La DISCO DFG8830 è una macchina completamente automatizzata per l'assottigliamento e la lucidatura di materiali duri e fragili, lanciata dalla DISCO Corporation del Giappone. Il suo obiettivo principale è l'assottigliamento efficiente e a basso impatto di materiali duri e fragili di terza generazione per semiconduttori/ottica, come SiC e zaffiro. Caratterizzata da un'architettura a 4 assi e 5 stadi, bilancia elevata produttività e alta precisione, affermandosi come macchina di riferimento per l'assottigliamento di wafer duri e fragili da 6-8 pollici.
I. Posizionamento centrale e scenari applicativi
1. Posizionamento del nucleo
Una macchina completamente automatizzata per la lucidatura e l'assottigliamento, progettata specificamente per materiali ad alta durezza e fragilità (SiC, zaffiro, ceramica, vetro, ecc.), che risolve i problemi di bassa efficienza di lavorazione, elevati danni e bassa resa delle apparecchiature tradizionali.
2. Applicazioni tipiche
Semiconduttori: assottigliamento di wafer di potenza SiC/GaN (6-8 pollici), assottigliamento di substrati di zaffiro (chip LED).
Ottica: Assottigliamento di vetro ottico, substrati ceramici e materiali a infrarossi.
Confezionamento avanzato: assottigliamento di wafer compositi con substrati di supporto in vetro/ceramica (spessore totale ≤ 3,5 mm).
3. Taglie compatibili
Wafer lavorati: Φ4/5/6 pollici (Φ massimo 150 mm).
Substrati di supporto: Φ5/6/8 pollici (compatibili con substrati da 8 pollici che supportano wafer da 6 pollici).
II. Struttura generale e configurazione del nucleo
1. Architettura generale
Configurazione: 4 mandrini + 5 tavole portautensili + 1 tavola rotante, che integrano l'intero processo di carico, rettifica, pulizia, asciugatura e scarico, occupando solo 3,5 m², risultando compatte ed efficienti.
Dimensioni (L×P×A): 1400×2500×2000 mm; Peso: circa 6000 kg.
2. Componenti principali
(1) Sistema mandrino (4 assi, Z1-Z4)
Potenza: Z1-Z3 sono 6,3 kW (elevata rigidità, coppia elevata, adatti per carichi pesanti su materiali duri e fragili); Z4 è l'asse di finitura. Velocità di rotazione: 1000-4000 min⁻¹ (potenza costante, adatta per sgrossatura/finitura).
Mola abrasiva: mola diamantata standard da Φ300 mm (diametro elevato, elevata velocità di asportazione del materiale, adatta a materiali duri e fragili).
(2) Sistema del tavolo da lavoro
5 piani di lavoro con ventose e 1 tavola rotante consentono la lavorazione in parallelo e il funzionamento continuo, con una capacità produttiva oraria (UPH) tre volte superiore a quella delle apparecchiature a singolo asse (come la DFG8340).
L'adsorbimento sottovuoto e la precisione di posizionamento di ±2 μm garantiscono che la TTV (deviazione totale dello spessore) del wafer dopo l'assottigliamento sia ≤2 μm.
(3) Sistema di controllo
Interfaccia operativa: GUI touch da 15 pollici, funzionamento basato su icone, supporta il monitoraggio in tempo reale, la memorizzazione dei parametri e gli allarmi anomali.
Nucleo di controllo: servomeccanismo ad alta precisione + circuito chiuso a reticolo, accuratezza del controllo dello spessore ±0,1 μm, supporta l'assottigliamento a livello di micron (fino a 50 μm). 3. Moduli chiave
Modulo di rettifica: divisione del lavoro su 4 assi (Z1 rettifica grossolana → Z2 rettifica media → Z3 rettifica fine → Z4 lucidatura/finitura), che consente di completare più processi in un'unica operazione di serraggio, riducendo i danni dovuti alla movimentazione.
Modulo di pulizia e asciugatura: nebulizzazione di acqua pura + asciugatura ad aria ionica dopo la levigatura, senza lasciare residui o aloni d'acqua, in conformità con i requisiti di pulizia dei semiconduttori.
Caricamento e scaricamento automatici: doppie scatole per materiali (25 wafer per scatola), identificazione automatica di wafer/substrati, riducendo l'intervento manuale.
III. Principio di funzionamento e flusso del processo
1. Principio di macinazione
Utilizza la rotazione del wafer e il metodo di rettifica in avanzamento: il wafer ruota ad alta velocità con il piano di lavoro e la mola diamantata avanza assialmente, rimuovendo il materiale tramite taglio abrasivo e microfrattura. Per materiali duri e fragili, la rimozione della fragilità è il metodo principale, integrato dalla rimozione plastica, con un controllo della profondità delle cricche ≤5 μm.
2. Flusso di processo standard
Caricamento: Un braccio robotico preleva il wafer dalla scatola dei materiali → lo posiziona → il sistema di aspirazione lo deposita sul piano di lavoro.
Macinazione grossolana (Z1): Elevata velocità di asportazione (50-100 μm/min), assottigliamento rapido fino allo spessore target + 20 μm.
Levigatura media (Z2): Velocità di rimozione media (20-50 μm/min), riduzione dello strato danneggiato allo spessore target + 5 μm.
