EN
id
sk
sr
sv
it
pt
bn
ms
be
nl
fr
th
vi
ru
ja
ko
de
hy
az
bs
bg
my
cs
da
dv
el
et
fil
fi
ga
gl
gn
he
hi
km
hr
hu
is
kn
rw
lo
lv
lt
lb
lg
mi
mt
ne
no
ny
or
om
per
pl
ro
sa
so
es
sw
ta
tr
uk
ur
cy
xh
מטפל בדיקות IC
מערכת בדיקת מפלס פרוסות צריח של ASM Pacific Technology SUNBIRD
SUNBIRD מספקת פתרון יעיל, אמין וגמיש לבדיקת פרוסות סיליקון (wafers) לתעשיית המוליכים למחצה באמצעות חדשנות...
מבחן סופי של מוליכים למחצה ארוזים
מטפלי בדיקת IC עבור בדיקה סופית של מוליכים למחצה ארוזים
מטפל בדיקות IC מציג התקני מוליכים למחצה ארוזים לבוחן תחת תנאים מכניים ותרמיים מבוקרים, ולאחר מכן מנתב אותם בהתאם לתוצאה החשמלית. בחירת הציוד תלויה באריזה, במדיום הייצור, בטמפרטורת הבדיקה, בספירת האתרים הפעילים, בממשק המגע ובבודק המוליכים למחצה שכבר נמצא בשימוש בקו.
התחל עם חבילת ה-IC ודרישות תא הבדיקה
ארבעת הקלטים הללו מצמצמים את כיוון הציוד לפני השוואה בין מותג, דגם, תפוקה ראשית או תנאי רכישה.
01 / חבילה
אריזה ומידות
משפחת מארזים, גודל גוף, מבנה מסוף, משטח קליטה, הספק המכשיר ואזורים רגישים.
02 / מדיה
פורמט קלט ופלט
מגש, צינור, סרט, נפח, רצועה, מסגרת סרט או נושא ייצור נתמך אחר.
03 / תרמי
טמפרטורת בדיקה נדרשת
בדיקת סביבה, חום, קור או שלוש טמפרטורות עם תנאי השרייה וההתאוששות הנדרשים.
04 / תא בדיקה
אתרים, זמן בדיקה ובודק
אתרים פעילים, משך בדיקה חשמלית, שיטת מגע, משאבי בודקים ודרישות ממשק.
ציוד זמין
עיין בציוד הנוכחי של מטפלי בדיקות IC
סקור את המכונות הזמינות, לאחר מכן אשר את ערכת החבילה המותקנת, תצורת התרמית, אתרי הבדיקה הפעילים, ממשק הבודק, התוכנה והאביזרים הכלולים ביחידה הספציפית.
שם הדגם הוא רק נקודת ההתחלה.אותה פלטפורמה עשויה להיות מוכנה עבור חבילות שונות, פורמטי מדיה, טווחי טמפרטורות ומספר אתרים שונים. יש להשוות את תצורת המכונה בפועל לפני השוואת הצעות מחיר.
מטפל בדיקות IC
מטפל בדיקות ASM MS100 Plus
כגרסה משודרגת של ה-MS100, ה-ASM MS100 Plus הוא גם מכשיר למיון וסידור שבבים המבוסס על ופלים...
מטפל בדיקות IC
עסקאות מבחן ISMECA NY20
ה-ISMECA NY20 (כיום בבעלות Cohu) היא מכונת בדיקה ומיון במהירות גבוהה במיוחד של מוליכים למחצה סיבובית בת 20 תחנות.
מטפל בדיקות IC
מכונת מיון ASMPT MS90
מכונת מיון ASM MS90 היא מכשיר המיועד למיון חרוזי מנורה, עם פונקציות מיון יעילות ומדויקות. מכשיר זה...
בחירה ראשונה בחבילה
התחל עם חבילת ה-IC, לא עם מותג המטפל
אותה משפחת מטפלים עשויה להשתמש בערכות התקנים שונות, מגענים, נתיבי מדיה וחומרה תרמית. שרטוט חבילה ומידות המכשיר בפועל בדרך כלל מספקים נקודת התחלה טובה יותר מאשר שם חבילה כללי בלבד.
חבילות יצוקות ללא עופרת
QFN ו-DFN
דאגה אופיינית לטיפול
גופי מארז דקים, פדים חשופים, כיוון, גיאומטריית כיס ומיקום חוזר באתר המגע.
אישור לפני הבחירה
מתאר גוף, עובי, פריסת הדקים, צד משטח חשוף, פורמט מגש או צינור, פסיעה של המגע ודרישת ראייה.
רמת פרוסה וקנה מידה של שבבים
WLCSP ו-CSP
דאגה אופיינית לטיפול
גודל גוף קטן מאוד, הגנה מפני כדור או מכות, משטח איסוף, יישור ראייה ומיקום מגע יציב.
