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xhRicevi il dispositivo confezionato
Caricare i dispositivi da vassoi, tubi, strisce, fotogrammi di pellicola o altri supporti di produzione compatibili.
Gestione robotizzata del collaudo finale dei semiconduttori
Manipolatori di test pick-and-place per il collaudo finale dei semiconduttori
Un sistema di movimentazione e posizionamento per test sposta dispositivi a semiconduttore confezionati tra diversi supporti di ingresso, orientamento, condizionamento termico, siti di test elettrico e uscite smistate. La configurazione utile è determinata dal tipo di contenitore, dalla durata del test, dal tester per semiconduttori, dal metodo di contatto, dal numero di siti e dalla temperatura del dispositivo in prova, e non solo dal modello del sistema di movimentazione.
Controllo Orientamento e Posizionamento
Sistemi di visione, teste di prelievo e movimenti robotici allineano il pacco prima che raggiunga il punto di contatto elettrico.
Presentare il DUT al collaudatore
L'operatore controlla la posizione, il movimento di inserimento e la forza di contatto mentre il tester per semiconduttori esegue la misurazione.
Ordina il risultato elettrico
Instradare i dispositivi al vassoio, al tubo, alla bobina, al punto di scarto o al processo di finitura a valle corretti.
Limiti di applicazione
Inizia con il dispositivo e il programma di test
La gestione del packaging, le risorse del tester, la geometria dei contatti e la temperatura del dispositivo in prova definiscono i primi limiti di una cella di test pick-and-place funzionale. Questi parametri sono più utili del semplice confronto tra i nomi dei modelli o la velocità di elaborazione nominale (UPH) considerata isolatamente.
Flusso di dispositivi, confezioni e supporti
Il profilo dell'imballaggio, i terminali, il peso, la superficie di prelievo e la fragilità influenzano l'ugello o la pinza, il posizionamento, le impostazioni di visione e gli strumenti del sito di prova.
Confermare:Disegno dell'imballaggio, dimensioni, peso, segni di orientamento e supporti di input e output richiesti.
Durata del test e obiettivo di produzione
I test brevi mettono in luce il tempo impiegato per il prelievo, l'allineamento, il contatto e lo smistamento. I test più lunghi possono rendere utili i siti paralleli quando il sistema di test supporta l'esecuzione simultanea.
Confermare:Tempo di prova in base alla temperatura, unità buone target all'ora, tasso di ritest previsto e frequenza di cambio prodotto.
Tester, interfaccia e metodo di contatto
Il dispositivo di movimentazione posiziona il DUT, ma il percorso elettrico dipende comunque dalla presa o dal contattore, dall'hardware di interfaccia, dalla scheda di carico e dal tester per semiconduttori.
Confermare:Modello del tester, testina di prova, disposizione di aggancio, hardware di contatto, protocollo di comunicazione e siti attivi previsti.
Temperatura e potenza del dispositivo in prova
I test a temperatura ambiente, a caldo e a freddo utilizzano hardware differente per il riscaldamento, il raffreddamento, il rilevamento, il mantenimento e il controllo dell'umidità. Anche l'autoriscaldamento del dispositivo può alterare la temperatura effettiva del dispositivo in prova.
Confermare:Intervallo di temperatura richiesto, tolleranza, potenza del dispositivo, tempo di mantenimento e disponibilità di aria secca o di sistemi di raffreddamento.
Apparecchiature attuali
Chiedi informazioni sulla disponibilità attuale
Manipolatori di prova Pick-and-Place disponibili
Esamina gli elenchi attuali, quindi verifica i kit di installazione, i punti di test, le prese o i contattori, l'interfaccia del tester, le opzioni termiche, il software e gli accessori sulla singola macchina.
Dispositivo di test Pick-and-Place
Sistema di prova del livello wafer della torretta ASM Pacific Technology SUNBIRD
SUNBIRD offre una soluzione di test dei wafer efficiente, affidabile e flessibile per l'industria dei semiconduttori grazie a innovazioni...
Dispositivo di test Pick-and-Place
Gestore di test ASM MS100 Plus
Come versione migliorata dell'MS100, l'ASM MS100 Plus è anch'esso un dispositivo per la selezione e la disposizione dei chip in base al wafer...
