Sistema de prueba de nivel de obleas de torreta de ASM Pacific Technology SUNBIRD
SUNBIRD proporciona una solución de prueba de obleas eficiente, confiable y flexible para la industria de semiconductores a través de...
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Solicitar cotización →Un manipulador de prueba por gravedad alimenta los dispositivos empaquetados a través de guías, libera cada dispositivo bajo prueba (DUT) en una posición de contacto controlada, intercambia señales de inicio y resultado con el equipo de prueba automatizado (ATE) y dirige el dispositivo según el resultado de la prueba. Un resultado fiable depende de la ruta completa, desde el movimiento del paquete y la mecánica del émbolo hasta el contactor, la interfaz, los recursos del probador y el sistema térmico.
Revise los modelos enumerados y, a continuación, confirme el kit de rieles, la cantidad de sitios de prueba, el hardware de émbolo y contacto, la interfaz del probador, los módulos térmicos y la configuración de salida en la máquina específica.
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Como versión mejorada del MS100, el ASM MS100 Plus es también un dispositivo para la clasificación y disposición de chips en función de la oblea...
La ISMECA NY20 (ahora propiedad de Cohu) es una máquina rotativa de ultra alta velocidad para pruebas y clasificación de semiconductores con 20 estaciones.
La máquina clasificadora ASM MS90 es un dispositivo diseñado para la clasificación de perlas de lámparas, con funciones de clasificación eficientes y precisas.
El probador mide el dispositivo bajo prueba (DUT), pero el operador controla cómo el dispositivo llega al punto de contacto, con qué frecuencia se inserta, si se alcanza la temperatura correcta y adónde se dirige el dispositivo después del resultado. Cada función puede modificar la salida efectiva y los resultados aparentes de la primera pasada de la prueba.
El paquete debe desplazarse a través del tubo, riel o vía instalados sin girar, atascarse, arrastrarse ni dañar los cables. El mecanismo de escape debe liberar un dispositivo en el momento requerido.
Efecto de las fallas: los atascos, la alimentación doble y la llegada inconsistente impiden una carga estable en el sitio de prueba.El émbolo o mecanismo de posicionamiento mueve el dispositivo bajo prueba (DUT) hacia el zócalo o contactor con alineación, recorrido y fuerza controlados, y luego lo libera sin dañarlo.
Efectos de fallo: el contacto intermitente, los cables doblados, el desgaste de los contactos y las pruebas repetidas erróneas pueden reducir el rendimiento útil.El contactor, la placa del dispositivo bajo prueba (DUT), los cables, la alimentación y la ruta de señal deben ser compatibles con los recursos del probador y el número de sitios activos. El protocolo de comunicación del manipulador y los datos del contenedor deben coincidir con el programa de prueba.
Efecto de la falla: un manipulador mecánicamente compatible aún podría resultar inutilizable con el sistema de prueba automatizado (ATE) seleccionado.Cuando se requieren pruebas en caliente o en frío, el período de inmersión y recuperación debe ser compatible con las condiciones de prueba. Después de la prueba, los datos de aprobado, reprobado, repetición de prueba o calificación deben dirigirse al mismo dispositivo bajo prueba a la salida correcta.
Efecto de la falla: un error térmico o la mezcla de resultados pueden invalidar datos eléctricos que, de otro modo, serían correctos.Esta secuencia muestra la relación común entre la alimentación, la preparación térmica, el contacto y la clasificación de resultados. La máquina real puede omitir el remojo térmico, usar un módulo de entrada diferente o proporcionar varios puntos de prueba.
Los dispositivos acceden a ellos a través de tubos, cargadores, un recipiente u otro módulo de entrada instalado.
Las guías y los mecanismos de escape mantienen la orientación y liberan un dispositivo bajo prueba (DUT) en la ruta controlada.
Para las pruebas en caliente o en frío, el dispositivo permanece en la pista acondicionada el tiempo suficiente para alcanzar el estado requerido.
Un mecanismo de bloqueo coloca el dispositivo bajo prueba en la entrada del sitio de prueba mientras los siguientes dispositivos permanecen en cola.
