एएसएम पैसिफिक टेक्नोलॉजी बुर्ज वेफर लेवल टेस्ट सिस्टम सनबर्ड
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उद्धरण प्राप्त करें →एक टरेट टेस्ट और विज़न हैंडलर एक ही कॉन्फ़िगर करने योग्य प्लेटफ़ॉर्म पर सेमीकंडक्टर विद्युत परीक्षण, ऑप्टिकल निरीक्षण, दोष वर्गीकरण और उत्पादन छँटाई को संयोजित करता है। सही सिस्टम पैकेज की सतहों के निरीक्षण, विद्युत परीक्षण की आवश्यकता, इनपुट और आउटपुट मीडिया, और मशीन पर स्थापित कैमरा, प्रकाश व्यवस्था, सॉफ़्टवेयर और परीक्षण स्टेशनों पर निर्भर करता है।
दृष्टि क्षमता का चयन केवल कैमरों की संख्या के आधार पर नहीं, बल्कि पैकेज, दोष के प्रकार और गुणवत्ता मापक मानदंड के आधार पर किया जाना चाहिए। लेड युक्त उपकरण, WLCSP, सेंसर और पावर पैकेज के लिए अलग-अलग ऑप्टिक्स, प्रकाश व्यवस्था, छवि कोण और मापन एल्गोरिदम की आवश्यकता हो सकती है।
लेजर मार्किंग के बाद ओसीआर या कोड रीडिंग, कंट्रास्ट, छूटे हुए निशान, स्थिति और सत्यापन की पुष्टि करें।
खरोंच, संदूषण, फ्लैश, चिपिंग, कॉस्मेटिक सीमाएं और मोल्डिंग दोषों के दृश्य प्रमाणों का मूल्यांकन करें।
लीड की क्षति, पैड संदूषण, मुड़े हुए टर्मिनल, पिच, समतलता और आयामी सहनशीलता का निरीक्षण करें।
कुछ अनुप्रयोगों के लिए मानक दृश्य-प्रकाश इमेजिंग के बजाय अवरक्त या अन्य विशेष विधियों की आवश्यकता होती है।
निरीक्षण का दायरा किसी निश्चित मशीन अनुक्रम तक सीमित नहीं है। पहले आवश्यक सतहों, मापों और पैकिंग जांचों का चयन करें, फिर सत्यापित करें कि आपूर्ति किए गए हैंडलर में आवश्यक कैमरा पोजीशन, ऑप्टिक्स, लाइटिंग और सॉफ्टवेयर लाइसेंस शामिल हैं।
वर्तमान उपकरण संग्रह देखें। एक ही प्लेटफॉर्म की मशीनों में अलग-अलग परीक्षण स्टेशन, कैमरे, ऑप्टिक्स, प्रकाश मॉड्यूल, निरीक्षण लाइसेंस और रूपांतरण उपकरण शामिल हो सकते हैं। निरीक्षण परीक्षण की व्यवस्था करने से पहले प्रत्येक मशीन के कॉन्फ़िगरेशन की पुष्टि कर लें।
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विद्युत परीक्षण में उत्तीर्ण होना यह सिद्ध नहीं करता कि पैकेज की सतह, लीड, निशान या पैकिंग की स्थिति गुणवत्ता मानकों को पूरा करती है। प्रबंधक को दोनों परिणामों के बीच समन्वय स्थापित करना होगा, उनकी जिम्मेदारियों को आपस में मिलाए बिना।
इसका उत्तर परीक्षक, इंटरफेस, कॉन्टैक्टर, परीक्षण कार्यक्रम, स्थिर संपर्क और हैंडलर पर स्थापित वास्तविक परीक्षण स्टेशनों पर निर्भर करता है।
इसका उत्तर कैमरे की स्थिति, लेंस, प्रकाश व्यवस्था, रिज़ॉल्यूशन, अंशांकन, छवि एल्गोरिदम और निरीक्षण विधि पर निर्भर करता है।
छँटाई के नियमों के आधार पर विद्युत संबंधी खराबी, दृश्य संबंधी खराबी, पुनः जाँच, ग्रेडिंग और स्वीकृत आउटपुट को अलग-अलग डिब्बों या पैकेजिंग मार्गों में अलग किया जा सकता है।
दृष्टि निरीक्षण में एक साधारण टॉप-कैमरा जांच या कई पैकेज सतहों और आयामों को मापने वाला मल्टी-स्टेशन सिस्टम शामिल हो सकता है। हैंडलर थ्रूपुट की तुलना करने से पहले आवश्यक निरीक्षण स्टैक का चयन करें।
दिशा निर्धारण, मुद्रित कोड, दिखाई देने वाली क्षति, संदूषण और बुनियादी आयामी जांच के लिए उपयोगी।
इसका उपयोग तब किया जाता है जब पैकेज की ज्यामिति, उभार या लीड की ऊंचाई और आयामी भिन्नता स्वीकृति को प्रभावित करती है।
यह लेड युक्त, लेड रहित, WLCSP, असतत और सेंसर पैकेज के लिए व्यापक दोष स्क्रीनिंग का समर्थन करता है।
सूक्ष्म दरारों, छिपी हुई विशेषताओं, सामग्री के अंतर या पैकेज-विशिष्ट निरीक्षण कार्यों के लिए इसकी आवश्यकता हो सकती है।
बेहतर निरीक्षण प्रदर्शन का मतलब सिर्फ दोषों को खोजना ही नहीं है। इसके लिए स्थिर प्रस्तुति, एक समान प्रकाश व्यवस्था, सही अंशांकन और एक ऐसी विधि की भी आवश्यकता होती है जो वास्तविक विफलताओं को हानिरहित भिन्नता से अलग कर सके।
