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no
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or
om
per
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ta
tr
uk
ur
cy
xhRecevez l'appareil emballé
Charger les dispositifs à partir de plateaux, de tubes, de bandes, de cadres de film ou de tout autre support de production compatible.
Manipulation robotisée des tests finaux des semi-conducteurs
Manipulateurs de test de type pick-and-place pour les tests finaux de semi-conducteurs
Un manipulateur de test de type « pick-and-place » déplace les dispositifs semi-conducteurs encapsulés entre les supports d'entrée, l'orientation, le conditionnement thermique, les sites de test électrique et les sorties triées. La configuration optimale dépend du type de boîtier, de la durée du test, du testeur de semi-conducteurs, de la méthode de contact, du nombre de sites et de la température du dispositif testé, et non du seul modèle du manipulateur.
Orientation et placement des commandes
La vision, les têtes de prélèvement et le mouvement robotisé alignent le colis avant qu'il n'atteigne le site de contact électrique.
Présentez le dispositif testé au testeur.
Le manipulateur contrôle la position, le mouvement d'insertion et la force de contact tandis que le testeur de semi-conducteurs effectue la mesure.
Trier le résultat électrique
Acheminer les dispositifs vers le plateau, le tube, la bobine, l'emplacement de rejet ou le processus de finition en aval appropriés.
Limites de l'application
Commencez par le programme de test de l'appareil.
La manipulation des composants, les ressources de test, la géométrie des contacts et la température du dispositif testé définissent les premières limites d'une cellule de test de placement fonctionnelle. Ces paramètres sont plus pertinents que la simple comparaison des noms de modèles ou des valeurs UPH nominales.
Flux de périphériques, d'emballages et de médias
Le format de l'emballage, les bornes, le poids, la surface de préhension et la fragilité influencent la buse ou la pince, l'imbrication, les paramètres de vision et l'outillage du site de test.
Confirmer:Dessin de l'emballage, dimensions, poids, marques d'orientation et supports d'entrée/sortie requis.
Durée des tests et objectif de production
Les tests courts permettent d'évaluer le temps consacré à la prise en charge, à l'alignement, au contact et au tri. Les tests plus longs peuvent s'avérer utiles pour les sites parallèles lorsque le testeur prend en charge l'exécution simultanée.
Confirmer:Durée du test en fonction de la température, nombre d'unités conformes cibles par heure, taux de retest prévu et fréquence de changement de produit.
Méthode de test, d'interface et de contact
Le dispositif de manipulation positionne l'appareil testé, mais le chemin électrique dépend toujours de la prise ou du contacteur, du matériel d'interface, de la carte de charge et du testeur de semi-conducteurs.
Confirmer:Modèle de testeur, tête de test, système d'accueil, matériel de contact, protocole de communication et sites actifs prévus.
Température et puissance du dispositif testé
Les tests en conditions ambiantes, chaudes et froides utilisent différents systèmes de chauffage, de refroidissement, de détection, d'imprégnation et de contrôle de l'humidité. L'auto-échauffement du dispositif peut également modifier sa température réelle.
Confirmer:Plage de température requise, tolérance, puissance de l'appareil, temps de trempage et utilités d'air sec ou de refroidissement disponibles.
Équipement actuel
Renseignez-vous sur la disponibilité actuelle
Manipulateurs d'essai de prélèvement et de placement disponibles
Consultez les listes actuelles, puis vérifiez les kits d'emballage installés, les sites de test, les prises ou contacteurs, l'interface du testeur, les options thermiques, les logiciels et les accessoires sur chaque machine.
Manipulateur de test de prélèvement et de placement
Système de test de niveau de plaquettes à tourelle ASM Pacific Technology SUNBIRD
SUNBIRD propose une solution de test de plaquettes efficace, fiable et flexible pour l'industrie des semi-conducteurs grâce à des innovations...
Manipulateur de test de prélèvement et de placement
Gestionnaire de tests ASM MS100 Plus
Version améliorée du MS100, l'ASM MS100 Plus est également un appareil de tri et d'agencement de puces en fonction de la plaquette...
