Sistema di prova del livello wafer della torretta ASM Pacific Technology SUNBIRD
SUNBIRD offre una soluzione di test dei wafer efficiente, affidabile e flessibile per l'industria dei semiconduttori grazie a innovazioni...
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Richiedi un preventivo →Un sistema di movimentazione per test a gravità alimenta i dispositivi confezionati attraverso binari guidati, rilascia ciascun DUT in una posizione di contatto controllata, scambia segnali di inizio e di risultato con l'ATE e instrada il dispositivo in base all'esito del test. Un output affidabile dipende dall'intero percorso, dal movimento del package e dalla meccanica del pistone fino al contattore, all'interfaccia, alle risorse del tester e al sistema termico.
Esaminate i modelli elencati, quindi verificate il kit di tracciamento effettivo, il numero di punti di prova, la componentistica del pistone e dei contatti, l'interfaccia del tester, i moduli termici e la configurazione di uscita sulla macchina specifica.
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Il tester misura il DUT, ma l'operatore controlla come il dispositivo raggiunge il punto di contatto, con quale ripetibilità viene inserito, se viene raggiunta la temperatura corretta e dove viene posizionato il dispositivo dopo il risultato. Ciascuna funzione può modificare l'output effettivo e i risultati apparenti del test al primo passaggio.
Il pacco deve percorrere il tubo, la rotaia o il binario installato senza ruotare, creare ponti, trascinarsi o danneggiare i conduttori. Lo scappamento deve rilasciare un dispositivo al momento richiesto.
Effetti del guasto: inceppamenti, doppi alimentamenti e arrivi irregolari impediscono un caricamento stabile del sito di prova.Il pistone o meccanismo di azionamento sposta il dispositivo in prova (DUT) nella presa o nel contattore con allineamento, corsa e forza controllati, quindi lo rilascia senza danneggiarlo.
Effetti dei guasti: contatti intermittenti, cavi piegati, usura dei contatti e falsi test possono ridurre la resa utilizzabile.Il contattore, la scheda DUT, i cavi, l'alimentazione e il percorso del segnale devono supportare le risorse del tester e il numero di siti attivi. I dati di handshake e di bin del gestore devono essere conformi al programma di test.
Effetto del guasto: un dispositivo di movimentazione meccanicamente compatibile potrebbe comunque risultare inutilizzabile con il sistema ATE selezionato.Quando è richiesto un test a caldo o a freddo, i tempi di mantenimento e recupero devono essere compatibili con le condizioni di prova. Dopo il test, i dati di superamento, non superamento, ripetizione del test o valutazione devono essere indirizzati allo stesso dispositivo in prova (DUT) all'uscita corretta.
Effetto del guasto: un errore termico o una sovrapposizione dei risultati possono invalidare dati elettrici altrimenti corretti.Questa sequenza mostra la relazione comune tra alimentazione, preparazione termica, contatto e selezione dei risultati. La macchina reale potrebbe omettere la fase di preriscaldamento, utilizzare un modulo di ingresso diverso o fornire più punti di prova.
I dispositivi entrano da tubi, caricatori, una ciotola o un altro modulo di ingresso installato.
Le guide e gli scappamenti mantengono l'orientamento e rilasciano un dispositivo in prova nel percorso controllato.
Per i test a caldo o a freddo, il dispositivo rimane nella pista condizionata abbastanza a lungo da raggiungere lo stato richiesto.
Un dispositivo di arresto posiziona il dispositivo in prova all'ingresso del sito di prova, mentre i dispositivi successivi rimangono in coda.
Lo stantuffo inserisce il dispositivo in prova (DUT) nel contattore e l'ATE esegue il programma di test.
Il gestore riceve le informazioni relative al superamento, al mancato superamento, alla ripetizione del test o al voto e le associa al dispositivo in prova (DUT) testato.
I cancelli instradano il dispositivo al tubo, al contenitore o ad altra destinazione corretta senza mescolare i risultati.
I problemi di contatto possono iniziare prima che il dispositivo in prova raggiunga lo zoccolo e possono proseguire oltre, interessando l'interfaccia o la comunicazione con il tester. La posizione del sintomo aiuta a identificare quale strato deve essere controllato.
Consegnare un dispositivo correttamente orientato in una posizione di pre-contatto ripetibile.
Inceppamenti, arrivi irregolari, doppi alimentazioni, rotazione o un dispositivo in prova che non si allinea con lo stantuffo.Portare il dispositivo in prova a contatto con il dispositivo mediante movimento, geometria e forza controllati.
Inserimento irregolare, danni alla confezione, usura eccessiva dovuta al contatto o variazioni da un sito all'altro.Creare il collegamento elettrico temporaneo tra i terminali del dispositivo e l'interfaccia di test.
Continuità intermittente, falso guasto, aumento del ritest, elevata resistenza di contatto o durata limitata.Trasportare energia e segnali tra il contattore e il tester mantenendo le prestazioni elettriche richieste.
Errori di canale, misurazioni instabili, mappatura errata del sito, limitazioni dell'integrità del segnale o adattamento del tester non disponibile.Coordinare l'inizio del test, la fine del test, lo stato del sito, il risultato del bin, il ritest e la gestione degli errori.
Dispositivi in attesa sul posto, instradamento errato dei contenitori, risultati persi oppure gestore e tester che entrano in stati diversi.La velocità di catalogo è solo un punto di riferimento. La produzione effettiva dipende anche dalla durata del test, dal tempo di indicizzazione meccanica, dai siti paralleli utilizzabili, dal recupero termico, dalla stabilità dei contatti, dagli inceppamenti, dai ritest e dal cambio di prodotto. Il fattore limitante varia a seconda dell'applicazione.
