Sistema de teste de nível de wafer de torre ASM Pacific Technology SUNBIRD
A SUNBIRD oferece uma solução de teste de wafers eficiente, confiável e flexível para a indústria de semicondutores por meio de inovações...
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Obter cotação →Um manipulador de teste por gravidade alimenta dispositivos encapsulados através de trilhos guiados, libera cada dispositivo sob teste (DUT) em uma posição de contato controlada, troca sinais de início e resultado com o equipamento de teste automatizado (ATE) e direciona o dispositivo de acordo com o resultado do teste. A confiabilidade do resultado depende de todo o percurso, desde o movimento do encapsulamento e a mecânica do êmbolo até o contator, a interface, os recursos do testador e o sistema térmico.
Analise os modelos listados e, em seguida, confirme o kit de trilhos, a quantidade de locais de teste, o êmbolo e o hardware de contato, a interface do testador, os módulos térmicos e a configuração de saída da máquina específica.
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O testador mede o dispositivo sob teste (DUT), mas o controlador controla como o dispositivo chega ao ponto de contato, com que frequência é inserido, se a temperatura correta é atingida e para onde o dispositivo vai após o resultado. Cada função pode alterar a saída efetiva e os resultados aparentes do primeiro teste.
O conjunto deve percorrer o tubo, trilho ou via instalado sem girar, formar pontes, arrastar ou danificar os condutores. O mecanismo de escape deve liberar um dispositivo no momento necessário.
Efeito da falha: obstruções, alimentação dupla e chegada inconsistente impedem o carregamento estável no local de teste.O êmbolo ou mecanismo de posicionamento move o dispositivo sob teste (DUT) para dentro do soquete ou contator com alinhamento, curso e força controlados, liberando-o em seguida sem danificá-lo.
Efeitos de falha: contato intermitente, cabos tortos, desgaste dos contatos e retestes falsos podem reduzir o rendimento útil.O contator, a placa DUT, os cabos, a alimentação e o caminho do sinal devem suportar os recursos do testador e a quantidade de sites ativos. O handshake do manipulador e os dados binários devem estar de acordo com o programa de teste.
Efeito da falha: um manipulador mecanicamente compatível ainda pode ser inutilizável com o ATE selecionado.Quando forem necessários testes a quente ou a frio, os processos de imersão e recuperação devem ser adequados às condições de teste. Após o teste, os dados de aprovação, reprovação, reteste ou classificação devem direcionar o mesmo dispositivo sob teste (DUT) para a saída correta.
Efeito da falha: erro térmico ou mistura de resultados podem invalidar dados elétricos que, de outra forma, estariam corretos.Esta sequência mostra a relação comum entre alimentação, preparação térmica, contato e classificação dos resultados. A máquina real pode omitir a etapa de imersão térmica, usar um módulo de entrada diferente ou fornecer vários locais de teste.
Os dispositivos entram por meio de tubos, carregadores, uma tigela ou outro módulo de entrada instalado.
Guias e mecanismos de escape preservam a orientação e liberam um DUT (dispositivo sob teste) na rota controlada.
Para testes a quente ou a frio, o dispositivo permanece na pista condicionada tempo suficiente para atingir o estado necessário.
Um dispositivo de parada posiciona o dispositivo em teste (DUT) na entrada do local de teste enquanto os próximos dispositivos permanecem em fila.
O êmbolo insere o dispositivo sob teste (DUT) no contator e o equipamento de teste automatizado (ATE) executa o programa de teste.
O manipulador recebe informações de aprovação, reprovação, reteste ou classificação e as associa ao dispositivo em teste (DUT).
Os portões direcionam o dispositivo para o tubo, recipiente ou outro destino correto, sem misturar os resultados.
Problemas de contato podem começar antes mesmo do dispositivo em teste (DUT) alcançar o soquete e podem se estender para além dele, afetando a interface ou a comunicação do testador. A localização do sintoma ajuda a identificar qual camada deve ser verificada.
Posicione um dispositivo corretamente orientado em uma posição de pré-contato repetível.
Encravamentos, chegada inconsistente, alimentação dupla, rotação ou um dispositivo sob teste (DUT) que não se alinha com o êmbolo.Mova o dispositivo sob teste (DUT) para o contato com ele através de um curso, geometria e força controlados.
Inserção irregular, danos na embalagem, desgaste excessivo por contato ou variação entre locais.Crie a conexão elétrica temporária entre os terminais do dispositivo e a interface de teste.
Continuidade intermitente, falha falsa, aumento no reteste, alta resistência de contato ou vida útil limitada.Transmitir energia e sinais entre o contator e o testador, preservando o desempenho elétrico necessário.
Erros de canal, medições instáveis, mapeamento incorreto do local, limitações de integridade do sinal ou indisponibilidade de adaptação do testador.Coordenar o início do teste, o fim do teste, o status do local, o resultado do teste, o reteste e o tratamento de erros.
Dispositivos aguardando no local, roteamento incorreto de contêineres, resultados perdidos ou o manipulador e o testador entrando em estados diferentes.A velocidade de catálogo é apenas um ponto de referência. A produção também depende da duração real do teste, do tempo de indexação mecânica, dos locais paralelos utilizáveis, da recuperação térmica, da estabilidade do contato, dos travamentos, dos novos testes e da troca de produto. O fator limitante varia de acordo com a aplicação.