Manipulateur de test de prélèvement et de placement
ISMECA teste les transactions NY20
L'ISMECA NY20 (désormais propriété de Cohu) est une machine rotative de test et de tri de semi-conducteurs à 20 stations et à très haute vitesse.
Manipulateur de test de prélèvement et de placement
Machine de tri ASMPT MS90
La trieuse ASM MS90 est un appareil conçu pour le tri des perles de lampes, offrant des fonctions de tri efficaces et précises.
Résultat de test effectif
Le débit UPH nominal n'est que le point de départ
La vitesse mécanique correspond à la séquence de traitement la plus rapide dans des conditions définies. Le rendement de production inclut également le temps de test électrique, les sites activés, le rendement des contacts, le retest, le retour en température, le changement de format et les temps d'arrêt.
Durée du test électrique
Le dispositif testé occupe un emplacement pendant que le testeur exécute le programme et transfère le résultat. Lorsque la durée du test est longue, l'occupation de l'emplacement par le testeur, plutôt que le déplacement du robot, devient la principale contrainte du cycle.
Temps de manutention mécanique
Les opérations de prise, d'alignement, de déplacement, d'insertion, de retrait et de positionnement de la sortie font partie intégrante de chaque cycle. Ces mouvements peuvent monopoliser les applications comportant des programmes de test très courts.
Sites parallèles activés
Le nombre de sites installés et le nombre de sites utilisables ne sont pas toujours identiques. Chaque site actif nécessite des canaux de test, des chemins d'interface, du matériel de contact, un mappage logiciel et un support thermique.
Rendement et disponibilité des contacts
Les opérations de recontact, de retest, de nettoyage des contacteurs, de changement de plateau, de récupération d'alarme et de maintenance consomment du temps de production sans augmenter le nombre d'appareils fonctionnels finis.
Comparez le rendement horaire prévu en unités conformes en fonction de la durée réelle du test, du nombre de sites activés, du rendement de premier passage, du protocole de température et des hypothèses de changement de production. Le rendement mécanique maximal par heure doit être considéré comme une valeur limite et non comme une prévision de production.
Stratégie de comptage des sites
Quand moins de sites sont plus judicieux
L'ajout de sites supplémentaires n'apporte de valeur ajoutée que si le testeur, l'interface de contact et le système thermique peuvent fonctionner simultanément. Pour les applications à faible volume, à changements fréquents ou à contact sensible, un nombre réduit de sites peut s'avérer plus facile à stabiliser et à entretenir.
Facteur de décision
Site unique / Faible nombre de sites
Test parallèle multisite
Coupe typique
Travaux d'ingénierie, volumes plus faibles, changements fréquents de produits ou applications où l'alignement et la température sont plus faciles à contrôler avec moins de contacts simultanés.
Production stable à haut volume et tests plus longs où plusieurs DUT peuvent occuper simultanément les ressources de test prises en charge.
Ressources pour testeurs
Nécessite moins de canaux, un matériel d'interface plus simple et une cartographie de site moins complexe.
Chaque site actif nécessite des canaux de test, des chemins d'interface, du matériel de contact et un contrôle logiciel.
Contrôle par contact et thermique
L'alignement, la force de contact et la température du dispositif testé sont généralement plus faciles à caractériser avec moins de sites actifs.
Les différences d'un site à l'autre en matière de résistance de contact, de force et de récupération de température doivent rester dans les limites du processus.
Conversion et maintenance
Un nombre réduit de prises, d'imbrications et de chemins d'interface permet de diminuer les coûts de changement de format, les travaux d'étalonnage et la demande en pièces de rechange.
Un outillage plus important augmente les efforts de configuration et de maintenance, et un site instable peut réduire la valeur de la configuration parallèle.
Sélectionnez le nombre de sites en fonction du programme de test réel, des ressources des testeurs et du volume de production attendu, et non pas simplement en fonction du nombre maximal de sites indiqué dans une brochure de la plateforme.
Parcours de contact de bout en bout
Le parcours de contact doit fonctionner comme un système unique.
