பேக்கேஜ் செய்யப்பட்ட குறைக்கடத்தி இறுதி சோதனைக்கான IC சோதனை கையாளுபவர்கள்

ஆதரவு என்பது ஹேண்ட்லர் கட்டமைப்பு மற்றும் நிறுவப்பட்ட மாற்று கிட் ஆகியவற்றைப் பொறுத்தது. பொதுவான பயன்பாடுகளில் QFN, DFN, WLCSP, BGA, CSP, LGA, QFP, TSOP, TSSOP, பவர் பேக்கேஜ்கள் மற்றும் சென்சார்கள் ஆகியவை அடங்கும், ஆனால் துல்லியமான பரிமாணங்கள், மீடியா மற்றும் தொடர்பு இடைமுகம் ஆகியவற்றை ஒவ்வொரு இயந்திரத்திலும் சரிபார்க்க வேண்டும்.

பல தளச் சோதனையானது, ஒரே நேரத்தில் பல சாதனங்களைச் சோதனையாளரிடம் வழங்குகிறது. சோதனையாளரின் வளங்கள், சோதனை நிரல், தள அமைப்பு, தொடர்பிகள் மற்றும் வெப்ப அமைப்பு ஆகியவை ஒரே அளவிலான இணைச் செயல்பாட்டை ஆதரிக்கும்போது, ​​இது செயல் திறனை மேம்படுத்த முடியும்.

பல சாதனங்களின் செயல்திறனைச் சரிபார்க்க, அவற்றைச் சாதாரண வெப்பநிலை, சூடான அல்லது குளிர்ச்சியான சூழல்களில் சோதிக்க வேண்டும். கையாளுபவர், சாதனத்தைத் தொடுவதற்கு முன்பு அதன் உறையைச் சீரமைத்து, மின் சோதனையின் போது தேவையான சோதனைக்குட்பட்ட சாதனத்தின் (DUT) வெப்பநிலையைப் பராமரிக்கலாம்.

தேவையான தொகுப்பு, ஊடகம், தள அமைப்பு, வெப்பநிலை நிலை மற்றும் சோதனைக் கருவி இடைமுகம் ஆகியவற்றை அந்த இயங்குதளம் ஆதரிக்கும்போது இது சாத்தியமாகலாம். இந்த மாற்றத்தில் வன்பொருள், சாதனக் கருவிகள், சாக்கெட்டுகள், காண்டாக்டர்கள், விஷன், மென்பொருள் மற்றும் சரிபார்ப்பு ஆகியவற்றை ஏற்றுதல் அடங்கும்.

ஹேண்ட்லர், பேக்கேஜ் செய்யப்பட்ட ஐசியை நகர்த்தி, சீரமைத்து, நிலைநிறுத்தி, வரிசைப்படுத்துகிறது. செமிகண்டக்டர் மின் தூண்டல்களைச் செலுத்தி, அதன் பிரதிபலிப்பை அளந்து, வகைப்படுத்துதல் அல்லது வெளியீட்டு வழித்தடத்திற்குப் பயன்படுத்தப்படும் முடிவைத் திருப்பி அனுப்புகிறது.

விரும்பிய மாடல் தெரிந்தால், IC பேக்கேஜ் வரைபடம், உள்ளீடு மற்றும் வெளியீட்டு ஊடகங்கள், சோதனை வெப்பநிலை, இலக்கு தளங்களின் எண்ணிக்கை, தோராயமான சோதனை நேரம், சோதனைக் கருவி தளம், தேவையான உபகரணத்தின் நிலை, அளவு மற்றும் சேருமிடம் ஆகியவற்றை வழங்கவும்.