El émbolo inserta el dispositivo bajo prueba en el contactor y el equipo de prueba automatizado ejecuta el programa de prueba.
El controlador recibe información sobre si el dispositivo ha sido probado, si ha sido suspendido, si se ha vuelto a probar o si se ha obtenido una calificación, y la asocia con el dispositivo bajo prueba.
Las compuertas dirigen el dispositivo al tubo, contenedor u otro destino correcto sin mezclar los resultados.
Los problemas de contacto pueden comenzar antes de que el dispositivo bajo prueba llegue al zócalo y pueden extenderse más allá de este, afectando la comunicación con la interfaz o el probador. La ubicación del síntoma ayuda a identificar qué capa debe revisarse.
Entregue un dispositivo correctamente orientado en una posición de precontacto repetible.
Atascos, llegada irregular, alimentación doble, rotación o un dispositivo bajo prueba que no se alinea con el émbolo.Ponga en contacto el dispositivo bajo prueba con un movimiento, geometría y fuerza controlados.
Inserción irregular, daños en el embalaje, desgaste excesivo por contacto o variación entre diferentes lugares.Cree la conexión eléctrica temporal entre los terminales del dispositivo y la interfaz de prueba.
Continuidad intermitente, falsos fallos, aumento de repeticiones de pruebas, alta resistencia de contacto o vida útil limitada.Transmitir energía y señales entre el contactor y el comprobador, manteniendo el rendimiento eléctrico requerido.
Errores de canal, mediciones inestables, mapeo de sitio incorrecto, limitaciones de integridad de la señal o adaptación del probador no disponible.Coordinar el inicio de la prueba, el final de la prueba, el estado del sitio, el resultado del contenedor, la repetición de la prueba y el manejo de errores.
Dispositivos esperando en el sitio, enrutamiento incorrecto de contenedores, resultados perdidos o el manipulador y el probador entrando en estados diferentes.La velocidad del catálogo es solo un punto de referencia. La producción también depende de la duración real de la prueba, el tiempo de indexación mecánica, los sitios paralelos utilizables, la recuperación térmica, la estabilidad del contacto, los atascos, las repeticiones de prueba y el cambio de producto. El paso limitante varía según la aplicación.
Cuando la prueba eléctrica es breve, la separación del dispositivo, el posicionamiento, el movimiento del émbolo, la transferencia de resultados y el enrutamiento de la salida ocupan la mayor parte del ciclo.
Los puntos de prueba adicionales pueden mejorar la utilización del equipo cuando el dispositivo bajo prueba permanece en funcionamiento durante más tiempo. Este beneficio desaparece si los canales del equipo, la configuración de los puntos de prueba, el hardware de contacto o la capacidad térmica no permiten el funcionamiento en paralelo.
Compare los sitios web que son utilizables y que ofrecen un rendimiento estable y de buena calidad, no la cantidad máxima de sitios web que anuncia la plataforma.
Las pruebas en caliente o en frío requieren suficiente capacidad de vía acondicionada y tiempo de recuperación para mantener los dispositivos bajo prueba (DUT) abastecidos en el estado requerido en los sitios de prueba.
Las pruebas en ambiente, en caliente y en frío requieren hardware instalado y evidencias diferentes. Una familia de plataformas puede admitir un amplio rango de temperaturas, mientras que una máquina específica puede contener solo una de las configuraciones disponibles.
Mantenga un manejo y contacto estables del dispositivo en el entorno de fábrica, mientras monitorea la temperatura cuando el dispositivo bajo prueba o la fuente de alimentación puedan generar calentamiento localizado.
Pista y lugar de prueba estándar, sensores donde sean necesarios, condiciones de flujo de aire y hardware de contacto. Autocalentamiento del dispositivo bajo prueba, deriva durante pruebas prolongadas, cambios de contacto con la temperatura y condiciones ambientales no controladas.Calentar y sumergir el dispositivo antes de ponerlo en contacto con él, mantener las condiciones requeridas durante todo el período de prueba y recuperarlo antes de que llegue el siguiente dispositivo bajo prueba.
