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IC Prueba Moakãha
ASM Tecnología Pacífico Torreta Sistema de Prueba Nivel de Oblea SUNBIRD
SUNBIRD ome'ë peteî solución eficiente, confiable ha flexible prueba de oblea industria semiconductor-pe guarã innov...
Prueba Final Semiconductor Envasado rehegua
IC Prueba Handlers Semiconductor Envasado-pe g̃uarã Prueba Final
Peteĩ manejador de prueba IC opresenta umi dispositivo semiconductor envasado pe probador-pe condición mecánica ha térmica controlada-pe, upéi ombohasa según resultado eléctrico. Tembiporu jeporavo odepende paquete, medio de producción, temperatura prueba, conteo sitio activo, interfaz de contacto ha probador semiconductor ojeporúmava línea-pe.
Eñepyrũ Paquete IC ha Célula de Prueba Requisitos reheve
Ko'ã irundy insumo omboty dirección equipo oñembojoja mboyve marca, modelo, rendimiento titular térã condición de compra.
01 / Paquete rehegua
Paquete ha Dimensiones rehegua
Paquete familia, cuerpo tuichakue, terminal estructura, superficie recogida rehegua, dispositivo mbarete ha área sensitiva.
02 / Ñe’ẽmondoha
Formato de Entrada ha Salida rehegua
Bandeja, tubo, cinta, a granel, tira, marco de película térã ambue portador de producción oipytyvõva.
03 / Térmica rehegua
Temperatura de Prueba oñeikotevẽva
Prueba ambiente, haku, ro'ysã térã tri-temperatura orekóva umi condición de remojo ha recuperación oñeikotevëva.
04 / Célula de Prueba rehegua
Sitios, Tiempo de Prueba ha Tester
Umi tenda activo, prueba eléctrica pukukue, método de contacto, recurso probador ha interfaz oñeikotevẽva.
Tembiporu Ojeguerekóva
Ejesareko IC Prueba Handler Tembipuru Ko’áĝagua rehe
Ehechamína umi máquina ojeguerekóva, upéi emoañete kit de paquete instalado, configuración térmica, umi sitio de prueba activo, interfaz probador, software ha umi accesorio oikeva’ekue unidad individual-pe.
Pe modelo réra ha’e pe punto oñepyrũhaguánte.Peteĩchagua plataforma ikatu oñembosakoꞌi opaichagua paquete-pe g̃uarã, formato medio rehegua, temperatura rango ha sitio jepapa. Embojoja máquina configuración añetegua embojoja mboyve umi cotización.
IC Prueba Moakãha
ASM MS100 Plus jesarekoha jesarekoha
MS100 versión oñembopyahúva ramo, ASM MS100 Plus haꞌehína avei peteĩ tembipuru ojejapo hag̃ua chip clasificación ha arreglo oñemopyendáva oblea...
IC Prueba Moakãha
ISMECA prueba oñenegosia NY20
ISMECA NY20 (ko'ágã Cohu mba'e) ha'e peteĩ máquina de prueba ha clasificación semiconductor giratorio ultra-alta velocidad orekóva 20 estaciones
IC Prueba Moakãha
Máquina de clasificación ASMPT rehegua MS90
Máquina de clasificación ASM MS90 haꞌehína peteĩ tembipuru ojejapóva oñembojaꞌo hag̃ua lámpara ryru rehegua, oguerekóva tembiaporã clasificación rehegua hekopete ha hekopete. Kóva...
Paquete-Peteĩha Jeporavo
Eñepyrũ Paquete IC reheve, Ndaha’éi pe Marca Handler reheve
Peteĩchagua familia manejador rehegua ikatu oipuru iñambuéva kits dispositivo rehegua, contactor, medio rape ha hardware térmico. Peteĩ paquete dibujo ha umi dispositivo dimensión añetegua omeꞌe jepi peteĩ punto ñepyrũ iporãvéva peteĩ paquete réra amplio-gui añoite.
Paquetes Moldeado Sin Plomo rehegua
QFN ha DFN
Preocupación típica manejo rehegua
Umi cuerpo de paquete fino, almohadilla expuesta, orientación, geometría bolsillo ha colocación repetible sitio de contacto-pe.
Omoañete ojeporavo mboyve
Contorno corporal, grueso, disposición terminal, lado expuesto-pad, formato bandeja térã tubo, tono contactor ha visión requisito.
Wafer-Nivel ha Chip-Escala rehegua
WLCSP ha CSP rehegua
Preocupación típica manejo rehegua
Michĩeterei hete tuichakue, protección pelota térã topetón rehegua, superficie pickup rehegua, alineación visión rehegua ha posicionamiento contacto estable rehegua.
Omoañete ojeporavo mboyve
Tete tuichakue, mapa de pelota, paquete yvatekuépe, formato portador, restricciones superficiales, lanzamiento sitio ha método de inspección oñeikotevëva.
Paquetes Area-Array rehegua
BGA ha LGA
Preocupación típica manejo rehegua
Paquete warpage, bola protección, alineación toma, fuerza de contacto, dispositivo potencia ha respuesta térmica prueba jave.
