La ISMECA NY20 (ora di proprietà di Cohu) è una macchina rotativa ad altissima velocità a 20 stazioni per il collaudo e la selezione di semiconduttori, caratterizzata da tempi di collaudo ridotti, elevata produttività e costi contenuti. Rappresenta un modello fondamentale per la produzione in serie di dispositivi discreti, LED e circuiti integrati di potenza medio-bassa.
I. Principio di funzionamento (elaborazione parallela rotativa)
La NY20 utilizza una tavola rotante di precisione a 20 stazioni, raggiungendo la completa automazione tramite "rotazione ad alta velocità + elaborazione parallela":
Alimentazione: Alimentatore vibrante/alimentazione a binario lineare con funzioni di posizionamento visivo e correzione dell'assetto.
Rotazione: 20 stazioni ruotano in modo sincrono, completando in sequenza l'ispezione ottica a sei lati → rilevamento dei difetti a infrarossi → test elettrici → marcatura → smistamento.
Azioni principali
Visione: telecamera ad alta velocità della piattaforma NV-Core + penetrazione a infrarossi, in grado di rilevare l'aspetto, le dimensioni e la presenza di crepe nascoste.
Test: fino a 8 stazioni di test parallele completano i test CC/parametrici.
Smistamento: Classificazione in base a superamento/non superamento/grado, con confezionamento in bobine/tubi.
Ciclo chiuso dei dati: la piattaforma di digital twin PAICe fornisce un monitoraggio in tempo reale e gli algoritmi di intelligenza artificiale correggono automaticamente i parametri.
II. Specifiche principali (Configurazione standard 2026)
1. Capacità e postazioni di lavoro
Numero di postazioni di lavoro: 20 postazioni di lavoro parallele
Capacità massima: 50.000 UPH (unità/ora) (leader del settore)
Postazioni di prova: fino a 8 (test in parallelo)
Tempo medio tra gli interventi di manutenzione (MTBA): >120 minuti, elevata stabilità
2. Compatibilità del pacchetto
Dimensioni: QFN/DFN 0,3×0,6 mm ~ 12×12 mm; SOT/SC/SOD 1,0×0,6 mm ~ 6×6 mm; SO/TSSOP/TO/D2PAK/LED
Tipologie: Componenti discreti, LED, circuiti integrati analogici, dispositivi di potenza (da bassa a media potenza)
3. Capacità di ispezione e collaudo
Sistema di visione: piattaforma NV-Core, ispezione ottica e a infrarossi su sei lati.
Ispezione 3D: 3D Flex® (opzionale), misurazione della topografia 3D di sfere/protuberanze
Rilevamento di difetti a infrarossi: penetra nei wafer di silicio per rilevare crepe/microfratture interne.
Test elettrici: test in corrente continua (IV), test parametrici, supporta test a tre temperature (-40℃~+150℃) (opzionale)
4. Struttura meccanica e interconnessione
Dimensioni (L×P×A): circa 1600×1400×1700 mm
Peso: circa 1.000 kg
Metodi di comunicazione: SECS/GEM, gemello digitale PAICe (standard Industria 4.0)
Tempo di cambio formato: 20-60 minuti, adattabile a linee di produzione miste
III. Funzioni principali (scenari applicativi)
Il sistema NY20 è focalizzato sul collaudo finale del packaging back-end dei semiconduttori. Le sue funzioni principali consistono nel completare i test elettrici, l'ispezione estetica, la classificazione e il confezionamento di chip/dispositivi. Le applicazioni tipiche includono:
Dispositivi discreti: MOSFET, diodi, transistor, transistor per piccoli segnali (produzione su larga scala)
LED: LED a montaggio superficiale/a foro passante, mini LED (smistamento ad altissima velocità)
Circuiti integrati analogici/a segnale misto: circuiti integrati per la gestione dell'alimentazione (PMIC), sensori, amplificatori operazionali (da bassa a media potenza)
Elettronica di consumo: circuiti integrati per telefoni cellulari/IoT, moduli Bluetooth/Wi-Fi (tempi di prova brevi)
Elettronica automobilistica (nozioni di base): fari, sensori a bassa potenza (scenari non ad alta affidabilità)
IV. Funzioni principali
1. Integrazione end-to-end ad altissima velocità
Un unico punto di controllo: Caricamento → Ispezione su sei lati → Rilevamento difetti a infrarossi → Test elettrici → Marcatura → Smistamento → Imballaggio
Elaborazione parallela: 20 postazioni di lavoro in funzione simultaneamente; un singolo dispositivo può sostituire due normali dispositivi seriali.