Dispositivo di test Pick-and-Place
Test di trading ISMECA NY20
La ISMECA NY20 (ora di proprietà di Cohu) è una macchina rotativa ad altissima velocità per il collaudo e la selezione di semiconduttori, composta da 20 stazioni.
Dispositivo di test Pick-and-Place
Macchina selezionatrice ASMPT MS90
La macchina selezionatrice ASM MS90 è un dispositivo progettato per la selezione di perline di lampade, con funzioni di selezione efficienti e precise. Questa...
Output del test efficace
Il valore UPH indicato è solo il punto di partenza
La velocità meccanica descrive la sequenza di movimentazione più rapida in condizioni definite. La produzione include anche il tempo di test elettrico, i siti abilitati, la resa dei contatti, i ritest, il recupero della temperatura, il cambio formato e i tempi di inattività.
Tempo di prova elettrica
Il dispositivo in prova (DUT) occupa uno spazio mentre il tester esegue il programma e trasferisce il risultato. Quando il tempo di test è lungo, l'occupazione dello spazio da parte del tester, piuttosto che il movimento del robot, diventa il principale vincolo del ciclo.
Tempo di movimentazione meccanica
Prelievo, allineamento, spostamento, inserimento, rimozione e posizionamento dell'uscita rimangono parte integrante di ogni ciclo. Questi movimenti possono risultare predominanti in applicazioni con programmi di test molto brevi.
Siti paralleli abilitati
Il numero di siti installati e il numero di siti utilizzabili non sempre coincidono. Ogni sito attivo necessita di canali di test, percorsi di interfaccia, hardware di contatto, mappatura software e supporto termico.
Contatto Resa e disponibilità
Ricontattare, ritestare, pulire i contattori, sostituire i vassoi, ripristinare gli allarmi e la manutenzione consumano tempo di produzione senza aumentare il numero di dispositivi completati e funzionanti.
Confrontare le unità buone previste all'ora utilizzando la durata effettiva del test, il numero di siti abilitati, la resa del contatto al primo passaggio, la ricetta di temperatura e le ipotesi di cambio formato. La massima UPH meccanica deve essere considerata come un limite massimo piuttosto che come una previsione di produzione.
Strategia di conteggio dei siti
Quando meno siti hanno più senso
Ulteriori siti creano valore solo quando il tester, l'interfaccia di contatto e il sistema termico possono gestirli simultaneamente. Per volumi ridotti, cambi frequenti o applicazioni con contatti sensibili, un numero inferiore di siti può risultare più semplice da stabilizzare e manutenere.
Fattore decisionale
Sito singolo / Numero ridotto di siti
Test parallelo multi-sito
vestibilità tipica
Lavori di ingegneria, volumi ridotti, frequenti cambi di prodotto o applicazioni in cui l'allineamento e la temperatura sono più facili da controllare con un minor numero di contatti simultanei.
Produzione stabile ad alto volume e test più lunghi in cui più dispositivi in prova possono occupare contemporaneamente le risorse di test supportate.
Risorse per i tester
Richiede un minor numero di canali, hardware di interfaccia più semplice e una mappatura del sito meno complessa.
Ogni sito attivo richiede canali di test, percorsi di interfaccia, hardware di contatto e controllo software.
Controllo del contatto e termico
In genere, l'allineamento, la forza di contatto e la temperatura del dispositivo in prova sono più facili da caratterizzare con un numero inferiore di siti attivi.
Le differenze tra i vari siti in termini di resistenza di contatto, forza e recupero della temperatura devono rimanere entro i limiti del processo.
Conversione e manutenzione
Un minor numero di prese, alloggiamenti e percorsi di interfaccia può ridurre i costi di cambio formato, il lavoro di calibrazione e la richiesta di pezzi di ricambio.
Un maggior numero di strumenti aumenta gli sforzi di configurazione e manutenzione, e un sito instabile può ridurre il valore della configurazione parallela.
Selezionare il numero di siti in base al programma di test effettivo, alle risorse di tester disponibili e al volume di produzione previsto, e non semplicemente in base al numero massimo di siti indicato nella brochure della piattaforma.
Percorso di contatto end-to-end
Il percorso di contatto deve funzionare come un unico sistema
Il dispositivo di movimentazione garantisce il movimento e l'inserimento controllati. Il tester per semiconduttori esegue la misurazione elettrica. Il corretto funzionamento di una cella di test dipende dalla compatibilità end-to-end tra package, contattori, hardware di interfaccia, movimento del dispositivo di movimentazione e programma del tester.