Omoañete ojeporavo mboyve
Paquete dimensión, terminal mapa, yvatekuépe, potencia ñemboyke, tenda ojehekahápe jepapa ha toma térã contactor ojeporavóva.
Paquetes de Plomo rehegua
QFP, TSOP ha TSSOP rehegua
Preocupación típica manejo rehegua
Protección plomo rehegua, compatibilidad bandeja térã tubo rehegua, orientación paquete rehegua, prevención atasco ha apyka repetible pe prueba tenda-pe.
Omoañete ojeporavo mboyve
Plomo jepapa, pitch, paquete grueso, medio de entrada, cubo de salida ha oñeikotevẽpa inspección plomo térã orientación rehegua.
Dispositivos Específicos de Aplicación rehegua
Poder, MEMS ha Sensores rehegua
Preocupación típica manejo rehegua
Fuerza de contacto yvateve, dispositivo haku, estructura sensitiva, umi mba e ojejeruréva estímulo térã orientación ha inspección especial.
Omoañete ojeporavo mboyve
Carga eléctrica, autocalentamiento, estímulo presión térã movimiento, fragilidad paquete ha interfaz prueba-célula oñeikotevëva.
Umi Formato Paralelo Yvate rehegua
Tira ha Marco de Película
Preocupación típica manejo rehegua
Ojejapo prueba singulación completa mboyve térã directamente peteĩ marco-gui oñemantene aja mapa exactitud ha protección paquete rehegua.
Omoañete ojeporavo mboyve
Dimensión tira térã marco rehegua, mapa unidad rehegua, dispositivo tono, temperatura prueba rehegua, disposición sitio rehegua ha ruta salida aguas abajo rehegua.
Salida de Prueba Efectiva rehegua
IC Prueba Rendimiento Ha'e Hetave Handler UPH-gui
Peteĩ manejador pyaꞌe ndojapói ijeheguiete peteĩ célula prueba pyaꞌe. Salida efectiva oñemohenda tiempo de prueba eléctrica, umi sitio paralelo ojeporúva, tiempo índice ha contacto, recuperación temperatura, normas de retest ha estabilidad interfaz de contacto.
Tiempo de Prueba Eléctrica rehegua
Umi programa prueba ipukuvéva ikatu ocupar pe sitio hetave ciclo aja jepe pe manejador omomýi pyaꞌeramo umi dispositivo.
Umi Sitio Activo ojeporúva
Pe prueba paralela ombohetave salida pe testador, programa, hardware interfaz ha contactor-kuéra oipytyvõramo añoite peteĩchagua conteo sitio rehegua.
Índice ha Tiempo de Contacto
Pickup, orientación, colocación, inserción, liberación ha movimiento osëva odetermina mba'éichapa ojeporu eficientemente pe probador.
Recuperación Térmica ha Reprueba rehegua
Tiempo de remojo, dispositivo autocalentamiento, recontacto, retest, atasco ha manejo de salida ikatu omoambue producción unidad iporãva añeteguáva.
Embojoja célula prueba paha dispositivo envasado completo eiporavo rangue peteĩ IC prueba mboguatahára peteĩ cifra máximo rendimiento mecánico-gui añoite.
Condiciones de Prueba rehegua
Temperatura ha Contacto Ombojoaju va’erã Programa de Prueba IC ndive
Pe manejador ogueruvaꞌerã pe dispositivo condición oñeikotevẽvape ha opresenta constantemente interfaz eléctrica-pe. Koꞌã mokõi área odetermina jepi ikatúpa ojepuru jey peteĩ plataforma oĩmava térã oikotevẽpa peteĩ configuración iñambuéva.
Conversión ha Máquina Verificación rehegua
Peteĩ Paquete ñembohasápe Osegiva’erã Tembiporu Rape Hekoitépe
Oñemoambuéramo ambue IC paquete-pe ikatu oityvyro carga, dispositivo transporte, hardware contacto, control térmico, visión, software ha clasificación paha. Umi punto peteĩchagua ojehechava’erã oñembojojávo peteĩ máquina ojeguerekóva térã ojeporúva.
Paquete Ñemoambue
Mbaʼépa ikatu tekotevẽ okambia
Peteĩ bandeja térã toma pyahu sa’i ha’e suficiente ijehegui. Ehechamína hardware ha software entrada presentación guive salida paha peve.
01
Medio de entrada ha salida rehegua
Hardware bandeja, tubo, cinta, tazón, tira térã marco rehegua oaseptavaꞌerã pe paquete pyahu ha oñongatuvaꞌerã orientación.
02
Kit de manejo de dispositivos rehegua
Umi tembiporu recogida rehegua, nido, pista, bolsillo, escape, émbolo ha guía ikatu oikotevẽ oñemyengovia térã oñemoambue.
03
Ñe’ẽmondo joajuha
Pe toma, contactor, tablero de carga, pitch sitio rehegua, hardware de acoplamiento ha fuerza de contacto ojoaju vaꞌerã pe dispositivo pyahúpe.