Quando il test elettrico è breve, la separazione del dispositivo, il posizionamento, il movimento del pistone, il trasferimento dei risultati e l'instradamento dell'uscita occupano la maggior parte del ciclo.
L'aggiunta di siti attivi può migliorare l'utilizzo del tester quando il dispositivo in prova rimane in fase di test per un periodo prolungato. Il vantaggio scompare se i canali del tester, la mappatura dei siti, l'hardware di contatto o la capacità termica non sono in grado di supportare il funzionamento in parallelo.
Confronta i siti utilizzabili e la stabilità dei risultati, non il numero massimo di siti pubblicizzato dalla piattaforma.
Le prove a caldo o a freddo richiedono una capacità di pista condizionata sufficiente e un tempo di recupero adeguato per mantenere i siti di prova riforniti di dispositivi in prova nello stato richiesto.
I test a temperatura ambiente, a caldo e a freddo richiedono hardware e dati differenti. Una famiglia di piattaforme può supportare un'ampia gamma di temperature, mentre una macchina specifica può contenere solo una delle configurazioni disponibili.
Mantenere una gestione e un contatto stabili del dispositivo nell'ambiente di fabbrica, monitorando la temperatura quando il DUT o l'alimentazione di prova possono generare riscaldamento locale.
Pista e sito di prova standard, sensori ove necessario, condizioni di flusso d'aria e hardware di contatto. Autoriscaldamento del dispositivo in prova, deriva durante test prolungati, variazione dei contatti con la temperatura e condizioni ambientali non controllate.Riscaldare e immergere il dispositivo prima del contatto, quindi mantenere le condizioni richieste per tutta la durata del test e lasciarlo riposare prima dell'arrivo del dispositivo in prova successivo.
Riscaldatori, binario o camera condizionata, sensori, isolamento, controllore, sistema di spurgo o di flusso d'aria e calibrazione. Immersione insufficiente, sovratemperatura, recupero lento, limiti di confezione e calo di temperatura durante il contatto.Raffreddare il dispositivo in prova, mantenere il percorso asciutto, mantenere un contatto stabile a bassa temperatura e passare da ricette fredde, a temperatura ambiente e calde quando necessario.
Hardware per la refrigerazione o per l'azoto liquido, ove applicabile, aria secca, camera o binario isolato, sensori, controller e connessioni di servizio. Condensa, gelo, recupero instabile, contaminazione da umidità, richiesta di energia elettrica e un setpoint della camera che non rappresenta la temperatura effettiva del dispositivo in prova.La stessa famiglia di dispositivi di movimentazione a gravità può essere adattata a diversi formati, numero di postazioni, direzioni di contatto e condizioni termiche. Un consiglio utile parte dall'applicazione specifica, non dal solo nome del modello.
Fornire il disegno dell'involucro, le dimensioni, i terminali, l'orientamento, il tipo di tubo o di alimentatore, le condizioni di ingresso e il mezzo di uscita richiesto.
Indicare il modello ATE, il quadro di carico o il dispositivo in prova (DUT), i requisiti del contattore, il tipo di segnale, la mappatura del sito e il metodo di comunicazione dell'operatore.
Indicare la durata effettiva del test, il risultato atteso, la frequenza di ritest prevista, il parallelismo preferito e se la configurazione, a sito singolo o multisito, è già stata qualificata.
Definire le condizioni di temperatura ambiente, calda, fredda o tri-temperatura, la dissipazione di potenza del dispositivo in prova, i requisiti di mantenimento, i limiti dell'impianto e le utenze di raffreddamento o aria secca disponibili.
Indicare il numero di gradi o contenitori, il percorso di ritest, i requisiti relativi al codice a barre o ai dati, la frequenza di cambio prodotto e qualsiasi binario, kit o hardware di contatto esistente.
Queste risposte chiariscono le questioni specifiche relative all'alimentazione per gravità, al contatto, alla capacità e alla dissipazione del calore che influenzano la scelta delle apparecchiature.
Si tratta di un sistema di movimentazione per il collaudo finale di semiconduttori che utilizza un trasporto a gravità guidato per alimentare i dispositivi confezionati, posiziona ciascun DUT in un punto di contatto, comunica con il tester e smista i dispositivi in base al risultato del test.
Un percorso comune prevede caricamento, orientamento e separazione, eventuale trattamento termico, posizionamento controllato, contatto con il pistone, test elettrico, trasferimento dei risultati e smistamento dell'output.
No. Il pacco deve scorrere in modo affidabile lungo il percorso installato, senza rotazioni, ponti, attrito eccessivo o danni ai conduttori. Esaminate insieme il disegno del pacco, il supporto e il kit del dispositivo.
No. Il tester e l'interfaccia devono supportare l'esecuzione parallela, ogni sito deve rimanere stabile e le sezioni di alimentazione, termica e di uscita devono mantenere la stessa velocità. Siti inutilizzabili o la necessità di ritestare i contatti possono annullare il beneficio atteso.
Alcune piattaforme possono essere configurate per il funzionamento a temperatura ambiente, calda, fredda o a tre temperature. Verificare la camera o il binario climatizzato effettivo, l'hardware di riscaldamento e raffreddamento, il fabbisogno di aria secca, i sensori, il controller, le utenze e la calibrazione della macchina offerta.
Fornire il disegno del package, il supporto di input, il tester, il metodo di contatto, il tempo di prova, i siti richiesti, il risultato atteso, le condizioni di temperatura, la potenza del DUT, i gradi di output e qualsiasi attrezzatura di packaging esistente.
Verificheremo la macchina offerta confrontandola con il binario installato, il sistema di contatto, l'interfaccia di test e la configurazione termica.
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