Quando o teste elétrico é breve, a separação do dispositivo, o posicionamento, o movimento do êmbolo, a transferência do resultado e o encaminhamento da saída ocupam a maior parte do ciclo.
Sites ativos adicionais podem melhorar a utilização do testador quando o dispositivo sob teste (DUT) permanece em teste por mais tempo. Essa vantagem desaparece se os canais do testador, o mapeamento dos sites, o hardware de contato ou a capacidade térmica não suportarem a operação paralela.
Compare sites utilizáveis e resultados estáveis e de boa qualidade, não o número máximo de sites anunciados pela plataforma.
Os testes a quente ou a frio exigem capacidade suficiente de pista condicionada e tempo de recuperação para manter os locais de teste abastecidos com os dispositivos sob teste (DUTs) no estado necessário.
Os testes em temperatura ambiente, quente e fria exigem hardware instalado diferente e evidências distintas. Uma família de plataformas pode suportar uma ampla faixa de temperatura, enquanto uma máquina específica pode conter apenas uma das configurações disponíveis.
Mantenha o manuseio e o contato estáveis do dispositivo no ambiente de fábrica, monitorando a temperatura quando o dispositivo sob teste (DUT) ou a fonte de alimentação de teste puderem gerar aquecimento localizado.
Local de teste e rastreamento padrão, sensores onde necessário, condições de fluxo de ar e hardware de contato. Autoaquecimento do dispositivo sob teste (DUT), deriva durante testes prolongados, alteração do contato com a temperatura e condições ambientais não controladas.Aqueça e mantenha o dispositivo aquecido antes do contato, depois mantenha as condições necessárias durante todo o período de teste e recupere-as antes da chegada do próximo dispositivo em teste.
Aquecedores, trilho ou câmara climatizada, sensores, isolamento, controlador, sistema de purga ou fluxo de ar e calibração. Imersão insuficiente, ultrapassagem, recuperação lenta, limites da embalagem e queda de temperatura durante o contato.Resfrie o dispositivo em teste (DUT), mantenha a rota seca, mantenha um contato estável em baixa temperatura e faça a transição entre as configurações fria, ambiente e quente quando necessário.
Equipamentos relacionados à refrigeração ou ao nitrogênio líquido (LN2), quando aplicável, ar seco, câmara ou trilho isolado, sensores, controlador e conexões de utilidades. Condensação, formação de gelo, recuperação instável, contaminação por umidade, demanda de energia e um ponto de ajuste da câmara que não representa a temperatura real do dispositivo sob teste.A mesma família de manipuladores por gravidade pode ser preparada para diferentes embalagens, quantidades de itens, direções de contato e condições térmicas. Uma recomendação útil começa com a aplicação, e não apenas com o nome do modelo.
Forneça o desenho da embalagem, dimensões, terminais, orientação, tipo de tubo ou alimentador, condição de entrada e meio de saída necessário.
Indique o modelo do ATE, placa de carga ou placa DUT, requisitos do contator, tipo de sinal, mapeamento do local e método de comunicação com o manipulador.
Informe a duração real do teste, o resultado desejado, a taxa esperada de reteste, o paralelismo preferido e se uma configuração de local único ou de múltiplos locais já está qualificada.
Defina as condições de temperatura ambiente (quente, fria ou tripla), a dissipação de energia do dispositivo sob teste (DUT), o requisito de imersão, os limites da instalação e as utilidades de resfriamento ou ar seco disponíveis.
Indique o número de categorias ou compartimentos, o percurso de reteste, os requisitos de código de barras ou dados, a frequência de troca de produto e qualquer equipamento de rastreamento, kit ou contato existente.
Essas respostas esclarecem as questões específicas de alimentação por gravidade, contato, capacidade e térmicas que afetam a seleção de equipamentos.
Trata-se de um manipulador de teste final de semicondutores que utiliza transporte por gravidade guiado para alimentar dispositivos encapsulados, posiciona cada dispositivo sob teste (DUT) em um ponto de contato, comunica-se com o testador e classifica o dispositivo de acordo com o resultado do teste.
Um procedimento comum envolve carregamento, orientação e separação, imersão térmica opcional, posicionamento controlado, contato do êmbolo, teste elétrico, transferência de resultados e classificação da saída.
Não. O pacote deve se mover de forma confiável pela pista instalada, sem rotação, formação de pontes, atrito excessivo ou danos aos terminais. Analise o desenho do pacote, a mídia e o kit do dispositivo em conjunto.
Não. O testador e a interface devem suportar execução paralela, cada local deve permanecer estável e as seções de alimentação, térmica e de saída devem manter a mesma taxa. Locais inutilizáveis ou retestes de contato podem anular o benefício esperado.
Algumas plataformas podem ser configuradas para operação em temperatura ambiente, quente, fria ou tripla. Confirme as especificações da câmara ou pista climatizada, o hardware de aquecimento e resfriamento, os requisitos de ar seco, os sensores, o controlador, os utilitários e a calibração da máquina oferecida.
Forneça o desenho da embalagem, os meios de entrada, o testador, o método de contato, o tempo de teste, os locais necessários, a saída ideal desejada, as condições de temperatura, a potência do dispositivo sob teste (DUT), os níveis de saída e quaisquer ferramentas de embalagem existentes.
Verificaremos se a máquina oferecida é compatível com os trilhos instalados, o sistema de contato, a interface do testador e a configuração térmica.
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