Le dispositif de manipulation assure le déplacement et l'insertion contrôlés. Le testeur de semi-conducteurs effectue la mesure électrique. Le bon fonctionnement d'une cellule de test repose sur la compatibilité de bout en bout entre le boîtier, le contacteur, le matériel d'interface, le mouvement du dispositif de manipulation et le programme du testeur.
1
Dispositif testé et emballage
Le package définit les dimensions du boîtier, la disposition des bornes, l'orientation, les surfaces sensibles et les nœuds électriques qui doivent être atteints pendant le test.
2
Prise ou contacteur
Le contacteur établit une connexion fiable avec le dispositif testé. L'encombrement, le courant, la fréquence, la résistance de contact, l'usure et la disponibilité des pièces de rechange influent tous sur le rendement dès la première passe.
3
Matériel d'interface
Les cartes d'interface, les cartes de charge, les câbles et les dispositifs d'accueil assurent l'alimentation et la transmission des signaux entre le contacteur et le testeur. Leur conception électrique et mécanique doit être adaptée à la plateforme prévue.
4
Position et force du manipulateur
La tête de prélèvement, le support et le système de mouvement alignent le dispositif testé, l'insèrent dans le contacteur et appliquent une force contrôlée sans endommager le boîtier ni les contacts.
5
Testeur et contrôle des résultats
Le testeur fournit les canaux, la synchronisation et les ressources de mesure. Les données de début et de fin de test, le mappage des sites et les données de tri doivent correspondre à la configuration du gestionnaire.
Un dispositif de manipulation peut placer correctement le paquet et pourtant être inadapté si la prise, la carte d'interface, les ressources du testeur ou le protocole de communication ne correspondent pas au programme de test prévu.
Configuration thermique
Choisir le matériel thermique en fonction des conditions du dispositif testé
La méthode choisie doit amener le dispositif testé aux conditions d'essai requises, maintenir la zone de contact dans sa plage de fonctionnement validée et permettre une récupération suffisamment rapide pour la production. La consigne de la chambre, la température du dispositif testé et les variations d'un point à l'autre ne doivent pas être considérées comme une seule et même mesure.
Fonctionnement contrôlé à température ambiante
Les tests en conditions ambiantes peuvent néanmoins nécessiter une surveillance de la température lorsque la durée des tests ou la puissance de l'appareil augmentent la température du dispositif testé au-dessus de la température ambiante.
Confirmer sur la machine
Flux d'air, conditions de l'enceinte, capteurs, limites logicielles et toute isolation des points de contact utilisée par la configuration installée.
Question principale
Le dispositif testé reste-t-il dans la plage spécifiée lors d'insertions répétées et d'une production continue ?
Chauffage, trempage et récupération
Les essais à chaud exigent généralement que le boîtier atteigne l'état cible avant le contact et reste dans les limites de tolérance pendant le déroulement du test électrique.
Confirmer sur la machine
Chambre chauffée, tête thermique ou circuit d'air chaud, emplacement de trempage, contrôleur, capteurs, isolation et utilités requises.
Question principale
Le système peut-il récupérer après le remplacement d'un appareil et compenser la consommation électrique de l'appareil testé sans dépassement excessif ni perte de débit ?
Tests à froid, à température ambiante et à chaud sur une seule plateforme
Les applications à froid et à trois températures ajoutent de la capacité de refroidissement, du contrôle de l'humidité et du temps de transition au cycle de production.
Confirmer sur la machine
Méthode de refroidissement, alimentation en air sec, chambre isolée, éléments chauffants, capteurs, contrôle de la condensation et état d'étalonnage.
Question principale
Le dispositif de traitement peut-il atteindre les conditions requises pour le dispositif testé, empêcher la condensation et maintenir une récupération constante sur tous les sites actifs ?
Pour les dispositifs sous test (DUT) haute puissance :Certaines applications peuvent nécessiter une régulation thermique active au niveau du site, plutôt que de se fier uniquement aux conditions de l'enceinte ou de l'étape de trempage. Vérifiez la méthode d'installation, la plage de puissance supportée, la configuration des capteurs, les utilités et les résultats d'étalonnage ou de test disponibles.