Rettifica fine (Z3): bassa velocità di asportazione (5-10 μm/min), TTV ≤ 2 μm, strato danneggiato ≤ 2 μm.
Lucidatura/Finitura superficiale (Z4): Finitura a specchio, rugosità superficiale Ra ≤ 0,1 μm.
Pulizia e asciugatura: getto di acqua pura → asciugatura ad aria ionica → scarico nel contenitore del materiale.
3. Supporto al flusso di elaborazione del substrato: si adatta a wafer compositi con substrato in vetro/ceramica (spessore totale ≤ 3,5 mm), l'adsorbimento sottovuoto del substrato protegge il lato anteriore del wafer, levigando solo il lato posteriore, risolvendo i problemi di deformazione e rottura dei wafer ultrasottili.
IV. Vantaggi tecnologici fondamentali
1. Elevata capacità di adattamento a materiali duri e fragili
Mandrino ad alta potenza (6,3 kW) + mola diamantata di grande diametro, che triplica l'efficienza di lavorazione di SiC/zaffiro e prolunga la durata della mola del 50%.
Processo di rettifica a basso impatto: strato danneggiato ≤2μm, resa ≥99%, di gran lunga superiore ai tradizionali processi di lappatura.
2. Elevata capacità produttiva (4 assi, 5 tavoli da lavoro)
Elaborazione parallela: 4 assi che lavorano simultaneamente, 5 piani di lavoro che ruotano in continuo, UPH≥30 wafer (SiC da 6 pollici), 3 volte la velocità delle apparecchiature a singolo asse.
Completamente automatizzato: carico, scarico, macinazione, pulizia e asciugatura integrati; funzionamento continuo senza presidio per 24 ore.
3. Elevata precisione e alta stabilità
Controllo dello spessore: ±0,1 μm, TTV ≤ 2 μm, conforme ai requisiti dei wafer di SiC di grado automobilistico.
Struttura rigida: corpo in ghisa + design di smorzamento delle vibrazioni, vibrazioni ≤0,5μm, nessuna deriva di precisione durante il funzionamento a lungo termine. 4. Adattabilità flessibile e bassi costi operativi
Compatibilità multi-formato: compatibile con wafer da 6 pollici e substrati da 8 pollici, consentendo un utilizzo versatile e riducendo gli investimenti in apparecchiature.
Processo ecocompatibile: utilizza solo acqua pura, eliminando l'inquinamento causato dai fanghi di lucidatura; le acque reflue possono essere scaricate direttamente, riducendo i costi operativi del 30%.
V. Tabella dei parametri tecnici chiave
Valore del parametro della tabella
Dimensioni del wafer di lavorazione: Φ4/5/6 pollici (Φ massimo 150 mm)
Dimensioni del substrato di supporto Φ5/6/8 pollici
Numero di mandrini / Potenza 4 assi, Z1-Z3: 6,3 kW
Velocità del mandrino 1000-4000 min⁻¹
Specifiche della mola abrasiva Φ300mm Mola diamantata
Precisione del controllo dello spessore: ±0,1 μm
TTV (Deviazione dello spessore totale) ≤2μm
Rugosità superficiale Ra≤0,1μm
Capacità (SiC da 6 pollici) UPH≥30 wafer
Dimensioni complessive della macchina (L×P×A) 1400×2500×2000 mm
Peso approssimativo: 6000 kg
Superficie calpestabile 3,5㎡
VI. Confronto con apparecchiature simili (DFG8830 vs DFG8340)
Tabella comparativa Articolo DFG8830 (4 assi, 5 piani di lavoro) DFG8340 (1 asse, 2 stadi)
Configurazione mandrini: 4×6,3kW, divisione sgrossatura/finitura/lucidatura: 1×4,2kW, processo singolo
Capacità: UPH≥30 wafer (SiC da 6 pollici), UPH≤10 wafer (SiC da 6 pollici)
Precisione di elaborazione: TTV≤2μm, strato danneggiato≤2μm, TTV≤5μm, strato danneggiato≤5μm
Materiali idonei: SiC, zaffiro, wafer compositi (con substrato), wafer di silicio, ceramiche a bassa durezza
Legacy: 3,5㎡, 2㎡
Scenari di applicazione: Produzione di massa, materiali ad alta durezza e fragili; Piccoli lotti, wafer di silicio/materiali a bassa durezza
VII. Sintesi e valore per il settore
La DISCO DFG8830, con la sua architettura a 4 assi e 5 stadi, il mandrino ad alta potenza e il processo a basso danneggiamento, è diventata un'apparecchiatura di riferimento per l'assottigliamento di semiconduttori di terza generazione (SiC/GaN) e substrati ottici in zaffiro, risolvendo i problemi del settore relativi a bassa efficienza, elevato danneggiamento e bassa resa nella lavorazione di materiali duri e fragili. In settori come i veicoli a energia alternativa, le comunicazioni 5G e l'illuminazione a LED, la DFG8830 contribuisce alla produzione di massa di dispositivi di potenza in SiC e chip LED in zaffiro, spingendo l'industria dei semiconduttori verso bandgap più ampi, profili più sottili e prestazioni superiori.



