktor?
Penawaran harga harus mencantumkan detail mesin, tahun pembuatan dan nomor seri, perlengkapan pengganti yang terpasang, antarmuka penguji, sistem termal, perangkat lunak, modul input/output, aksesori, kondisi, cakupan inspeksi, dan dukungan pengiriman.
Cocokkan Handler dengan Sel Uji Akhir Semikonduktor Lengkap
Kirimkan paket, alat uji, suhu, jumlah lokasi, dan persyaratan alur produksi untuk meninjau peralatan yang ada dan konfigurasi mesin yang sebenarnya.