1
Prodotto in prova e confezione
Il pacchetto definisce le dimensioni del corpo, la disposizione dei terminali, l'orientamento, le superfici sensibili e i nodi elettrici che devono essere raggiunti durante il test.
2
Presa o contattore
Il contattore crea una connessione ripetibile al dispositivo in prova (DUT). L'ingombro del contenitore, la corrente, la frequenza, la resistenza di contatto, l'usura e la disponibilità di ricambi influiscono tutti sulla resa al primo tentativo.
3
Interfaccia hardware
Schede di interfaccia, schede di carico, cavi e dispositivi di aggancio trasportano segnali e alimentazione tra il contattore e il tester. La loro progettazione elettrica e meccanica deve essere compatibile con la piattaforma prevista.
4
Posizione e forza dell'operatore
La testina di prelievo, il supporto e il sistema di movimentazione allineano il dispositivo in prova, lo inseriscono nel contattore e applicano una forza controllata senza danneggiare l'involucro o i contatti.
5
Controllo del test e dei risultati
Il tester fornisce canali, temporizzazione e risorse di misurazione. I dati di inizio test, fine test, mappatura del sito e di alloggiamento devono essere conformi alla ricetta del gestore.
Un dispositivo di movimentazione può posizionare correttamente il pacchetto e risultare comunque inadatto se il socket, la scheda di interfaccia, le risorse del tester o il protocollo di comunicazione non corrispondono al programma di test previsto.
Configurazione termica
Selezionare l'hardware termico dalle condizioni del dispositivo in prova.
Il metodo selezionato deve portare il dispositivo in prova (DUT) alle condizioni di prova richieste, mantenere il punto di contatto entro il suo intervallo operativo validato e recuperare abbastanza velocemente per la produzione. Il setpoint della camera, la temperatura del DUT e la variazione da sito a sito non devono essere considerati come la stessa misurazione.
Funzionamento controllato a temperatura ambiente
I test in ambiente controllato potrebbero comunque richiedere il monitoraggio della temperatura quando tempi di prova prolungati o un'elevata potenza del dispositivo portano la temperatura del dispositivo in prova al di sopra della temperatura dell'aria circostante.
Conferma sulla macchina
Flusso d'aria, condizioni dell'involucro, sensori, limiti del software e qualsiasi isolamento dei punti di contatto utilizzato dalla configurazione installata.
Domanda principale
Il dispositivo in prova (DUT) rimane entro l'intervallo specificato durante inserimenti ripetuti e produzione continua?
Riscaldamento, immersione e recupero
Il collaudo a caldo richiede normalmente che il componente raggiunga le condizioni target prima del contatto e rimanga entro i limiti di tolleranza durante l'esecuzione del test elettrico.
Conferma sulla macchina
Camera riscaldata, testa termica o percorso dell'aria calda, punto di immersione, regolatore, sensori, isolamento e utenze necessarie.
Domanda principale
Il sistema è in grado di ripristinarsi dopo la sostituzione del dispositivo e di compensare la potenza del dispositivo in prova senza un eccessivo overshoot o una perdita di throughput?
Test a freddo, a temperatura ambiente e a caldo su un'unica piattaforma.
Le applicazioni a freddo e a tre temperature aggiungono capacità di raffreddamento, controllo dell'umidità e tempo di transizione al ciclo di produzione.
Conferma sulla macchina
Metodo di raffreddamento, alimentazione di aria secca, camera isolata, riscaldatori, sensori, controllo della condensa e stato di calibrazione.
Domanda principale
Il dispositivo di movimentazione è in grado di raggiungere le condizioni richieste per il DUT, prevenire la condensa e mantenere un recupero costante in tutti i siti attivi?
Per dispositivi in prova ad alta potenza:Alcune applicazioni potrebbero richiedere un controllo termico attivo a livello del sito, anziché basarsi esclusivamente sulle condizioni della camera o di mantenimento. Verificare il metodo di installazione, la gamma di potenza supportata, la disposizione dei sensori, le utenze e la disponibilità di registrazioni di calibrazione o di prova.