אישור לפני הבחירה
גודל גוף, מפת כדור, גובה חבילה, פורמט מנשא, מגבלות פני השטח, גובה אתר ושיטת בדיקה נדרשת.
חבילות מערך אזורי
BGA ו-LGA
דאגה אופיינית לטיפול
עיוות חבילה, הגנה על כדור, יישור שקעים, כוח מגע, הספק המכשיר ותגובה תרמית במהלך הבדיקה.
אישור לפני הבחירה
מידות החבילה, מפת הדקים, גובה, פיזור הספק, ספירת אתרי היעד ושקע או מגען שנבחרו.
חבילות עם עופרת
QFP, TSOP ו-TSSOP
דאגה אופיינית לטיפול
הגנה מפני עופרת, תאימות למגש או צינור, כיוון האריזה, מניעת חסימות וישיבה חוזרת באתר הבדיקה.
אישור לפני הבחירה
ספירת לידים, פסיעה, עובי האריזה, מדיית קלט, סלי פלט והאם נדרשת בדיקת לידים או כיוון.
מכשירים ספציפיים ליישום
כוח, MEMS וחיישנים
דאגה אופיינית לטיפול
כוח מגע גבוה יותר, חום המכשיר, מבנים רגישים, דרישות גירוי או כיוון ובדיקה מיוחדים.
אישור לפני הבחירה
עומס חשמלי, חימום עצמי, גירוי לחץ או תנועה, שבירות החבילה והממשק הנדרש בין תא הבדיקה.
פורמטים מקבילים גבוהים
רצועת ומסגרת סרט
דאגה אופיינית לטיפול
בדיקה לפני סינגולציה מלאה או ישירות ממסגרת תוך שמירה על דיוק המפה והגנת החבילה.
אישור לפני הבחירה
מידות רצועה או מסגרת, מפת יחידה, מרווח התקן, טמפרטורת בדיקה, פריסת אתר ונתיב פלט במורד הזרם.
פלט בדיקה אפקטיבי
תפוקת בדיקת IC היא יותר מ-UPH של המטפל
מטפל מהיר אינו יוצר אוטומטית תא בדיקה מהיר. הפלט האפקטיבי מעוצב על ידי זמן הבדיקה החשמלית, אתרים מקבילים שמישים, זמן אינדקס ומגע, שחזור טמפרטורה, כללי בדיקה חוזרת ויציבות ממשק המגע.
זמן בדיקה חשמלית
תוכניות בדיקה ארוכות יותר יכולות לתפוס את האתר במשך רוב המחזור, גם כאשר המטפל מזיז את המכשירים במהירות.
אתרים פעילים שמישים
בדיקות מקבילות מגדילות את התפוקה רק כאשר הבודק, התוכנית, חומרת הממשק והמגעים תומכים באותה ספירת אתרים.
אינדקס וזמן מגע
איסוף, כיוון, מיקום, הכנסה, שחרור ותנועת פלט קובעים את יעילות ניצול הבודק.
התאוששות תרמית ובדיקה חוזרת
זמן ההשריה, חימום עצמי של המכשיר, מגע חוזר, בדיקה חוזרת, חסימות וטיפול בפלט יכולים לשנות את הייצור בפועל של יחידת טובין.
השווה את תא הבדיקה הסופי המלא של ההתקן הארוז במקום לבחור מטפל בדיקת IC מנתון תפוקה מכנית מקסימלי בלבד.
תנאי בדיקה
הטמפרטורה והמגע חייבים להתאים לתוכנית בדיקת ה-IC
על המטפל להביא את המכשיר למצב הנדרש ולהציגו באופן עקבי לממשק החשמלי. שני תחומים אלה קובעים לעתים קרובות האם ניתן לעשות שימוש חוזר בפלטפורמה קיימת או שדרושה תצורה שונה.
המרה ואימות מכונה
המרת חבילה חייבת לעקוב אחר נתיב ההתקן המלא
מעבר למארז מעגלים משולבים אחר עשוי להשפיע על טעינה, שינוע המכשיר, חומרת מגע, בקרת חום, ראייה, תוכנה ומיון סופי. יש לבדוק את אותן נקודות בעת השוואת מכונה זמינה או משומשת.
המרת חבילה
מה שאולי צריך להשתנות
מגש או שקע חדשים לעיתים רחוקות מספיקים בפני עצמם. סקור את החומרה והתוכנה מהצגת הקלט ועד לפלט הסופי.
01
מדיה קלט ופלט
חומרת המגש, הצינור, הסרט, הקערה, הרצועה או המסגרת חייבת לקבל את האריזה החדשה ולשמור על כיוונה.
02
ערכת טיפול במכשיר
ייתכן שיהיה צורך להחליף או לכוונן כלי איסוף, קינים, מסילות, כיסים, מחסומים, בוכנות ומדריכים.