Calentadores, pista o cámara acondicionada, sensores, aislamiento, controlador, sistema de purga o flujo de aire y calibración. Remojo insuficiente, sobreimpulso, recuperación lenta, limitaciones del paquete y caída de temperatura durante el contacto.Enfríe el dispositivo bajo prueba, mantenga la ruta seca, mantenga un contacto estable a baja temperatura y realice la transición entre recetas frías, a temperatura ambiente y calientes cuando sea necesario.
Componentes relacionados con la refrigeración o el nitrógeno líquido (LN2), según corresponda, aire seco, cámara o riel aislado, sensores, controlador y conexiones de servicios públicos. Condensación, escarcha, recuperación inestable, contaminación por humedad, demanda de servicios públicos y un punto de ajuste de la cámara que no representa la temperatura real del dispositivo bajo prueba.La misma familia de manipuladores de gravedad puede adaptarse a diferentes configuraciones, número de emplazamientos, direcciones de contacto y condiciones térmicas. Una recomendación útil comienza con la aplicación, más que con el nombre del modelo.
Proporcione el dibujo del paquete, las dimensiones, los terminales, la orientación, el tipo de tubo o alimentador, la condición de entrada y el medio de salida requerido.
Indique el modelo de ATE, la placa de carga o la placa del DUT, los requisitos del contactor, el tipo de señal, el mapeo del sitio y el método de comunicación del controlador.
Indique la duración real de la prueba, el resultado esperado, la tasa de repetición de pruebas prevista, el paralelismo preferido y si la configuración de un solo sitio o de varios sitios ya está cualificada.
Defina las condiciones ambientales, de calor, frío o de triple temperatura, la disipación de potencia del dispositivo bajo prueba, el requisito de mantenimiento de temperatura, los límites de las instalaciones y los servicios de refrigeración o aire seco disponibles.
Indique el número de grados o contenedores, la ruta de repetición de la prueba, el requisito de código de barras o datos, la frecuencia de cambio de producto y cualquier hardware de seguimiento, kit o contacto existente.
Estas respuestas aclaran las cuestiones específicas de alimentación por gravedad, contacto, capacidad y térmicas que afectan a la selección de equipos.
Se trata de un manipulador de prueba final de semiconductores que utiliza un sistema de transporte por gravedad guiado para alimentar los dispositivos empaquetados, posiciona cada dispositivo bajo prueba en un punto de contacto, se comunica con el probador y clasifica el dispositivo según el resultado de la prueba.
Un procedimiento habitual consiste en la carga, orientación y separación, un tratamiento térmico opcional, posicionamiento controlado, contacto con el émbolo, prueba eléctrica, transferencia de resultados y clasificación de la salida.
No. El paquete debe deslizarse de forma fiable por la guía instalada sin rotación, atascos, fricción excesiva ni daños en los cables. Revise conjuntamente el plano del paquete, el soporte y el kit del dispositivo.
No. El probador y la interfaz deben admitir la ejecución en paralelo, cada sitio debe permanecer estable y las secciones de alimentación, térmica y de salida deben mantener la misma velocidad. Los sitios inutilizables o la repetición de pruebas de contacto pueden anular el beneficio esperado.
Algunas plataformas pueden configurarse para funcionar a temperatura ambiente, caliente, fría o tritemperatura. Confirme la cámara o pista climatizada, el hardware de calefacción y refrigeración, los requisitos de aire seco, los sensores, el controlador, los servicios auxiliares y la calibración de la máquina ofrecida.
Proporcione el dibujo del paquete, el medio de entrada, el probador, el método de contacto, el tiempo de prueba, los sitios requeridos, el resultado correcto objetivo, la condición de temperatura, la potencia del DUT, los grados de salida y cualquier herramienta de encapsulado existente.
Comprobaremos la máquina ofrecida comparándola con la vía instalada, el sistema de contacto, la interfaz del probador y la configuración térmica.
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