Données de l'application
Envoyez les entrées qui modifient la configuration
Les informations suivantes suffisent généralement à éliminer les plateformes inadaptées avant de procéder à un examen détaillé du matériel. Les caractéristiques techniques manquantes peuvent ensuite être vérifiées à l'aide des listes disponibles.
Envoyez vos exigences de test
Entrée de l'application
Comment cela affecte l'évaluation du matériel
Dessin de l'appareil et de l'emballage
Indique le corps de l'emballage, les bornes, l'orientation, les restrictions de prélèvement et l'outillage de conversion nécessaires pour une manipulation et un contact en toute sécurité.
Temps de test électrique
Indique si le mouvement du manipulateur ou l'occupation du testeur est susceptible de contrôler le cycle et si des sites parallèles pourraient créer une capacité utile.
testeur de semi-conducteurs
Identifie la tête de test, le matériel d'interface, la carte de charge, les canaux, la communication et la cartographie du site que le gestionnaire doit prendre en charge.
Stratégie du site et des contacts
Confirme les sites actifs prévus, la force de contact, le type de prise ou de contacteur et la répétabilité nécessaire pour un rendement acceptable dès le premier passage.
Exigences thermiques
Définit la température requise du dispositif testé, la tolérance, la dissipation de puissance, le temps de maintien ou de récupération attendu et les utilités thermiques disponibles.
Entrée, sortie et commutation
Précise le mode de conditionnement (plateau, tube, bande ou support), les exigences de tri, la gamme de produits et la fréquence des changements d'outillage ou de recette.
Questions d'application
FAQ sur le manipulateur de test Pick-and-Place
Ces questions portent sur la compatibilité des emballages, la configuration du site de test, l'intégration du testeur, le contrôle de la température et le rendement de production réaliste.
Quelle est la différence entre un manipulateur de placement et un manipulateur de test de placement ?
Un manipulateur de type « pick-and-place » décrit l'architecture robotisée de déplacement des dispositifs. Un manipulateur de test « pick-and-place » ajoute un ou plusieurs sites de test électriques contrôlés, des contacts, la communication avec le testeur et le tri des résultats.
Un nombre plus élevé de sites augmente-t-il toujours le rendement des tests ?
Non. Le testeur de semi-conducteurs doit disposer de ressources parallèles suffisantes, et chaque site actif nécessite une interface matérielle, des contacteurs, une régulation thermique et un mappage logiciel compatibles. Les tests répétés et les contacts instables peuvent également réduire la puissance utile.
Un même appareil de manipulation peut-il tester différents boîtiers de semi-conducteurs ?
De nombreuses plateformes peuvent prendre en charge plusieurs systèmes d'alimentation grâce à des kits de conversion. Les plateaux, supports, buses, pinces, douilles, contacteurs et logiciels nécessaires doivent être disponibles pour chaque appareil.
Un manipulateur de test de type pick-and-place peut-il se connecter à n'importe quel testeur de semi-conducteurs ?
Pas automatiquement. L'assemblage mécanique, les cartes d'interface, les cartes de charge, le cheminement des câbles, le protocole de test, la communication logicielle et le contrôle du site doivent tous être compatibles. Les testeurs de semi-conducteurs sont également appelés équipements de test automatiques (ATE).
Comment vérifier la capacité à gérer trois températures ?
Vérifier le matériel de chauffage et de refroidissement installé, la chambre ou le module thermique, les exigences des services publics, les capteurs, le logiciel de contrôle, la protection contre la condensation et les preuves récentes d'étalonnage ou de démonstration de la température.
Quelles informations sont nécessaires pour établir un devis précis ?
Fournir les informations suivantes : l’emballage du dispositif, les supports d’entrée et de sortie, la durée du test électrique, le nombre d’unités conformes cibles par heure, le nombre de sites prévu, le testeur de semi-conducteurs, les exigences du contacteur, la température du dispositif testé et les conditions d’équipement préférées.
Associez le gestionnaire au package, au testeur et au programme de test.
Veuillez envoyer le schéma du boîtier, le testeur de semi-conducteurs, la méthode de contact, le nombre de sites, la durée du test électrique, la plage de température et l'objectif de production afin que l'équipement disponible puisse être vérifié par rapport à la cellule de test prévue.