03
ממשק קשר
השקע, המגע, לוח העומס, גובה המרחק באתר, חומרת העגינה וכוח המגע חייבים להתאים להתקן החדש.
04
תצורה תרמית
חומרת החימום, הקירור ובקרת ה-DUT המותקנת חייבת לתמוך בטווח הטמפרטורות ובהספק החדשים.
05
חזון ואוריינטציה
מצלמות, תאורה, קריאת סימנים, כיוון פין אחד ומתכוני בדיקה עשויים לדרוש הגדרה שונה.
06
תוכנה ואימות
יש להשלים מתכונים, לוגיקת סל, תקשורת עם בודקים, מגבלות בטיחות ואימות הנדסי לפני השחרור.
תצורת המכונה בפועל
מה לוודא לפני הצעת מחיר
שתי מכונות מאותה משפחת פלטפורמות עשויות להיות בעלות אפשרויות מותקנות שונות וערך המרה שונה.
01
זהות מכונה
יצרן, דגם מלא, מספר סידורי, שנת ייצור, דור הבקר ומצב נוכחי.
02
ערכת חבילה מותקנת
חבילות נתמכות, טווח גדלים, מעמיסים, פורקים, קינים, מגשים, צינורות וחלקי המרה ספציפיים לחבילה.
03
אתרי בדיקה וממשק
ספירת אתרים פעילים, סידור ראש בדיקה, שקעים או מגענים, חומרת עגינה ותקשורת עם בודקים.
04
חומרה תרמית
מודולים של סביבה, חום, קור או שלוש טמפרטורות, חיישנים, ציוד קירור ותשתיות נדרשות.
05
תוכנה ואפשרויות
מחשב, מערכת הפעלה, גרסת יישום, רישיונות, מתכונים, גיבויים, אפשרויות ראייה ומעקב.
06
היקף אספקה כלול
אביזרים, ערכות חילוף, מדריכים, תיעוד זמין, אריזה, התקנה ותמיכה כלולים בהצעת המחיר.
שאלות של הקונה
שאלות נפוצות בנושא מטפל בדיקות IC
התאימות הסופית תלויה בחבילת ה-IC, בתצורת המכונה המותקנת, בממשק הבודק, בדרישת הטמפרטורה וביעד הייצור.
אילו חבילות IC יכול מטפל בדיקות לתמוך?
התמיכה תלויה בארכיטקטורת המטפל ובערכת ההמרה המותקנת. יישומים נפוצים כוללים QFN, DFN, WLCSP, BGA, CSP, LGA, QFP, TSOP, TSSOP, חבילות כוח וחיישנים, אך יש לבדוק את המידות המדויקות, המדיה וממשק המגע בכל מכונה בנפרד.
מהי בדיקת IC רב-אתרית?
בדיקה מרובת אתרים מציגה מספר התקנים בפני הבודק בו זמנית. היא יכולה לשפר את התפוקה כאשר משאבי הבודק, תוכנית הבדיקה, פריסת האתר, המגעים ומערכת התרמית תומכים באותה רמת פעולה מקבילית.
מדוע מטפל בדיקות IC זקוק לבקרת טמפרטורה?
יש לבדוק התקנים רבים בתנאי סביבה, חמים או קרים כדי לאמת את ביצועיהם. המטפל עשוי להתנות את החבילה לפני המגע ולשמור על טמפרטורת ה-DUT הנדרשת במהלך הבדיקה החשמלית.
האם ניתן להמיר מטפל בדיקות IC עבור חבילה אחרת?
ייתכן שזה אפשרי כאשר הפלטפורמה תומכת בחבילה, במדיה, במבנה האתר, בתנאי הטמפרטורה ובממשק הבודק הנדרשים. ההמרה יכולה לכלול טעינת חומרה, כלי עבודה למכשירים, שקעים, מגענים, ראייה, תוכנה ואימות.
מה הקשר בין מטפל ה-IC לבודק?
המטפל מזיז, מתקן, ממקם וממיין את המעגל המודפס הארוז. בודק המוליכים למחצה מפעיל גירויים חשמליים, מודד את התגובה ומחזיר את התוצאה המשמשת לניתוב פלט או binning.
איזה מידע נדרש לקבלת הצעת מחיר למטפל בדיקות IC?
ספקו את הדגם המועדף אם ידוע, שרטוט של מארז ה-IC, מדיית קלט ופלט, טמפרטורת בדיקה, ספירת אתרי יעד, זמן בדיקה משוער, פלטפורמת בודקים, מצב הציוד הנדרש, כמות ויעד.
התאם את חבילת ה-IC, תוכנית הבדיקה ותצורת המטפל בפועל
שלח את שרטוט האריזה, פורמט המדיה, דרישת הטמפרטורה, ספירת האתרים הפעילים, זמן הבדיקה ודגם הבודק כדי שניתן יהיה לבדוק את הציוד הזמין מול תא הבדיקה הסופי המיועד.