2. Ispezione visiva avanzata NV-Core
Copertura completa su sei lati: ispezione dell'aspetto, delle dimensioni e dei difetti su tutti e quattro i lati (superiore/inferiore).
Penetrazione a infrarossi: rileva crepe interne, vuoti e fessure nascoste nei materiali al silicio, migliorando la resa.
OCR/Codice a barre: riconoscimento della marcatura laser, tracciabilità del codice QR
3. Test elettrici multimodali
Test in parallelo: fino a 8 postazioni di test, con una significativa riduzione dei tempi di test (<100 ms).
Copertura dei parametri: test CC (IV), test dei parametri, test a tre temperature (opzionale)
4. Smistamento e confezionamento intelligenti
Ordinamento multilivello: fino a 16 livelli, classificati per parametro/resa
Metodi di confezionamento dei prodotti: bobina, tubo, pallet
Cambio automatico della bobina: il sistema di cambio automatico della bobina ARC riduce i tempi di inattività.
5. Industria 4.0 e intelligenza artificiale
PAICe Digital Twin: monitoraggio in tempo reale, diagnostica remota, manutenzione predittiva
DI-Core Data Intelligence: analisi della resa, ottimizzazione dei processi, avviso di anomalie
Algoritmi di intelligenza artificiale: identificazione automatica del tipo di difetto, correzione della deriva dei parametri e autoapprendimento per i cambi di tipo.
V. Vantaggi principali (confronto con NY32 / Concorrenti)
1. Il re della capacità, efficienza ineguagliabile.
50.000 UPH, il 67% più veloce di NY32 (30.000 UPH), la prima scelta per dispositivi discreti/produzione di massa di LED
**Tempi di test brevi (<100 ms)** Efficienza imbattibile in diversi scenari
2. Rapporto costo-efficacia estremamente elevato, costo più basso
Costo unitario di produzione inferiore del 30% rispetto a NY32, la soluzione più economica per la produzione di massa.
Manutenzione semplice, componenti universali, bassi costi operativi a lungo termine.
3. Flessibilità e adattabilità, cambio rapido
Copertura di tutti i tipi di confezioni, dalle ultra-piccole da 0,3×0,6 mm alle medie e grandi dimensioni da 12×12 mm.
Cambio rapido in 20-60 minuti, adattabile a linee di produzione miste multi-varietà e a piccoli lotti
4. Elevata stabilità, rendimento garantito
MTBA > 120 min, funzionamento continuo > 720 ore senza guasti
Rilevamento a 6 lati + infrarossi, tasso di difetti non rilevati <0,01%, elevata resa ≥99,8%
5. Dimensioni compatte, implementazione flessibile
15% più piccolo del NY32, ingombro ridotto, adatto a layout di linee di produzione ad alta densità
VI. Raccomandazioni per la selezione
NY20 è la soluzione preferita: dispositivi discreti, LED, circuiti integrati analogici, tempi di test brevi, produzione di massa ultraelevata, priorità di costo
NY32 è preferibile: dispositivi RF/di potenza, WLCSP/die, elevata affidabilità di livello automobilistico, lunghi tempi di test
Il modello NY32W è preferito per: die ultrasottili (50 μm), dispositivi a banda larga (SiC/GaN), packaging con telaio in film.