Dati applicativi
Invia gli input che modificano la configurazione
Le seguenti informazioni sono generalmente sufficienti per escludere le piattaforme non idonee prima di procedere a una revisione dettagliata dell'apparecchiatura. I dettagli specifici della macchina mancanti possono quindi essere verificati confrontandoli con gli elenchi disponibili.
Invia i requisiti del test
Input dell'applicazione
Come influisce sulla revisione delle attrezzature
Disegno del dispositivo e della confezione
Mostra il corpo della confezione, i terminali, l'orientamento, le restrizioni di prelievo e gli strumenti di conversione necessari per una manipolazione e un contatto sicuri.
Tempo di prova elettrica
Indica se è probabile che il movimento degli operatori o l'occupazione dei tester controllino il ciclo e se siti paralleli potrebbero creare una capacità utile.
tester per semiconduttori
Identifica la testina di prova, l'hardware di interfaccia, la scheda di carico, i canali, la comunicazione e la mappatura del sito che il gestore deve supportare.
Strategia di sito e contatti
Conferma i siti attivi previsti, la forza di contatto, il tipo di presa o contattore e la ripetibilità necessaria per una resa accettabile al primo tentativo.
Requisiti termici
Imposta la temperatura richiesta del dispositivo in prova (DUT), la tolleranza, la dissipazione di potenza, il tempo di mantenimento o di recupero previsto e le utilità termiche disponibili.
Ingresso, uscita e commutazione
Chiarisce il percorso di confezionamento (vassoio, tubo, striscia o supporto), i requisiti di smistamento, il mix di prodotti e la frequenza delle modifiche agli utensili o alle ricette.
Domande sulla candidatura
Domande frequenti sul sistema di prelievo e posizionamento
Queste domande si concentrano sulla compatibilità del pacchetto, sulla configurazione del sito di prova, sull'integrazione del tester, sul controllo della temperatura e sulla resa produttiva realistica.
Qual è la differenza tra un sistema di prelievo e posizionamento e un sistema di test per il prelievo e il posizionamento?
Un sistema di prelievo e posizionamento descrive l'architettura robotica per la movimentazione dei dispositivi. Un sistema di test di prelievo e posizionamento aggiunge uno o più punti di test elettrici controllati, hardware di contatto, comunicazione con il tester e smistamento basato sui risultati.
Un numero maggiore di siti aumenta sempre il numero di test effettuati?
No. Il tester per semiconduttori deve fornire risorse parallele sufficienti e ogni sito attivo necessita di hardware di interfaccia, contattori, controllo termico e mappatura software compatibili. Anche i test ripetuti e i contatti instabili possono ridurre la resa utile.
Lo stesso gestore può testare diversi tipi di package di semiconduttori?
Molte piattaforme possono supportare più di un pacchetto tramite kit di conversione. I vassoi, gli alloggiamenti, gli ugelli, i precisini, le prese, i contattori e le ricette software necessari devono essere disponibili per ciascun dispositivo.
Un sistema di prelievo e posizionamento per test può essere collegato a qualsiasi tester per semiconduttori?
Non automaticamente. Il docking meccanico, le schede di interfaccia, le schede di carico, i percorsi dei cavi, il protocollo del tester, l'handshake del software e il controllo del sito devono essere tutti compatibili. I tester per semiconduttori sono anche comunemente chiamati apparecchiature di test automatiche, o ATE.
Come si dovrebbe verificare la capacità di funzionamento a tre temperature?
Verificare l'hardware di riscaldamento e raffreddamento installato, la camera o il modulo termico, i requisiti di fornitura, i sensori, il software di controllo, la protezione dalla condensa e la recente calibrazione della temperatura o la documentazione dimostrativa.
Quali informazioni sono necessarie per un preventivo accurato?
Fornire le informazioni relative al dispositivo, ai supporti di input e output, al tempo di prova elettrica, al numero di unità funzionanti previste all'ora, al numero di siti di test previsti, al tester per semiconduttori, ai requisiti del contattore, alla temperatura del dispositivo in prova e alle condizioni operative preferite dell'apparecchiatura.
Abbina il gestore al pacchetto, al tester e al programma di test.
Invia il disegno del package, il tester per semiconduttori, il metodo di contatto, il numero di siti, il tempo di prova elettrica, l'intervallo di temperatura e l'obiettivo di produzione in modo che l'attrezzatura disponibile possa essere verificata rispetto alla cella di prova prevista.
