Economize até 70% em peças SMT – Em estoque e prontas para envio
Obter cotação →Um manipulador de teste de circuitos integrados apresenta os dispositivos semicondutores encapsulados ao testador sob condições mecânicas e térmicas controladas e, em seguida, os encaminha de acordo com o resultado elétrico. A seleção do equipamento depende do encapsulamento, do meio de produção, da temperatura de teste, da quantidade de sítios ativos, da interface de contato e do testador de semicondutores já utilizado na linha de produção.
Família de encapsulamento, tamanho do corpo, estrutura do terminal, superfície de captação, alimentação do dispositivo e áreas sensíveis.
Bandeja, tubo, fita, a granel, tira, moldura de filme ou outro suporte de produção.
Testes em temperatura ambiente, quente, fria ou tripla, com as condições de imersão e recuperação necessárias.
Locais ativos, duração do teste elétrico, método de contato, recursos do testador e requisitos de interface.
Analise as máquinas disponíveis e, em seguida, confirme o kit de instalação, a configuração térmica, os locais de teste ativos, a interface do testador, o software e os acessórios incluídos em cada unidade.
A SUNBIRD oferece uma solução de teste de wafers eficiente, confiável e flexível para a indústria de semicondutores por meio de inovações...
Como uma versão atualizada do MS100, o ASM MS100 Plus também é um dispositivo para classificação e organização de chips com base no wafer...
A ISMECA NY20 (agora pertencente à Cohu) é uma máquina rotativa de teste e classificação de semicondutores de ultra-alta velocidade com 20 estações.
A máquina de triagem ASM MS90 é um dispositivo projetado para a triagem de LEDs de lâmpadas, com funções de triagem eficientes e precisas. Esta...
A mesma família de manipuladores pode usar diferentes kits de dispositivos, contatores, caminhos de mídia e componentes térmicos. Um desenho da embalagem e as dimensões reais do dispositivo geralmente fornecem um ponto de partida melhor do que apenas um nome genérico da embalagem.
Corpos de embalagem finos, almofadas expostas, orientação, geometria do bolso e posicionamento repetível no local de contato.
Formato do corpo, espessura, disposição dos terminais, lado da almofada exposta, formato de bandeja ou tubo, espaçamento entre os contatores e requisito de visibilidade.
Tamanho reduzido, proteção contra impactos e bolas, superfície de captação, alinhamento visual e posicionamento de contato estável.
Dimensões do corpo, mapa da bola, altura da embalagem, formato do suporte, restrições de superfície, inclinação do local e método de inspeção necessário.
Empenamento da embalagem, proteção da esfera, alinhamento do soquete, força de contato, potência do dispositivo e resposta térmica durante o teste.
Dimensões da embalagem, mapa de terminais, altura, dissipação de energia, número de locais de destino e tomada ou contator selecionado.
Proteção contra chumbo, compatibilidade com bandejas ou tubos, orientação da embalagem, prevenção de travamentos e encaixe repetível no local do teste.
Quantidade de chumbo, espaçamento, espessura da embalagem, meio de entrada, recipientes de saída e se é necessária inspeção de chumbo ou de orientação.
Maior força de contato, aquecimento do dispositivo, estruturas sensíveis, requisitos de estímulo ou orientação e inspeção especiais.
Carga elétrica, autoaquecimento, estímulo de pressão ou movimento, fragilidade da embalagem e a interface necessária da célula de teste.
Testes antes da separação completa ou diretamente da estrutura, mantendo a precisão do mapa e a proteção da embalagem.
Dimensões da tira ou moldura, mapa da unidade, espaçamento do dispositivo, temperatura de teste, layout do local e rota de saída a jusante.
Um manipulador rápido não cria automaticamente uma célula de teste rápida. O desempenho efetivo é determinado pelo tempo de teste elétrico, pelos locais paralelos utilizáveis, pelo tempo de indexação e contato, pela recuperação de temperatura, pelas regras de reteste e pela estabilidade da interface de contato.
Programas de teste mais longos podem ocupar o site durante a maior parte do ciclo, mesmo quando o manipulador move os dispositivos rapidamente.
O teste paralelo aumenta a produção somente quando o testador, o programa, o hardware de interface e os contatores suportam a mesma quantidade de locais.
A coleta, a orientação, o posicionamento, a inserção, a liberação e o movimento de saída determinam a eficiência com que o testador é utilizado.
O tempo de imersão, o autoaquecimento do dispositivo, o recontato, o reteste, os bloqueios e o manuseio da saída podem alterar a produção real de unidades boas.
Compare a célula de teste final do dispositivo encapsulado completo, em vez de selecionar um manipulador de teste de CI com base apenas em um valor máximo de produção mecânica.
O operador deve levar o dispositivo à condição necessária e apresentá-lo de forma consistente à interface elétrica. Essas duas áreas geralmente determinam se uma plataforma existente pode ser reutilizada ou se precisa de uma configuração diferente.