अभिविन्यास, पॉकेट की स्थिति, चूषण स्थिरता और गति की पुनरावृत्ति छवि की स्थिरता को प्रभावित करती है।
लेंस, कोण, तीव्रता और तरंगदैर्ध्य सतह की फिनिश और दोष के प्रकार से मेल खाने चाहिए।
सीमाएं, मापन सीमाएं और वर्गीकरण नियम वास्तविक पैकेज मानक को प्रतिबिंबित करने चाहिए।
रेसिपी के संस्करणों, अंशांकन की स्थिति और स्वीकृत पैरामीटर परिवर्तनों को रिकॉर्ड करें ताकि रखरखाव या उत्पाद रूपांतरण के बाद भी परिणाम तुलनीय बने रहें।
कैमरों की संख्या और नाममात्र रिज़ॉल्यूशन निरीक्षण क्षमता को साबित नहीं करते। मशीन को स्वीकार करने से पहले, वास्तविक ऑप्टिक्स, प्रकाश व्यवस्था और निरीक्षण प्रक्रिया के तहत प्रतिनिधि अच्छे उपकरणों, ज्ञात दोष वाले नमूनों और सीमा-स्थिति वाले पुर्जों को चलाकर देखें।
सामान्य रूप से सही उपकरण, पुष्ट दोष, सीमा-स्थिति वाले पुर्जे और विभिन्न लॉट से अपेक्षित भिन्नता को शामिल करें। स्वीकृति मानक में शामिल प्रत्येक सतह, अभिविन्यास और दोष श्रेणी को कवर करें।
नमूनों को बार-बार उठाकर, दिशा निर्धारित करके, अनुक्रमणिका बनाकर और इमेजिंग करके देखें। जांचें कि क्या स्थिति में परिवर्तन, गति में बदलाव या लंबे समय तक संचालन से निरीक्षण परिणाम प्रभावित होता है।
अपेक्षित और वास्तविक निर्णयों की तुलना करें, संग्रहीत छवियों और मापों का निरीक्षण करें और पुष्टि करें कि पास, दृश्य विफलता, पुनः जांच और अनिश्चित परिणाम सही आउटपुट मार्ग तक पहुँचते हैं।
कैमरा, लेंस, प्रकाश का प्रकार, तीव्रता, निरीक्षण क्षेत्र, सीमा, मापन विंडो, रेसिपी संस्करण और अंशांकन स्थिति को स्वीकृति रिकॉर्ड के साथ सुरक्षित रखें। इससे रखरखाव, सॉफ़्टवेयर परिवर्तन या पैकेज रूपांतरण के बाद परिणाम को पुनः प्राप्त किया जा सकता है।
ये उत्तर मुख्य निरीक्षण और परीक्षण सीमाओं को परिभाषित करते हैं। अंतिम क्षमता अभी भी वास्तविक मशीन और अनुमोदित निरीक्षण परीक्षण पर निर्भर करती है।
यह मशीन सेमीकंडक्टर उपकरणों को कॉन्फ़िगर करने योग्य स्टेशनों से गुजारती है, जिनमें विद्युत परीक्षण, ऑप्टिकल निरीक्षण, अंकन, छँटाई और अंतिम पैकेजिंग शामिल हो सकते हैं। स्थापित स्टेशन मशीन के अनुसार भिन्न-भिन्न होते हैं।
नहीं। विद्युत परीक्षण उपकरण की विद्युत या कार्यात्मक सीमाओं की जाँच करता है। दृश्य निरीक्षण पैकेज की दिखावट, ज्यामिति, निशान, लीड, पैड, सतहों या पैकिंग की स्थिति की जाँच करता है।
2D निरीक्षण छवि की स्थिति, कंट्रास्ट और दृश्य विशेषताओं का विश्लेषण करता है। 3D निरीक्षण ऊंचाई, समतलता, आकार या स्थलाकृति को मापता है। आवश्यक विधि पैकेज और दोष मानक पर निर्भर करती है।
मशीन में आवश्यक कैमरा पोजीशन, ऑप्टिक्स, लाइटिंग, हैंडलिंग प्रेजेंटेशन और सॉफ्टवेयर होने पर ही छह-तरफा निरीक्षण संभव है। केवल मॉडल परिवार के आधार पर ही छह-तरफा निरीक्षण की उम्मीद नहीं करनी चाहिए।
प्रतिनिधि अच्छे उपकरणों, ज्ञात दोष नमूनों और सीमा-स्थिति भागों को बार-बार मशीन चक्रों से गुजारें। अपेक्षित परिणामों, गलत अस्वीकृतियों, छूटे हुए दोषों, संग्रहित छवियों और आउटपुट रूटिंग की तुलना करें।
पैकेज ड्राइंग, आवश्यक विद्युत परीक्षण, निरीक्षण सतहें, दोष के प्रकार, स्वीकृति सीमाएं, लक्षित यूपीएच, इनपुट और आउटपुट मीडिया, पसंदीदा उपकरण स्थिति और गंतव्य प्रदान करें।
पैकेज, आवश्यक विद्युत परीक्षण, निरीक्षण सतहें, ज्ञात दोष के नमूने, स्वीकृति मानदंड, लक्षित उत्पादन और पसंदीदा उपकरण स्थिति भेजें ताकि उपलब्ध प्रणालियों की वास्तविक अनुप्रयोग के आधार पर समीक्षा की जा सके।
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