04
Configuración térmica rehegua
Pe hardware calefacción, enfriamiento ha control DUT rehegua oñeinstaláva oipytyvõva’erã pe rango temperatura ha potencia pyahu.
05
Visión ha orientación rehegua
Umi cámara, iluminación, marca moñe’ẽrã, orientación pin-one ha receta inspección rehegua ikatu oikotevẽ peteĩ configuración iñambuéva.
06
Software ha validación rehegua
Umi receta, lógica bin, comunicación tester rehegua, límite de seguridad ha validación ingeniería rehegua oñembotýta osẽ mboyve.
Máquina Ñemboheko Añetegua
Mba’épa Oñemoañeteva’erã Cotización mboyve
Mokõi máquina peteĩchagua plataforma familia-gui ikatu oguereko iñambuéva opción instalada ha iñambuéva valor conversión rehegua.
01
Máquina identidad rehegua
Fabricante, modelo completo, número de serie, año de producción, generación controlador ha condición ko'ágãgua.
02
Oñemoĩva’ekue kit paquete rehegua
Paquete oipytyvõva, rango tamaño, cargador, descargador, nido, bandeja, tubo ha umi parte conversión específica paquete rehegua.
03
Umi tenda oñeha’ãva ha interfaz
Conteo activo sitio rehegua, arreglo de cabeza de prueba, toma térã contactor, hardware de acoplamiento ha comunicación tester rehegua.
04
Hardware térmico rehegua
Módulo ambiente, haku, ro'ysã térã tri-temperatura, sensor, equipo de enfriamiento ha utilidad oñeikotevëva.
05
Software ha opción rehegua
PC, sistema operativo, versión aplicación rehegua, licencia, receta, copia de seguridad, opción visión ha trazabilidad rehegua.
06
Oike alcance de suministro rehegua
Accesorios, kits de repuesto, manual, registro disponible, embalaje, instalación ha soporte oikéva cotización-pe.
Porandu Joguaha rehegua
IC Prueba Ñemboguatarã FAQ
Compatibilidad paha odepende paquete IC rehe, máquina oñemboguapýva ñemboheko, interfaz tester rehegua, temperatura oñeikotevẽva ha producción meta rehe.
Mbaꞌe IC paquete-pa ikatu oipytyvõ peteĩ test handler?
Pytyvõ odepende arquitectura handler ha kit conversión instalado rehe. Umi aplicación ojeporúva jepivegua apytépe oĩ QFN, DFN, WLCSP, BGA, CSP, LGA, QFP, TSOP, TSSOP, paquete ha sensor mbarete rehegua, ha katu ojehechavaꞌerã umi dimensión exacta, medio ha interfaz contacto rehegua máquina peteĩteĩvape.
Mba’épa pe prueba IC multi-sitio rehegua.
Pe prueba heta tendápe opresenta heta tembipuru pe probador-pe peteĩ jave. Ikatu omoporãve rendimiento umi recurso probador rehegua, programa de prueba, diseño sitio rehegua, contactor ha sistema térmico oipytyvõ jave peteĩchagua nivel de funcionamiento paralelo.
Mba’érepa peteĩ IC prueba manejador oikotevẽ control temperatura rehegua.
Heta tembipuru oñehaꞌarõvaꞌerã condición ambiente, haku térã roꞌysãme ojehecha hag̃ua mbaꞌeichaitépa ombaꞌapo. Pe manejador ikatu ocondiciona pe paquete contacto mboyve ha omantene temperatura DUT oñeikotevẽva prueba eléctrica aja.
Ikatúpa oñembohasa peteĩ IC prueba ñangarekoha ambue paquete-pe g̃uarã?
Ikatu ikatu plataforma oipytyvõ jave paquete oñeikotevẽva, medio, sitio diseño, condición temperatura ha interfaz tester. Conversión ikatu oike hardware jekarga, tembipuru tembipururã, socket, contactor, jehecha, software ha jegueroviauka.
Mba épa pe relación oguerekóva pe IC manejador ha pe testador.
Pe manejador omomýi, omohenda, omohenda ha omohenda IC oñembohysýiva. Pe probador semiconductor rehegua omoĩ estímulo eléctrico, omedi pe ñembohovái ha omeꞌejey pe resultado ojeporúva binning térã enrutamiento salida rehegua.
Mba’e marandupa oñeikotevẽ peteĩ cotización manejador de prueba IC-pe g̃uarã.
Omeꞌe modelo ojeiporavóva ojekuaáramo, dibujo paquete IC rehegua, medio de entrada ha salida, temperatura de prueba, conteo sitio de blanco, tiempo aproximado prueba rehegua, plataforma probador rehegua, condición equipo oñeikotevẽva, cantidad ha destino.
Embojoaju IC Paquete, Programa de Prueba ha Configuración handler Añetéva
Emondo dibujo paquete rehegua, formato medio rehegua, temperatura oñeikotevẽva, conteo sitio activo rehegua, tiempo de prueba ha modelo prueba rehegua ikatu hag̃uáicha ojehecha umi tembipuru ojeguerekóva célula prueba paha oñehaꞌãva rehe.