A mudança para um encapsulamento de CI diferente pode afetar o carregamento, o transporte do dispositivo, o hardware de contato, o controle térmico, a visão, o software e a triagem final. Os mesmos pontos devem ser verificados ao comparar uma máquina disponível ou usada.
Uma nova bandeja ou tomada raramente é suficiente por si só. Analise o hardware e o software desde a apresentação da entrada até a saída final.
Bandejas, tubos, fitas, tigelas, tiras ou ferragens de molduras devem aceitar a nova embalagem e preservar sua orientação.
Ferramentas de coleta, ninhos, trilhos, bolsos, mecanismos de escape, êmbolos e guias podem precisar de substituição ou ajuste.
A tomada, o contator, a placa de carga, a inclinação do local, o hardware de acoplamento e a força de contato devem ser compatíveis com o novo dispositivo.
Os sistemas de aquecimento, refrigeração e controle do dispositivo em teste (DUT) instalados devem suportar a nova faixa de temperatura e potência.
Câmeras, iluminação, leitura de marcas, orientação do pino um e procedimentos de inspeção podem exigir uma configuração diferente.
As receitas, a lógica de classificação, a comunicação com o testador, os limites de segurança e a validação de engenharia devem ser concluídos antes da liberação.
Duas máquinas da mesma família de plataforma podem ter opções instaladas diferentes e valores de conversão diferentes.
Fabricante, modelo completo, número de série, ano de fabricação, geração do controlador e estado atual.
Pacotes suportados, gama de tamanhos, carregadores, descarregadores, encaixes, bandejas, tubos e peças de conversão específicas para cada embalagem.
Número de locais ativos, disposição da cabeça de teste, soquetes ou contatores, hardware de acoplamento e comunicação do testador.
Módulos para temperatura ambiente, quente, fria ou tripla, sensores, equipamentos de refrigeração e utilidades necessárias.
PC, sistema operacional, versão do aplicativo, licenças, receitas, backups, opções de visão e rastreabilidade.
Acessórios, kits de peças sobressalentes, manuais, registros disponíveis, embalagem, instalação e suporte estão incluídos no orçamento.
A compatibilidade final depende da embalagem do circuito integrado, da configuração da máquina instalada, da interface do testador, dos requisitos de temperatura e da meta de produção.
O suporte depende da arquitetura do manipulador e do kit de conversão instalado. As aplicações comuns incluem QFN, DFN, WLCSP, BGA, CSP, LGA, QFP, TSOP, TSSOP, encapsulamentos de potência e sensores, mas as dimensões exatas, o meio de encapsulamento e a interface de contato devem ser verificados em cada máquina específica.
O teste em múltiplos locais apresenta vários dispositivos ao testador simultaneamente. Isso pode melhorar a produtividade quando os recursos do testador, o programa de testes, o layout do local, os contatores e o sistema térmico suportam o mesmo nível de operação paralela.
Muitos dispositivos precisam ser testados em condições ambientais, quentes ou frias para verificar seu desempenho. O operador pode condicionar a embalagem antes do contato e manter a temperatura necessária do dispositivo sob teste (DUT) durante o teste elétrico.
Isso pode ser possível quando a plataforma suporta o pacote, a mídia, o layout do local, as condições de temperatura e a interface do testador necessários. A conversão pode envolver o carregamento de hardware, ferramentas do dispositivo, soquetes, contatores, visão, software e validação.
O manipulador move, condiciona, posiciona e classifica o circuito integrado encapsulado. O testador de semicondutores aplica estímulos elétricos, mede a resposta e retorna o resultado usado para classificação ou roteamento de saída.
Forneça o modelo preferido, se conhecido, o desenho da embalagem do CI, os meios de entrada e saída, a temperatura de teste, a quantidade de locais de teste, o tempo aproximado de teste, a plataforma de teste, as condições necessárias do equipamento, a quantidade e o destino.
Envie o desenho da embalagem, o formato da mídia, os requisitos de temperatura, a quantidade de locais ativos, o tempo de teste e o modelo do testador para que o equipamento disponível possa ser verificado em relação à célula de teste final pretendida.
Por que tantas pessoas escolhem trabalhar com a GeekValue?
Nossa marca está se espalhando de cidade em cidade, e inúmeras pessoas me perguntam: "O que é GeekValue?". Ela surge de uma visão simples: potencializar a inovação chinesa com tecnologia de ponta. Este é o espírito da marca de melhoria contínua, oculto em nossa busca incansável por detalhes e no prazer de superar expectativas a cada entrega. Esse trabalho artesanal e dedicação quase obsessivos não são apenas a persistência de nossos fundadores, mas também a essência e o calor da nossa marca. Esperamos que você comece aqui e nos dê a oportunidade de criar a perfeição. Vamos trabalhar juntos para criar o próximo milagre "zero defeitos".
DetalhesEntre em contato com um especialista em vendas
Entre em contato com nossa equipe de vendas para explorar soluções personalizadas que atendam perfeitamente às necessidades do seu negócio e esclarecer quaisquer dúvidas que você possa ter.
© Todos os direitos reservados. Suporte técnico: TiaoQingCMS
EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xh